XJ4810晶体管特性图示仪说明书(精)
XJ4810晶体管特性图示仪 说明书
XJ4810晶体管特性图示仪说明书晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。
用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。
图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示：1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。
2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。
3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。
4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。
当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。
AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。
为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。
7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。
8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9. 电源指示：接通电源时灯亮。
10. 聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。
11. 荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。
半导体器件--用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数
用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数一、 引言晶体管在半导体器件中占有重要的地位，也是组成集成电路的基本元件。
晶体管的各种特性参数可以通过专用仪器--晶体管特性图示仪进行直接测量。
了解和测量实际的晶体管的各种性能参数不仅有助于掌握晶体管的工作机理，而且还可以分析造成各种器件失败的原因，晶体管特性图示仪是半导体工艺生产线上最常用的一种工艺质量检测工具。
本实验的目的是：了解晶体管特性图示仪的工作原理；学会正确使用晶体管特性图示仪；测量共发射极晶体管的输入特性、输出特性、反向击穿特性和饱和压降等直流特性。
二、晶体管特性图示仪的工作原理和基本结构晶体管的输出特性曲线如图1所示，这是一组曲线族，对于其中任一条曲线，相当于I b =常数（即基极电流I b 不变）。
曲线显示出集电极与发射极之间的电压V cc 增加时，集电极电流I c 的变化。
因此，为了显示一条特性曲线，可以采用如图2所示的方法，既固定基极电流I b 为：b be b bE V I R -= （1）图1共射晶体管输出特性曲线 图2共射晶体管接法在集电极到发射极的回路中，接入一个锯齿波电压发生器E c 和一个小的电阻R c ，晶体管发射极接地。
由于电阻R 很小，锯齿波电压实际上可以看成是加在晶体管的集电极和发射极之间。
晶体管的集电极电流从电阻R c上流过，电阻R c上的电压降就正比于I c。
如果把晶体管的c、e两点接到示波管的x偏转板上，把电阻R c两端接到示波管的y偏转板上，示波器便显示出晶体管的I c随V cc变化的曲线。
（为了保证测量的准确性，电阻R c应该很小）。
用这种方法只能显示出一条特性曲线，因为此时晶体管的基极电流I b是固定不变的。
如果要测量整个特性曲线族，则要求基极电流I b改变。
基极电流I b的改变采用阶梯变化，每一个阶梯维持的时间正好等于作用在集电极的锯齿波电压的周期，如图3所示。
阶梯电压每跳一级，电流I b便增加一级。
（每一级阶梯的增幅可根据不同的晶体管的做相应的调整）。
半导体器件--用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数
用晶体管特性图示仪测量晶体管的特性参数一、 引言晶体管在半导体器件中占有重要的地位，也是组成集成电路的基本元件。
晶体管的各种特性参数可以通过专用仪器--晶体管特性图示仪进行直接测量。
了解和测量实际的晶体管的各种性能参数不仅有助于掌握晶体管的工作机理，而且还可以分析造成各种器件失败的原因，晶体管特性图示仪是半导体工艺生产线上最常用的一种工艺质量检测工具。
本实验的目的是：了解晶体管特性图示仪的工作原理；学会正确使用晶体管特性图示仪；测量共发射极晶体管的输入特性、输出特性、反向击穿特性和饱和压降等直流特性。
二、晶体管特性图示仪的工作原理和基本结构晶体管的输出特性曲线如图1所示，这是一组曲线族，对于其中任一条曲线，相当于I b =常数（即基极电流I b 不变）。
