X射线衍射在材料分析测试中的应用
x射线分析在材料科学方面的利用
x射线分析在材料科学方面的利用刘世艳 1102900323背景：x射线衍射方法其被广泛用于材料科学研究中，用于分析材料的晶体结构，晶体位错，材料中的相分析，及各相含量的测定，还能用于材料宏观应力大小及方向的测定。
故，深入了解x射线衍射的机理及应用是材料学科学生的基本技能。
针对x射线衍射分析的机理并结合其在相关专业方面的利用作如下报告。
一：x射线分析方法的基本原理1.x射线的产生将阳极靶和阴极密封在玻璃金属管内，阴极通电加热，在阴极和阳极之间产生几千伏的高压，阴极的电子在高压下冲撞阳极靶产生x射线。
主要利用阳极靶的特征谱与物质的作用。
2.X射线与物质的作用，（1）真吸收（俄歇效应和荧光效应，热效应）真吸收可利用与滤波。
（2）x射线的散射，分为相干散射、不想干散射，相干散射是x射线衍射的基础，不相干散射产生的光影是想干散射后的背景。
3.x衍射的方向，由布拉格方程在能产生X衍射的方向及晶格间距和X射线波长应满足θλsin=，2d4.x射线衍射的方法（1）劳挨法；晶体周转法；粉末法（最常用的方法）5.X射线衍射强度X射线衍射的强度与晶体结构因数、洛伦兹因数、多重性因数、吸收因数、温度因数等有关。
6.x射线衍射仪的组成（1)X射线衍射仪由x射线发生器，测角仪，辐射探测器，记录单元和自动控制单元等部分组成，其中测角仪是其中心部分。
其衍射试样为平板试样；在测定中，试样和测角仪转到的角度满足1:2；且只有平行于自由表面的且满足布拉格方程的晶面才会发生衍射。
(2)计数器的工作原理为进入计数管的射线是惰性气体电离产生的高速电子再次使气体电离出现雪崩反应，在短时间内产生的大量电子涌向阳极将出现一个可以探测到的电流，计数器输出的电压脉冲在脉冲高度分析器和定标器的作用后由打印机将结果输出。
(3)X衍射仪的常规测量：连续扫描用于全谱测量时；步进扫描用于精确测定衍射峰的积分强度位置或提供线性分析的数据。
二、相关实验设计在焊接件里，因为焊接时温度的差异难免引起被焊接金属的晶粒大小发生变化以及因为晶体中的晶格畸变而在晶粒内部出现应力，这将对试样的性能产生严重影响。
X射线衍射在材料分析当中的应用
X射线衍射在材料分析当中的应用X射线衍射是一种重要的材料分析方法，广泛应用于材料科学、物理学、化学、地质学等领域。
它基于X射线与晶体中的原子相互作用而产生的衍射现象，通过测量衍射角度和强度，可以获得关于材料的结构、晶格参数、晶体形态、晶体质量、晶体缺陷等信息。
下面将详细介绍X射线衍射在材料分析当中的应用。
1.结构测量X射线衍射可以用来确定晶体的结构。
晶体的结构是由周期性排列的原子组成的，X射线可以通过与晶体中的原子相互作用而产生衍射现象。
测量X射线的衍射图样可以得到晶体的结构信息，包括晶胞参数、晶体对称性、原子位置等。
这对于研究固体结构和材料的物理、化学性质非常重要。
2.晶体质量分析X射线衍射可以用来评估晶体的质量。
晶体的质量对于材料的性能具有重要影响。
通过测量X射线衍射的强度和形状，可以判断晶体的纯度、晶格缺陷、晶体畸变等信息，从而评估晶体的质量。
这对于工业生产和材料品质控制非常重要。
3.相变研究X射线衍射可以用来研究材料的相变行为。
相变是材料中的原子或分子之间发生的结构转变。
通过测量相变前后X射线衍射的变化，可以确定相变的发生温度、相变类型、相变机制等信息。
这对于研究材料在不同温度、压力等条件下的结构变化和性质变化非常重要。
4.晶体的应力分析X射线衍射可以用来分析材料中的应力状态。
当晶体中存在应力时，晶胞参数会发生变化，进而影响X射线衍射的角度和强度。
通过测量X射线衍射的变化，可以计算材料中的应力状态。
这对于理解材料的力学性能、设计材料的使用条件非常重要。
5.晶体取向分析X射线衍射可以用来分析材料中晶体的取向情况。
当材料中存在多个取向的晶体时，不同晶面的衍射强度会有区别。
通过测量X射线衍射的强度和方向，可以确定晶体的取向分布。
这对于研究材料的制备方法、材料的性能分布等具有重要意义。
6.材料成像利用X射线衍射原理，可以实现材料的成像。
例如，X射线衍射成像技术可以用来观察材料的内部结构，如晶体的缺陷、晶体的结构变化等。
xrd在现代材料中的应用
xrd在现代材料中的应用
X射线衍射（XRD）是一种非常重要的材料分析技术，它可以用于研究材料的结构、晶体学和物理性质。
