原子力显微镜的原理及使用
原子力显微镜技术的原理和应用
原子力显微镜技术的原理和应用原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种利用压电陶瓷探针与样品之间的相互作用进行高分辨率成像的技术。
相比于传统的光学显微镜，原子力显微镜可以在纳米级别对样品表面形貌、力学性能、电学性质等进行非接触、高分辨率的观测和测量。
原理原子力显微镜的探针是由纳米尺寸的硅或氮化硅材料制成的，具有极高的机械强度和较小的弹性变形。
在扫描过程中，探针会通过扫描头的控制，使探针与样品表面接触，并在靠近距离内感受到样品表面的反弹力。
探针与样品表面之间的相互作用主要有万有引力、范德华力、静电力和化学键作用力等。
在不同的距离范围内，这些相互作用力数量级的变化可能非常大。
通过控制扫描头与样品之间的距离并检测探针反弹的强度，就可以获得样品表面的高分辨率图像。
应用原子力显微镜技术广泛应用于纳米材料和生物学领域中。
以下是原子力显微镜在不同应用领域中的应用情况：材料科学原子力显微镜技术对于纳米级别的材料表面形貌、结构、力学性能和电学性质的研究非常有用。
许多纳米材料例如碳纳米管、石墨烯和纳米线等，都具有特殊的表面结构和力学性能，这些特性是通过原子力显微镜技术进行高分辨率观测和测量得到的。
生命科学原子力显微镜技术可以用于生命科学中对细胞和蛋白质结构的研究。
通过原子力显微镜技术，科学家们可以研究单个分子的形态和机制，并观察生物分子的反应、扩散和结构变化等。
这项技术已经被用于细胞壁的形态学研究、蛋白质折叠过程的研究以及DNA结构的研究等。
纳米电子学原子力显微镜技术还可以用于纳米电子学中，特别是在研究半导体器件和纳米电子学元器件时。
举例来说，它被用于研究纳米晶体管的性能和导电性质，并且成功地对其器件的构造进行了重建和监测。
环境科学原子力显微镜技术可以用于对环境污染物的检测和监测。
例如，它可以用于研究气凝胶的形貌、结构和性质，与污染控制相关的表面湿润性研究等。
总体来说，原子力显微镜是一种高分辨率成像和测量技术，其应用带来了许多已知和未知领域的新见解和突破。
原子力显微镜技术的原理与应用
原子力显微镜技术的原理与应用原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种扫描探针显微镜。
它可以利用细针探头扫描物体表面，通过测量探针与物体表面间产生的微小力的变化，获得物体表面的结构和形貌信息。
AFM可以提供比传统光学显微镜高出数个数量级的空间分辨率，并且可以使用在广泛的材料科学领域。
AFM的原理是通过测量探头与被测物表面产生的原子力来获取表面的拓扑信息。
所谓原子力即是在纳米尺度下物理相互作用力的结果。
在扫描物体表面时，AFM探头会因为被测物体表面的起伏产生不同的压力变化，进而引起探头弹性的变化。
这种弹性变化就是AFM所探测到的力信号。
通过探头和被测物表面之间的距离变化，测量出力信号，再利用计算机数值分析技术，即可获得物体表面的结构和形貌信息。
AFM可以实现高空间分辨率的成像，可达到亚纳米级别，甚至可以达到原子级别。
这使得AFM成为实验室中最强大的表面分析工具之一。
AFM在材料科学、物理化学、生物医学、环境科学等方面都有广泛应用。
在材料科学领域，AFM技术广泛应用于材料的表面形貌和表面结构的研究。
通过AFM技术可以获得微小的表面形貌和结构，对材料的物理和化学性质进行深入了解。
因此，AFM是新材料的研究和设计中不可或缺的工具。
在物理化学领域，AFM技术也有广泛应用。
例如，在纳米材料领域，AFM被用于研究纳米级别颗粒的相互作用和表面重构。
同时，由于AFM可以探测到原子尺度的相互作用力，它已成为原子和分子间相互作用力测量的有效工具。
在生物医学领域，AFM技术也有广泛应用。
通过AFM可以直接对活细胞的构造和纳米级别的结构进行研究，从而深入了解细胞膜、蛋白质、核酸分子等生命体的结构和功能，为生物医学的研究提供了更有力的工具和方法。
在环境科学领域，AFM技术已成为一种有效的环境污染监测手段。
例如，AFM被用于评估沉积颗粒的大小分布和形态特征，从而更好地了解污染物质在环境中的分布和传播情况。
原子力显微镜的原理及其在纳米技术中的应用
原子力显微镜的原理及其在纳米技术中的应用原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种能够对物质表面进行高分辨率成像、观察和分析的工具。
其原理是运用针尖与材料表面间的相互作用力探测表面形貌和性质。
本文将详细介绍原子力显微镜的基本原理和在纳米技术中的应用。