曲线显示出集电极与发射极之间的电压V cc 增加时，集电极电流I c 的变化。
因此，为了显示一条特性曲线，可以采用如图2所示的方法，既固定基极电流I b 为：b be b bE V I R -= （1）图1共射晶体管输出特性曲线 图2共射晶体管接法在集电极到发射极的回路中，接入一个锯齿波电压发生器E c 和一个小的电阻R c ，晶体管发射极接地。
由于电阻R 很小，锯齿波电压实际上可以看成是加在晶体管的集电极和发射极之间。
晶体管的集电极电流从电阻R c上流过，电阻R c上的电压降就正比于I c。
如果把晶体管的c、e两点接到示波管的x偏转板上，把电阻R c两端接到示波管的y偏转板上，示波器便显示出晶体管的I c随V cc变化的曲线。
（为了保证测量的准确性，电阻R c应该很小）。
用这种方法只能显示出一条特性曲线，因为此时晶体管的基极电流I b是固定不变的。
如果要测量整个特性曲线族，则要求基极电流I b改变。
基极电流I b的改变采用阶梯变化，每一个阶梯维持的时间正好等于作用在集电极的锯齿波电压的周期，如图3所示。
阶梯电压每跳一级，电流I b便增加一级。
（每一级阶梯的增幅可根据不同的晶体管的做相应的调整）。
晶体管特性图示仪操作规程
二、二极管特性测试
1、通过二极管测试盒与仪器二极管测试孔相连， 在特殊情况下也可用合适的耐高压线与 此插孔相连，被测管按面板所示的二极管性与测试孔相连。 2、将集电极输出电压琴键按至 3000V 档级，此时并将峰值电压逆时针方向旋转到零。 3、将 Y 电流/度置于 ID 范围内的适合档级，并将 X 电压/度置于 UD 范围内的合适档级。 4、按“测试”按钮，并徐徐缓缓升高峰值电压直至所要求值（或二极管击穿电流超过规 定值电压）时止。 5、由于高压测试插孔中具有高压，因此在按“测试”按钮时，切勿接触测试插孔的任一 端。
操
编号：
作
规 程
制订日期：2
版次：A/000
晶体管特性图示仪操作规程
一． 测试前的开机与调节
1．开启电源：将电源开关向右方向按动，此时白色指示灯即发光，待预热十分钟后立即进行 正常测试。在必要时测量进线电压在 220V±10%D 的范围为宜。 2．调节辉度聚焦，辅助聚焦及标尺亮度：将示波管会聚成一清晰的小光点，标尺亮度以能清 晰满足测量要求为原则。 3．Y、X 移位 对 Y、X 移位旋钮置于中心位置，此时光点应根据 PNP、NPN 开关的选择处 于左下方或右上方。再调节移位旋钮使其在左下方或右下方实线部分的零点。 4．对 Y、X 校准将 Y、X 灵敏度分别进行 10 度校准，其方法将 Y（或 X）方式开关自“┴” 至“校准”此时光点或基线应有 10 度偏转，如超过或未达到时应进行增益调节（X/Y 调 节 W*1-10/1-110） 。] 5．阶梯调零: 阶梯调零的原理即将阶梯先在示波管上显示， 然后根据放在输入端接地所显示 的位置，于调节零电位器使基与放大器接地时重合即完成调零。 调节方法首先将 Y 偏转放大器置于基极电流或基极源电压档级，X 偏转放大器置于 U0 的 任意档级，将测试选择置于“NPN” ，电压档级置于“常态” ，阶梯幅度/级置于电压/级的 任意档，集电极电压置于任意档级使示波管显示电压值，此时即能调零,使第一根基线与 Y 偏转放大器“┴”时重合即完成了调零步骤。 6．电容性电流平衡：在要求较高电流灵敏度档级进行测量时，可对电容性电流进行平衡，平 衡方式将 Y 偏转放大器置于较高灵敏并档级使示波管显示电容性电流， 调节电容平衡旋钮 使其达到最小值即可。 7．集电极电压检查：在进行测量前应检查集电极电压的输出范围，检查时将 V0 置于相对应 档级，当发现将峰值电压顺时针方向最大时，其输出在规定值与大于 10%之间即正常，如 超过或小于述规定请检查进线电压（此时功耗限止电阻应等天 0） 。
用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数
用晶体管特性图示仪测试晶体管主要参数一．实验目的掌握晶体管特性图示仪测试晶体管的特性和参数的方法。
二．实验设备（1）XJ4810晶体管特性图示仪（2）QT 2晶体管图示仪（3）3DG6A 3DJ7B 3DG4三．实验原理1．双极型晶体（以3DG4NPN 管为例）输入特性和输出特性的测试原理（1）输入特性曲线和输入电阻i R ，在共射晶体管电路中，输出交流短路时，输入电压和输入电流之比为i R ，即＝常数CE V B BEi I V R ∂∂= （1.1）它是共射晶体管输入特性曲线斜率的倒数。
例如需测3DG 4在V CE ＝10时某一作点Q 的R 值，晶体管接法如图1.1所示。
各旋扭位置为峰值电压%80% 峰值电压范围0～10V 功耗电阻50Ω X 轴作用基极电压1V/度 Y 轴作用 阶梯选择μ20A/极 级/簇10 串联电阻10K 集电极极性 正（+）把X 轴集电极电压置于1V/度，调峰值电压为10V ，然后X 轴作用扳回基极电压0.1V/度，即得CE V ＝10V 时的输入特性曲线。
