移位寄存器实验报告参考
移位寄存器实验报告

移位寄存器实验报告实验题目:移位寄存器一、实验目的了解移位寄存器的原理,掌握移位寄存器的应用。
二、实验原理移位寄存器是一种存储器件,用于将二进制数据以位为单位进行移位操作。
移位寄存器由若干个D触发器组成,每个D触发器的输出接入下一个D触发器的输入,以此类推,形成了一个环形移位结构。
移位寄存器有三种基本工作模式:串行输入并行输出(SIPO),并行输入串行输出(PISO)和并行输入并行输出(PIPO)。
在SIPO模式下,输入数据串行输入到移位寄存器的最高位,然后逐个向低位移位,最终输出到最低位。
在PISO模式下,输入数据并行输入到移位寄存器的每个位,然后逐个向高位移位,最终输出到最高位。
在PIPO模式下,输入数据并行输入到移位寄存器的每个位,然后逐个向低位移位,最终输出到每个输出端口。
移位寄存器的应用很广泛,其中最常见的是时序信号的处理。
移位寄存器可以用于数字频率合成、序列生成、编码器和解码器等方面。
三、实验设备1. 计算机2. Xilinx ISE14.6软件3. BASYS2开发板4. USB下载器四、实验步骤1. 设计移位寄存器的电路原理图并进行仿真。
2. 在Xilinx ISE14.6软件中创建工程并添加源、约束和测试文件。
3. 将电路原理图转换成Verilog HDL代码。
4. 将Verilog HDL代码综合为综合网表,并进行时序分析。
5. 将综合网表映射到BASYS2开发板上并进行状态机调试。
6. 使用USB下载器将设计好的逻辑文件下载到FPGA上。
7. 连接开发板的输入输出端口,验证移位寄存器的正确性,并观察输出端口结果。
五、实验结果与分析通过移位寄存器的实验,我们学会了如何使用Verilog HDL设计并实现移位寄存器,并对移位寄存器进行了详细的仿真、综合、映射和下载调试。
在实验过程中,我们还学会了串行输入并行输出(SIPO),并行输入串行输出(PISO)和并行输入并行输出(PIPO)三种基本工作模式,掌握了移位寄存器在数字频率合成、序列生成、编码器和解码器等领域中的使用方法。
移位寄存器实验报告结果

一、实验目的本次实验的主要目的是通过搭建移位寄存器实验电路,验证移位寄存器的逻辑功能,并了解其在数字系统中的应用。
实验内容包括:移位寄存器的基本原理、实验电路搭建、实验现象观察和结果分析。
二、实验原理移位寄存器是一种具有移位功能的寄存器,它可以实现数据的串行输入和串行输出。
在时钟脉冲的作用下,移位寄存器中的数据可以依次左移或右移。
根据移位寄存器存取信息的方式不同,可分为串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。
本实验选用的是4位双向通用移位寄存器,型号为74LS194或CC40194。
74LS194具有5种不同操作模式:即并行送数寄存、右移、左移、保持及清零。
其逻辑符号及引脚排列如图1所示。
图1 74LS194的逻辑符号及其引脚排列三、实验电路搭建1. 电路元件准备:74LS194芯片、电阻、电容、二极管、连接线等。
2. 电路搭建:按照图1所示,将74LS194芯片的引脚与电阻、电容、二极管等元件连接,形成移位寄存器实验电路。
3. 电源连接:将电源正负极分别连接到电路板上的VCC和GND端。
四、实验现象观察1. 实验现象一:串行输入,并行输出。
(1)将74LS194的SR端接地,SL端接高电平,S1、S0端接高电平,CR端接地。
(2)使用串行输入端输入数据,观察并行输出端的数据变化。
(3)实验现象:当输入串行数据时,并行输出端依次输出对应的数据。
2. 实验现象二:并行输入,串行输出。
(1)将74LS194的SR端接地,SL端接高电平,S1、S0端接低电平,CR端接地。
(2)使用并行输入端输入数据,观察串行输出端的数据变化。
(3)实验现象:当输入并行数据时,串行输出端依次输出对应的数据。
3. 实验现象三:左移、右移操作。
(1)将74LS194的SR端接地,SL端接高电平,S1、S0端分别接高电平和低电平,CR端接地。
