Fe掺杂CdTe电磁性质的第一性原理研究

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铁电体的第一性原理研究进展PPT课件

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总之,VASP是一个成熟、稳定和高效的第一性原理计算软件包。
国内外研究现状
Cohen首次采用第一性原理计算BaTIO3和PbTIO3的电子密度,表明Ti的3d电子 和O的2P电子波函数有显著的交叠,而且铁电情况下的交叠比顺电情况更强, 进而得出结论:对于ABO3结构的钙钦矿型铁电体,B离子的d电子与氧离子的 2p电子之间存在比较强的轨道杂化,这种轨道杂化抑制了短程排斥力从而使 铁电性得以稳定。
4.集成铁电体的研究(铁电薄膜与半导体集成):
由于铁电存储器的诸多优点,近几年来人们对铁电薄膜与半导体集成投入了大量的研究。 铁电薄膜的极化具备两个不同的稳定状态(剩余极化强度士Pr),可分别作为信息存储的“0‘’ 和,‘l”代码。早在50年代人们就开始作了这方面的研究。当时存在的问题主要为:块材要求 电压很高,不能满足应用的要求;电滞回线的矩形度差,易发生读写错误;疲劳特性很差。80年 代以来,由于铁电薄膜制备技术的改进,新的铁电材料及电极材料的出现,铁电存储器又重新 活跃起来。
2.Gaussian98程序包。Gaussian98程序包中包含许多种计算方法,包括半经验及第一性 原理计算方法等。它是一个功能全面的计算程序包。它的主要处理对象是有机大分子体系, 计算时主要对单一大分子体系的各种性质进行计算。能给出有机分子的振动模式及反应过 程的信息。它的缺点是对含有重金属原子体系的计算几乎无法进行。
研究热点
尺寸效应和表面界面效应
金属或半导体电极间的铁电薄膜 铁电聚合物和复合材料的研究
写在最后
成功的基础在于好的学习习惯
The foundation of success lies in good habits
17
谢谢聆听
·学习就是为了达到一定目的而努力去干, 是为一个目标去 战胜各种困难的过程,这个过程会充满压力、痛苦和挫折

Fe原子薄片的磁性_第一性原理计算

Fe原子薄片的磁性_第一性原理计算

047502-2
物 理 学 报
Acta Phys. Sin.
Vol. 60 ,No. 4 ( 2011 )
047502
作用的是 Fe 的 3d 电子 .
表2 s 轨道 电子占据数 / e 平面正方 平面六角 体心立方 0. 502 0. 523 0. 487 磁矩 / μ В 0. 025 0. 020 - 0. 014 三种结构在平衡晶格常数时的价电子占据数以及对磁矩的贡献 p 轨道 电子占据数 / e 0. 305 0. 367 0. 538 磁矩 / μ В - 0. 009 0. 008 - 0. 056 d 轨道 原子总的 磁矩 / μ В 2. 651 2. 536 2. 199
* 国家自然科学基金( 批准号:10774124 ) 资助的课题 . 通讯联系人 . E-mail : zzhu@ xmu. edu. cn
, 选取 了 15 × 15 × 1 的 k 网 格 . 计 算 时 使 用 了
超原胞和周期性边界条件, 单 原 子 层 薄 片 方 向 为 x, y 方向, z 方向取 为 15 厚 的 真 空 层, 以消除原子薄
( 2010 年 6 月日 13 收到;2010 年 7 月 27 日收到修改稿)
使用基于密度泛函理论的第一原理方法, 对 Fe 单层原子薄片在二维正方 、 二维 六 角 晶 格 下 的 电 子 结 构 和 磁 学 性质进行了系统研究 . 结果表明, 二维正方 、 二 维 六 角 以 及 bcc 晶 格 在 平 衡 晶 格 常 数 下 都 具 有 磁 性, 其单位原子磁 2. 54 和 2. 20 μ В . 对二维晶格在被压缩和被拉伸时的磁性计算表明, 随着 晶 格 的 被 拉 伸, 当最近邻原 矩分别为 2. 65 , 铁原子间的键合被拉断, 体系单位原子的磁矩趋于孤立 Fe 原子的磁矩 4 μ В ;随着原子键长的 子间距大于 4. 40 时, 减小, 各体系的磁矩都随着最紧邻原子间距的减 小 而 减 小 . 当 键 长 缩 短 到 一 定 的 临 界 值 时 ( 平 面 正 方 1. 80 , 平面 六角 1. 75 ) , 铁磁性都会消失 . 使用 Stoner 理论, 可以理解晶格被缩短时体系由磁性到非磁性的变化 .

