头影测量
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儿童的头影测量标准值
儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。
以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。
2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。
3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。
以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。
《X线头影测量学》课件
对于需要手术治疗的颅面畸形，X线头影测 量可以评估手术前后颅面形态的变化，指 导手术方案的制定和调整。
比较治疗效果
科学研究
通过比较治疗前后的X线头影测量结果，可 以评估治疗效果，为进一步治疗提供依据 。
X线头影测量在颅面外科研究中也有广泛应 用，如颅面生长的规律、手术效果的评价 等。
其他医学领域应用
头影测量的目的是为了了解颌面部软硬组织的生长发育状态、分析颌面部畸形 的病因、制定正畸治疗方案、评估治疗效果和预测未来生长趋势等。
头影测量学发展历程
早期头影测量学
早期的头影测量学主要依靠手工测量和目测，精度和可靠性较低。
数字化头影测量
随着计算机技术的发展，数字化头影测量逐渐取代手工测量，实现 了快速、准确、可重复的测量和分析。
04 X线头影测量学实 验操作
实验设备介绍
01
02
03
实验设备
X线机、头影测量分析软 件、测量工具等。
设备功能
X线机用于拍摄头颅X线片 ，头影测量分析软件用于 测量和分析X线片，测量 工具用于辅助测量。
设备要求
确保设备性能稳定、精度 高，以保证实验结果的准 确性和可靠性。
实验操作流程
实验准备
选择合适的实验对象，准备实验材料和设 备。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
06 总结与展望
X 线头影测量学
应用
华 西口腔
• 5. 下颌功能分析
X 线头影测量学在正畸学中的作 用
1. 研究颅面的生长发育及生长预测 2. 牙颌颅面畸形的诊断分析及治疗设计 3. 研究矫治前后牙颌颅面形态结构的矫治
变 化和生长 改变 以及判断各种矫 治器的 作用机理 4. 外科正畸的术前诊断设计和术后疗效的 评价 5. 下颌功能分析
• 软组织颏下点 ( Me’ menton of soft tissue ): 软组织颏 之最下点 .
华 西口腔
华 西口腔
备注
• 正中矢状平面上 • 较难定位的点：
的参考点较 矢状 平面两侧 的参考 点准确； • 两侧的点取其中
眶点， A 点， 前鼻棘点，后鼻 棘点。
点。
华 西口腔
• 在颅面生长过程中，参考点的 稳 定性是有变 化的，所谓 “固定 的标 志点”是不存在的，但是靠 近颅 底的一些点（如蝶鞍点，鼻 根点，颅 底点）在出生后随生长 变 化很小
华 西口腔
测 量平面 腭平面 ANS-PNS /PP.(palatal plane)
有称上颌 平面， 由前鼻嵴 点和后 鼻嵴 点的连 线 构 成。常用于评 价 上颌 的位置和生 长 方向
华 西口腔
测 量平面 下颌平面 MP MP.(mandibular plane)
1. 通过颏下点与 下颌 角下缘 的 切线 ；
板，圆规，量角器、 3H 铅笔等 • 描图顺序 • 软组织描记, 可用强光局部观察 .
华 西ห้องสมุดไป่ตู้腔
华 西口腔
侧位片描绘要求
• 软硬组织侧貌； • 上下颌骨轮廓； • 颅底颅后部轮廓； • 蝶骨斜坡； • 眶侧缘、下缘； • 翼上颌裂轮廓；等
华 西口腔
头影测量教案
构变化 5、外科正畸的诊断和矫治设计 6、下颌功能分析
记存模型
• 矫正前、矫正过程中、矫正完成后对牙合状况的 记录。
• 作用： • 1.对照观察 • 2.疗效评估 • 3.病例展示 • 4.司法鉴定
X线头影测量
一、定义
主要是测量x线头颅定位照相所得的影 像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的 线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查 诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去。
X线头影测量
二、组成 1、头颅定位仪
应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
• 软组织测量标志点
额点（G） 鼻小柱点（Cm） 鼻下点（Sn） 上唇缘点（UL） 下唇缘点（LL） 软组织颏前点 (Pgs) 软组织颏下点 (Mes) 颈点（C）
• 常用平面
眶耳平面（FH） 前颅底平面（SN） 审美平面（EP） 牙合平面 Leabharlann 颌平面（MP）• 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
上下齿槽座角（ANB）：
上下颌位置关系
3° ±1
• 常用线距
全 面 高 （ N － Me ） 上面高（N－A） 下 面 高 （ A － Me ） 上面高/全面高 下面高/全面高
X线头影测量
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结
X线头影测量分析
Cephalometric analysis
记存模型
• 矫正前、矫正过程中、矫正完成后对牙合状况的 记录。
• 作用： • 1.对照观察 • 2.疗效评估 • 3.病例展示 • 4.司法鉴定
X线头影测量
一、定义
主要是测量x线头颅定位照相所得的影 像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的 线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查 诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去。
X线头影测量
二、组成 1、头颅定位仪
应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
• 软组织测量标志点
额点（G） 鼻小柱点（Cm） 鼻下点（Sn） 上唇缘点（UL） 下唇缘点（LL） 软组织颏前点 (Pgs) 软组织颏下点 (Mes) 颈点（C）