一、原子力显微镜的原理1.扫描震动式的设计原子力显微镜是一种通过扫描针尖对样品表面进行精准探测的显微镜。
针尖运动时产生的振动能够检测到样品表面形貌和结构。
其扫描震动式的设计基于谐振原理。
扫描针尖与样品表面之间有作用力，这种结果会导致针尖的振动。
2.针尖与样品间的相互作用力AFM的针尖必须具备反射杆和尖端，拥有较好的尺度和形状效应。
仪器通过感应针尖与样品之间的互相作用力，以机械臂与探针的相对运动来探测样品表面形貌及性质。
针尖接触样品表面后产生的万斯力会改变针尖的振动的振幅。
3.信封式皮扫描仪的使用在现代原子力显微镜中，信封式皮扫描仪被广泛应用，可以快速检测样品的形貌和特性。
信封式皮扫描仪不仅能够以很高的分辨率，而且能够在大范围内扫描样品，从而获得更准确的表面图像。
二、原子力显微镜在纳米技术中的应用1.纳米材料的研究原子力显微镜可以用于研究各种纳米材料，如量子点、金纳米粒子等。
由于其高分辨率和强大的成像优势，它可以揭示所有细节和表面特性。
原子力显微镜可以在不损伤样品的情况下进行非破坏性成像和分析，具有广泛的研究应用。
2.生物医学领域的应用原子力显微镜可以在细胞水平上对生物体进行研究，甚至可以在细胞内进行。
它使用非破坏性的方式扫描样品表面，具有非常高的分辨率，能够揭示生物样品的分子结构、表面形貌和纳米尺度下的物理和化学特性等，对于研究分子的运动、受体结构、细胞和组织的结构等方面具有重要的科学和生物医学意义。
3.纳米加工和表面处理原子力显微镜提供了一种便捷而强大的方式，可以实现在纳米尺度下进行样品加工和表面处理。
它可以通过控制扫描针尖与样品表面间的距离和采取不同的物理或化学手段，在表面上进行制造、刻蚀和表面修饰，从而生成微小的纳米结构或复杂纳米体系。
原子力显微镜的原理及应用
ห้องสมุดไป่ตู้
等信息。
接触热力学探头等，获得更多的表面物
理性质信息。
3
数据图像处理
通过对采集的数据和图像进行处理和分 析，实现对样品表面形貌、力学性质等 信息的定量研究。
原子力显微镜的优势和局限性
优势
高分辨率、高精度、高灵敏度的观测和表征能 力。
局限性
不能直接观测样品三维结构，对样品表面有要 求，无法观测活体生物样品。
原子力显微镜在材料科学中的应用
材料表征
原子力显微镜可以对各种材料进行表征研究，例如 纳米粒子、原子层材料、碳纳米管等。
材料力学性质
原子力显微镜可以实现对材料力学性质的高精度测 试，如硬度、弹性、塑性等。
原子力显微镜在生物科学中的应用
1
生物样品表征
原子力显微镜可以对生物细胞、蛋白质、分子等进行表征和成像，为生物学中的 结构研究提供了高分辨率的手段。
原子力显微镜的原理及应 用
原子力显微镜，是一种基于扫描探针显微技术的高分辨率显微镜。它是现代 科学领域中不可或缺的工具之一，被广泛应用于材料科学、生物科学和纳米 技术领域。
原子力显微镜的基本原理
原子结构
原子力显微镜是基于原子结构的探测原理，通过探 测力的作用，实现对样品进行微观的表面观测和分 析。
2
材料学和生物学的融合
利用原子力显微镜的高分辨率和灵敏度，可以实现生物和材料科学的融合，如生 物医学材料的研究和开发等。
原子力显微镜在纳米技术中的应用
纳米材料成像
原子力显微镜可以实现对纳米粒 子、溶胶凝胶等纳米材料的表征 和成像。
纳米器件制造
利用原子力显微镜的纳米级控制 能力，可以实现各种纳米器件的 制造和加工，如纳米电路、存储 器等。
原子力显微镜的实验原理和应用
原子力显微镜的实验原理和应用原子力显微镜又称作扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscopy），是一种高分辨率的表面显微镜。
与传统的光学显微镜和电子显微镜不同，原子力显微镜可以在原子尺度下进行观察，能够接近甚至达到原子级别的分辨率，可以对样品表面的形貌和电学性质进行研究，应用十分广泛。
原理原子力显微镜的基本原理是在样品表面和微小的扫描探头（针尖）之间产生晶格力作用，利用针尖的扫描探测样品表面均匀的电子密度分布。
探头的尖端与样品表面的原子产生相互作用，产生一个吸引或排斥的作用力，这个力的大小和方向都会发生改变，因而在探头和样品表面之间会出现来回晃动的微小变化。
原子力显微镜是通过测量探针与样品表面之间的力来获取样品表面的形貌等信息的。
在扫描的过程中，探针不停地沿着扫描方向（x和y坐标轴）上下震动，保持在一个非常接近于样品表面的距离（一般是几纳米）。
然后就可以计算出样品表面上各个点离探针的距离。
这里所测量到的距离，比传统光学显微镜或电子显微镜的分辨率高很多，并且该技术还可以在空气、液体等多种环境下使用。