这样可测得图1.2：V CE V B BEi I V R 10=∆∆= （1.2）根据测得的值计算出i R 的值图1.1晶体管接法 图1.2输入特性曲线 （2）输出特性曲线、转移特性曲线和β、FE h在共射电路中，输出交流短路时，输出电流和输入电流增量之比为共射晶体管交流电流放大系数β。
在共射电路中，输出端短路时，输出电流和输入电流之比为共射晶体管直流电流放大系数FE h 。
晶体管接法如图1.1所示。
旋扭位置如下：峰值电压范围10V 峰值电压%80% 功耗电阻250Ω X 轴集电极电压1V/度 Y 轴集电极电流2mA/度 阶梯选择μ20A/度 集电极极性 正（+）得到图1.3所示共射晶体管输出特性曲线，由输出特性曲线上读出V V CE 5=时第2、4、6三根曲线对应的C I ，B I 计算出交流放大系数BC I I ∆∆=β （1.3） FE h >β主要是因为基区表面复合等原因导致小电流β较小造成的，β、FE h 也可用共射晶体管的转移特性（图1.4）进行测量只要将上述的X 轴作用开关拨到“基极电流或基极源电压”即得到共射晶体管的转移特性。
XJ4810图示仪使用说明
3.7 XJ4810半导体管特性图示仪概述：XJ4810型半导体管特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。
本仪器主要由下列几个部分组成：Y轴放大器及X轴放大器；阶梯信号发生器；集电极扫描发生器；主电源及高压电源部分。
本仪器是继JT－l型晶体管特性图示仪后的开发产品。
它继承JT－l的优点，并有了较大的改进与提高，与其它半导体管特性图示仪相比，具有以下特点：1．本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。
2．增设集电极双向扫描电路及装置，能同时观察二级管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。
3．配有双簇曲线显示电路，对于中小功率晶体管各种参数的配对，尤为方便。
4．本仪器专为工作于小电流超β晶体管测试提供测试条件，最小阶梯电流可达0.2μA／级。
5．本仪器还专为测试二级管的反向漏电流采取了适当的措施，使测试的反向电流I R 达20nA／div 。
6．本仪器配上扩展装置—XJ27100“场效应管配对测试台”可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。
7．本仪器配上扩展装置—XJ27101“数字集成电路电压传输特性测试台”，可测试COMS，TTL数字集成电路的电压传输特性。
XJ4810型半导体管特性图示仪，功能操作方便，它对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用，是一个必不可少的测试工具。
一、主要技术指标（l）Y轴编转因数：集电极电流范围：10μA∕div～500毫安／div，分15档，误差≤±3％；二极管反向漏电流：0.2μA∕div～5μA∕div分5档2μA∕div～5μA∕div 误差不超过±3%基极电流或基极源电压：0.05V／div，误差≤±3％；外接输入：0.1V／div，误差≤±3％；偏转倍率：×0.1 误差不超过±（10%±10nA）（2）X轴偏转因数：集电极电压范围：0.05～50V∕div，分10档，误差≤±3％；基极电压范围：0.05～1V∕div，分5档，误差≤±3％；基极电流或基极源电压：0.05V∕div，误差≤±3％；外接输入：0.05V∕div，误差≤±3％。
半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量(精)
半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量一、实验目的1、了解半导体特性图示仪的基本原理2、学习使用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和参数。
二、预习要求1、阅读本实验的实验原理,了解半导体图示仪的工作原理以及 XJ4810 型半导体管图示仪的各旋钮作用。
2、复习晶体二极管、三极管主要参数的定义。
三、实验原理(一半导体特性图示仪的基本工作原理任何一个半导体器件,使用前均应了解其性能,对于晶体三极管,只要知道其输入、输出特性曲线,就不难由曲线求出它的一系列参数,如输入、输出电阻、电流放大倍、漏电流、饱和电压、反向击穿电压等。
但如何得到这两组曲线呢?最早是利用图 4-1 的伏安法对晶体管进行逐点测试 , 而后描出曲线, 逐点测试法不仅既费时又费力 , 而而且所得数据不能全面反映被测管的特性, 在实际中 , 广泛采用半导体特性图示仪测量的晶体管输入、输出特性曲线。
图 4-1 逐点法测试共射特性曲线的原理线路用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和各种直流参量的基本原理是用图 4-2(a 中幅度随时间周期性连续变化的扫描电压 UCS 代替逐点法中的可调电压 EC ,用图 4-2(b 所示的和扫描电压 UCS 的周期想对应的阶梯电流 iB 来代替逐点法中可以逐点改变基极电流的可变电压 EB , 将晶体管的特性曲线直接显示在示波管的荧光屏上 , 这样一来 , 荧光屏上光点位置的坐标便代替了逐点法中电压表和电流表的读数。