• 常用平面
眶耳平面（FH） 前颅底平面（SN） 审美平面（EP） 牙合平面 Leabharlann 颌平面（MP）• 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
上下齿槽座角（ANB）：
上下颌位置关系
3° ±1
• 常用线距
全 面 高 （ N － Me ） 上面高（N－A） 下 面 高 （ A － Me ） 上面高/全面高 下面高/全面高
X线头影测量
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结
X线头影测量分析
Cephalometric analysis
线头影测量分析
前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖
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A (Subspinale上齿槽座点)
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－定点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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3.下颌标志点
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－定点
髁顶点(Co):髁突最上点
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－定点
作为诊断分析 的基础
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3.确定错牙合畸形的矫治计划
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正常牙颌 பைடு நூலகம்面关系
对比
个体牙颌 颅面结构
分析出错牙合畸形的机制 确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
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治疗前
对比
治疗中,矫治后
正畸治疗
❖ 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点 指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。
定位
2.头影图的描绘
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❖ X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结 构不完全对称而出现的左右影像不完全重合
按其平均中点来作描绘
传统X线片
数字化X线片
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传统手描图
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简介
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❖ 1934年Hofrath and Broadbent 提出 ❖ 我国于20世纪60年代初运用于临床
X线头影测量分析
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通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅 面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙 颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由 表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断 及治疗设计的一种重要手段.
X线头影测量分析
X 线头影测量 , 主要是测量 X 线头颅定位照像 所得的影像 , 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一 定的线角进行测量分析 , 从而了解牙颌、 颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 , 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！
慧心学牙笔记--第四节头影测量
慧心学牙笔记--第四节头影测量第四节头影测量学头影测量最重要的一件事是——知道要把点定在哪儿。
头影测量是制定矫治计划的重要参考因素，但不是决定因素。
决定因素还是医生。
矫治计划中能考虑更多的因素则是更完美的，但也要讲究工作效率。
定点是一切头影测量的基础。
常用23个点，必须记住的点有十几个。
（红字标注的点为重要的点，必须记住的）头影测量常用分析方法:*Down analysis*Tweed analysis*Steiner analysis*Wylie analysis*Rickettes analysisNJMU analysis（南医大分析法）国内牙医常用：南大派，北医派，四医大派，华西派，大同小异。
头影测量那么多数据，非常有用的是有限的。
对临床指导意义最大的，有用的数据掌握就够了。
先要记熟两件事儿:1.头影测量中的各种定点都定在什么位置，代表什么意思。
2.各种角都代表什么意思，正常范围是多少。
1.鼻根点（N）:位于沿额骨骨皮质影迹表面往下一小“缺口”。
此即为鼻额缝阴影的最前端。
这是前颅底部的标识点，是一条形态不规则的骨缝，在头影像上从后下往前上呈一条锯齿状的阴影，显示并不十分清楚。
（N点比软组织鼻根点要高一些）2.蝶鞍点（S）:位于垂体窝，即蝶鞍影像的中心点。
这是常用的一个颅部标识点，在生长发育过程中位置较为稳定，因此是构成基准平面和很多测量项目的基准点，也常作为颅底重叠的原点。
3.耳点（P）:外耳道阴影的最上点。
这是构成框耳平面（FH平面）的标志点之一，在侧位头影像上常呈双重圆形后椭圆形阴影，定点时应该注意取双重影像上耳点的平均中点。
注意区分外耳道影像，机械耳塞影像，内耳道影像。