应用原子力显微镜具有极高的分辨率，因此应用范围非常广泛。
以下是一些常见的应用领域：1.纳米科学研究原子力显微镜的分辨率可以达到纳米级别，可以研究各种材料在纳米尺度下的表面结构和形貌。
因此，它非常有用于研究纳米科学领域，如纳米材料合成、磁性材料、生物分子等。
2.生物医学研究原子力显微镜可以用来研究生物分子，如蛋白质、DNA、RNA 等，这对研究生物学和医学非常有用。
利用原子力显微镜还可以研究细胞表面的形态学变化、细胞生物物理性质和细胞内分子运动。
3.材料科学研究原子力显微镜的高分辨率使其非常适合研究材料性质、材料表面微观结构、材料加工以及材料在不同条件下的变化。
例如，原子力显微镜可以研究金属、半导体、掺杂材料、催化剂和涂层等材料的表面形貌和电学性质。
4.纳米机器人研究原子力显微镜可以操作单个原子或分子，这为构建纳米机器提供了可能。
原子力显微镜的原理及应用
原子力显微镜的原理及应用1. 原子力显微镜的原理原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种基于探针与样品之间的相互作用力进行显微观测的仪器。
它利用微小探针在纳米尺度上与样品表面的相互作用力，通过测量探针的位移或力的变化，实现对样品表面形貌和性质的高分辨率表征。
1.1 原子力显微镜的探针•原子力显微镜的探针通常由单个或多个纳米尺寸的晶体材料制成，如硅、碳纳米管等。
探针的尖端具有非常尖锐的几何形状，其尺寸可以控制在纳米级别。
1.2 原子力显微镜的工作原理•原子力显微镜在扫描过程中，探针通过微小的弹簧力和表面之间的静电引力或范德华力等相互作用力与样品表面发生作用。
这些相互作用力的变化通过探针的位移或力的变化传递给检测系统，最终生成样品表面的形貌和性质图像。
2. 原子力显微镜的应用原子力显微镜在材料科学、表面物理和生物科学等领域有着广泛的应用。
下面列举了一些常见的应用领域。
2.1 材料表面形貌与性质分析•原子力显微镜能够对材料表面的形貌和性质进行高分辨率的表征，包括表面粗糙度、晶体结构、自组装行为等。
这对于材料的表面工艺和性能研究具有非常重要的意义。
2.2 生物样品的形态学研究•原子力显微镜可以对生物样品中的细胞、细胞器、蛋白质等进行高分辨率的形态学研究。
通过观察生物样品的表面形貌和结构，可以获取关于其生物学功能和病理变化的重要信息。
2.3 表面力学性能的表征•原子力显微镜可以通过对探针与样品之间的弹性变形进行测量，实现对样品的力学性能进行表征。
这对于材料的力学性能分析、薄膜的力学性质研究等具有重要意义。
2.4 纳米加工与纳米操控•原子力显微镜不仅可以用于纳米尺度下的观察，还可以通过在探针尖端施加微小力量，实现纳米级别的加工和操纵。
这对于纳米器件的制备和纳米材料的操控具有非常重要的应用前景。
2.5 电磁性能的表征•原子力显微镜可以通过测量在电磁场作用下样品表面的位移或力的变化，实现对电磁性能的表征，包括电容、导电性等。
原子力显微镜的原理和应用
原子力显微镜的原理和应用概述原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高分辨率的显微镜技术，它利用原子力与样品表面的相互作用来获取高分辨率的表面形貌信息。
本文将介绍原子力显微镜的原理和应用。
原理原子力显微镜的工作原理基于原子力的相互作用。
当显微探针接触到样品表面时，电荷间的相互作用力、范德华力和弹性力等会产生一个相互作用力，这个力会引起探针的偏转。
通过测量探针的偏转，我们可以获得样品表面的形貌信息。
原子力显微镜可以实现纳米级别的表面分辨率。
应用原子力显微镜在许多科学领域中都有广泛的应用，下面介绍几个主要的应用领域：1.表面形貌研究–原子力显微镜可以提供样品表面的形貌信息，从纳米到原子级别的表面结构都可以被观测到。
这对于材料科学、纳米科学和表面化学等领域的研究具有重要意义。
2.生物学研究–原子力显微镜可以用于生物学研究中的细胞和生物大分子等样品的观测。
通过观察细胞表面的形貌和结构，可以了解细胞的形态学特征和组织结构，对于生物学的研究和疾病的诊断具有重要意义。
3.纳米器件制备与分析–原子力显微镜可以用于纳米器件的制备和分析。
通过在样品表面进行纳米级别的操控，可以实现纳米器件的组装和调整。
同时，通过原子力显微镜的测量，可以对纳米器件的性能进行评估和分析。
4.表面力研究–原子力显微镜可以用于研究表面间的非接触力。
通过测量探针和表面之间的力，可以了解表面的吸附性质、分子间的相互作用以及材料的力学性质等。
这对于材料科学和化学领域的研究具有重要意义。
5.纳米力学研究–原子力显微镜可以用于研究材料的纳米力学性质。