在现代材料科学中，XRD已经成为了一种不可或缺的工具。
本文将从材料分类的角度，介绍XRD在现代材料中的应用。
1. 金属材料
金属材料是XRD应用的一个重要领域。
通过XRD技术，可以研究金属材料的结晶结构、晶体缺陷和晶体取向等。
例如，XRD可以用于研究金属材料的晶体取向，从而优化材料的力学性能。
此外，XRD还可以用于研究金属材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
2. 无机非金属材料
无机非金属材料是另一个重要的XRD应用领域。
例如，XRD可以用于研究陶瓷材料的结构和晶体缺陷，从而优化材料的性能。
此外，XRD还可以用于研究无机非金属材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
3. 有机材料
有机材料是XRD应用的另一个重要领域。
例如，XRD可以用于研究
有机晶体的结构和晶体缺陷，从而优化材料的性能。
此外，XRD还可以用于研究有机材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
4. 生物材料
生物材料是XRD应用的一个新兴领域。
例如，XRD可以用于研究生物材料的结构和晶体缺陷，从而优化材料的性能。
此外，XRD还可以用于研究生物材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
总之，XRD在现代材料中的应用非常广泛，涉及到金属材料、无机非金属材料、有机材料和生物材料等多个领域。
通过XRD技术，可以研究材料的结构、晶体学和物理性质，为材料的制备和加工提供重要的参考。
X射线衍射技术在材料分析中的新应用
材料分析方法大作业（一）——X射线衍射技术在材料分析中的新应用班级：0836306班学号：**********姓名：***X射线衍射技术在材料分析中的新应用一、X射线衍射原理由于X射线是波长在100Å~0.01 Å之间的一种电磁辐射，常用的X射线波长约在2.5 Å~0.5 Å之间，与晶体中的原子间距（1 Å）数量级相同，因此可以用晶体作为X射线的天然衍射光栅，这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。
当X射线沿某方向入射某一晶体时，晶体中每个原子的核外电子产生的相关波彼此发生干涉。
当每两个相邻波源在某一方向的光程差（△）等于波长的整数倍时，它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大程度的加强，这种波的加强叫做衍射，相应的方向叫做衍射方向，在衍射方向前进的波叫做衍射波。
在警惕的点阵结构中，具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果，决定了X射线在晶体中衍射的方向，所以通过对衍射方向的测定，可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。
晶体结构= 点阵+ 结构基元，点阵又包括直线点阵，平面点阵和空间点阵。
空间点阵可以看成是互不平行的三组直线点阵的组合，也可以看成是由互相平行且间距相等的一系列平面点阵所组成。
劳厄和布拉格就是分别从这两个角度出发，研究衍射方向与晶胞参数之间的关系，从而提出了著名的劳厄方程和布拉格方程。
布拉格父子在劳厄实验的基础上，导出了著名的布拉格定律：2d sinθ= nλ其中，θ称为布拉格角或半衍射角，这一定律表明了X射线在晶体中产生衍射的条件。
晶体X射线衍射实验的成功，一方面揭示了X射线的本质，说明它和普通光波一样，都是一种电磁波，只是它的波长较短而已；另一方面证实了晶体构造的点阵理论，解决了自然科学中的两个重大课题，更重要的是劳厄、布拉格等人的发现打开了进人物质微观世界的大门，提供了直接分析晶体微观结构的锐利武器，开辟了晶体结构X射线分析的新领域，奠定了X射线衍射学的基础。
(完整版)X射线衍射技术在材料分析中的应用
X射线衍射技术在材料分析中的应用沈钦伟126406324 应用化学1引言X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质( 晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象, 物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法, 已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