Fe掺杂碳纳米管吸附Al原子的第一性原理研究-中国有色金属学报

Fe掺杂碳纳米管吸附Al原子的第一性原理研究-中国有色金属学报

利用第一性原理对
基金项目:国家自然科学基金资助项目(51172062,51472074);河北省引进海外高层次人才“百人计划”资助项目(E2012100005) 收稿日期:2016-05-26;修订日期:2016-11-20 通信作者:安立宝,教授,博士;电话:0315-8805440;E-mail: lan@
由于具有理想的一维结构和独特的物理、化学性 质
[1−3]
碳纳米管与 Al 接触界面进行了理论计算, 结果表明碳 纳米管与 Al 之间有很高的肖特基势垒。GAO 等[15]研 究了 Pd 和 Al 与碳纳米管接触界面的电子结构和接触 电阻, 结果表明: 提高 Al 与碳纳米管之间的杂化作用 能降低它们之间的接触电阻。在碳纳米管表面掺杂的 研究中,B、N、Si 是经常采用的掺杂元素,而掺杂过 渡金属的研究却很少, 特别是 Fe 具有与碳纳米管相近 的功函数,并且与碳纳米管的接触电阻相对较低[13]。 因此, 本文作者采用第一性原理对本征和掺杂 Fe 碳纳 米管对 Al 的吸附进行模拟,研究掺杂 Fe 原子前后碳 纳米管对 Al 原子的吸附能,以及本征和掺 Fe 碳纳米 管吸附 Al 原子前后的能带结构和电荷分布, 从而探究 掺杂 Fe 对 Al 在碳纳米管表面吸附性能的影响。
, 碳纳米管被认为是制备高性能复合材料的理想
目前, 国内外已经开展了包括多种金属基 增强体[4−5]。 碳纳米管复合材料的研究, 其中 Al 基碳纳米管复合材 料具有耐腐蚀、低密度、易加工等优良性能,具有非 常广阔的应用前景
[6−7]
。但已有研究表明,Al 金属基[9]体与碳纳米管之间因浸润性差而存在吸附强度低、界 面接触电阻高等问题 。ESPEJEL-MORALES 等 研 究发现碳纳米管表面掺杂 B 原子后形成了缺电子结 构,并减小了碳纳米管的能隙。ZHANG 等

锰酸锂掺杂Fe和Co的性质的第一性原理计算

锰酸锂掺杂Fe和Co的性质的第一性原理计算
, , LiMn2 O4 doped with Fe and Co the lattice parameters will decrease about 0 3% and 0 5% respectively , These two doping modes allow the adjacent Mn3 + to be oxidized to Mn4 + thus reducing the possibility of Jahn - ( ), Teller distortion For Fe - doped spinel lithium manganate Li8 Mn15 FeO32 Li ions in Mn environment can be , extracted more easily and the first discharge voltage increases from 3 7 V to 4 623 V For Co doped spinel lith ( ), ium manganate Li8 Mn15 CoO32 the first discharge voltage is increased from 3 7 V to 4 101 V This study pro
研究为锂电池电容量研究提供理论数据的参考
关键词:LiMn2O4尖晶石氧化物;第一性原理计算;Jahn - Teller 效应;Fe/ Co 掺杂;电压
中图分类号: 文献标识码: : TM912
A DOI 2."274889:"2..../;0"-.-/".2;..;
First - principles calculations for properties of lithium manganate doped with transition metals Fe and Co

过渡金属及氧化物团簇结构、磁性、催化性质的第一性原理计算研究

过渡金属及氧化物团簇结构、磁性、催化性质的第一性原理计算研究

magnetic moment remarkably increases from 7烛of Scl30 to 131xB of Scl30CO,whereas it reduces
from 199n of Scl3 to 51xs ofScl3CO.
Eley—Rideal㈣and The competition between the
chemical reaction.
II
东南大学博士论文
东南大学博士论文
The performance of Pt/Cu(111)surface alloy catalysts in water gas shift reaction with a few Pt atoms doping in the Cu(111)surface were explored by using spin—polarized DFT.The Pt/Cu(111) surface alloy catalysts not only remarkably decrease the adsorption energy of CO,which Can
sequence in the presence ofCO.
The electronic properties and controlled single atom catalysis of isomorphous substituted bimetallic
oxide TMV3010(TM=Sc,Ti,Cr and Co)and V4010 were studied within the framework of a gradient-corrected DFT calculations.The charged clusters V409。1∥一show different electronic property from isoelectronic subsfitution bimetallic oxide Tiv309J0/CrV309,10 clusters and the terminal TM