通过测量样品表面的力曲线，可以获得材料的力学性质，如硬度、弹性模量等。
这对于材料科学和材料工程的研究具有重要意义。
总结：原子力显微镜是一种基于原子力的高分辨率显微镜技术，可以用于表面形貌研究、生物学研究、纳米器件制备与分析、表面力研究以及纳米力学研究等领域。
它的广泛应用将推动科学研究和技术发展的进步。
原子力显微镜的工作原理和应用
原子力显微镜的工作原理和应用原子力显微镜被广泛应用于材料科学和纳米技术领域，可以帮助人们观察和研究几乎任何表面的形状和特性。
本文将介绍原子力显微镜的工作原理以及其在生物学和材料科学领域的应用。
一、原子力显微镜的工作原理原子力显微镜是一种扫描探针显微镜，它利用一根尖端非常尖锐的针通过控制力的作用来扫描样品表面。
与其他扫描探针显微镜不同的是，原子力显微镜扫描的距离只有几纳米至十纳米这么长，因此可以产生高度的细节及形状。
在原子力显微镜中，扫描针与样品表面之间设置有一个极其细微的探针尖端和样品表面上的原子表面，当二者相互接触时，扫描针会受到其中的原子引力或斥力的影响，这种影响被测量并转换为图像的亮度和颜色。
二、原子力显微镜在材料科学中的应用原子力显微镜在材料科学中的应用广泛，可以帮助科学家更好地了解材料的结构和特性，进而设计出更好的材料。
1.材料表面形貌观察原子力显微镜可以观察到几乎所有物质的表面形貌，而不需要特殊准备样品过程。
这对于研究材料表面的形貌和结构非常重要，可以提供关于材料性质、制备方法等的重要信息。
2.纳米材料研究纳米材料在材料科学中具有重要的地位，因为它们具有独特的物理和化学性质。
用原子力显微镜可以观察和研究纳米颗粒、纳米线、纳米棒等纳米材料，能够得出纳米结构的大小、形状和分布等的相关参数。
三、原子力显微镜在生物学中的应用除了在材料科学中的应用，原子力显微镜还被广泛应用于生物学领域，因为它可以观察活细胞以及细胞内的分子。
1.大分子结构解析原子力显微镜可以在几乎液态气十亿个分子级别上进行研究，这使得研究生物分子等复杂大分子的结构成为可能，并且能够帮助人们理解这些大分子的功能。
2.生物分子相互作用研究通过在纳米级别上观察蛋白质、DNA或RNA及其他生物大分子表面的相互作用，原子力显微镜可以揭示这些分子是如何相互作用和合作的。
总之，原子力显微镜是一个强大的工具，可以帮助科学家更好地了解材料和生物体系的结构和功能，为人们开发新材料和药物提供了有力的支持。
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原子力显微镜的原理及使用通过近代物理实验课的学习，了解了许多仪器的工作原理以及使用方法，对今后的科研学习有很大的帮助。
其中原子力显微镜就是其中之一，对于做材料方面的专业来说，原子力显微镜在表征物质的表面结构及性质起着重要的作用。
前段时间我们利用AFM对用RF磁控溅射制备的PZT薄膜进行了表征，通过对AFM的使用并查找相关文献，使我对原子力显微镜有了更加深刻的认识。
原子力显微镜，英文：Atomic Force Microscope ，简写：AFM。
是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分。
它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。
微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。
AFM测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。
一、仪器结构：在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。
1、力检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。
所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的变化量。
微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。
微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。
这微小悬臂有一定的规格，例如：长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状，而这些规格的选择是依照样品的特性，以及操作模式的不同，而选择不同类型的探针。
