材料结构与表征
材料科学与工程方法论—4. 材料结构、性能与表征的因果关系

E tg (MPa)
3、材料的性能
陶瓷强度的测定: a. 弯曲强度:三点弯曲或四点弯曲方法; b. 抗拉强度:测定时技术上有一定难度,常用弯曲 强度代替,弯曲强度比抗拉强度高 20~40%; c. 抗压强度:远大于抗拉强度,相差10倍左右,特 别适合于制造承受压缩载荷作用的 零部件。
2、材料的结构
b. 实际的晶体结构
◆点缺陷:是一种在三维空间各个方向上尺寸都很小,尺寸范围
约为一个或几个原子间距的缺陷。如空位 ( 正常晶格结点上,未 被原子占有而空着的位臵 )、间隙(不占有正常的晶格位臵,而处 在晶格间隙中的多余原子 )、臵换原子(臵换晶格结点上的原子, 占据正常结点)。
空位
臵换原子
用化学式表示。Mg2Si
电子化合物:不遵守原子价规律,服从电子浓度规律; 间隙化合物:过渡族金属元素与C、N、H、B等原子半径较
小的非金属元素形成的化合物。
显微组织:材料中各相及更微观组元 (化学或几何学的)的形
貌及含量所构成的图象。(显微镜下所观察到的金属中的各种晶 粒的大小、形态和分布)
2、材料的结构
2、材料的结构
(2) 非金属的晶体结构
a. 陶瓷的组织结构: 陶瓷: 是由金属和非金属的无机化合物所构成的多晶固体物
质,实际上是各种无机非金属材料的总称。
晶体结构:以离子键为主的离子晶体(呈晶态) 以共价键为主的共价晶体(呈非晶态) 组织:晶相:是主要组成相。
(主晶相、次晶相、第三晶相) 材料的性能取决于主晶相。
高分子材料:以高分子化合物为主要组分的材料。高分子化合物是分子中 含原子数很多,分子量很大的物质。高分子亦称大分子,高 分子化合物又称高聚物或聚合物。 结构: 大分子链的组成:非金属或非金属元素组成。 大分子链的构型:即高聚物结构单元的排列顺序和连接方式。 大分子链的形态: 线型结构:整个分子呈细长线条状
第四章 材料结构的表征20190515

*固体材料进行组成鉴定和结构测定(晶态还是非 晶态)之后,还必须接着进行下列工作:
47
a.晶态材料——确定是单晶还是多晶 多晶——确定晶粒的数目、大小、形状和分布的情况。 b.晶体结构的类型、点阵常数等。 c.晶体缺陷的性质、数目和分布以及晶格畸变 的情况; d.固体中结合键的类型和键力大小; e.杂质的含量及分布情况; f.表面结构,包括任何组成上的非均匀性或吸附的表面层。
细粉末压片或块。 为了获得样品的“平均”定量结果,可使电子束扫描几个
较大区域,并取不同区域的平均值。
32
5、标样要求
在微米区域内成分均匀,成分准确; 物理和化学性能稳定;在真空中电子束轰击下稳定; 颗粒直径不小于0.2mm。
33
6、EDS分析方法
(1) 点分析
● 将电子束固定在试样感兴趣的点上,进行定性或定 量分析。可对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、 及材料的组成(扫描多个较大区域)等分析。
17
(3)I=1/2的原子核 1H,13C,19F,31P
原子核可看作核电荷均匀分布的球体,并象陀 螺一样自旋,有磁矩产生,是核磁共振研究的主要 对象,C,H也是有机化合物的主要组成元素。
自旋量子数 I=1/2的原 子核(氢核),可当作电 荷均匀分布的球体,绕自 旋轴转动时,产生磁场, 类似一个小磁铁。
如果在相同的电子探针分析条件下,同时测量试样和标样
中A元素的同名X射线(如Kα)强度,经过修正计算,就可以
得出试样中A元素的相对百分含量CA:
CA
=(ZAF) I A I ( SA)
31
4、试样要求
电子探针WDS分析需制备抛光的平试样,否则定量分析 误差较大,而EDS分析可采用如颗粒、断口及不能破坏的 零件等粗糙试样。虽然定量准确度较差,但许多情况下可 以满足要求。
材料化学导论第三章 材料结构的表征

.