Fe原子薄片的磁性_第一性原理计算

Fe原子薄片的磁性_第一性原理计算

关键词 : Fe ,原子薄片,磁性,从头计算
PACS : 75. 50. Bb ,75. 70. Ak ,71. 15. Nc ,73. 20. - r
研 究 了 厚 度 为 一 个 原 子 层 的 Fe 一原理平面波法,
1. 引

薄片在平面正方和平面六角两种晶格下的电子 结构和磁性. 计 算 了 不 同 晶 格 常 数 下 ( 即 晶 格 被 压缩和拉伸 情 况 下) 的 磁 矩 和 电 子 状 态 密 度, 试 图 通 过 Stoner 理 论 以 及 对 能 带 结 构 和 电 子 态 密 讨 论 过 渡 金 属 元 素 Fe 在 二 维 情 况 下 度的分析, 的纳米磁性.
047502-2
物 理 学 报
Acta Phys. Sin.
Vol. 60 ,No. 4 ( 2011 )
047502
作用的是 Fe 的 3d 电子 .
表2 s 轨道 电子占据数 / e 平面正方 平面六角 体心立方 0. 502 0. 523 0. 487 磁矩 / μ В 0. 025 0. 020 - 0. 014 三种结构在平衡晶格常数时的价电子占据数以及对磁矩的贡献 p 轨道 电子占据数 / e 0. 305 0. 367 0. 538 磁矩 / μ В - 0. 009 0. 008 - 0. 056 d 轨道 原子总的 磁矩 / μ В 2. 651 2. 536 2. 199
电子占据数 / e 磁矩( μ В / atom ) 电子占据数 / e 6. 263 6. 223 6. 251 2. 634 2. 508 2. 269 7. 069 7. 113 7. 277
使得判据 I × D ( E F , 费米面上的电子态密度足够大, NM ) > 1 得 到 满 足 时, 体 系 将 出 现 磁 的 不 稳 定 性, I 为 Stoner 因 子, 即 会 出 现 自 发 的 磁 化 . 这 里, D( E F , NM ) 为非 自 旋 极 化 情 况 下 得 到 的 费 米 面 上 NM ) 由大于 1 变 的电子态密度 . 反之, 当 I × D( E F , 体系将由磁化状态变为非磁性 . 图 4 以 为小于 1 时, NM ) 随 平面六角晶格 为 例, 给 出 了 参 数 I × D( E F , 平面六角结构的最 紧 邻 原 子 间 距 的 变 化 曲 线 . 可 以 看到, 相应 体 系 的 磁 性 变 化, 即键长缩短时体系由 可以通过 Stoner 理论来理解 . 磁性到非磁性的变化,

金属元素掺杂α-Fe(N)体系的电子结构及力学性能的第一性原理计算

金属元素掺杂α-Fe(N)体系的电子结构及力学性能的第一性原理计算

金属元素掺杂α-Fe(N)体系的电子结构及力学性能的第一性原理计算刘香军;杨吉春;贾桂霄;杨昌桥;蔡长焜【摘要】基于第一性原理研究M(M=Ti,V,Cr,Mn,Co和Ni)掺杂α Fe(N)的结合能、电子结构及力学性能.计算结果表明,Ti和V优先占据晶胞的顶角位置,Cr和Mn优先占据晶胞的体心位置,Co和Ni与N不相邻时结构最稳定.Ti与V的掺杂加强了晶胞的稳定性,Cr,Mn与Ni的掺杂削弱了晶胞的稳定性,Co的掺杂不影响晶胞的稳定性.这些过渡金属在α-Fe晶胞中均存在金属键和离子键的共同作用,成键轨道主要来自M3d,Fe4s3p3d与N2p.与纯α-Fe体系相比,掺杂体系刚性均变强,经计算可得α-Fe(N)-V体系的弹性模量E、剪切模量G和体积模量B均为最大值,即掺杂V可显著提高材料的力学性能,V是最有效的固氮元素,与高氮钢冶炼的实验结果相吻合.【期刊名称】《材料工程》【年(卷),期】2019(047)009【总页数】6页(P72-77)【关键词】第一性原理;高氮钢;电子结构;弹性常数【作者】刘香军;杨吉春;贾桂霄;杨昌桥;蔡长焜【作者单位】内蒙古科技大学材料与冶金学院,内蒙古包头014010;内蒙古科技大学材料与冶金学院,内蒙古包头014010;内蒙古科技大学材料与冶金学院,内蒙古包头014010;内蒙古科技大学工业技术研究院,内蒙古包头014010;内蒙古科技大学材料与冶金学院,内蒙古包头014010【正文语种】中文【中图分类】TG146N对钢材性能有着显著的影响,如强度、硬度均随N含量的增加而提高,韧性却不降低[1]。