(2)观察移位寄存器中的数据在时钟脉冲的作用下左移或右移。
(3)实验现象:在时钟脉冲的作用下,移位寄存器中的数据依次左移或右移。
移位寄存器实验报告

移位寄存器实验报告移位寄存器和计数器的设计实验室:实验台号:日期:专业班级:姓名:学号:一、实验目的1. 了解二进制加法计数器的工作过程。
2. 掌握任意进制计数器的设计方法。
二、实验内容(一)用D触发器设计左移移位寄存器(二)利用74LS161和74LS00设计实现任意进制的计数器设计要求:以实验台号的个位数作为所设计的任意进制计数器(0、1、2任选)。
三、实验原理图1.由4个D触发器改成的4位异步二进制加法计数器(输入二进制:11110000)2.测试74LS161的功能3.熟悉用74LS161设计十进制计数器的方法。
①利用置位端实现十进制计数器。
②利用复位端实现十进制计数器。
四、实验结果及数据处理1.左移寄存器实验数据记录表要求:输入二进制:111100002.画出你所设计的任意进制计数器的线路图(计数器从零开始计数),并简述设计思路。
8进制利用复位法实现8进制计数器,8=1000B,将A端同与非门相连,当A端=1时,使复位端获得信号,复位,从而实现8进制。
五、思考题1. 74LS161是同步还是异步,加法还是减法计数器?答:在上图电路中74LS161是异步加法计数器。
2. 设计十进制计数器时将如何去掉后6个计数状态的?答:通过置位端实现时,将Q0、Q3 接到与非门上,输出连接到置位控制端。
当Q3=1,Q2=0,Q1=0,Q0=1,即十进制为9时,与非门输入端Q0、Q3同时为高电平,位控制端为低电位,等到下一个CP上升沿到来时,完成置数,全部置为0。
3. 谈谈电子实验的心得体会,希望同学们提出宝贵意见。
答:通过这学期的电子实验,我对电子电路有了更加深入地了解。
初步了解了触发器、寄存器、计数器等电子元件的使用。
将理论与实践相结合,更加深入的了解了电子技术,学到了很多,对这学期的电子实验十分满意。
数字电路实验报告 实验5

实验五移存器功能测试及应用一、实验目的1、熟悉移位寄存器(移存器)的电路结构和工作原理。
2、掌握D触发器74HC(LS)74及集成移位寄存器74HC(LS)194的逻辑功能和使用方法。
二、实验设备和器件1、数字逻辑电路实验板1块2、74HC(LS)74(双D触发器)2片3、74HC(LS)194(4位双向通用移位寄存器)2片三、实验原理移位寄存器是具有移位功能的寄存器,其中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。
既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。
移位寄存器存取信息的方式分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。
实验用器件管脚介绍:1、74HC(LS)74(双D触发器)管脚如下图所示。
2、74HC(LS)194(4位双向通用移位寄存器)管脚如下图所示。
四、实验内容与步骤1、利用两块74HC(LS)74(四个D触发器)构成一个单向的移位寄存器(基本命题)参照用两块74HC(LS)74(四个D触发器)构成一个单向移位寄存器的实验电路图连接电路,Q输出依次接LED指示灯,加电后在移位输入端加入不同信号观察LED指示灯变化。
1.1电路图1.2实验结果LED灯依次变亮,每次间隔一个CP。
2、测试74HC(LS)194的功能(基本命题)例如,Q输出依次接LED指示灯,改变S1、S0的值配合其它输入观察LED的变化。
2.1电路图2.2实验结果:置数:LED显示状态与置数端相同。
左移:LED从下往上(QD到QA)依次变亮,每次间隔一个CP右移:LED从上往下(QA到QD)依次变亮,每次间隔一个CP3、用两片74HC(LS)194做出模16的扭环计数器(扩展命题)将两片的Q输出依次都接到LED指示灯上,加电并加CP观察LED的变化。