确定耳点也可依据耳点，眶点与髁顶部三者的解剖关系来帮助定点。
眶耳平面（FH平面）高于髁顶部约1mm，其误差率仅1‰。
（机械耳点）定点：先找到Or点，与髁突最上点高1mm的位置连线，P点就在此条线上。
4.眶点（Or）:眶下缘的最低点。
头影测量
下颌角点
软组织侧貌标志点
• 额点（G. Glabella）:额部最突点 • 鼻顶点（Prn. Pronasale）:鼻部软组织最突点 • 上唇突点（UL. Upper Labrale）:上唇最突点 • 下唇突点（LL. Lower Labrale）:下唇最突点 • 软组织颏前点（Pos. Pogonion of Soft Tissue）:
下颌标志点
髁顶点（Co. Condylion）:髁突最上点 关节点（Ar. Articulare）:颅底下缘与下颌髁突颈后缘交点， 在颏顶点不清晰时用，为升支平面标志点之一 下颌角点（Go. Gonion）:下颌角的后下点，即下颌平面和下 颌升支后缘切线交角的角平分线与下颌角的交点（通过下颌平 面与升支后缘切线的交点GO'来确定）
• 下切牙点（Li. Lower Incisor）:最前的下中切牙切缘点 • 下齿槽座点（B. Supramental）:
下齿槽缘点与颏前点间之骨部最凹点
下颌标志点
• 颏前点（Po. Pogonion）:颏部最前点 • 颏顶点（Gn. Gnathion）:颏前点与颏下点骨连线中点 • 颏下点（Me. Menton）：颏部最下点
颅部标志点
• Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点
上颌标志点
• 眶点（Or. Orbitale）:眶下缘最低点
上颌标志点
• 前鼻棘点（ANS. Anterior Nasal Spine）:前鼻 棘之尖
• 后鼻棘点（PNS. Posterior Nasal Spinale）： 硬腭后部骨棘之尖
上颌标志点
• 常用的点不用背，只需理解
• 冒着眼瞎的风险定出来的点，具体临床作 用
拍摄时射线主轴沿外耳道上缘穿过， Frankfort水平面需平行于地面
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颏前点（Pg） 颏下点(Me)
颏顶点(Gn)
2. 软组织测量标志点
额点（G）
鼻小柱点（Cm） 鼻下点（Sn） 上唇缘点（UL） 下唇缘点（LL） 软组织颏前点 (Pgs) 软组织颏下点 (Mes) 颈点（C）
3. 常用平面
眶耳平面（FH）
前颅底平面（SN） 审美平面（E影测量分析
Cephalometric analysis
硬组织测量标志点
软组织测量标志点
常用平面
常用角度
常用线距
1. 硬组织测量标志点
颅部
蝶鞍点（S） 鼻根点（N） 机械耳点(P)
上颌骨
前鼻棘(ANS) 上齿槽座点（A） 上中切牙点（U1）
下颌骨
下齿槽座点（B）
下中切牙点（L1）
4. 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
上下齿槽座角（ANB）： 上下颌位置关系 3° ±1
5. 常用线距
全 面 高 （ N － Me ）
上面高（N－A） 下 面 高 （ A － Me ） 上面高/全面高 下面高/全面高
1、X线头影测量内容和意义 2、记存模型
X线头影测量
一、定义 主要是测量x线头颅定位照相所得的影 像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的 线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查 诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去。
X线头影测量
二、组成 1、头颅定位仪 应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
X线头影测量
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结 构变化 5、外科正畸的诊断和矫治设计 6、下颌功能分析
记存模型
• 矫正前、矫正过程中、矫正完成后对牙合状况的 记录。 • • • • • 作用： 1.对照观察 2.疗效评估 3.病例展示 4.司法鉴定
颏顶点(Gn)
2. 软组织测量标志点
额点（G）
鼻小柱点（Cm） 鼻下点（Sn） 上唇缘点（UL） 下唇缘点（LL） 软组织颏前点 (Pgs) 软组织颏下点 (Mes) 颈点（C）
3. 常用平面
眶耳平面（FH）
前颅底平面（SN） 审美平面（E影测量分析
Cephalometric analysis
硬组织测量标志点
软组织测量标志点
常用平面
常用角度
常用线距
1. 硬组织测量标志点
颅部
蝶鞍点（S） 鼻根点（N） 机械耳点(P)
上颌骨
前鼻棘(ANS) 上齿槽座点（A） 上中切牙点（U1）
下颌骨
下齿槽座点（B）
下中切牙点（L1）
4. 常用角度
颅底-上齿槽座角（SNA）： 上颌对颅底位置关系 82°±1
颅底-下齿槽座角（SNB）： 下颌对颅底位置关系 79°±1
上下齿槽座角（ANB）： 上下颌位置关系 3° ±1
5. 常用线距
全 面 高 （ N － Me ）
上面高（N－A） 下 面 高 （ A － Me ） 上面高/全面高 下面高/全面高
1、X线头影测量内容和意义 2、记存模型
X线头影测量
一、定义 主要是测量x线头颅定位照相所得的影 像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的 线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查 诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去。
X线头影测量
二、组成 1、头颅定位仪 应通过左右耳塞和眶点指针，使 三者构成一与地面平行的恒定平 面。 2、X线照相 投照距离 不小于150cm. 3、描绘投影图 硫酸纸
X线头影测量
三、主要的应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错颌畸形的矫治设计 4、研究矫治过程及矫治后的牙颌、颅面形态 、结 构变化 5、外科正畸的诊断和矫治设计 6、下颌功能分析
记存模型
• 矫正前、矫正过程中、矫正完成后对牙合状况的 记录。 • • • • • 作用： 1.对照观察 2.疗效评估 3.病例展示 4.司法鉴定