20
差热分析曲线反映了所测试样在不同的温度范 围内发生的一系列伴随热现象的物理或化学变化。 凡是有热量变化的物理和化学现象多可以借助于差 热分析的方法来进行精确的分析,并能定量地加以 描绘。
第三章
材料结构的表征
.
1
材料的设计、制备和表征是材料研究的三个组
成部分,材料设计的重要依据来源于材料的结构分
析。材料制备的实际效果必须通过材料结构分析的
检验。因此可以说,材料科学的进展极大的依赖于
对材料结构分析表征的水平。
材料结构表征的主要手段:
热分析技术
显微技术
X射线衍射技术
波谱技术
材料结构的表征就其任务来说主要有三个:成分
.
11
随后根据压力信号的变化,自动气体转换开关会
立即与空气气流接通,此时因聚苯醚分解产生的短链
碳化合物立即氧化成CO2,在TG曲线中出现第二个失重 台阶,对应的失重量约为29.50%。
.
12
最后在712.4℃以上温度获得以稳定的平台,说 明剩余的残渣为惰性的无机填料或灰分,其质量含 量约为5.44%。因此由热重法测定获得的分析结果为: 聚苯醚65.31%,含碳量29.50%,残渣含量5.44%。
分析、结构测定、形貌观察。
.
2
第一节 热分析技术
热分析:在程序控制温度条件下,测量材料物 理性质与温度之间关系的一种技术。从宏观性能的 测试来判断材料结构的方法。
程序控制温度:指用固定的速率加热或冷却。
.
3
热分析技术被广泛用于固态科学中,凡是与热 现象有关的任何物理和化学变化都可以采取热分析 方法进行研究。如材料的固相转变、熔融、分解甚 至材料的制备等。同时,这些变化还能被定量的描 绘,可以直接测量出这些变化过程中所吸收或放出 的能量,如熔融热、结晶热、反应热、分解热、吸 附或解吸热、比热容、活化能、转变熵、固态转变 能等。
材料形貌的微观结构分析与表征

材料形貌的微观结构分析与表征材料的微观结构是决定其性能和行为的关键因素之一。
通过微观结构的分析和表征,我们可以深入了解材料的组成、形貌和特性,从而为科学研究和工业应用提供有力的支持。
本文将探讨材料形貌的微观结构分析与表征的方法和意义。
一、形貌的微观结构分析材料的形貌是指材料的外部形状和内部结构特征。
传统的微观结构分析方法包括光学显微镜观察和扫描电子显微镜观察。
光学显微镜通过聚焦光线来观察材料的形貌,并且可以进行放大成像。
扫描电子显微镜则通过电子束来观察材料的形貌,并且可以获得更高的分辨率。
除了传统的显微镜方法外,还有一些先进的形貌分析技术被广泛应用。
例如,原子力显微镜可以通过探针与材料表面的相互作用来获取材料的形貌信息,具有非常高的分辨率和灵敏度。
透射电子显微镜可以通过透射电子束穿过材料来观察其内部结构,从而获得更为详细的形貌信息。
二、微观结构的表征材料的微观结构是指材料的晶体结构、晶粒尺寸、晶界分布等特征。
通过对微观结构的表征,我们可以了解材料的晶格结构、晶粒形貌以及晶体缺陷等信息。
X射线衍射是一种常用的微观结构表征方法。
通过照射材料的晶体,X射线会在晶格中发生衍射现象,从而提供关于晶体结构的信息。
同时,控制X射线的入射角度和衍射角度,可以计算出晶体的晶格参数和晶体的取向关系。
电子背散射衍射也被广泛用于微观结构的表征。
通过照射材料的定向薄片,电子束会在材料中发生背散射现象,从而提供关于晶体取向和晶粒形貌的信息。
利用电子背散射图样可以计算晶体的晶格参数以及晶界的方向和形貌。
除了X射线衍射和电子背散射衍射外,还有一些其他的微观结构表征方法,如拉曼光谱、核磁共振、质谱等。
这些方法可以提供关于材料微观结构的不同方面的信息,从而帮助我们深入了解材料的特性和行为。
三、微观结构分析与材料研究微观结构分析对于材料研究具有重要意义。
通过深入了解材料的微观结构,我们可以揭示材料的性能和行为背后的机制,从而为材料设计和制备提供指导。
掌握材料科学的一些基本概念

掌握材料科学的一些基本概念材料科学是一门研究材料的科学,可以说是现代工业发展的重要组成部分。
在日常生活中,我们所接触的很多物质都是材料,比如塑料、玻璃、金属、木材等等。
而材料科学就是研究如何利用这些常见的物质,改造它们的性质以适应特定的需求。
在这篇文章中,我将介绍一些材料科学的基本概念,希望有助于读者更好地理解材料科学的本质。