1、共射输出特性曲线的显示原理当显示如图 4-3 所示的 NPN 型晶体管共发射极输出特性曲线时 , 图示仪内部和被测晶体管之间的连接方式如图 4-4 所示 . T是被测晶体管 , 基极接的是阶梯波信号源 , 由它产生基极阶梯电流 ib 集电极扫描电压 UCS 直接加到示波器 (图示仪中相当于示波器的部分 , 以下同的 X 轴输入端 ,, 经 X 轴放大器放大到示波管水平偏转板上集电极电流 ic 经取样电阻 R 得到与 ic 成正比的电压 ,UR=ic,R加到示波器的 Y 轴输入端 , 经 Y 轴放大器放大加到垂直偏转板上 . 子束的偏转角与偏转板上所加电压的大小成正比 , 所以荧光屏光点水平方向移动距离代表 ic 的大小 , 也就是说 , 荧光屏平面被模拟成了 uce-ic 平面 .图 4-4 输出特性曲线显示电路输出特性曲线的显示过程如图 4-5 所示当 t=0 时 , iB =0 ic=0 UCE =0 两对偏转板上的电压均为零 , 设此时荧光屏上光点的位置为坐标原点。
晶体管图示仪YB4810说明书
半导体器件物理实验指导书一、实验设备介绍1、概述YB4810型晶体管特性图示仪是一种用阴极射线示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器，尤其能在不损坏器件的情况下，测量其极限参数，如击穿电压、饱和压降等。
2、主要技术指标2.1 Y轴偏转系数集电极电流范围为10μA/div~0.5A/div，分15档，误差不超过±5%；二极管反向漏电流0.2μA/div~5μA/div，分5档，2μA/div、5μA/div误差不超过±5%，1μA/div误差不超过±7%，0.5μA/div误差不超过±10%，0.2μA/div误差不超过±20%；外接输入为0.1V/div误差不超过±5%。
2.2 X轴偏转系数集电极电压范围为0.1V/div~50V/div，分9档，误差不超过±5%；基极电压范围为0.1V/div~5V/div，分6档，误差不超过±5%；外接输入为0.05V/div误差不超过±7%。
2.3 阶梯信号阶梯电流范围为0.1μA/级~50mA/级，分18档；1μA/级~50mA/级，误差不超过±5%，0.1μA/级误差不超过±7%；阶梯电压范围为0.05V/级~1V/级，分5档，误差不超过±5%；串联电阻10Ω、10KΩ、0.1MΩ，分3档，误差不超过±10%；每簇级数4~10级连续可调。
2.4 集电极扫描电源、高压二极管测试电源功耗限制电阻0.5MΩ，分11档，误差不超过±10%。
2.5 其它校正信号为0.5Vp-p误差不超过±2%（频率为市电频率），1Vp-p误差不超过±2%（频率为市电频率）；示波管15SJ110Y14内（UK=1.5Kv，UA4=+1.5kV）；电源电压为（220±10%）V；电源频率为（50±5%）Hz；视在功率在非测试状态约50W；满功率测试状态约80W。
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XJ4810晶体管特性图示仪说明书晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。
用它可以测试晶体三极管(NPN 型和 PNP 型的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
下面以 XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。
图 A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图 A-23所示:1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。
2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A 。
3. 峰值电压 %:峰值电压可在 0~10V 、 0~50V 、 0~100V 、 0~500V 之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。
4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5. 峰值电压范围:分 0~10V/5A、 0~50V/1A、 0~100V/0.5A、 0~500V/0.1A四挡。
当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时, 须先将峰值电压调到零值, 换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。
AC 挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流, 因而在电流取样电阻上产生电压降, 造成测量误差。