2X射线衍射基本原理X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。
X射线的波长较短, 大约在10-8~10-10cm之间。
X 射线分析仪器上通常使用的X射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管, 在管子两极间加上高电压, 阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶,从而产生X射线。
当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射, 衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关，不同的晶体物质具有自己独特的衍射花样, 这就是X射线衍射的基本原理。
3 X射线衍射技术在材料分析中的应用由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关。
每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型, 晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。
因此,没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样。
通过分析待测试样的X射线衍射花样,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道它们的存在状态,即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。
同时,根据X射线衍射试验还可以进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析。
X射线衍射在材料分析中的应用
X射线衍射在材料分析中的应用一、X射线的背景及衍射原理1895年,伦琴首次发现X射线,随后由布拉格父子发现X射线本质是波长很短的电磁波。
X射线衍射技术是利用X射线在晶体、非晶体中衍射与散射效应，进行物相的定性和定量分析、结构类型和不完整性分析的技术。
由于X射线衍射分析方法具有用量少、对样品的非破坏性、大面积的平均性、对结构和缺陷的灵敏性等特性，使得X射线衍射分析方法的应用范围不断拓展，广泛应用于物理学、化学、分子物理学、医学、药学、金属学、材料学、高分子科学、工程技术学、地质学、矿物学等学科领域。
本文仅讨论X射线衍射在材料分析中的一些应用。
材料分析是通过对表征材料的物理性质或物理化学性质参数及其变化(称为测量信号或特征信息)的检测实现的。
采用各种不同的测量信号(相应地具有与材料的不同特征关系)形成了各种不同的材料分析方法。
二、X射线衍射方法在各种衍射实验方法中,基本方法有单晶法、多晶法和双晶法。
1.单晶衍射法单晶X射线衍射分析的基本方法为劳埃法与周转晶体法。
2.多晶衍射法多晶X射线衍射方法包括照相法与衍射仪法。
三、理论依据1.物相分析⑴X射线物相分析原理:任何结晶物质都有其特定的化学组成和结构参数(包括点阵类型、晶胞大小、晶胞中质点的数目及坐标等)。
当x射线通过晶体时，产生特定的衍射图形，对应一系列特定的面间距d 和相对强度I ／I l 值。
其中d 与晶胞形状及大小有关，I ／I 1与质点的种类及位置有关。
所以，任何一种结晶物质的衍射数据d 和I ／I 1是其晶体结构的必然反映。
不同物相混在一起时,它们各自的衍射数据将同时出现，互不干扰地叠加在一起,因此,可根据各自的衍射数据来鉴定各种不同的物相。
⑵ 物相分析是指确定材料由哪些相组成和确定各组成相的含量。
物相是决定或影响材料性能的重要因素,因而物相分析在材料、冶金、机械等行业中得到广泛应用，物相分析有定性分析和定量分析两种。
① 物相定性分析的目的是检测固体样品中的相组成,采用未知样品衍射图谱与标准图谱比较的办法。
浅谈X射线衍射分析在材料科学中应用及对内应力测量
