X线头影测量分析方法

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X线头影测量学

X线头影测量学
• 上下齿槽座角(ANB): SNA与SNB之差
第三十页,共47页。
• 下颌平面(píngmiàn)角( MP-FH):下颌平面 (píngmiàn)与FH平面 (píngmiàn)的交角
• Y轴角:蝶鞍中心点与颏 顶点连线与眶耳平面 (píngmiàn)之前下交角
• 面角(NPog-FH): 面 平面(píngmiàn)与眶耳平 面(píngmiàn)相交的后下 交角
第三十二页,共47页。
常用的面部(mià n bù )高 度测量值
• 上前面(qián mian)高( N-ANS):以FH为参照, N点和ANS点两点间的垂 直距离
• 下前面(qián mian)高( ANS-ME):以FH为参照 ,ANS点和ME点两点间的 垂直距离
• 全面高(N-ME) :从前 鼻棘至颏下点的距离
第三十一页,共47页。
上中切牙-前颅底平面 (píngmiàn)角(U1-SN):上中 切牙长轴与前颅底平面 (píngmiàn)的前下交角
下中切牙-下颌平面 (píngmiàn)角(L1-MP):下中 切牙长轴与下颌平面(píngmiàn) 的后上交角
上下中切牙角(U1-L1):上 下中切牙长轴的交角
中切牙切缘之最前 点
第二十二页,共47页。
下颌(xiàhé)标 志点
第二十三页,共47页。
四.常用(chánɡ yònɡ)测量平面
• 1.基准平面:相对稳定(wěndìng)

前颅底平面(SN):由蝶鞍点与
鼻根点的连线组成

眶耳平面(FH):由耳点与眶点
的连线组成

Bolton平面:由Bolton点与鼻根
描图工具: 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及

X线头影测量分析方法解析

X线头影测量分析方法解析

Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Steiner分析法
1)SNA角:前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部 2)SNB角:前颅底平面-下齿槽 座点角。代表下颌基骨对颅部
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面,而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面,再从颏前点作切 线垂直下颌平面,测量
(6)全面高(N-Me):鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS): 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me): 前鼻棘至颏下点的距离。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线, 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标,以眼耳平面为基 准平面,由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线,测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离,或测量标志点垂足之间的距离。

X线头影测量分析

X线头影测量分析
X 线头影测量 , 主要是测量 X 线头颅定位照像 所得的影像 , 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一 定的线角进行测量分析 , 从而了解牙颌、 颅面 软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断 , 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面( FH )的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点:
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
2 . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点!

X线头影测量分析

X线头影测量分析
• a: 解剖平面——上下 6 的咬合中点与上下 1 切缘 中点的连 线
• b: 功能平面——均分后牙接触点获得 • c: 上颌平面——用得较少
测量平面
面平面( N-P ) :由鼻 根点与颏 前点连 线 组 成
Y 轴 (Y axis):S 与 Gn 的 连 线 ,代表面部生长 发 育方向
由眼耳平面fh下颌平面mp下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形tweedfma主要由遗传决定正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来达到fmia目标fmia为65是美国白人儿童建立良好面形的重要条件tweed三角白人北京成都下中切牙fh平面fmia655654fh平面mp平面角fma253128下中切牙mp平面impa909498不同人群的fmia目标有差异绘出tweed三角测量fmia55标准值65测量值5510即为下中切牙需要舌倾的度数10088mm即为下中切牙舌倾所需的间根据fma角的大小判断矫治预后
A
B
C
D
X 线头影测量片的描图
传统胶片手绘描图
在 X 线观片灯或专用描图桌上进行 工具:透明硫酸纸、刻度尺、三角板、圆
规、 3H 铅笔等 描图顺序 软组织描记, 可用强光局部观察
X 线头影测量片的描图
使用头影测量软 件(如 WinCeph )定 点测量
使用绘图软件 (如 Coreldraw) 描 图
• 但靠近颅底的一些点(如 S 点, N 点, Ba 点)在出生后随生长变化很小, 故由它们 构成的平面被用作头 影测 量的 “基准平面”
常用 X 线头影测量 的平面
基准平面 — — 头影测量中相对稳定的平面
前颅底平面( SN ):
S
N
代表前颅 底前后范围

