X射线衍射学课件1_X射线物理基础

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X射线衍射XRD分析1课件

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(2)X射线的粒子性

X射线的粒子性表现在它是由大量的不连续的粒子流构 成的。它具有一定的能量和动量。能量ε和动量p与X射 线光子的频率v和波长λ之间的关系如下: 能量: hv
hc

动量: p
h
h 为 普 朗 克 常 数 , 为 6.625×10-34J· s,c为光速,为 2.998×108m/s
1.1 X 射线的发现

1895年 11 月 8日,德国物理学家伦琴 在研究真空管的高压放电时,偶然 发现镀有氰亚铂酸钡的硬纸板会发 出荧光。这一现象立即引起细心的 伦琴的注意。经仔细分析,认为这
是真空管中发出的一种射线引起的。
于是一个伟大的发现诞生了,由于 当时对这种射线不了解,故称之为X
射线。后来也称伦琴射线。
特征X射线的命名方法

因此,当原子受到K激发时,除产生K系辐射外, 还将伴生L、M……等系的辐射。除K系辐射因波 长短而不被窗口完全吸收外,其余各系均因波长 长而被吸收。 Kα 双线的产生与原子能级的精细结构相关。 L 层 的8个电子的能量并不相同,而分别位于三个亚层 上。 Kα 双线系电子分别由 LⅢ 和 LⅡ 两个亚层跃迁 到K层时产生的辐射,而由LI亚层到K层因不符合 选择定则(此时ΔL=0),因此没有辐射。


周上祺, X 射线衍射分析,重庆大学出版社, 1991. 刘粤惠,刘平安. X射线衍射分析原理与应用, 化学工业出版社, 2003年10月

1. X射线的物理基础

1.1 X射线的发现 1.2 X射线的本质 1.3 X射线的产生及X射线管 1.4 X射线谱 1.5 X射线与物质的相互作用 1.6 X射线的探测与防护
正如太阳光包含有红、橙、黄、绿、蓝、靛、

第二章X射线运动学衍射理论PPT课件

第二章X射线运动学衍射理论PPT课件
衍射花样和晶体 结构的关系
◆选择反射
X射线在晶体中的衍射实质上是晶体中各 原子散射波之间的干涉结果。只是由于衍射线 的方向恰好相当于某原子面对入射线的反射, 所以借用镜面反射规律来描述衍射几何。
但是X射线的原子面反射和可见光的镜面 反射不同。一束可见光以任意角度投射到镜面
上都可以产生反射,而原子面对X射线的反射 并不是任意的,只有当、、d三者之间满足 布拉格方程时才能发生反射,所以把X射线这
第一篇 X射线衍射
第二章 X射线运动学衍射理论
◆布拉格方程 ◆倒易点阵 ◆X射线衍射强度
◆():
反映空间点阵中阵点周期性排列规律的最小
§2.1 布拉格方程
布拉格方程的导出 布拉格方程的讨论 布拉格方程的应用
§2.1.1布拉格方程的导出
■ X射线在单原子面上的镜面反射
■ 晶体中平行原子面对X射线的衍射
布拉格 2d Sin 方程的两种
用途:
1)结构分析:已知波长的特征X
射线,通过测量 角,计算晶面间
距d
2)X射线光谱学:已知晶面间距d
的晶体,通过测量 角,计算未知
X射线的波长
§2.2 倒易点阵
倒易点阵:在晶体点阵的基础上按一定对应
关系建立起来的空间几何图形,是晶体点阵 的另一种表达形式。
■ 定义式 ■ 倒易点阵参数:
gHKLH*a K*b L*c
倒易矢量表示法: gHKLH*a K*b L*c
a* b,c 平面 ,
a* bcbcsin
VV
b* a,c平面
c* a,b 平面
b* cacasin
VV
c* ababsin
VV
cos*cosscin oss in cos

01-XRD-基础与原理(1-X射线物理基础)

