华西医科大学X线头影测量临
X线头影测量

X线头影测量X线头影测量介绍:X线头影测量是对头部进行投影测量,用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。
X线头影测量正常值:检查中没有发现异常阴影和图样。
X线头影测量临床意义:异常结果:?研究颅面生长发育:X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段,一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析,从横向研究颅面生长发育,同时也可用于对个体不同时期的测量分析,而作颅面生长发育的纵向研究。
?2?牙颌、颅面畸形的诊断分析:通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析,可了解畸形的机制、主要性质及部位,是骨骼性畸形抑或牙合性畸形,使对畸形能作出正确的诊断。
?3?确定错合畸形的矫治设计:从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中,而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定,因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后,根据错合的机制,可确定颌位及牙齿矫治的理想位置,从而制定出正确可行的矫治方案。
?4?研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化:X线头影测量亦常用作评定矫治过程中,牙颌、颅面形态结构发生的变化,从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。
如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化,都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
?5?外科正畸的诊断和矫治设计:通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析,得出畸形的主要机制,以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量,同时应用X线头影图迹进行剪裁,模拟拼对手术后牙颌位置,得出术后牙颌、颅面关系的面型图,为外科正畸提供了充分的根据,从而提高了其诊断及矫治水平。
6?下颌功能分析:X线头影测量还可以用来研究下颌运动,语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。
也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。
需要检查的人群:颅面生长异常,面部畸形的人群。
X线头影测量分析方法

Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Tweed三角分析法
主要测量由眼耳平面、下 颌平面、下中切牙长轴所组 成的代表面部形态结构的颌 面三角形的三角。
4)下中切牙-合平面角(1〖TX-〗to occlusal plane):下中切牙长轴与合 平面相交之下前角。此角表示下中切
5)上中切牙凸距(1〖TX-〗-AP):上 中切牙切缘至AP连线的垂直距离(mm)。 此距代表上中切牙的突度,当上中切 牙切缘在AP连线前方时为正值,反之 为负值。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括: 全颅底长(Ba-N); 中面部深度(Ba-A),包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离; 下面部深度(Ba-Pog),包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距离; 全面高(N-Me),包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LIMe、ANS-Me 距离; 后面高(N-Go),包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离; 下颌支长度(AL)和下颌体 长度(MP)。
8)L1〖TX-〗-NB角:下中 切牙切缘与NB连线的交角。 代表下中切牙的倾斜度和突 度。
9)Po-NB(mm):颏前点至NB
10)U1〖TXX-〗-L1〖TX-〗 角:上下中切牙长轴交角。
11)OP-SN:合平面与前颅底 平面之交角。代表合平面的
12)GoGn-SN:下颌平面与前 颅底平面交角。代表下颌平 面的斜度及面部高度。下颌 平面由下颌角点与颏顶点连
X线头影测量分析

发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面( FH )的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点:
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
2 . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点!
X 线头影测量学

发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper * 1884 年 人类学国际会议在德国
Frankfort 举行 -- 眶耳平面的诞生 * 1916 年 正畸学家 Van Loon 第一个将
人类学方法应用到正畸学中 * 1923 年 Meconer 将X 射线引入正畸学
中 * 1931 年 Brondbent( 美 ) 及 Hofrath 华西口腔( 德 ) 首次使用头颅定位器及摄片技术
华 西口腔
颅 部的标 志点
• 颅底点 ( Ba.basion ): 枕骨大孔前缘之中
华 西口腔
点 . 后颅底的标志点 .
颅 部的标 志点
• 蝶鞍点 ( S. sella ): 蝶鞍影 像的中心 . 常 用作描图 重叠 的参考点
华 西口腔
颅 部的标 志点
华西口腔 • Bolton 点 : 枕骨髁突后切迹的最凹点 .
X 线头影测量学 在正畸学中的作
用
华 西口腔
应用
• 1 . 研究颅面生长发育及生长预测
华 西口腔
应用
• 2 . 牙颌、颅面畸形的诊断分析和治疗方案设计
华 西口腔
应用 • 3 . 研究矫治过程中及矫治前后牙颌、颅面
形态结构的矫治变化以及判断各种矫治器的作 华 西口用腔机理
应用 华西• 口4腔. 外科正畸的诊断、矫治设计和术后疗效评价
常用的 X 线头影测量 的
标志点及平面
华 西口腔
标志点
• 定义 : 用来构成一些平面及测量内容的
点. • 分类:
– 解剖标志点 (apatomical landmark) ; – 引伸标志点 (cephalametric landmark) 。
X线头影测量分析方法