现象一般为八盏灯先依次变暗再依次变亮如此循环。
3.1电路图3.2计数器拓展当进行M=2n 偶数计数时,可采用扭环型,D1=Q n ̅̅̅̅,将Q n 和高电平与非后反馈至第一片的输入端。
数电实验报告 移位寄存器功能测试及设计

实验报告实验六移位寄存器功能测试及设计2.6.1实验目的(1)掌握移位寄存器的工作原理与逻辑功能。
(2)掌握集成移位寄存器74LS74的逻辑功能及应用。
2.6.2实验仪器设备与主要器件实验箱一个;双踪示波器一台;稳压电源一台;函数发生器一台。
74LS74两块;74LS194两块;74LS283两块。
2.6.3实验原理1.双向移位寄存器双向移位寄存器是指在控制信号作用下,既能左移又能右移的多功能移位寄存器。
此外它还有并行输入置数、保持和异步清零等功能。
74LS194是一个典型的4位双向移位寄存器,其中,Rd为异步清零输入端,S1、S0为工作方式选择端。
D0、D1、D2、D3是数据输入端,Q0、Q1、Q2、Q3为并行数据输出端,D1L、D1R分别为左移、右移数据输出端,CP上升沿触发。
2.双向移位寄存器74LS194的应用(1)形成计数器电路,其中D1R=Q3。
0000——1000——1100——1110——1111——0111——0011——0001——0000(2)组成模12计数器电路。
000000——100000——110000——111000——111110——111111——011111——001111——000111——000011——000001——000000。
(3)形成并串转换电路。
2.6.4实验内容(2)如简图2-6-6所示,两个二进制数A(a0a1a2a3)、B(b0b1b2b3)分别存入74LS194(A)、74LS194(B),然后对它们按位相加,其和放入74LS1949(A)的移位输入中。
试才用全加器74LS283和D触发器74LS74组成能实现上述功能的电路,在74LS194(A)输出端Q0、Q1、Q2、Q3用发光二极管指示。
完善图2-6-6并依此图线调试电路,以表格的形式记录四个脉冲后的结果。
cp S0S1 B A Q0 1 0 0010 0011 00111 1 0 1001 1001 10012 1 0 1100 0100 01003 1 0 1110 1010 10104 1 0 1111 0101 0101(3)按单向移位寄存器的电路图2-6-1接线,实现串入-并出,并入-串出两种工作方式的输出序列。
实验六 移位寄存器

实验六移位寄存器一:实验目的1. 掌握移位寄存器的工作原理,逻辑功能2. 掌握集成移位寄存器74LS194的逻辑功能及应用二:实验器材74LS00 74LS74 74LS194 CD4008B三:实验原理寄存器用于寄存一组二值代码,它被广泛应用于各类数字系统和计算机中,一个触发器能储存1位二值代码,N个触发器组成的寄存器能储存N位二值代码。
移位寄存器除了具有存储代码功能以外,还具有移位功能。
所谓移位功能,是指寄存器里存储的代码能在移位脉冲的作用下依次左移或右移。
因此,移位寄存器不但可以用来寄存代码,还可以用来实现数据的串行---并行转换,数值的运算和处理。
四.实验内容(一)验证74LS194的逻辑功能,按功能表进行。
结论:74LS194的逻辑功能与实验结果相一致并且与逻辑功能表相符合.二)如图6.3所示,两个二制数A,B,分别存入74LS194(A),74LS194(B),现在要对它们进行按位相加,其和放入74LS194(A)中。
试采用全加器CD4008B和D触发器74LS74组成能实现上述要求的电路,输出用二极管指示。
有图知,满足其特性。
分析以上记录的真值表可知在预设的A为 1010,B为1001情况下,芯片U1用来对A进行移位处理、存放和显示输出结果,U2用来对B进行移位,U3为全加器,本题中设置为一位全加器,故其进位应为S2,全加器将本位的输出和用来控制A右移移位进去的数字,并用D锁存器来存储A、B全加所得和向高位的进位,并将进位结果参与下一次全加运算。