一、材料的结构材料的结构指的是材料内在的微观结构。
对于晶体材料来说,它的结构由原子或者分子的周期性排列构成。
而对于非晶体材料,它的结构则是一种无序的固态结构。
了解材料的结构可以帮助我们更好地预测和解释材料的性质。
二、材料的性质材料的性质是指材料能够表现出来的各种物理、化学和力学特性。
材料的性质与其微观结构密切相关。
常见的材料性质包括密度、热容、热导率、电导率、杨氏模量、屈服强度等等。
三、材料的制备材料的制备是制造业中十分重要的一个环节。
它包括各种工艺过程,例如炼铁、冶金、合成、成型和加工等。
不同的制备工艺会对材料的结构和性质产生不同的影响,因此选择合适的制备工艺非常关键。
四、材料的表征材料的表征是指对材料进行物理、化学和结构分析的过程。
这些分析方法可以用来确定材料的组成、结构和性质等参数。
常见的表征方法包括扫描电镜、X射线衍射、拉曼光谱、电子探针等等。
五、材料的应用材料的应用非常广泛,涉及到各个行业领域。
比如对于医药行业而言,材料的应用主要在于研发新型药物、医疗设备和医用材料。
而对于航空航天行业来说,材料的应用则是指研发各种高强度、轻量化的材料,以提高航空器的性能和安全性。
综上所述,材料科学作为一门十分交叉的学科,涉及到物理学、化学、材料工程等多个领域。
通过了解材料的结构、性质、制备、表征和应用,我们可以更好地理解材料科学在现代工业中的作用,同时也有助于我们更好地应用和发展材料科学的实践。
材料结构表征及应用

材料结构表征及应用
材料结构表征及应用
材料结构表征是指材料结构特性之间的相互关系,它们决定了材料的性能。
材料结构表征包括材料的尺寸、形状、结构层次和热效应,这些结构特性可以通过材料的物理性能和机械性能来表示。
近年来,材料结构表征正变得越来越重要,在工业生产中得到了广泛应用。
材料结构表征对于提高材料性能和研发新材料至关重要。
材料结构表征可以更好地识别材料的特性,如耐磨性、耐腐蚀性和热稳定性,从而更好地满足应用材料的要求。
同时,材料结构表征还可以帮助研发新型材料,用于更多的应用领域。
材料结构表征在工业上被广泛应用,能够有效提高材料的性能。
它可以更准确地测量材料的厚度、宽度、形状和硬度,并用来检测材料表面缺陷、分析材料缺陷等,可以有效提高材料的效率和使用寿命。
同时,它还可以用来检测和控制工艺参数,如温度、时间和压力,以满足特定应用需求,并确保产品的高质量。
材料结构表征应用于许多不同领域,如航空航天、汽车制造、船舶制造、军事器材以及电子产品等,可以明显提升该领域的性能和效率。
此外,它还可以精确地测量金属材料、复合材料和非金属材料,以便在工业应用中更好地优化工艺,实现更高的性能。
材料结构表征是一项重要的技术,被广泛应用在工业生产中。
它提供了一种可靠的方式来测量材料的结构,可以明显提高材料的效率和使用寿命,满足工业需求,有助于提高整体的生产效率。
物理实验技术中的表面形貌与结构表征方法与实验技巧
物理实验技术中的表面形貌与结构表征方法与实验技巧导语:在物理学中,对于材料的表面形貌与结构的表征是十分重要的。
通过对材料表面形貌与结构的研究,我们可以深入了解物质的性质和行为,为材料设计和应用提供有效的依据。
本文将介绍一些在物理实验中广泛使用的表面形貌与结构表征方法和实验技巧。
一、光学显微镜光学显微镜是一种通过光线对材料进行表面形貌观察的常用工具。
它可以通过调节物镜和目镜的放大倍数,实现对不同尺度的表面形貌观察。
在使用光学显微镜时,一些实验技巧可以提高观察效果。
首先,要将待观察的材料放置在平整的载玻片上,避免形成影响观察的倾斜和凹凸不平的表面。
此外,如果观察透明材料,可以使用倾斜角度来获得更多信息。
二、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是一种高分辨率的表面形貌观察工具,具有优秀的空间分辨率和深度感。
它通过扫描电子束在材料表面来观察样品的表面形貌。
在使用SEM进行观察时,一些实验技巧可以提高图像质量。
首先,样品的准备非常关键。
应该确保样品表面的平整度,并避免存在尖锐的边缘,以免损坏电子束发射源。