为了尽量减小电容性电流, 测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。
7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。
8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9. 电源指示:接通电源时灯亮。
10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。
11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。
12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。
13. Y轴选择(电流 /度开关:具有 22挡四种偏转作用的开关。
可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。
14. 电流 /度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流 /度×0.1倍工作状态。
15. 垂直移位及电流 /度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。
旋钮拉出, 放大器增益扩大 10倍,电流 /度各挡 I C 标值×0.1,同时指示灯 14亮 .16. Y轴增益:校正 Y 轴增益。
17. X轴增益:校正 X 轴增益。
18. 显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是:⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换, 便于由 NPN 管转测 PNP 管时简化测试操作。
⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。
⑶校准:按下校准键,光点在 X 、 Y 轴方向移动的距离刚好为 10度,以达到 10度校正目的。
19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。
20. X轴选择(电压 /度开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共 17挡。
21. “级 /簇”调节:在 0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
22. 调零旋钮 :测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。
当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压” ,观察光点停留在荧光屏上的位置, 复位后调节零旋钮, 使阶梯信号的起始级光点仍在该处, 这样阶梯信号的零电位即被准确校正。
23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基极,作为测试各种特性曲线的基极信号源,共 22挡。
一般选用基极电流 /级,当测试场效应管时选用基极源电压 /级。
24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压 /级的位置时, 串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。
26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。
27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压 (电流 /级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
28. 极性按键:极性的选择取决于被测管的特性。
29. 测试台:其结构如图 A-24所示。
图 A-24 XJ4810型半导体管特性图示仪测试台30. 测试选择按键:⑴“左” 、“右” 、“二簇” :可以在测试时任选左右两个被测管的特性,当置于“二簇” 时,即通过电子开关自动地交替显示左右二簇特性曲线,此时“级 /簇”应置适当位置,以利于观察。
二簇特性曲线比较时,请不要误按单簇按键。
⑵“零电压”键:按下此键用于调整阶梯信号的起始级在零电平的位置,见(22项。
⑶“零电流”键:按下此键时被测管的基极处于开路状态,即能测量 I CEO 特性。
31、32. 左右测试插孔:插上专用插座(随机附件 ,可测试 F 1、 F 2型管座的功率晶体管。
33、 34、 35. 晶体管测试插座。
36. 二极管反向漏电流专用插孔(接地端。
在仪器右侧板上分布有图 A-25所示的旋钮和端子:图 A-25 XJ4810型半导体管特性图示仪右侧板37. 二簇移位旋钮:在二簇显示时,可改变右簇曲线的位置,更方便于配对晶体管各种参数的比较。