同时N还能提升高氮钢的抗摩擦、抗腐蚀能力[2-4]。

由于常压下N 在钢液中的溶解度很低[5],通常采用高压充氮[6]和添加固溶金属氮化物的方法[7-9]来提高N在钢中的溶解度。

但高压充氮对设备的要求高、成本大,因此添加固溶金属氮化物(如Cr, Mn, Mo和V等的氮化物)来提高钢中氮含量是一种经济合理的有效方法。

电子和空穴掺杂CdO热电材料的第一性原理研究

电子和空穴掺杂CdO热电材料的第一性原理研究

电子和空穴掺杂CdO热电材料的第一性原理研究作者:张欣然来源:《山东工业技术》2015年第09期摘要:采用密度泛函理论下的第一性原理计算方法结合波尔兹曼输运理论,讨论不同电子和空穴掺杂浓度对CdO材料的电子结构及其热电输运特性的影响。

通过能带结构以及态密度的计算,分析掺杂后CdO的导带底和价带顶在费米能级附近的变化情况;在高温区电子和空穴掺杂CdO的赛贝克系数的绝对值都是随温度的升高而升高。

空穴掺杂后的载流子浓度比电子掺杂大,且空穴掺杂对CdO赛贝克系数的提高比电子掺杂要多。

关键词:第一性原理方法;热电材料;电子结构;赛贝克系数热电材料是将热能与电能直接相互转换的一种环境友好型功能材料,在温差发电和制冷领域有着广阔的应用潜力,寻找并开发高性能的热电转换材料是当务之急。

金属氧化物陶瓷材料引起了研究人员极大的兴趣,被认为是最具潜力的热电材料之一[1]。

氧化镉(CdO)是宽带隙的金属氧化物半导体材料,存在的氧空位和镉间隙缺陷使其具有较高的载流子浓度,具有优异电学性能,而被应用于平板显示装置以及光电子装置等领域[2]。

本文中,利用波尔兹曼输运理论计算不同电子和空穴掺杂浓度的CdO赛贝克系数随温度的变化情况,这为理解CdO的热电输运性质及设计CdO基的热电材料提供了理论依据[3]。

1 计算方法CdO属于面心立方结构,其空间群为Fm-3m,晶格常数为a=4.69Å。

计算中采用基于密度泛函理下的第一性原理软件包(Wien2k)和基于波尔兹曼输运理论的基础上的BoltzTrap程序软件包,电子之间的交换关联势采用Tran和Blaha修正的Becke-Johnson(TB-MBJ)泛函,以进一步提高计算的精确度。