其次,合适的电子束发射电流和加速电压也会影响观察效果。
正确选择这些参数可以得到清晰、高对比度的图像。
三、透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种观察材料内部结构和纳米尺度表面结构的强大工具。
TEM利用电子束穿透样品,通过探测电子束的散射来提供高分辨率的图像。
在使用TEM进行观察时,需要一些实验技巧来保证观察效果。
首先,样品制备非常重要。
样品应该被制成薄片,以保证电子束能够穿透并获得高分辨率图像。
其次,选择合适的对比度增强剂可以提高图像质量。
最后,通过控制透射电镜的衍射模式和聚焦,可以进一步改善图像质量和观察效果。
四、大角度X射线散射(SAXS)大角度X射线散射技术可以用来表征材料的纳米尺度结构。
通过利用X射线与材料相互作用产生的散射模式,可以获得材料内部的结构信息。
在进行SAXS实验时,需要注意一些技巧来提高实验效果。
3.1材料结构的表征
材料化学
材料结构的表征
材料结构表征的内容 *晶体结构的研究和表征 化学成分相同,但晶体结构不同,或相组成不同时, 材料性能往往不同。而晶体结构相同的材料,由于局部 点阵常数的改变,有些场合也是材料特性变化的重要因 素。晶体中的缺陷、各种类型的固溶体、烧结体及合金 晶界附近原子排列的无序等都会导致局部晶格畸变。所 以测定点阵常数,可以帮助我们了解晶体内部微小的变 化以及它们对材料特性产生的影响。晶体结构、点阵常 数可用X射线衍射和电子衍射等实验手段进行研究和表征。
材料化学
材料结构的表征
*晶态材料,应用射线结晶学等方法取得其晶体结 构方面的信息; *固体材料进行组成鉴定和结构测定(晶态还是非 晶态)之后,还必须接着进行下列工作: a.晶态材料——确定是单晶还是多晶 多晶——确定晶粒的数目、大小、形状和分 布的情况。 b.晶体结构的类型、点阵常数等。
材料化学
材料化学
材料结构的表征
*材料显微结构的研究 材料的显微结构受到材料化学组成、晶体结 构和工艺过程等因素的影响,它与材料性能有着 密切的关系。从某种意义上说,材料的显微结构 特征对材料性能起着决定性的作用。 材料显微结构的研究总的来说应包括以下主 要内容:
材料化学
材料结构的表征
(1)形貌观察及物相(组成、含量)分析。 (2)晶体结构(类型、点阵常数)的测定。 (3)固体结合键的类型及键力大小。 (4)杂质含量及分布情况。 (5)晶粒形态、大小、取向及其分布特征。 (6)晶粒中的晶格畸变和缺陷情况。 (7)晶体结构和畴结构及其分布特征。 (8)材料的应力状态及应变。
材料化学材料结构的表征来自材料结构表征的基本步骤和方法 对于材料(也可能是原料或半成品)的表征: (1)利用化学分析法、光谱分析法和X 射线粉末衍 射及性能测试来进行分析鉴定,即对未知固体 物质作出鉴定。 (2)测定它的结构,如果其结构尚属未知: *分子型材料,其几何学的细节可以从进一步的光 谱测量中获得;
材料组织结构的表征与分析
材料组织结构的表征与分析材料科学是研究材料的性质和结构的学科,而材料的组织结构对其性质和性能有着重要影响。
因此,对材料组织结构的表征与分析是材料科学研究的重要内容之一。
本文将探讨材料组织结构的表征方法和分析技术。
一、显微结构分析显微结构分析是研究材料组织结构的基础方法之一。
光学显微镜是最常用的显微结构观察工具,通过对材料进行金相制样和显微观察,可以获得材料的晶粒大小、晶界分布、相组成等信息。
此外,透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)等高分辨率显微镜的应用,可以进一步观察材料的细微结构,如晶体缺陷、相界面等。
二、X射线衍射分析X射线衍射是一种非常重要的材料组织结构分析方法。
通过将X射线照射到材料上,利用材料晶体对X射线的衍射现象,可以得到材料的晶格参数、晶体结构和晶体取向等信息。
X射线衍射技术广泛应用于材料的晶体结构分析、相变研究和晶体取向分析等领域。
三、电子显微衍射分析电子显微衍射是一种利用电子束与材料相互作用的现象进行结构分析的方法。
通过电子束的散射现象,可以获得材料的晶格结构、晶体取向和晶体缺陷等信息。