浅谈X射线衍射分析在材料科学中应用及对内应力测量摘要：X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。
将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
本文主要介绍X射线衍射分析在材料科学中应用并以测量内应力为例对其进行具体分析。
关键词：X射线衍射分析、内应力测量、物相分析X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。
将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。
在当今的材料科学领域中，主要将其应用于以下几个方方面：一．物相分析晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换,每种晶体的结构与其X 射线衍射图之间都有着一一对应的关系,其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化,这就是X 射线衍射物相分析方法的依据。
制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待分析物质的衍射花样与之对照,从而确定物质的组成相,就成为物相定性分析的基本方法。
鉴定出各个相后,根据各相花样的强度正比于该组分存在的量,就可对各种组分进行定量分析。
目前常用衍射仪法得到衍射图谱,用“粉末衍射标准联合会(JCPDS) ”负责编辑出版的粉末衍射卡片即PDF卡片进行物相分析。
目前,物相分析存在的问题主要有:(1) 待测物图样中的最强线条可能并非某单一相的最强线,而是两个或两个以上相的某些次强或三强线叠加的结果。
这时若以该线作为某相的最强线将找不到任何对应的卡片。
x射线衍射技术的应用
x射线衍射技术的应用以X射线衍射技术的应用为标题,我们将探讨X射线衍射技术在不同领域的应用。
X射线衍射技术是一种利用X射线在物质中的相互作用进行分析和研究的方法。
该技术已经被广泛应用于材料科学、生物医学、地质学等领域，为我们的科学研究和工程实践提供了重要的支持和突破。
在材料科学领域，X射线衍射技术被用于材料的结构分析和晶体学研究。
通过研究材料的衍射图案，可以获得材料的晶体结构、晶格常数以及晶体中原子的排列方式等信息。
这些信息对于材料的性能和应用具有重要意义。
例如，在材料研发过程中，研究人员可以利用X射线衍射技术来确定新合成材料的晶体结构，从而指导进一步的材料设计和优化。
在生物医学领域，X射线衍射技术被广泛应用于蛋白质结构研究。
蛋白质是生物体中最重要的功能分子之一，其结构与功能密切相关。
通过X射线衍射技术，研究人员可以获得蛋白质的三维结构信息，进而揭示其功能机制。
这对于药物研发、疾病治疗等具有重要意义。
例如，通过研究蛋白质的结构，科学家们可以设计出更加高效的药物分子，提高药物的选择性和疗效。
在地质学领域，X射线衍射技术被广泛应用于矿物成分的分析和研究。
地球是由各种不同的矿物组成的，研究矿物的成分和结构对于地质学家来说是十分重要的。
通过X射线衍射技术，可以准确地确定矿物的成分和晶体结构，从而推断地质过程和环境的演化历史。
例如，在石油勘探中，研究人员可以利用X射线衍射技术来分析地下岩石中的矿物成分，从而判断油气的储集情况和潜在资源量。
除了上述领域，X射线衍射技术还被应用于材料缺陷分析、晶体生长研究、纳米材料表征等领域。
例如，在材料缺陷分析中，通过研究材料的X射线衍射图案，可以检测和定量分析材料中的晶体缺陷，如晶格畸变、晶界、位错等。
这对于材料性能的改进和缺陷修复具有重要意义。
在晶体生长研究中，X射线衍射技术可以用于监测晶体生长动态过程，了解晶体生长机制和控制晶体质量。
在纳米材料表征中，X射线衍射技术可以用于研究纳米材料的晶体结构和尺寸分布，揭示其特殊的物理和化学性质。
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X射线衍射技术在材料分析测试中的应用摘要：X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法, 在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
介绍了X 射线衍射的基本原理, 从物相鉴定、点阵参数测定、微观应力测定等几方面概述了X 射线衍射技术在材料分析中的应用进展。