对第一布里渊区采用54×54×54网格K点积分求和,进行自洽电子结构计算,停止后达到收敛[4]。

2 CdO的电子结构文中利用虚晶近似方法来模拟体系的不同电子和空穴掺杂浓度。

图1(a-b)分别为采用广义梯度近似下的PBE关联泛函和TB-MBJ近似方法计算的本征CdO分波态密度图。

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文章编号:1001G9731(2016)02G02036G05F e掺杂C d T e电磁性质的第一性原理研究∗李昭宁1,2,赵新才1,王伟平1,2(1.中国工程物理研究院流体物理研究所,四川绵阳621999;2.中国工程物理研究院高能激光科学与技术重点实验室,四川绵阳621999)摘㊀要:㊀使用基于密度泛函理论的第一性原理方法,计算研究了F e掺杂C d T e的晶格结构与电磁性质变化.研究发现,掺杂体系的晶格常数与电子结构等随掺杂F e原子的位置不同而异.通过能带结构与电子态密度的分析表明,不同占据位的F e原子表现出迥异的电子能级分布㊁轨道杂化等,从而引起体系电子性质与原子磁矩的显著变化.其中,替代位与间隙位F e杂质的原子磁矩分别为3.76和3.14玻尔磁子.这一研究对深入理解掺杂C d T e类稀磁半导体的物理性质有重要意义.关键词:㊀碲化镉;铁掺杂;电子结构;第一性原理中图分类号:㊀O469文献标识码:A D O I:10.3969/j.i s s n.1001G9731.2016.02.0080㊀引㊀言近年来,稀磁半导体(d i l u t e d m a g n e t i cs e m i c o nGd u c t o r s,简称D M S)引起了人们的广泛关注与研究.这种材料同时利用了电子的电荷属性与自旋属性,在信息的存储与处理上具有更快的速度与更低的能耗,从而在自旋电子学领域展现出广阔的应用前景[1].稀磁半导体主要通过在传统半导体中进行磁性原子掺杂来获得,如分子束外延法[2]等.一些磁性材料的居里温度甚至已经达到数百开尔文[3],具备了实用基础.同时,对稀磁半导体微观电子结构的研究工作[4],也在不断加深人们对材料性质及其物理机制的认识.稀磁半导体的研究主要集中在ⅢGⅤ族半导体以及ⅡGⅥ族半导体,而掺杂原子则有M n㊁C o等[4].其中,ⅡGⅥ族半导体的重要优势是,3d磁性原子具有更高的掺杂浓度(约35%),而在ⅢGⅤ族半导体中其掺杂浓度只有约8%.目前的困难则存在于具有磁性原子特征分布的稀磁半导体的生长制备,以及材料缺陷的处理与控制上.如何获取室温以上依然具有稳定良好性能的稀磁半导体[5G6],是目前的研究热点之一.作为重要的ⅡGⅥ族半导体,C d T e中掺M n(记为(C d,M n)T e)曾经被广泛研究[7G8].但是由于应用上存在的困难,研究焦点逐渐转移到(G a,M n)A s[9]㊁(G a,M n)N[10]㊁(Z n,M n)O[11]等材料上.现在,随着C d T e材料制备与应用工艺的提升,以及理论计算方法的成熟,有必要对基于C d T e的稀磁半导体进行更深层次的研究.因此,本文使用基于密度泛函理论(D F T)的第一性原理方法对(C d,F e)T e进行了计算研究,揭示了F e原子在不同掺杂位置(替代位和间隙位)下体系的电磁性质变化.1㊀计算方法计算模型采用由2ˑ2ˑ1单胞构成的超晶胞结构,共32个原子,即C d16T e16.其中,C d T e单胞为闪锌矿立方结构,晶格常数为0.6477n m,C dGT e初始键长为0.2805n m.建立超晶胞结构后,若使用一个F e 原子替换其中的一个C d原子,即构成替代位掺杂,记为F e1C d15T e16;若将一个F e原子置入以T e原子形成的四面体间隙位,即构成间隙位掺杂,记为F e1C d16T e16.这时体系的掺杂浓度约为3.1%.计算采用基于平面波赝势密度泛函理论的C A S T E P程序[12].交换关联势使用广义梯度近似(G G A)下的P e r d e wGB u r k eGE n z e r h o f形式[13],赝势使用V a n d e r b i l t超软赝势[14].计算时的平面波截止能量设为550e V,布里渊区的M o n k h o r s tGP a c k网格[15]设为3ˑ3ˑ6.为准确描述过渡族金属F e原子,使用G G A+U方法[16],其中对F e原子的3d电子加入U=3.0e V[17]的库伦作用.G G A+U方法考虑了同一轨道上两个自旋相反电子的强相互作用,因此可对半局域近似的G G A方法予以修正.计算时,先对超晶胞结构体系进行结构优化,使原子弛豫到平衡位置,当原子间受力小于0.01e V/n m时即认为得到收敛结构.再对收敛结构进行能量计算,得到体系的基态能量与电子结构.2㊀结果与分析掺杂体系的形成能表示如下E f=E d o p e d-E p u r e+(N p u r e,C d-N d o p e,C d)μC d-μF e ㊀㊀其中,E d o p e d为掺杂体系的自旋极化总能量,E p u r e 为未掺杂体系的总能量,N p u r e,C d和N d o p e d,C d分别为掺杂前与掺杂后体系中的C d原子数,μC d和μF e分别为C d630202016年第2期(47)卷∗基金项目:中国工程物理研究院高能激光科学与技术重点实验室基金资助项目(H E L2014G11)收到初稿日期:2015G04G15收到修改稿日期:2015G09G25通讯作者:李昭宁,EGm a i l:l i z h a o n i n g0@g m a i l.c o m 作者简介:李昭宁㊀(1986-),男,陕西岐山人,助研,硕士,从事激光与物质相互作用研究.