电子衍射技术在材料科学领域中的应用十分广泛,尤其在纳米材料的研究中具有重要意义。
四、原子力显微镜分析原子力显微镜(AFM)是一种基于原子力相互作用的表面形貌观察技术。
通过探针与材料表面的相互作用力,可以得到材料的表面形貌、粗糙度和力学性质等信息。
AFM技术在材料科学研究中的应用非常广泛,尤其在纳米材料和薄膜的研究中具有独特的优势。
五、热分析技术热分析技术是通过对材料在不同温度下的物理和化学性质的变化进行分析的方法。
常用的热分析技术包括差示扫描量热法(DSC)、热重分析法(TGA)和热膨胀分析法(TMA)等。
这些技术可以用于研究材料的热稳定性、热分解行为和相变特性等。
六、电子能谱分析电子能谱分析是一种通过测量材料中电子能量分布来研究材料组织结构的方法。
常用的电子能谱分析技术包括X射线光电子能谱(XPS)和电子能量损失谱(EELS)等。
材料科学中的结构表征与性能分析
材料科学中的结构表征与性能分析材料科学是一门研究材料的结构、性质和性能之间关系的学科。
在材料科学中,结构表征和性能分析是非常重要的研究方法,用于揭示材料的内部结构以及其对外界环境的响应。
本文将讨论材料科学中的结构表征与性能分析的相关内容。
一、材料的结构表征1. 光学显微镜观察光学显微镜是最常用且简单的材料结构表征方法之一。
通过光学显微镜可以观察到材料的表面形貌和内部微观结构,如晶界、颗粒分布等。
此外,还可以对材料进行晶体学分析,确定晶体结构和晶体取向。
2. 扫描电子显微镜(SEM)SEM是一种高分辨率的表面成像技术。
它利用电子束与样品表面相互作用的方式,获得材料表面的形貌和微观结构信息。
与光学显微镜相比,SEM可以获得更高的放大倍数和更详细的细节。
3. 透射电子显微镜(TEM)TEM是一种通过物质对电子的散射来观察材料内部结构的技术。
通过透射电子显微镜可以获得材料的高分辨率图像,并对材料的晶体结构、晶界、缺陷等进行详细分析。
4. X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种通过材料对X射线进行衍射来确定材料晶体结构的方法。
XRD可以获得材料的晶体结构信息、晶格常数、晶体取向、影响材料性能的晶体缺陷等信息。
5. 核磁共振(NMR)核磁共振是一种通过观察核自旋在外加磁场下的行为来分析材料结构的方法。
核磁共振可以用于确定材料中不同原子核的类型和数量,了解材料的化学结构。
二、材料性能的分析1. 机械性能分析机械性能是材料重要的性能之一,包括强度、韧性、硬度、延展性等。
通过拉伸试验、硬度试验、冲击试验等可以测定材料的机械性能。
此外,还可以通过纳米压痕测试、微弯曲测试等方法对材料的力学性能进行研究。
2. 热性能分析热性能包括热膨胀系数、热导率、热稳定性等。
热膨胀系数可以通过热膨胀仪进行测量,热导率可以通过热导率仪进行测定。
热性能的分析可以为材料在高温环境下的应用提供重要的指导。
3. 导电性能分析导电性能是指材料对电流的导电能力。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
基本概念集锦
1、材料(materials):人类能用来制作有用物件的物质。
2、材料的四大家族
A. 金属材料
B. 无机非金属材料
C. 高分子材料
D. 复合材料
3、材料的结构与组成
第一层次:原子结构(电子构型、化学键、原子与电子性缺陷)。
第二层次:原子在空间的排列(单晶、多晶、非晶)。
第三层次:材料的显微组织形貌(各种缺陷)。
4、简正振动:
整个分子质心不变、整体不转动、各原子在原地作简谐振动且频率及相位相同、所有的原子都在同一瞬间通过各自的平衡位置,此时分子中的任何振动可视为所有上述简谐振动的线性组合。
将振动形式分成两类:
a. 伸缩振动(νs、νas)
b. 变形振动(又称弯曲振动或变角振动,用符号δ表示)
同一键型:
•反对称伸缩振动的频率大于对称伸缩振动的频率;
•伸缩振动频率远大于弯曲振动的频率;
•面内弯曲振动的频率大于面外弯曲振动的频率。
vas > vs >>δ面内>δ面外
5、分子吸收红外光谱的条件
(1)振动必须能够引起分子偶极矩的变化
(2)红外辐射光的频率与分子振动的频率相当