2、位置检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂cantilever摆动，所以当激光照射在微悬臂的末端时，其反射光的位置也会因为悬臂摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。
在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供SPM控制器作信号处理。
3、反馈系统在原子力显微镜（AFM）的系统中，将信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为内部的调整信号，并驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持一定的作用力。
AFM系统使用压电陶瓷管制作的扫描器精确控制微小的扫描移动。
压电陶瓷是一种性能奇特的材料，当在压电陶瓷对称的两个端面加上电压时，压电陶瓷会按特定的方向伸长或缩短。
而伸长或缩短的尺寸与所加的电压的大小成线性关系。
也就是说，可以通过改变电压来控制压电陶瓷的微小伸缩。
通常把三个分别代表X，Y，Z方向的压电陶瓷块组成三角架的形状，通过控制X，Y方向伸缩达到驱动探针在样品表面扫描的目的；通过控制Z方向压电陶瓷的伸缩达到控制探针与样品之间距离的目的。
原子力显微镜（AFM）便是结合以上三个部分来将样品的表面特性呈现出来的：在原子力显微镜（AFM）的系统中，使用微小悬臂（cantilever）来感测针尖与样品之间的相互作用，这作用力会使微悬臂摆动，再利用激光将光照射在悬臂的末端，当摆动形成时，会使反射光的位置改变而造成偏移量，此时激光检测器会记录此偏移量，也会把此时的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整，最后再将样品的表面特性以影像的方式给呈现出来。
二、工作原理：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。
利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
下面，我们以激光检测原子力显微镜（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection forForce Detection, Laser-AFM）——扫描探针显微镜家族中最常用的一种为例，来详细说明其工作原理。
如图1所示，二极管激光器（Laser Diode）发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。
在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检测光斑位置的变化，就能获得被测样品表面形貌的信息。
在系统检测成像全过程中，探针和被测样品间的距离始终保持在纳米（10e-9米）量级，距离太大不能获得样品表面的信息，距离太小会损伤探针和被测样品，反馈回路(Feedback)的作用就是在工作过程中，由探针得到探针-样品相互作用的强度，来改变加在样品扫描器垂直方向的电压，从而使样品伸缩，调节探针和被测样品间的距离，反过来控制探针-样品相互作用的强度，实现反馈控制。
因此，反馈控制是本系统的核心工作机制。
本系统采用数字反馈控制回路，用户在控制软件的参数工具栏通过以参考电流、积分增益和比例增益几个参数的设置来对该反馈回路的特性进行控制。
三、工作模式：原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。
主要有以下3种操作模式:接触模式(contact mode) ，非接触模式( non -contact mode) 和敲击模式( tapping mode) 。
1、接触模式从概念上来理解，接触模式是AFM最直接的成像模式。
正如名字所描述的那样，AFM 在整个扫描成像过程之中，探针针尖始终与样品表面保持紧密的接触，而相互作用力是排斥力。
扫描时，悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构，因此力的大小范围在10 - 10～10 - 6 N。
若样品表面柔嫩而不能承受这样的力，便不宜选用接触模式对样品表面进行成像。
2、非接触模式非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5～10 nm 的距离处振荡。