分析真值表可知,每来一个脉冲,A、B实现一次移位,全加器进行一次全加,锁存器存入所得进位数。
四个脉冲到来之后,输出结果即为A、B全加二进制结果,由表中数据得出A+B=10011,符合实验结果;之后由于B已经移出去了,实现的是A 中数与0000的全加的循环移位。
(三)设计二进制转换成十进制的数码转换电路,使上述电路在相加后可以完成用数码管显示相加结果。
集成移位寄存器实验报告

集成移位寄存器实验报告1.实验目的本次实验旨在通过使用集成移位寄存器来深入了解移位寄存器的工作原理,掌握其使用方法,并验证其功能。
通过实验,我们期望提高对集成电路的理解和实际操作能力,同时为今后的电子设计提供实践经验。
2.实验原理移位寄存器是数字电路中的重要组成部分,它能够将数据按照设定的位数向左或向右移动。
集成移位寄存器是一种四位或八位的移位寄存器,它由触发器和移位寄存器构成。
在时钟信号的控制下,数据在寄存器中向左或向右移动。
3.实验设备实验所需设备包括:集成移位寄存器、电源、时钟发生器、数据输入开关、测试仪器、示波器等。
4.实验步骤(1)按照电路图连接实验设备,确保电源和信号线的连接正确无误。
(2)设置时钟发生器,为移位寄存器提供时钟信号。
(3)设置数据输入开关,为移位寄存器提供输入数据。
(4)观察测试仪器的输出结果,记录实验数据。
(5)使用示波器观察移位寄存器的时序波形,了解其工作原理。
5.实验结果实验过程中,我们观察到移位寄存器的输出随着时钟信号的变化而变化。
当输入数据为0001时,经过四个时钟周期后,输出数据变为0100;当输入数据为1011时,经过四个时钟周期后,输出数据变为1100。
这说明移位寄存器能够将数据向左移动四位。
6.实验总结通过本次实验,我们深入了解了集成移位寄存器的工作原理和使用方法。
实验结果表明,移位寄存器能够实现数据的向左或向右移动,具有广泛的应用价值。
在今后的电子设计中,我们可以利用集成移位寄存器的特点来实现数据的处理和传输。
此外,本次实验也提高了我们的实践能力和对数字电路的理解。
实验七---移位寄存器及其应用

集成移位寄存器74LS194功能表:
附:74LS194引脚图
四、实验内容
1、测试四位双向移位寄存器74LS194的逻 辑功能:(测试数据记录表5中)
(1)清除功能 (2)送数功能 (3)右移、左移功能 (4)保持功能 注:CR、S1、S0、SL、SD以及D0-D7分别
接数据开关,CP接逻辑开关,Q0-Q7接发 光二极管显示器。
2、根据实验内容2的结果,画出4 位 环形计数器的状态转换图及波形图。
3、分析串/并行、并/串行转换器所 得结果的正确性。
实验七、移位 寄存器
一、实验目的
1、掌握中规模4位双向移位寄存 器的逻辑功能及使用方法。
2、掌握移位寄存器的典型应用。 3、熟悉移位寄存器的调试方法。
二、实验设备
1、电子技术实验箱
一台
2、数字示波器
一台
3、数字万用表
一块
4、芯片:74LS194*2、74LS00
三、理论准备
移位寄存器是一种由触发器链 型连接的同步时序网络 ,每个 触发器的输出连到下一级触发 器的控制输入端,在时钟脉冲 作用下,存贮在移位寄存器中 的信息逐位左移或右移。
2、环形计数器:自拟实验电路及数据 记录表格。
3、实现数据的串/并转换:按图3、图 4连接电路,输入数码自定,自拟记录 表格。
注:串行输入/并行输出及并行输入/ 串行输出转换电路中只做右移部分; 改接电路,用左移方式的内容放在实 验报告中完成(画出电路图)
波形图:
五、实验报告要求
ห้องสมุดไป่ตู้、分析表5的实验结果,总结移位寄 存器的逻辑功能,并写入表格总结功 能一栏中。
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移位寄存器实验报告参考
(一)实验原理
移位寄存器是用来寄存二进制数字信息并且能进行信息移位的时序逻辑电路。
根据移位寄存器存取信息的方式可分为串入串出、串入并出、并入串出、并入并出4种形式。