6、红外光谱信息区
① 4000~2500 cm-1 X—H伸缩振动区
② 2500~2000 cm-1 叁键、累积双键伸缩振动区
③ 2000~1500 cm-1 双键伸缩振动区
④ 1500~ 670 cm-1 单键振动(X—Y伸缩,X—H变形振动区)及指纹区
7、振动偶合:
当两个振动频率相同或相近的基团相邻并由同一原子相连时,两个振动相互作用(微扰)产生共振,谱带一分为二(高频和低频)。
8、Fermi(费米)共振:
当一振动的倍频或组频与另一振动的基频接近时,由于发生相互作用而产生很强的吸收峰或裂分分裂成两个不同频率的峰。
9、
1. >3200:O—H(1个峰,强,宽)或N—H(H个峰,中强,锐)
2. 3000左右:C—H
3. Ω≥4:苯环(单取代双峰、邻位单峰、间位三峰、对位单峰兰移)
4. 3050、1600、1500:苯环
5. 1700:C=O
6. -CH3:4个峰(2960、2870、1460、1380)
7. -CH2-:3个峰( 2930、2850、1460)
8. 异丙基:1385、1375等强双峰
9. C=C:单取代双峰,多取代单峰;顺式(690)、反式(970)
10. -(CH2)n-:n≥4时,720弱峰
10、红外光谱仪类型:
色散型:利用单色器作为色散元件(60年代)
干涉型:傅立叶变换红外光谱仪,利用光的干涉作用测定,没有色散元件(70年代)
11、
12、拉曼光谱:
当用一定频率的激发光照射分子时,一部分散射光的频率和入射光的频率相等,称为瑞利散射。
另外一部分散射光的频率和激发光的频率不等,称为拉曼散射(拉曼散射:光波在被散射后频率发生变化的现象。
)。
拉曼散射所导致的拉曼位移与入射光频率无关,而只取决于分子振动能级的变化,即只与散射分子本身的结构有关。
13、拉曼光谱发展史:
1923年,德国物理学家斯迈克尔(A.Semkal)在理论上预言了光的非弹性散射,指出光通过介质时,其频率和相位都会发生无规律的变化。
1928年,印度物理学家拉曼(C.V.Raman)发现了光的非弹性散射。
14、Raman位移:
Stokes线或反Stokes线的频率与入射光频率之差,称为Raman位移。
①当入射光子(hv0)把处于E0能级的分子激发到E0+hv0能级,因这种能态不稳定而跃回E1能级,其净结果是分子获得了E1与E0的能量差h,而光子就损失了这部分的能量,即使散射光频率小于入射光频率,产生Stokes线。
②当入射光子(hv0)把处于E1能级的分子激发到E1+hv0能级,因这种能态不稳定而跃回E0能级,这时分子就要损失掉E1与E0的能量差h,而光子获得了这部分的能量,结果是散射光频率大于入射光频率,这样就产生了反Stokes线。
15、红外与拉曼法则
(1)互排法则:凡有对称中心的分子,IR和Raman活性是相互排斥的。
(2)互允法则:一般来说,不具备对称中心的分子,其IR和Raman光谱的活性是可以并存的。
(3)互禁法则:少数分子的振动在IR和Raman中都是非活性的。
16、比较
17、拉曼光谱仪(激发光源、滤光器、单色器、检测装置)
激光:提供激发光源
滤光片:消除占优势的Rayleigh散射
单色器:将拉曼散射光分光并减弱杂散光
检测器:检测拉曼散射信号
18、核磁共振:
磁矩不为零的原子核,在外磁场作用下自旋能级发生塞曼分裂,共振吸收某一定频率的射频辐射的物理过程。
19、能级分裂:
顺磁场,能量低;逆磁场,能量高。
两者的能级差随H0增大而增大,这种现象称为能级分裂,或称塞曼分裂。
20、进动:
在静磁场中原子核绕其自旋轴旋转,而自旋轴又与静磁场保持某一夹角θ作旋进运动,使磁矩有趋向于外磁场方向的趋势。
这种运动方式就是进动(又称Lamor进动)。
21、共振吸收条件:
(1)ν0=ν:照射频率必须等于原子核进动频率。
(2)△m=±1:根据量子选律,跃迁只能发生在两个相邻能级间。
22、饱和:
当低能级的核吸收了射频辐射后,被激发至高能态,同时给出共振吸收信号。
但随实验进行,只占微弱多数的低能级核越来越少,最后高、低能级上的核数目相等,此时从低到高与从高到低能级的跃迁的数目相同,体系净吸收为0,共振信号消失!