01-XRD-基础与原理(1-X射线物理基础)
X射线衍射分析
(X-Ray Diffraction ,XRD)
1
概述
1895年,德国物理学家伦琴
1901
发现X射线
1912年,德国物理学家劳厄等人 发现X射线在晶体中的衍射现象 劳厄方程组
1912年,英国物理学家布·拉格父子 布拉格方程 开创X射线分析晶体结构的历史
1914 1915
2
1916年:德拜、谢乐 多晶体试样的“粉末照相法”
15
1、连续X射线谱
包含从某个短波极限开始 的各种波长的X射线谱。
(1)产生原理 ➢ 轫致辐射:高速电子骤然减
速产生辐射 ➢ 到达阳极的电子数目很多,
并且由于绝大多数电子都要经历多次碰撞产能到达阳极。因此撞 向阳极的时间、条件各不相同。 ➢ 电子动能转化为x-ray的能量也有多有少,从而导致产生的xray频率有大有小,形成不同波长的x-ray,构成连续的谱线。
产生强度特别高的X-ray
电动力学:带电粒子作加速运 动时会辐射光波
上海同步辐射光源
13
上海同步辐射光源演示场景
以接近光速运动的电子在磁场中作曲线运动,改变运动方向时所产生的电磁辐射
14
三、X射线谱
X射线强度与波长的关系曲线, 称之X射线谱,图(a)
从X-ray管中发出的X射线可以 分为:连续X射线谱,图(b) 特征X射线谱,图(c)
晶粒尺寸的计算
晶胞参数的确定……
4
X 射线衍射分析(XRD)
需 分析未知物的物相组成所使用的检测方法?
解 决
XRD物相分析原理?仪器主要结构?样品要求?
的 XRD实验结果如何分析?
问 题 XRD除物相分析外,还能获得材料的哪些信息?
5

第一章X射线衍射基础

第一章X射线衍射基础

而改变了前进的方向,造成散射线,另一部分光子可能被原
子吸收,产生光电效应,再有部分光子的能量可能在与原子
碰撞过程中传递给了原子,成为热振动能量。
1. 相干散射
2. 非相干散射
3. 二次特征辐射(荧光辐射)

真吸收

俄歇效应

光电效应

X射线与物质的相互作用
4. X射线的衰减
当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度 会减弱,这种现象称为X射线的衰减。
X射线衍射分析
引言
1895年11月5日,德国物理学家伦琴在研究阴极射线时,发现了X 射线。
1912年,德国物理学家劳厄等人发现了X射线在胆矾晶体中的衍 射现象,一方面确认了X射线是一种电磁波,另一方面又为X射 线研究晶体材料开辟了道路。
同年,英国物理学家布拉格父子首次利用X射线衍射方法测定了 NaCl晶体的结构,开创了X射线晶体结构分析的历史。
图中之点皆代表晶体结构中相当的质点的中心,其结点间距为a,入射X射 线S0与此行列的交角为0,波长为,假定在S1方向有衍射线,它与行列的 交角为h。
由相邻原子所射出的次生X射线在S1方向上有一段行程差(),这段行程 差可以这样求出:由A、B引AC、BD两线分别垂直于BC、AD,则:
=AD-CB=ABcosh-ABcos0=a(cosh-cos0)=H 由以前可知:只有当行程差等于波长的整数倍时相邻原子所发射出的次生X
特征X射线的产生可以从原子结 构的观点得到解释。
特征X射线的相对强度是由各能 级间的跃迁几率决定的,另外还 与跃迁前原来壳层上的电子数多 少有关。
特征X射线的绝对强度随X射线管 电压、管电流的增大而增大。