原子与F e 原子的化学势.计算发现,F e 原子在间隙位掺杂与在替代位掺杂时体系的形成能之差为ΔE =E f (F e 1C d 16T e 16)-E f (F e 1C d 15T e 16)=1.104e V .因此,F e 杂质在能量上更倾向于占据在替代位.这与过渡族金属在ⅢGⅤ族半导体中掺杂的情况相同,但与在Ⅳ族半导体中掺杂情况相反[18].F e 杂质首先使体系的晶格结构发生变化.对于F e 1C d 15T e 16体系,F e T e 键长由优化前的0.2805n m 变为优化后的0.2644n m ,即键长缩短.同时,最近邻C d T e 键长为0.2890n m ,次近邻C d T e 键长为0.2875n m ,最远C d T e 键长为0.2858n m ,表现为距离F e 原子越远,C d T e 键长越短的规律;但其值均大于纯C d T e 体系中的C d T e 键长(0.2805n m ).由表1可以看出,在结构优化过程中,最近邻T e 原子向F e原子靠近,其余原子均远离.这主要与F e 原子具有较小的原子半径以及原子间相互作用有关.对F e 1C d 16T e 16体系,F e T e 键长由优化前的0.2805n m 变为优化后的0.2847n m ,即键长变长.同时,最近邻C d T e 键长为0.2891n m ,次近邻C d T e 键长为0.2867n m ,最远C d T e 键长为0.2895n m ,表现为随着距离F e 原子变远,C d T e 键长交替增减的规律.同时,由表1可知,在结构优化过程中,所有原子均向远离F e 原子方向移动.在两种掺杂情况下,体系的晶格常数均变大,分别由掺杂前的0.6477n m 增至0.6589n m (替代掺杂)和0.6685n m (间隙掺杂).表1㊀掺杂体系中杂质F e 原子与其它原子的间距T a b l e 1D i s t a n c e s b e t w e e n t h eF e i m p u r i t y an d t h eh o s t a t o m s 掺杂体系F e 原子与第n 近邻位原子间距/n m 1234567F e 1C d 15T e 16优化前0.28050.45800.53700.64770.70580.79330.9160优化后0.26440.46190.54630.65940.71810.80740.9326F e 1C d 16T e 16优化前0.28050.32390.53700.56090.70580.72420.9716优化后0.28470.33820.55330.58620.72710.74421.0001㊀㊀其次,掺杂体系的电子结构发生了很大变化.图1给出了在不同自旋通道上的能带结构图.图1㊀F e 掺杂C d T e 体系的能带结构图F i g 1E l e c t r o n i cb a n ds t r u c t u r e s f o rF ed o p e dC d T e s ys t e m s 图1中(a )㊁(b )为替代位F e 掺杂体系,图1(c)㊁(d )为间隙位F e 掺杂体系.图1(a )㊁(c)为自旋向上电子能带结构,图1(b )㊁(d )为自旋向下电子能带结构.图中虚线为费米能级,红色曲线表示来自F e 原子的3d 电子能态,绿色为价带顶,蓝色为导带底.当F e 原子在替代位掺杂时(图1(a )㊁(b )),体系的半导体属性没有发生改变,依然为Γ点处具有最小带隙的直接带隙半导体.需要注意的是,G G A 计算会低估半导体的带隙宽度E g ,此处E g =0.59e V ,远小于未掺杂C d T e带隙的实验值(1.490e V ).但计算结果的定性描述是准确并有价值的.由图1(a ),在自旋向上通道,费米能级附近的能带结构与掺杂前相比没有太大变化,其中,价带顶能态主要由T e 原子的5p 电子态所构成.图2为电子轨道分布图.图2(a )和(b )给出体系最高分子占据轨道(HOMO )在掺杂前后的空间分布.图2(a )为未掺杂体系的HOMO 轨道,图2(b )为F e 1C d 15T e 16体系的自旋向上HOMO 轨道;图2(c )㊁(d )分别为掺杂体系F e 1C d 15T e 16中杂质F e 原子的自旋向上与自旋向下3d 电子轨道;图2(e )㊁(f )分别为掺杂体系F e 1C d 16T e 16中杂质F e 原子的自旋向上与自旋向下3d 电子轨道.很明显,掺杂前HOMO 均匀分布于T e 原子上,掺杂后则只分布于杂质F e 原子的最近邻T e 原子上,表明掺杂引起HOMO 的定域化.进一步观察能带图发现,在-4.705与-5.134e V 处出现由杂质F e 原子所引入的平直能带.图2(c )给出其中一条平直能态对应的电子轨道的空间分布,可以看到该电子轨道仅分布于F e 原子周围空间.图3(a )给出相应掺杂体系的电子态密度(D O S )图.显然,这些平直能带来自F e 原子的3d 轨道电子态.