23、弛豫:
由于受到核外电子云的屏蔽作用,无法通过碰撞释放能量。
处于高能态的核通过非辐射途径释放能量而及时返回到低能态的过程。
由于弛豫现象的发生,使得处于低能态的核数目总是维持多数,从而保证共振信号不会中止。
24、纵向弛豫T1:
受激态高能级磁核将能量传递给周围的介质粒子,自身回复到低能磁核的过程。
25、横向弛豫T2:
受激态高能级磁核将能量传递给同种低能级磁核,自身回到低能级磁核的过程。
26、弛豫时间:
驰豫过程所需的时间用半衰期T表示。
T越大,高能态寿命越长,驰豫效率越低。
27、自旋偶合:
核磁共振中,除了外磁场H0引起的核的能级裂分外,还存在由于相邻两个(组)磁性核自旋产生的次生场相互干扰引起的能级的进一步裂分,也称自旋裂分。
28、简单偶合的特征:
①服从n+1规律;
②遵守(a+b)n规则;
③符合“向心法则”
【解释】:
1、n+1规律:某类质子分裂的峰数目取决于邻近磁核所能给出不同磁矩的自
旋方式结合的数目,即某氢核与n个相邻氢偶合时将被分裂为n+1重峰,而与该基团本身的氢数无关。
2、(a+b)n规则:裂分峰的强度比符合(a+b)n展开式各项系数之比。
3、向心法则:相互偶合的两组峰为内高外低彼此相靠。
29、化学等价质子、磁等价质子、磁不等价质子
1、化学等价质子:
具有相同化学位移的质子
2、磁等价质子:
分子中若有一组自旋核,其化学位移相同,并且它们各个自旋核对组外任何一个磁核的偶合常数彼此也相同,那么这组核称为磁等价质子。
3、磁不等价质子:
化学等价但对组外质子的偶合作用不同的一组质子。
30、1H-NMR谱提供的信息
①峰的数目:分子中有多少种不同类型的氢。
②峰的位置:分子中氢的类别。
③峰的强度(积分高度):每种氢的数目。
④峰的裂分数目:邻近碳上氢原子的个数
31、13C-NMR谱的特点
①信号强度低。
②化学位移范围宽。
③偶合常数大。
④弛豫时间长。
32、13C-NMR谱的类型
1、质子非去偶谱
2、宽带去偶谱(全去偶谱)
3、偏共振去偶谱
4、选择氢去偶谱
33、质谱基本原理:
使试样中各组分在离子源中发生电离,生成不同质荷比的带正电荷的离子,经加速电场的作用,形成离子束,进入质量分析器。
在质量分析器中,再利用电场和磁场使发生相反的速度色散,将它们分别聚焦而得到质谱图,从而确定其质量。
34、质谱仪的结构
进样系统、离子源、质量分析器、检测器、数据系统
常用离子源:电子电离源(EI)、化学电离源(CI)、场致电离源(FI)、场解吸电离源(FD)、快原子轰击电离源(FAB)、电喷雾电离源(ESI)、大气压化学电离源(APC)等。
作用:将不同碎片按质荷比m/e分开
35、γH重排条件:
①含有C=O, C=N,C=S等碳碳双键;
②与双键相连的链上有γ碳,并在γ碳有H原子(γ氢);
③六元环过渡,γH转移到杂原子上,同时β键发生断裂,生成一个中性分子和一个自由基阳离子。