第一章 X射线衍射分析3

第一章  X射线衍射分析3

X射线衍射的方法-----概述 射线衍射的方法-----概述
劳埃法
劳埃法是应用最早的一种衍射方法, 劳埃法是应用最早的一种衍射方法 , 它是用 连续X射线投射到不动的单晶体试样上产生 连续X射线投射到不动的单晶体试样上产生 衍射的一种实验方法。 衍射的一种实验方法。 劳埃法要求所用的连续X 劳埃法要求所用的连续X射线具有较高的强度, 以便在较短的时间内得到清晰的衍射花样。 因此,劳埃法一般均选用原子序数较大的 钨(Z=74)靶X 钨(Z=74)靶X射线管作辐射源,
粉晶衍射仪法
X光衍射仪的主要组成部分是:X光机、测角仪、 光衍射仪的主要组成部分是: 探测器、记录器和操纵系统。 探测器、记录器和操纵系统。 现代电子学、 集成电路、 现代电子学 、 集成电路 、 电子计算机等先进 技术进一步与X射线衍射仪结合, 技术进一步与 X射线衍射仪结合,使X射线 衍射仪向强光源、 高稳定 、 高分辨 、 衍射仪向强光源 、 高稳定、 高分辨、 多功 能 、 全自动的联合组机方向发展, 可以自 全自动的联合组机方向发展 , 动地给出大多数衍射实验工作的结果。 动地给出大多数衍射实验工作的结果。
底片的安装---底片的安装----反装法
底片中心是安放承光 管的位置, 管的位置 , 圆筒底片 的开口在光阑的两侧, 的开口在光阑的两侧 , 衍射角2 衍射角 2θ 从底片中心 向两侧逐渐减小, 向两侧逐渐减小 , 这 种装底片方法常用点 阵常数的测定。 阵常数的测定。
底片的安装---底片的安装----不对称安装法
典型的衍射图
钨粉的衍射图样
探测器 --- 正比计数管
利 用 X 光 对 气 体 (90%Ar+10%CH4) 的 电 90%Ar+10% 离作用产生电脉冲而 记录X 记录X光。

X射线衍射

X射线衍射

• 探测技术:胶片 测器(面)
闪烁体计数器(点)
(IP)CCD探
图2-22 石英的衍射仪计数器记录图(部分)
*右上角为石英的德拜图,衍射峰上方为(hkl)值,β 代表Kβ 衍射
X射线衍射谱
In the paste
On the interface

X射线衍射强度
衍射峰的上限强度 半高宽 积分面积 并非所有符合布拉格方程的晶面都能产 生衍射峰。
连续X射线与特征X射线
X射线谱可分为两部分:
1、连续X射线谱:具有从某 相 个最短波长λmin开始的连续波 对 长谱。 强 度 2、特征X射线谱:若干条特 定波长的谱线所组成。 特征X射线只取决于阳 极材料,与X射线管的工作 状态无关。
连 续 X 射 线
特征X射线
I λmin λ
阳极的原子序数一定, 管电是一级反射 的形式。
面间距为dHKL的晶面并不一定是晶体中 的原子面,而是为了简化布拉格方程所 引入的反射面,我们把这样的反射面称 为干涉面。把干涉面的面指数称为干涉 指数,通常用HKL来表示。 根据晶面指数的定义可以得出干涉指数 与晶面指数之间的关系为: H=nh;K=nk;L=n1。 干涉指数与晶面指数之间的明显差别是 干涉指数中有公约数,而晶面指数只能 是互质的整数。
布拉格方程:
2d sin n
式中n为整数,称为反射级数(order of reflection)。
产生衍射的条件
n<2d/λ,一定的晶面对一定波长的X射线只有 有限的几条衍射线 在任何可观测的衍射角下,产生衍射的条件为: 入<2d。但是波长过短导致衍射角过小,使衍射 现象难以观测,也不宜使用。

c

x射线衍射物理基础

x射线衍射物理基础

衍射的分类
单晶衍射
单晶衍射是指使用单晶体作为样品进 行x射线衍射的方法。
多晶衍射
多晶衍射是指使用粉末或多晶样品进 行x射线衍射的方法。
同步辐射衍射
同步辐射衍射是指使用同步辐射光源 进行x射线衍射的方法,具有高亮度、
窄脉冲、高准直度的特点。
02
x射线衍射的应用
物质结构的分析
物质结构分析是X射线衍射的重要应 用之一。通过测量衍射角度和强度, 可以确定物质内部的原子或分子的排 列方式,从而推断出物质的结构特征。
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波长与角度的关系
x射线的波长与衍射角之间存在一定的关系,这是 衍射现象的基本特征。
衍射的基本公式
布拉格方程
对于晶体中的衍射,布拉格方程描述了波长与衍射角之间 的关系,即 nλ=2dsinθ。
01
衍射强度
衍射强度表示衍射的亮度,与晶体的结 构、入射光的波长、角度等因素有关。
02
03
衍射峰的宽度
衍射峰的宽度可以反映晶体的结晶度 和晶格畸变程度。
晶体学基础
晶体学研究晶体的结构和性质,为x射线衍射提供了研 究对象和应用背景。
晶体中的原子或分子的周期性排列形成了特定的晶体 结构,x射线在晶体中的衍射与晶体结构密切相关。
05
x射线衍射的发展与展望
x射线衍射技术的发展历程
1912年
1913年
1930年代
1950年代
1980年代至今
劳厄发现X射线衍射现象 ,证实晶体具有空间周 期性结构。
布拉格父子提出X射线晶 体学理论,即布拉格定 律,为X射线衍射分析奠 定了基础。
随着电子和质子源的发 展,出现了粉末衍射、 小角度散射等X射线衍射 技术。