1 X射线基本原理由于X 射线是波长在1000Å~0. 01Å之间的一种电磁辐射, 常用的X 射线波长约在2. 5Å~ 0. 5Å之间, 与晶体中的原子间距( 1Å )数量级相同, 因此可以用晶体作为X 射线的天然衍射光栅, 这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。
当X射线沿某方向入射某一晶体的时候, 晶体中每个原子的核外电子产生的相干波彼此发生干涉.当每两个相邻波源在某一方向的光程差(Δ)等于波长λ的整数倍时, 它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大限度的加强, 这种波的加强叫做衍射, 相应的方向叫做衍射方向, 在衍射方向前进的波叫做衍射波。
Δ= 0的衍射叫零级衍射, Δ = λ的衍射叫一级衍射, Δ = nλ的衍射叫n级衍射. n不同, 衍射方向也不同。
在晶体的点阵结构中, 具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果, 决定了X射线在晶体中衍射的方向, 所以通过对衍射方向的测定, 可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。
晶体结构= 点阵+ 结构基元, 点阵又包括直线点阵, 平面点阵和空间点阵. 空间点阵可以看成是互不平行的三组直线点阵的组合, 也可以看作是由互相平行且间距相等的一系列平面点阵所组成. 劳厄和布拉格就是分别从这两个角度出发, 研究衍射方向与晶胞参数之间的关系。
伦琴发现X射线之后, 1912年德国物理学家劳厄首先根据X 射线的波长和晶体空间点阵的各共振体间距的量级, 理论预见到X 射线与晶体相遇会产生衍射现象, 并且他成功地验证了这一预见, 并由此推出了著名的劳厄定律。
2 X射线的应用2 .1 X射线衍射物相分析原理与化学分析不同，X 射线衍射分析所能指示出的是“相”，而不仅限于元素。
对X 光来说，晶体点阵是理想的衍射光栅，物质晶体结构上的差异导致形形色色的衍射花样。
没有两种结晶物质会给出完全相同的衍射花样。
如果将几种物相混合摄照，所得衍射线条将是各个单独物相衍射结果的简单叠加。
对每种单相物质都测定一个标准物质的图样，制成卡片，物相分析就变成了简单的对照工作。
同理，可对多相混合物或化合物逐一进行鉴定。
如今在硬质合金涂层的研究分析中，X 射线衍射物相分析已是常用的手段之一，与金相分析结合应用，充分发挥功效。
硬质合金涂层的物相分析就是借助前人制作的上万种标准衍射图样，根据物质的X 射线衍射花样与物质内部晶体结构相关的特点，查对而快速判定涂覆物相组分，确定材料含有的相，以此达到调控优化工艺，获取所需物相结构。
2. 1 物相定性分析即固体由哪几种物质构成不同的多晶体物质的结构和组成元素各不相同, 它们的衍射花样在线条数目、角度位置、强度上就呈现出差异, 衍射花样与多晶体的结构和组成有关, 一种特定的物相具有自己独特的一组衍射线条(即衍射谱) , 反之不同的衍射谱代表着不同的物相. 若多种物相混合成一个试样, 则其衍射谱就是其中各个物相衍射谱叠加而成的复合衍射谱. 因而, 我们可以通过测定试样的复合衍射谱, 并对复合衍射谱进行分析分解, 从而确定试样由哪几种物质构成。
2. 2 物相定量分析物相定量分析的任务是用X 射线衍射技术, 准确测定混合物中各相的衍射强度, 从而求出多相物质中各相的含量. 其理论基础是物质参与衍射的体积或者重量与其所产生的衍射强度成正比, 因而, 可通过衍射强度的大小求出混合物中某相参与衍射的体积分数或者重量分数, 从而确定混合物中某相的含量.X射线衍射物相定量分析方法有: 内标法、外标法、绝热法、增量法、无标样法、基体冲洗法和全谱拟合法等常规分析方法. 内标法、绝热法和增量法等都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线, 如果样品含有的物相较多、谱线复杂, 再加入参考标相时会进一步增加谱线的重叠机会,从而给定量分析带来困难; 外标法虽然不需要在样品中加入参考标相, 但需要用纯的待测相物质制作工作曲线; 基体冲洗法、无标样法和全谱拟合法等分析方法不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线, 但需要复杂的数学计算, 如联立方程法和最小二乘法等 . 总之, X射线衍射方法进行物相定量分析方法很多, 但是有些方法需要有纯的物质作为标样, 而有时候纯的物质难以得到, 从而使得定量分析难以进行, 从这个意义上说, 无标样定量相分析法具有较大的使用价值和推广价值.2.3点阵参数的测定点阵参数是物质的基本结构参数, 任何一种晶体物质在一定状态下都有一定的点阵参数。