X线头影测量分析

X线头影测量分析
X线头影测量(Cephalometrics),主要是测量X线头颅定位照像所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。
(2)X线照像
1)投照距离:X线由球管射出时,呈辐射状,使投照物体的影像放大,而产生模糊的半影。X线球管至胶片的距离越大,则射出的X线越接近平行,所造成的半影也越小。在X线头颅摄影时要求有较大的投照距离,一般应不小于150cm。投照物体与胶片间距离,也是影响X线影像清晰和真实的重要因素,物片距越小,则X线影像的放大和失真越小。因而在投照时,应尽量使投照物体与胶片盒紧贴,以减小其放大误差。通过加大球管至胶片距离也可减小由物片距所造成的放大误差。每次照像时使头位、X线球管及胶片三者之间的关系维持恒定,这样所得的X线片才能保证测量结果的可靠,及不同个体或不同时期分别测量所得结果的可比性。
o4.2头影测量平面
5常用硬组织测量项目
o5.1上下颌骨的常用测量项目。
o5.2上化的X线头影测量
o6.1电子计算机化的X线头影测量特点
o6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程
o6.3数学模型的建立
[返回]1拼音
X xiàntóuyǐng cèliàng fènxī
5外科正畸的诊断和矫治设计:通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析,得出畸形的主要机制,以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量,同时应用X线头影图迹进行剪裁,模拟拼对手术后牙颌位置,得出术后牙颌、颅面关系的面型图,为外科正畸提供了充分的根据,从而提高了其诊断及矫治水平。

X线头影测量分析 (1)

X线头影测量分析 (1)

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测量上、下颌各自的形态、大小和相互间的位 置关系及牙齿位置或倾斜度
明确牙齿、牙弓、颌骨、颅面间的关系不调 得出相应诊断
前提:
通过X线对正常牙合人 的颅面结构进行分析
得出正常牙合的各 项测量参考标准
作为诊断分析 的基础
正常值的确定
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头影测量分析目的:
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-定点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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3.下颌标志点
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-定点
髁顶点(Co):髁突最上点
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-定点
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关节点(Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点
-定点
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Children儿童 Female女Male男
Specificity Adults
头影测量项目 个体
Female Male
SNA SNB ANB MP-FH PP-FH Yaxis Npg-FH U1-SN L1-MP U1-L1
83 84
80 80
3
4
28 29
5
5
64 65
83 85
75 73
Me (Menton颏下点)
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Gn (Gnathion 颏顶点) :颏前点与颏下点之中点
D点 :下颌体骨性联合部之中心点
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第二次实验
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头影测量平面

X线头影测量学ppt课件

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37
意义:
• FMIA为54 °是建立良好面形的重要
条件 • 正畸治疗主要依靠改变下中切牙的
位置和倾斜度来完成 • 以下颌分析为依据
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38
常用软组织测量标志
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39
• 额点(G):额部之最前点 • 软组织鼻根点(Ns):软组织侧面上相应之鼻根点 • 鼻尖点(Prn):鼻尖之最前突点 • 鼻下点(Sn):鼻小柱与上唇之连接点 • 软组织颏前点(Pog`):软组织颏部之最前点 • H线:软组织颏前点与上唇间切线 • 审美平面(E线):通过鼻尖与颏部最凸点的切线
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33
常用的头影测量分析法
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34
• Tweed测量分析法
• 华西医大测量分析法
• Downs测量分析法 • Wylie测量分析法
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Tweed分析法:
测量由眶耳
平面(FH)、下 颌平面(MP)、
下中切牙长轴延 长线所组成的代 表面部形态结构 的颌面三角形
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36
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• 研究矫治过程中及矫治后的牙合颅 面形态结构变化
• 外科正畸预测手术及矫治效果 • 下颌功能分析
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3
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4
X线头颅定位照相和头
影图的描绘
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5
1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成
与地面平行的平面 自然头位法
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6
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
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30
• 下颌平面角(MP-FH):