74194是一种典型的中规模集成移位寄存器,由4个RS触发器和一些门电路构成的4位双向移位寄存器。
该移位寄存器有左移,右移、并行输入数据,保持及异步清零等5种功能。
有如下功能表
实验框图
并行输入 ABCD
清零输入
模式控制输 入
时钟脉冲输
入 移位寄存器
并行输出QA 、 QB 、QC 、QD
1 0
0 0
串行输入
(三) 实验内容
\ 5T | ---------
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aaAAAAAAAAAMAMMjhMMMAMA£ ” j = | ----------- >_世# :
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SLSI SRSI A
B QA
C QB
D QC SO QD
SI CLRN CLK
参数设置:
End time : 2us
Grid size:100ns
1. 按如下电路图连接电路 十个输入端,四个输出端,主体为 74194.
2. 波形图
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波形说明:
4
SHIFT REG.
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=......|........ = ,
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.
elk:时钟信号; clrn :置0
s1s0:模式控制端si」: 串行输入端
abed :并行输入qabed :并行输出
结论:
elrn优先级最高,且低有效高无效;s1s0模式控制,01右移,10左移, 00保持,11置数重载;si」控制左移之后空位补0或补1
3. 数码管显示移位
(1) 电路图
DDUrYl*
却0]
出叩M ■
轴(1 即 scg|3 m 「
tail
□A
0£ Q0
RH_136
皈讲 他
^_142 TOJ43
clk:122 clk0:125 clrn:95 1.移位寄存器的实验真的挺纠结的,本来想用 7449的,但是下载结果出
(2) 下载验证
管脚分配:
a,b,c,d:86,87,88,89 bsg[3..0]:99,100,101,102
q[6..0]:51,49,48,47,46,44,43 s0,s1:73,72 si 」:82,83
结论: 下载结果与仿真结果一致,下载正确。
、 实验日志
现了错误,想到它在这个电路图中的功能比较单一,就自己写了一个 my7449终于对了。
五、思考题
(1)简单说明移位寄存器的概念及应用情况?
概念:移位寄存器是用来寄存二进制数字信息且能进行信息移动的时序逻 辑电路。
根据移位寄存器存取信息的方式不同可以分为串入串出,串入并 出,并入串出,
74194
SL^ SRSI
A H C D
50 51
CLRN
CLK
并入并处4 种形式。
应用:移位寄存器可以构成计数器,顺序脉冲发生器,串行累加器,串并转换,并串转换等。
(2)仿真常规方法步骤是什么?有什么注意事项?
a)新建波形文件后波形图参数设置
b)添加结点或总线后信号整合与位置分配
c)激励输入及分段仿真
注意事项:
1. 激励输入信号与待分析输出信号上下放置,界限分明;时钟信号置顶,
其他输入信号可按异步控制,同步控制,数据输入顺序向下放置;同一元器件的控制信号就近放置;同一功能的控制信号就近放置;
2. 符合总线形式的IO 信号优先整合;同一器件和同一属性的控制信号优先整合;脉冲信号一般不整合;整合前信号应按高位到低位顺序向下放置;整合后信号名以能直观反映该信号功能为宜;
3. 首先设置时钟信号等系统信号激励完成电路初始状态,其次将时间轴划
分为连续的时间段,一时间段完成一小步实验内容。
(3)如何保存用户的仿真结果波形?
即可。
答:点击file 选择save current report section as。