38. Y轴信号输入:Y 轴选择开关置外接时, Y 轴信号由此插座输入。
39. X轴信号输入:X 轴选择开关置外接时, X 轴信号由此插座输入。
40. 校准信号输出端:1V 、 0.5V 校准信号由此二孔输出。
7.2测试前注意事项为保证仪器的合理使用, 既不损坏被测晶体管, 也不损坏仪器内部线路, 在使用仪器前应注意下列事项:1. 对被测管的主要直流参数应有一个大概的了解和估计,特别要了解被测管的集电极最大允许耗散功率 P CM 、最大允许电流 I CM 和击穿电压 BV EBO 、 BV CBO 。
2. 选择好扫描和阶梯信号的极性,以适应不同管型和测试项目的需要。
3. 根据所测参数或被测管允许的集电极电压,选择合适的扫描电压范围。
一般情况下, 应先将峰值电压调至零, 更改扫描电压范围时, 也应先将峰值电压调至零。
选择一定的功耗电阻,测试反向特性时,功耗电阻要选大一些,同时将 X 、 Y 偏转开关置于合适挡位。
测试时扫描电压应从零逐步调节到需要值。
4. 对被测管进行必要的估算,以选择合适的阶梯电流或阶梯电压,一般宜先小一点, 再根据需要逐步加大。
测试时不应超过被测管的集电极最大允许功耗。
5. 在进行 I C M 的测试时,一般采用单簇为宜,以免损坏被测管。
6. 在进行 I C 或 I CM 的测试中,应根据集电极电压的实际情况选择,不应超过本仪器规定的最大电流,见表 A-3。
表 A-3 最大电流对照表7. 进行高压测试时,应特别注意安全,电压应从零逐步调节到需要值。
观察完毕,应及时将峰值电压调到零。
7.3基本操作步骤1. 按下电源开关,指示灯亮,预热 15分钟后,即可进行测试。
2. 调节辉度、聚焦及辅助聚焦,使光点清晰。
3. 将峰值电压旋钮调至零,峰值电压范围、极性、功耗电阻等开关置于测试所需位置。
4. 对 X 、 Y 轴放大器进行 10度校准。
5. 调节阶梯调零。
6. 选择需要的基极阶梯信号,将极性、串联电阻置于合适挡位,调节级 /簇旋钮,使阶梯信号为 10级 /簇,阶梯信号置重复位置。
7. 插上被测晶体管,缓慢地增大峰值电压,荧光屏上即有曲线显示。
7.4测试实例1. 晶体管 h FE 和β值的测量以 NPN 型 3DK2晶体管为例, 查手册得知 3DK2 h FE 的测试条件为 V CE=1V、 I C =10mA。
将光点移至荧光屏的左下角作座表零点。
仪器部件的置位详见表 A-4。
逐渐加大峰值电压就能在显示屏上看到一簇特性曲线, 如图 A-26所示 . 读出 X 轴集电极电压 V ce =1V时最上面一条曲线(每条曲线为20μA ,最下面一条 I B =0不计在内 I B 值和 Y 轴 I C 值,可得h FE =BC I I =A200mA 5. 8μ=2. 05. 8=42.5若把 X 轴选择开关放在基极电流或基极源电压位置, 即可得到图 A-27所示的电流放大特性曲线。
即β=BC I I ∆∆图 A-26 晶体三极管输出特性曲线图 A-27 电流放大特性曲线PNP 型三极管 h FE 和β的测量方法同上,只需改变扫描电压极性、阶梯信号极性、并把光点移至荧光屏右上角即可。
2. 晶体管反向电流的测试以 NPN 型 3DK2晶体管为例,查手册得知 3DK2 I CBO 、 I CEO 的测试条件为V CB 、 V CE 均为 10V 。
测试时,仪器部件的置位详见表 A-5。
逐渐调高“峰值电压”使 X 轴 V CB =10V,读出 Y 轴的偏移量,即为被测值。
被测管的接线方法如图 1-28,其中图 A-28(a 测 I CBO 值,图 A-28(b 测 I CEO 值、图 A-28(c 测 I EBO 值。
图 A-28 晶体管反向电流的测试测试曲线如图 A-29所示。
读数:I C BO =0.5μA (V CB =10V I C EO =1μA (V CE =10V图 A-29 反向电流测试曲线PNP 型晶体管的测试方法与 NPN 型晶体管的测试方法相同。
可按测试条件,适当改变挡位,并把集电极扫描电压极性改为“—” ,把光点调到荧光屏的右下角(阶梯极性为“ +” 时或右上角(阶梯极性为“—”时即可。
3. 晶体管击穿电压的测试以 NPN 型 3DK2晶体管为例,查手册得知 3DK2 BV CBO 、 BV CEO 、 BV EBO 的测试条件 I C分别为100μA 、200μA 和100μA 。
测试时,仪器部件的置位详见表 A-6。
逐步调高“峰值电压” ,被测管按图 A-30(a 的接法, Y 轴 I C =0.1mA时, X 轴的偏移量为 BV CEO 值;被测管按图 A-30(b 的接法, Y 轴 I C =0.2m A 时, X 轴的偏移量为 BV CEO 值;被测管按图 A-30(c 的接法, Y 轴 I C =0.1mA时, X 轴的偏移量为 BV EBO 值。
测试曲线如图 A-30所示。
图 A-30 反向击穿电压曲线（NPN）图 A-31 反向击穿电压曲线（PNP）读数：BVCBO=70V（IC=100μA） BVCEO=60V（IC=200μA） BVEBO=7.8V（IC=100μA） PNP 型晶体管的测试方法与 NPN 型晶体管的测试方法相似。