X线头影测量分析方法

X线头影测量分析方法

Coben分析法
测量内容包括: 全颅底长〔Ba-N; 中面部深度〔Ba-A,包括Ba-S、 S-Ptm、Ptm-A距离;下面部 深度〔Ba-Pog,包括Ba-Ar、ArGo、Go-Pog 距离; 全面高〔N-Me,包括N-ANS、 ANS-UI、UI-LI、LI-Me、ANSMe 距离; 后面高〔N-Go,包括N-S、S-Ar、 Ar-Go、S-Go 距离; 下颌支长度〔AL和下颌体长 度〔MP.
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
4>下颌平面角<MPA. mandibular*plane angle>:下颌平面 与眼耳平面的交角.下颌平面由通过颏 下点与下颌角下缘相切的线所代表.此 角表示下颌平面的陡度及面部的高度
5>Y轴角<Y axis>:Y轴与眼耳平面相 交之下内角此角也表示颏部的突缩.Y
<2>牙合与骨骼间关系的测量: 1>合平面角<cant of occlusion plane>:合平面与眼耳平面的交角. 此角代表合平面的斜度.此角越大代 表合平面越陡,为安氏Ⅱ类面型倾向, 反之此角越小代表合平面越平,为安 氏Ⅲ类面型倾向.合平面采用第一恒
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
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Downs分析法
是以眼耳平面作为基准平面,具体包括以下的测量内容。
(1)骨骼间关系的测量: 1)面角(facial angle):面平面 与眼耳平面相交之下后角。此角代 表了下颌的凸缩程度。此角越大则 表示下颌越前突,反之则表示下颌 后缩。 2)颌凸角(angle of convexity): NA与PA延长线之交角。此角代表面 部的上颌部对整个面部侧面的关系。 当PA延长线在NA前方时,此角为正 值,反之若PA延长线在NA之后方时, 则此角为负值。此角越大表示上颌 相对凸度越大,反之表示上颌相对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Coben分析法
测量内容包括: 全颅底长(Ba-N); 中面部深度(Ba-A),包括 Ba-S、S-Ptm、Ptm-A距离; 下面部深度(Ba-Pog),包 括Ba-Ar、Ar-Go、Go-Pog 距 离; 全面高(N-Me),包括NANS、ANS-UI、UI-LI、LI-Me、 ANS-Me 距离; 后面高(N-Go),包括N-S、 S-Ar、Ar-Go、S-Go 距离; 下颌支长度(AL)和下颌体 长度(MP)。
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Steiner分析法
1)SNA角:前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部
2)SNB角:前颅底平面-下齿槽 座点角。代表下颌基骨对颅部
3)ANB角:上齿槽座点-鼻根点 -下齿槽座点角。此角为SNA与 SNB角之差,代表上下颌基骨间
(1)髁突后切线-蝶鞍中 心(co-s):髁突后缘和蝶 鞍中心向眼耳平面作垂线, 两垂足间之距离。代表下
(2)蝶鞍中心-翼上颌裂 (Ptm-S):蝶鞍中心垂线 至翼上颌裂垂线间的距离。 代表上颌的位置。
(3)上颌长度(ANS-Ptm): 翼上颌裂垂线至前鼻棘垂
(4)翼上颌裂-上第一恒 磨牙(Ptm-6〖TXX-〗): 翼上颌裂垂线至上颌第一 恒磨牙颊沟垂线间的距离。 用于代表上牙弓的位置。
3)上下齿槽座角(AB plane angle): AB或其延长线与面平面的交角。此角 代表上下齿槽基骨间的相互位置关系。 此角在面平面之前方形成为负值角, 反之在面平面之后方形成则为正值角。 此角越大表示上颌基骨对下颌基骨的 相对位置显后缩,反之,此角越小则 表示上颌基骨对下颌基骨的相对位置 关系为前突。
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面,而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面,再从颏前点作切 线垂直下颌平面,测量
(6)全面高(N-Me):鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS): 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me): 前鼻棘至颏下点的距离。
(1)眼耳平面-下颌平面 角(FMA):眼耳平面与下 颌平面的交角,以下颌下 缘的切线作为下颌平面。
(2)下中切牙-眼耳平面 角(FMIA):下中切牙的长
(3)下中切牙-下颌平面 角(IMPA):下中切牙长轴