《X射线衍射》课件

《X射线衍射》课件
2 X射线与晶体相互作用的基本原理
描述X射线与晶体相互作用的方式,包括散射、干涉和衍射。
3 晶体结构参数的测定
讲解使用X射线衍射技术确定晶体结构参数的方法和步骤。
X射线衍射实验
X射线粉末衍射实验
介绍X射线粉末衍射实验的原 理和实验步骤,以及常用的X 射线衍射仪器。
晶体单晶的制备与测量
探讨制备和测量晶体单晶的 技术,以及单晶X射线衍射实 验的意义。
《X射线衍射》PPT课件
X射线衍射PPT课件大纲
简介
什么是X射线衍射
X射线衍射是一种通过射入晶体的X射线的衍射图案来研究晶体结构的方法。
X射线衍射的历史和应用
探索X射线衍射的历史,以及它在材料学、生物学等领域的广泛应用。
X射线衍射的原理
1 X射线衍射是什么
解释X射线衍射的基本概念和原理,以及X射线衍射实验进行 晶体结构分析的方法和应用。
结论和应用
1
结论和应用简介
总结X射线衍射的研究成果和应用领域,突出其在科学研究中的重要性。
2
X射线衍射在材料学中的应用
探讨X射线衍射在材料学研究中的应用,如材料的晶体结构分析和相变研究。
3
X射线衍射在生物学中的应用
介绍X射线衍射在生物学研究中的应用,如蛋白质结构解析和药物研发。
总结
X射线衍射的发展前景
展望X射线衍射技术的未来发展,尤其是在材料 科学和生物医学领域的应用。
X射线衍射的优缺点
评述X射线衍射技术的优点和局限性,以及需要 克服的挑战。
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另外,因由L→K层电子跃迁几率比由M→K层约大5 倍,
故Kα强度比Kβ高5倍左右。
IK 5IK
• 7. 同一壳层还有若干个亚能级,电 子所处能量不同,其能量差也固定。
• L 层:8个电子分属LⅠ,LⅡ,LⅢ 三个亚能级;
• 不同亚能级上电子跃迁会引起特征 波长的微小差别。实验证明:
Kα由Kα1 和 Kα2 双线组成的。 Kα1:LⅢ → K 壳层; Kα2: LⅡ → K 壳层;
主要内容
1、X射线历史及其本质√ 2、X射线的产生√ 3、X射线与物质的相互作用√ 4、X射线的吸收 5、X射线吸收的应用
1895年11月8日,德国物理学家伦琴( W. Röntgen )在研究真空 管高压放电现象时偶然发现涂有氰亚铂酸钡硬纸板发出浅绿 色荧光,试着木块、硬橡胶等挡也挡不住,甚至可透过人的 骨骸!
刘福生
本课程学习的意义
• X射线衍射分析是材料研究的最常用手段 • 加深对晶体结构的理解 • 掌握衍射谱分析的步骤与细节
学习要求 • 认真听课 • 勤记笔记 • 善于思考 • 及时总结
教材及参考书
主要内容
一.X射线物理学基础 二.X射线晶体学基础 三.X射线衍射方向 四.X射线衍射强度 五.X射线衍射方法 六.MDI Jade 与物相定性分析 七.粉末衍射定量分析 八.衍射图谱的指标化 九.晶粒细化与显微畸变 十.点阵常数的精确测定 十一.Rietveld 精修
• 3.产生K系荧光辐射条件:入射光子能量hν须大于或等于K 层电子的逸出功WK,即:
h WK eVK
c
hc 1.24 K(nm)
eVK VK
K 1.24
VK
VK-把原子中K层电子击出所需的最小激发电压。 λK-把K层电子击出所需的入射光最长波长。
表明:只当入射X光波长λ≤λK=1.24/VK 时,才能产生K系荧 光辐射。
Kα双重线
• 8. 又因 LⅢ→K (Kαl)的跃迁几率较 LⅡ→K (Kα2)大一倍,故组 成 Kα 两条线的强度比为:
IK1 2IK 2
一般情况下是分不开的, 如:W靶:Kαl=0.0709nm,Kα2=0.0714nm Kα线波长取其双线波长的加权平均值:
K 2 K1 1 K 2
33
• 几种常见阳极靶材和特征谱参数
• 一束X射线通过物体后,其强度将被衰减,这是被散射和吸收 的结果,且吸收是造成强度衰减的主要原因。
无损探伤检测 X射线衍射结构分析
俄歇电子能谱成分分析 光电子能谱成分分析 X荧光光谱成分分析
光和物质相互作用:
自由电子
光电子
声子
入射X射线
非弹性 散射
Bragg衍射
3. 若L层电子→ K层跃迁后,此时 能量EL ,能量降低,自发进行。
E EL EK
内层电子跃迁辐射X射线示意图
• 4. 这多余能量以一个X射线光量子的形式辐 射出来,则光子能量:
EKL h hc /
5. 对原子序数 Z 的物质,各 原子能级的能量是固有的,所 以,ΔEKL便为固有值,λ也是 固有的。
(1)、X射线产生: 高速运动带电粒子(电子)与某物质相撞击后突然减速或
被阻止,与该物质中内层电子相互作用而产生的。
X射线产生条件: 1)产生并发射自由电子(加热W灯丝发射热电子); 2)在真空中迫使电子作定向的高速运动(加速电子); 3)在电子运动路经上设障碍,使其突然减速或停止(靶)
据此,就可理解X射线发生器的构造原理了。
即特征X射线波长为一定值 (特征值)。
内层电子跃迁辐射X射线示意图
L→ K Kα谱线 (跨越 1个能级 ) M→ K Kβ谱线 (跨越 2个能级 ) N→ K Kγ谱线 (跨越 3个能级 )
M→L Lα谱线 (跨越 1个能级 ) N→L Lβ谱线 (跨越 2个能级 ) 依次类推还有M线系…… 。
当时对此射线本质尚无了解,故取
名X射线(伦琴射线)。
这一伟大发现,伦琴于1901年第一 位诺贝尔奖获得者。
威廉·康拉德·伦琴(1845-1923)摄于1896年
1912年,德国物理学家劳埃(M. Von Laue)利用晶体作为天然光栅 成功观察到了X射线衍射现象。
他用CuSO4·5H2O进行实验,获得了第一张X射线衍射照片。
1.当光管电压V 增高到大于阳极
靶材相应的某个临界值VK时,即
V V临
则在连续谱的某特定波长处出 现一些强度高,窄而尖锐的线 形光谱峰。 如图:Mo靶35kV (0.063nm和 0.071nm )的谱线。
2. 改变管流、管压,这些谱线 只改变强度,而峰位所对应的 波长λ不变。
即特征波长λ只与靶材的原子序 数Z有关,而与电压等无关,故 称特征X射线。
5. 设含组分1、2的物质,质量分数:W1、W2;则混合物质量
吸收系数: (W1+W2)=1
m W 1 m1 W 2 m2
• 一、光电效应: • 当入射X光子能量足够大,将内层电子击出,成为自由电子,
原子则为激发态,外层电子向内层空位跃迁,并辐射出一定 波长的特征X射线。
入射X射线
被击出的电子称光电子, 所辐射出的次级特征X射线,称为
3. 产生特征X射线的最低电压叫 激发电压。
特征X射线
1、阳极靶材(Z)不同,产生的特征X射线的波长也不同。 由莫塞莱定律:特征X射线波长λ和阳极靶材原子序数Z关系
1 K(Z )
表明:阳极靶材原子序数Z越大,相应 的同一线系的特征X射线波长越短。
2、改变管流、管压,只改变特征X射线强度,而波长λ不变。
5、X光管电压V=(3~5)V激时,产生 的特征X射线与连续X射线的比率为最大
I特征=Ci(V V激)n
I连=K1iZV 2
特征X射线产生机理与连续X射线不同,它与阳极靶物质的原 子结构紧密相关的。
1. 若高速电子的动能足够大,将 K壳层中某个电子击出。
2. 则在被击出电子的位置出现空 位,原子系统能量升高,处于 “激发态”,能量为EK 。
1914年,获诺贝尔物理学奖。
CuSO4·5H2O衍射照片
世界上第一张X射线衍射照片
Max von Laue 马克斯 • 冯 • 劳埃(1879-1960)