由于能量分布上具有很强的定域性,这些能级上的电子轨道没有与近邻T e 73020李昭宁等:F e 掺杂C d T e 电磁性质的第一性原理研究原子间发生轨道杂化作用.在自旋向下通道(图1(b )),首先看到约5.0e V 处平直能带的消失,而在导带底部则出现了F e 原子的杂质能带.该杂质能带对应的电子轨道分布如图2(d )所示.从D O S 图可以得到,这些新能带来自F e 原子3d 壳层未被填充的电子轨道态.其中,导带底能带在布里渊区由Γ点处的0.646e V 扩展至X 点处的1.128e V ,使得自旋向下通道带隙为0.82e V ,大于自旋向上通道的0.59e V .分析可知,F e 原子的6个3d 电子中有4个占据平直能带处的四重3d 轨道态(自旋向上),其余2个占据能量稍高的F e 3d GT e5p 杂化轨道态(一个自旋向上,一个自旋向下).因此,F e 原子磁矩为M F e =[n ʏ(x )-n ˌ(x )]μB =(5-1)μB =4.0μB .这与计算结果给出的3.76μB 相符,也与F e 原子在S i 中进行替代位掺杂时的磁矩相同[17].这时,体系的总磁矩为4.00μB .此外,由D O S 图可以得到,T e 原子的5s 电子态主要局域在-10.670e V 处;C d 原子的4d 电子态则局域在-9.044e V 处.图2㊀电子轨道分布图F i g 2Di s t r i b u t i o n s o fm o l e c u l e o r b i t a l s ㊀㊀当F e 原子在间隙位掺杂时,体系电子结构发生了很大变化.由能带图可以看到(图1(c )㊁(d )),费米能级向高能方向移动了1.416e V ,进入导带,使体系由半导体转变为导体.在自旋向上通道,没有观察到替代位F e 掺杂时约-5.0e V 处的平直能带.分析可知,这些能态向高能方向移动,主要分布于约-4.0e V 附近,并扩展分布于-6.078~-1.556e V 能量区间.图2(e)给出其中一条能态对应的电子轨道分布,可以看到,电子轨道不再像在替代位掺杂时那样局域在F e 原子周围,而是进一步扩展至近邻T e 原子空间.图3为F e 掺杂C d T e 体系的电子态密度图.其中,图3(a)为替代位F e 掺杂体系,图3(b )为间隙位F e 掺杂体系.图中还给出了F e 原子3d 轨道㊁近邻C d 原子4d 轨道㊁T e 原子5s 轨道㊁5p 轨道电子的分波态密度.由DO S 图分析可知(图3(b )),这些来自F e 原子的3d 电子态与T e 原子的5p 电子态发生轨道杂化,同时还伴随有一定的F e 4s GT e 5p 轨道杂化.这时,F e 原子同样有5个电子占据自旋向上3d 杂化轨道态.不同的是,其中4个电子来自初始的3d 轨道,1个电子来自初始的4s 轨道.剩下的1个4s 电子则以概率形式平均占据自旋向上与自旋向下的F e 4s GT e 5p 杂化态.在自旋向下通道,费米能级下0.997e V 处出现从Γ点到X 点平直延伸的能带.由D O S 图可以得出,该平直能带来自F e 原子的3d 电子态,且局域在禁带中心位置,没有与近邻原子间发生轨道杂化.图2(f )给出与该能态对应的电子轨道分布.分析可知,该能态为二重简并态,可容纳2个3d 电子占据.因此,间隙位F e 原子磁矩为M F e =[n ʏ(x )-n ˌ(x )]μB =(5-2)μB =3.0μB .这与计算结果给出的3.14μB 相符.但与S i 中间隙位F e 掺杂时2.0μB 的结论相异[17].这时,体系的总磁矩为3.16μB .此外,未占据的3d 电子态不再分布在导带底,而是位于导带中较高能量处.T e 原子的5s 态㊁C d原子的4d 态相对于价带顶的位置没有发生明显变化.由上可见,F e 原子掺杂位置不同时,体系表现出830202016年第2期(47)卷不同的电子结构,特别是F e原子的3d电子态分布,使杂质F e原子具有不同的原子磁矩.这与M n原子掺杂C d T e时体系电子结构上的稳定性是截然不同的.图4给出M n掺杂C d T e体系的D O S图.图3㊀F e掺杂C d T e体系的电子态密度图.F i g3E l e c t r o nd e n s i t y o fs t a t e sf o rF ed o p e d C d T es y s t e m s图4㊀M n掺杂C d T e体系的电子态密度图F i g4E l e c t r o nd e n s i t y o f s t a t e s f o r M nd o p e dC d T es y s t e m s其中,图4(a)为替代位M n掺杂体系,图4(b)为间隙位M n掺杂体系.图中还给出了M n原子3d轨道㊁近邻C d原子3d轨道㊁T e原子5s轨道㊁5p轨道电子的分波态密度.可以看到,替代位掺杂时,M n原子的3d电子态局域在价带深处约-4.743e V处,并且不与近邻原子轨道间发生轨道杂化.特别是,这些3d电子占据态几乎全部处于自旋向上通道,自旋向下通道的3d电子态则分布在导带中,形成未占据态.因此, M n原子的磁矩为M F e=[nʏ(x)-nˌ(x)]μB=(5-0)μB=5.0μB.这与计算结果给出的M n原子磁矩5.08μB相符.而间隙位掺杂时,除了F e r m i能级向高能方向移动进入导带外,体系电子结构并没有发生显著变化,M n原子磁矩为5.18μB.3㊀结㊀论使用基于密度泛函理论的第一性原理方法,计算研究了F e掺杂C d T e晶体的晶格结构㊁电子结构等性质变化.