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
4)下中切牙-合平面角(1〖TX-〗to occlusal plane):下中切牙长轴与合 平面相交之下前角。此角表示下中切
5)上中切牙凸距(1〖TX-〗-AP):上 中切牙切缘至AP连线的垂直距离(mm)。 此距代表上中切牙的突度,当上中切 牙切缘在AP连线前方时为正值,反之 为负值。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
(9)N-ANS/N-Me×100%: 面上部高占全面高之百
(10)ANS-Me/NMe×100%:面下部高占
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
4)下颌平面角(MPA. mandibular*plane angle):下颌平面 与眼耳平面的交角。下颌平面由通过 颏下点与下颌角下缘相切的线所代表。 此角表示下颌平面的陡度及面部的高
5)Y轴角(Y axis):Y轴与眼耳平面相 交之下内角此角也表示颏部的突缩。Y
(2)牙合与骨骼间关系的测量: 1)合平面角(cant of occlusion plane):合平面与眼耳平面的交角。 此角代表合平面的斜度。此角越大代 表合平面越陡,为安氏Ⅱ类面型倾向, 反之此角越小代表合平面越平,为安 氏Ⅲ类面型倾向。合平面采用第一恒
II类因素指标——骨性因素指标(代表上、下颌骨关系因 素的指标):
III类因素指标——代表牙列相对于颌骨关系因素的指标:
Ⅳ类因素指标——美学因素指标(代表唇的相对位置指标):
V类因素指标——对错胎起决定性作用因素指标(代表面部相对 于颅骨关系因素指标):
Ⅵ类因素指标:颅骨内部结构的因素指标(代表深部结构因 素的指标):
13)SL(mm):蝶鞍点至颏前 点向SN平面作垂线的交点间 距离。代表下颌颏部对颅底
14)SE(mm):蝶鞍点至髁突 最后点向SN平面作垂线的交 点间距离。代表下颌髁突对
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Delaire分析法
头影测量分析方法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabare分析法
Tweed三角分析法
主要测量由眼耳平面、下 颌平面、下中切牙长轴所组 成的代表面部形态结构的颌 面三角形的三角。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Ricketts分析法
I类因素指标——牙性因素指标(代表咬合关系因素的指标):
8)L1〖TX-〗-NB角:下中 切牙切缘与NB连线的交角。 代表下中切牙的倾斜度和突 度。
9)Po-NB(mm):颏前点至NB
10)U1〖TXX-〗-L1〖TX-〗 角:上下中切牙长轴交角。
11)OP-SN:合平面与前颅底 平面之交角。代表合平面的
12)GoGn-SN:下颌平面与前 颅底平面交角。代表下颌平 面的斜度及面部高度。下颌 平面由下颌角点与颏顶点连
4)SND角:前颅底平面-骨性下 颌联合中点构成的角。代表下 颌整体对颅部的位置关系。
5)U1〖TXX-〗-NA(mm):上 中切牙切缘至NA连线的垂直距 离。
6)U1〖TXX-〗-NA角:上 中切牙长轴与NA连线的交角。 代表上中切牙的倾斜度和突 度。
7)L1〖TX-〗-NB(mm):下 中切牙切缘至NB连线的垂直 距离。此线距亦代表下中切 牙的凸度。
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
McNamara分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标,以眼耳平面为基 准平面,由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线,测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离,或测量标志点垂足之间的距离。
2)上下中切牙角(1〖TXX-〗 to 1 〖TX-〗 angle):上下中切牙牙长轴 的交角。此角代表上下中切牙间的凸 度关系。此角越大则表示凸度越小, 反之此角越小则表示凸度越大。牙长 轴以切缘与根尖的连线来代表。
3)下中切牙-下颌平面角(1〖TX-〗 to mandibular plane):下中切牙长 轴与下颌平面之交角。此角表示下中
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线, 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
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