Downs分析法
是以眼耳平面作为基准平面,具体包括以下的测量内容。
(1)骨骼间关系的测量: 1)面角(facial angle):面平面 与眼耳平面相交之下后角。此角代 表了下颌的凸缩程度。此角越大则 表示下颌越前突,反之则表示下颌 后缩。 2)颌凸角(angle of convexity): NA与PA延长线之交角。此角代表面 部的上颌部对整个面部侧面的关系。 当PA延长线在NA前方时,此角为正 值,反之若PA延长线在NA之后方时, 则此角为负值。此角越大表示上颌 相对凸度越大,反之表示上颌相对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括: 全颅底长(Ba-N); 中面部深度(Ba-A),包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离; 下面部深度(Ba-Pog),包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距 离; 全面高(N-Me),包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LI-Me、 ANS-Me 距离; 后面高(N-Go),包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离; 下颌支长度(AL)和下颌体 长度(MP)。
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Steiner分析法
1)SNA角:前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部
X线头影测量分析

3)下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale):下齿槽 突之最前上点 • 下切牙点(Li.lower incisor):下中切牙 切缘之最前点 • 颏前点(P.pogonion):颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton):颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion):颏前点与颏下点 之中点
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
(1)头影测量标志点 1)颅部标志点 2)上颌标志点 3)下颌标志点 4)常用软组织侧面标志点 (2)头影测量平面
1)颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion):鼻额缝的最前 点 • 蝶鞍点(S.sella):蝶鞍影像的中心 • 耳点(P.porion):外耳道之最上点 机械耳点,解剖耳点 • 颅底点(Ba.basion):枕骨大孔前缘 中点 • Bolton点:枕骨髁突后切迹 • 的最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion):上齿槽突之最前 下点
上中切牙点(UI.upper incisor): 上中切牙切缘之最前点
UI
3)下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion):髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare):颅底下缘与 下颌髁突颈后缘之交点 • 下颌角点(Go.gonion):下颌角的后下 点:可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定 • 下齿槽座点(B.supramental):下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine):前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine):硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.):翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年,美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。
该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片,然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓,并测量线距与角度进行测量分析。
这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里,让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代,使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。
如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。
1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出,该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。
具体为:FMA角:眼耳平面与下颌平面围成;FMIA角:下中切牙长轴与眼耳平面围成;IMPA角:下中切牙长轴与下颌平面围成。
临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。
Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要,是维持牙合关系稳定的关键因素。
所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定,他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。
所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。
但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度,如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合,下切牙内收畸形会加重,下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者,直立下切牙则会加重已存在的深覆盖,上切牙后收又会造成凹面型。
Tweed分析法测量值来自白种人群,不一定适合中国人群;对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。
临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。
吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念:即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。
通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系,为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据,同时也丰富了Tweed三角分析法,有一定临床指导价值。
X 线头影测量学