结果发现:(1)㊀F e掺杂体系中原子的键长㊁弛豫位置随杂质原子位置(替代位或间隙位)不同而异,但体系的晶格常数都变大.在形成能上,F e原子更倾向于占据替代位.(2)㊀替代位F e掺杂时,体系保持半导体性.F e 原子的自旋向上3d电子态主要以定域态形式分布在价带深处,自旋向下3d电子态则主要分布于导带底形成未占据态.F e原子磁矩为3.76μB.(3)㊀间隙位F e掺杂时,费米能级进入导带中,体系转变为导体.F e原子的自旋向上3d电子态以F e 3dGT e5p轨道杂化态形式存在,自旋向下3d电子态则局域在禁带中.F e原子磁矩为3.14μB.F e掺杂C d T e体系的电子结构表现出对掺杂位置的依赖性,这与M n掺杂体系明显不同.在下一步的研究中,需要对掺杂体系中F eGF e原子间的耦合作用进行研究[19],从而对(C d,F e)T e作为稀磁半导体的实用性建立更充分的理论基础.参考文献:[1]㊀O h n o H.M a k i n g n o n m a g n e t i c s e m i c o n d u c t o r s f e r r o m a gGn e t i c[J].S c i e n c e,1998,281(5379):951G956.[2]㊀O h n o H,S h e nA,M a t s u k u r aF,e t a l.(G a,M n)A s:a n e wd i l u t e d m a g n e t i cs e m i c o n d u c t o rb a s e do nG a A s[J].A p p l P h y sL e t t,1996,69(3):363G365.[3]㊀J a m e tM,B a r s k iA,D e V i l l e r sT,e t a l.H i g hGC u r i eGt e mGp e r a t u r e f e r r o m a g n e t i s m i n s e l fGo r g a n i z e d G e1Gx M n xn a n o c o l u m n s[J].N a t u r e M a t e r i a l s,2006,5(8):653G659.[4]㊀S a t o K,B e r g q v i s tL,K u d r n o v s k y J,e ta l.F i r s tGp r i n c iGp l e st h e o r y o fd i l u t e m a g n e t i cs e m i c o n d u c t o r s[J].R e vM o dP h y 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no r d e r t om a k e a n a c c uGr a t ed e s c r i p t i o n o f t r a n s i t i o n a t o mF e,a g e n e r a l i z e d g r a d i e n t a p p r o x i m a t i o n(G G A)+U m e t h o d i s u s e d.T h e r eGs u l t s s h o wt h a t t h e r e a r e s i g n i f i c a n t c h a n g e s i n t h e b o n d l e n g t h s,m a g n e t i z a t i o n a n d e l e c t r o n i c p r o p e r t i e s.B a s e d o ne l e c t r o n i c b a n d s t r u c t u r e a n d e l e c t r o nd e n s i t y o f s t a t e s,v a r i e s i n e l e c t r o n i c s t r u c t u r e s i n d u c e db y o r b i t a l h yGb r i d i z a t i o nw i t h r e s p e c t t o d i f f e r e n t d o p i n g s i t e t y p e s(s u b s t i t u t i o n a l o r i n t e r s t i t i a l)a r e a n a l y s e d.I t i s f o u n d t h a t t h e l o c a lm a g n e t i cm o m e n t s o f s u b s t i t u t i o n a l a n d i n t e r s t i t i a lF e i m p u r i t i e s a r e3.76a n d3.14B o h rm a g n e t o n s, r e s p e c t i v e l y.T h e s e c o n 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