X射线波长法定单位为:nm,以前也常用埃(Å)。
(1nm=10-9m=10 Å)
X 射线波长范围:0.001~10nm(或10 -8 ~10-12m) 两边与紫外线及γ射线 重叠。 晶体结构分析:波长在 0.25~ 0.05 nm, 金属探伤:波长约为 0.1~0.005 nm或更短, 波长较短的X 射线,习惯上称为 “硬X射线”。 波长较长的X射线称为 “软X射线。
X射线非相干散射
• ⑧ 非相干散射效应:由美国物理学家康普顿(pton) 在1923年发现的,也称康普顿散射。
• 我国物理学家吴有训参加了实验工作,故称康-吴效应。
• 因此,康普顿于1927年获诺贝尔物理学奖。
1927年的A.H.康普顿
中国物理学家-吴有训
• (一)透射系数与吸收系数
反射
透射
荧光
材料科学研究实验方法
X射线照射物质上时,偏离了原来方向的现象。主要是核外 电子与X射线的相互作用,会产生两种散射效应。
• 1、相干散射(coherent scattering) • 入射X射线与物质原子中内层电子作用,当X光子能量不足以
使电子激发时,将其能量转给电子,电子则绕其平衡位置发 生受迫振动,成为发射源向四周辐射与入射X射线波长(振动 频率)相同电磁波(即电子散射波)。
② X光:因碰撞而损失部分 能量,其波长增加,并与原 方向偏离2θ角。
X射线非相干散射
• ③ 能量守恒定律:散射光子和反冲电子能量之和等于入射光 子能量。可导出散射波长的增大值Δλ为:
0.0024(1 cos2 )
2θ:为入射光与散射光 的传播方向间夹角。
④ 可见,散射光波长变化Δλ与 入射光波长 λ无关,只与散射 角 2θ 有关。
• 1. X光通过物质而强度衰减,或被物质吸收。
• 当强度为 I0 的X射线照射到厚度 t 的均匀物质上,在通过深度 为 x 处的dx厚度的物质时,强度衰减与dx成正比。
对0~t积分
dIx ldx
Ix
I
I elt 0
μl-为常数,称为线吸收系数。
I =elt 称为透射系数。 I0
• 2. 线吸收系数μl :表征X射线通过单位厚度物质的相对衰减 量,与物质种类、密度、X光波长有关。用质量吸收系数μm
X射线非相干散射
• ⑤ 经典电磁理论:不能解释Δλ存在及随2θ而改变现象,此散 射现象和定量关系遵守量子理论规律,也叫量子散射。
⑥ 此空间各方向散射波与入射波 波长不同,位相关系也不确定,不 产生干涉效应,称非相干散射。
⑦ 非相干散射:不参与对晶体的 衍射,只会增加衍射背底,对衍射 不利。
入射波长越短、被照射物质元素 越轻,此现象越显著。
荧光X射线或二次特征X射线。
这种以入射X射线激发原子所发生 的激发和辐射的过程称为“光电效 应”。
• 2. 光电效应:使入射X 射线消耗大量的能量, 表现为物质对入射X射 线的强烈吸收。
的突变,此对应 波长称吸收限λK 。
• (如图)
图1-10 X光量子能量及质 量吸收系数随波长的关系
Ie
I0 R2
( 0 4
)2(e2 )2 m
1
cos2 2
2
电子散射因素fe
偏振因数
I0-入射线强度; μ0=4π×10-7 m·kg·C-2 fe2=7.94×10-30m2
• X光子与外层价电子相碰撞时的散射。可用一个光子与一个电 子的弹性碰撞来描述。
① 电子:将被撞离原方向并 带走光子部分动能成为反冲 电子;
X射线强度--用波动性观点描述: 单位时间内通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小, 强度与波振幅 A2 成正比。
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