眶耳平面 FH
由耳点和眶点的连 线 构成。该 平面可直 接用于临 床,用肉眼 直接观 察定位。眶耳 平面在 1884 年 Frankfort 举行的人 类学学会上被确定为 头 颅 骨的标 准横平面 ,大部分人的眶耳平 面与地平面平行。
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Bolton 平面
由 Bolton 点与鼻根 点的连 线 构成。 此平面相对 稳 定 ,故常作为 重叠 头 影图 的基准平 面。
• 软组织鼻根点 ( N’ nasion of soft tissue ): 软组织侧 面上相应 的鼻根
华 西口点腔.
软组织侧貌的标志点
• 眼点( E.eye ) 睑 裂之眦点。
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软 组 织 侧 貌的 标 志点
• 鼻顶点 ( Prn. pronasale ) ;鼻部 最突点 .
• 鼻下点 ( Sn. subnasale ) ;鼻小 柱与上唇之连 接 点.
• 审美平面( E 线) Pn-Pg’ •S 线 •Z 角
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(1) Ricketts 审美平面( E 线)
• 侧面软组织鼻尖点 和颏前点连线,
• 评价上下唇突度 • 上下唇与 E 线的间
距随年龄减小 • 上下唇处于 E 线稍
后所表现侧面较好
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(2) Steiner 软组织观察法 ( S 线)
2. 下颌下缘最低 部的切线 ;
3. 下颌角点与颏 顶 点间 的连 线 。
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测 量平面 合平面 OP
⑴ 解剖 he 平面:为通过上下第一恒磨牙咬 he 中点与 上下中切牙覆 he 中点的连线。⑵功能 he 平面(自然 he 平面):由均分后牙咬合接触点而得。⑶上颌 he 平面:为 通过 上下第一恒磨牙咬合中点与上中切牙切 缘 点的连 线 构成。
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华西医科大学X线头影测量临床分析法
该方法系华西医科大学口腔医学院正畸科采用了各方法中一些容易定点、简明实用的计测项目作为临床常规的综合分析法。
计测项目中,按颅、上颌、下颌、面高、牙及牙槽高的顺序,共29项线距及角度等计测内容,以便达到简明迅速的诊断目的。
其常用测量项目如下:
一、颅、颌:
1、前颅底平面—上齿槽座点角(SNA):蝶鞍点和鼻根点连线与鼻根点和上齿槽座点连
线相交之后下交角,代表了上颌骨基骨相对于颅底的前后向位置关系。
2、前颅底平面—下齿槽座点角(SNB):蝶鞍点和鼻根点连线与鼻根点和下齿槽座点连
线相交之后下交角,代表了下颌骨基骨相对于颅底的前后向位置关系。
3、上齿槽座点—鼻根点—下齿槽座点角(ANB):鼻根点和上齿槽座点连线与鼻根点
和下齿槽座点连线相交之下交角,代表了上下颌基骨间的前后向位置关系。
二、上颌:
4、上齿槽座点—翼上颌裂点(A—Ptm):翼上颌裂点和上齿槽座点在眶耳平面上的投
影点之间的距离,代表了上颌骨基骨的长度。
5、蝶鞍点—翼上颌裂点(S—Ptm):翼上颌裂点和蝶鞍点在眶耳平面上的投影点之间的
距离,代表了上颌骨后缘相对于前颅底的前后向位置关系。
6、腭平面—眶耳平面夹角(PP—FH):腭平面与眶耳平面的夹角,代表了腭平面的倾斜
度。
三、下颌:
7、下颌角点—颏前点(Go—Pg):分别从下颌角点和颏前点向下颌平面(通过颏下点和
下颌角下缘相切的线)作垂线,两垂足之间的距离,代表了下颌体的长度。
8、下颌角点—髁突最上点(Go—Co):分别从下颌角点和髁突最上点向下颌升枝平面
(下颌升枝后缘切线)作垂线,两垂足之间的距离,代表了下颌升枝的长度。
9、髁突后缘切点—蝶鞍点(Pcd—S):分别从下颌髁突后缘切点和蝶鞍点向眶耳平面作
垂线,两垂足之间的距离,代表了下颌髁突的前后向位置关系。
10、下颌平面角(MP—FH):下颌平面(通过颏下点和下颌角下缘相切的线)与眶耳平
面相交之前下交角,代表了下颌平面的倾斜度。
11、Y轴角(SGn—FH):Y轴(蝶鞍点和颏顶点连线)与眶耳平面相交之前下交角,代
表了面部相对于颅部向前下发育的程度。
12、面角(NPg—FH):面平面(鼻根点和颏前点连线)与眶耳平面相交之后下交角,
代表了下颌的凸缩程度。
四、面高:
13、上面高(N—ANS):鼻根点和前鼻嵴点在垂直于眶耳平面的垂线上的投影点之间的
距离,代表了面上份的高度。
14、下面高(ANS—Me):颏下点和前鼻嵴点在垂直于眶耳平面的垂线上的投影点之间的
距离,代表了面下份的高度。
15、后面高(S—Go):分别从蝶鞍点和下颌角点向眶耳平面的垂线作垂线,两垂足之间
的距离就代表了后面高。
五、牙测量:
16、上下中切牙角(U1—L1):上下中切牙长轴相交之后交角,代表了上下中切牙的倾
斜度。
17、上中切牙—前颅底平面夹角(U1—SN):上中切牙长轴与前颅底平面相交之前下夹
角,代表了上中切牙的轴倾度。
18、U1—NA(毫米):上中切牙切缘到鼻根点和上齿槽座点连线的垂直距离,代表了上
中切牙的凸度。
19、U1—NA(度):上中切牙长轴与鼻根点和上齿槽座点连线的上交角,代表了上中切
牙的倾斜度。
20、L1—NB(毫米):下中切牙切缘到鼻根点和下齿槽座点连线的垂直距离,代表了下
中切牙的凸度。
21、L1—NB(度):下中切牙长轴与鼻根点和下齿槽座点连线的下交角,代表了下中切
牙的倾斜度。
22、下中切牙—下颌角点和颏顶点连线夹角(L1—GoGn):下中切牙长轴与下颌角点和颏
顶点连线相交之后上交角,代表了下中切牙唇舌向的倾斜度。
23、下中切牙—下颌平面角(L1—MP):下中切牙长轴与下颌平面(通过颏下点和下颌角
下缘相切的线)相交之后上交角,代表了下中切牙唇舌向的倾斜度。
24、翼上颌裂点—上颌第一恒磨牙(Ptm—U6):翼上颌裂点和上颌第一恒磨牙近中颊沟
点在眶耳平面上的投影点之间的距离,代表了上颌第一恒磨牙的前后向位置关系。
25、翼点—上颌第一恒磨牙(Ptv—U6):翼点和上颌第一恒磨牙远中切点在眶耳平面上的
投影点之间的距离,代表了上颌第一恒磨牙的前后向位置关系。
六、牙槽高:
26、上前牙槽高(U1—PP):上中切牙切缘到腭平面的垂直距离。
27、上后牙槽高(U6—PP):上颌第一恒磨牙近中颊尖点到腭平面的垂直距离。
28、下前牙槽高(L1—MP):下中切牙切缘到下颌平面的垂直距离。
29、下后牙槽高(L6—MP):下颌第一恒磨牙近中颊尖点到下颌平面的垂直距离。