这时，样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制，通常为10 - 12 N ，样品不会被破坏，而且针尖也不会被污染，特别适合于研究柔嫩物体的表面。
这种操作模式的不利之处在于要在室温大气环境下实现这种模式十分困难。
因为样品表面不可避免地会积聚薄薄的一层水，它会在样品与针尖之间搭起一小小的毛细桥，将针尖与表面吸在一起，从而增加尖端对表面的压力。
3、敲击模式敲击模式介于接触模式和非接触模式之间，是一个杂化的概念。
悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡，针尖仅仅是周期性地短暂地接触/ 敲击样品表面。
这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了。
因此当检测柔嫩的样品时，AFM的敲击模式是最好的选择之一。
一旦AFM开始对样品进行成像扫描，装置随即将有关数据输入系统，如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的最大距离等，用于物体表面分析。
同时，AFM 还可以完成力的测量工作，测量悬臂的弯曲程度来确定针尖与样品之间的作用力大小。
4、三种模式的比较接触模式（Contact Mode）：优点：扫描速度快，是唯一能够获得“原子分辨率”图像的AFM垂直方向上有明显变化的质硬样品，有时更适于用Contact Mode扫描成像。
缺点：横向力影响图像质量。
在空气中，因为样品表面吸附液层的毛细作用，使针尖与样品之间的粘着力很大。
横向力与粘着力的合力导致图像空间分辨率降低，而且针尖刮擦样品会损坏软质样品（如生物样品，聚合体等）。
非接触模式（Non-Contact Mode）：优点：没有力作用于样品表面。
缺点：由于针尖与样品分离，横向分辨率低；为了避免接触吸附层而导致针尖胶粘，其扫描速度低于Tapping Mode和Contact Mode AFM。
通常仅用于非常怕水的样品，吸附液层必须薄，如果太厚，针尖会陷入液层，引起反馈不稳，刮擦样品。
由于上述缺点，on-contact Mode的使用受到限制。
轻敲模式（Tapping Mode）：优点：很好的消除了横向力的影响。
降低了由吸附液层引起的力，图像分辨率高，适于观测软、易碎、或胶粘性样品，不会损伤其表面。
缺点：比Contact Mode AFM 的扫描速度慢。
四、AFM优缺点：1、优点：相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。
不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。
同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。
第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。
这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。
2、缺点：和扫描电子显微镜(SEM)相比，AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢，受探头的影响太大。
五、使用AFM对样品的要求：原子力显微镜研究对象可以是有机固体、聚合物以及生物大分子等，样品的载体选择范围很大,包括云母片、玻璃片、石墨、抛光硅片、二氧化硅和某些生物膜等,其中最常用的是新剥离的云母片,主要原因是其非常平整且容易处理。
而抛光硅片最好要用浓硫酸与30%双氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h 。
利用电性能测试时需要导电性能良好的载体,如石墨或镀有金属的基片。
试样的厚度，包括试样台的厚度，最大为10 mm。
如果试样过重，有时会影响Scanner的动作，请不要放过重的试样。
试样的大小以不大于试样台的大小（直径20mm）为大致的标准。
稍微大一点也没问题。
但是，最大值约为40 mm。
如果未固定好就进行测量可能产生移位。
请固定好后再测定。
六、AFM对PZT膜的表面形态观察下图为最近我在不同的温度下快速退火后PZT薄膜的AFM形貌图：总之，原子力显微镜的应用范围十分广泛，其适用于高分子、金属材料、陶瓷、矿物、皮革等固体材料的显微结构和纳米结构的观测，以及粉末、微球、颗粒形状、尺寸以及粒径分布的观测等，并且容易获得形貌特征信息和纳米尺度上的粗糙度等，AFM已经成为常规表征方法的非常好的研究工具。