测定点阵参数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。
点阵参数的测定是通过X 射线衍射线位置的测定而获得的, 通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。
吴建鹏等采用X 射线衍射技术测量了不同配比条件下Fe2 O3 和Cr2O3 的固溶体的点阵参数,根据Vegard 定律计算出固溶体中某相的固溶度,这种方法虽然存在一定的误差, 但对于反映固溶度随工艺参数的变化趋势仍然是非常有效的。
刘晓等通过衍射技术计算出了低碳钢中马氏体的点阵常数, 并建立了一个马氏体点阵参数随固溶碳量变化的新经验方程, 他们根据试验数据所获得的回归方程可成为钢中相( 过饱和) 含碳量的实用的标定办法( 特别在低碳范围) 。
2. 4 微观应力的测定微观应力是指由于形变、相变、多相物质的膨胀等因素引起的存在于材料内各晶粒之间或晶粒之中的微区应力。
当一束X 射线入射到具有微观应力的样品上时, 由于微观区域应力取向不同, 各晶粒的晶面间距产生了不同的应变, 即在某些晶粒中晶面间距扩张, 而在另一些晶粒中晶面间距压缩, 结果使其衍射线并不像宏观内应力所影响的那样单一地向某一方向位移, 而是在各方向上都平均地作了一些位移, 总的效应是导致衍射线漫散宽化。
材料的微观残余应力是引起衍射线线形宽化的主要原因, 因此衍射线的半高宽即衍射线最大强度一半处的宽度是描述微观残余应力的基本参数。
钱桦等在利用X 射线衍射研究淬火65Mn 钢回火残余应力时发现: 半高宽的变化与回火时间、温度密切相关。
与硬度变化规律相似, 半高宽也是随着回火时间的延长和回火温度的升高呈现单调下降的趋势。
因此,X 射线衍射中半高宽- 回火时间、温度曲线可以用于回火过程中残余应力消除情况的判定。
2.5 结晶度的测定结晶度是影响材料性能的重要参数。
在一些情况下, 物质结晶相和非晶相的衍射图谱往往会重叠。
结晶度的测定主要是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积的比, 在测定时必须把晶相、非晶相及背景不相干散射分离开来。
基本公式为:X c = I c/ ( I c+ K I a )式中: X c —结晶度I c —晶相散射强度I a —非晶相散射强度K —单位质量样品中晶相与非晶相散射系数之比目前主要的分峰法有几何分峰法、函数分峰法等。
范雄等采用X 射线衍射技术测定了高聚物聚丙烯(PP) 的结晶度, 利用函数分峰法分离出非晶峰和各个结晶峰, 计算出了不同热处理条件下聚丙烯的结晶度, 得出了聚丙烯结晶度与退火时间的规律。
2.6晶体取向及织构的测定晶体取向的测定又称为单晶定向, 就是找出晶体样品中晶体学取向与样品外坐标系的位向关系。
虽然可以用光学方法等物理方法确定单晶取向, 但X 衍射法不仅可以精确地单晶定向, 同时还能得到晶体内部微观结构的信息。
一般用劳埃法单晶定向, 其根据是底片上劳埃斑点转换的极射赤面投影与样品外坐标轴的极射赤面投影之间的位置关系。
透射劳埃法只适用于厚度小且吸收系数小的样品,背射劳埃法就无需特别制备样品, 样品厚度大小等也不受限制, 因而多用此方法。
多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构, 常见的织构有丝织构和板织构两种类型。
为反映织构的概貌和确定织构指数, 有三种方法描述织构: 极图、反极图和三维取向函数, 这三种方法适用于不同的情况。
对于丝织构, 要知道其极图形式, 只要求出其丝轴指数即可, 照相法和衍射仪法是可用的方法。
示, 且多用衍射仪进行测定。
2.7分析结果准确性依据X射线荧光光谱无标样分析软件经常用于未知样分析，其结果的准确性往往无法验证。
Speelratplus 软件提供了一个分析结果的准确性判据：康普顿线比率和瑞利线比率，即通过样品中各元素的浓度计算出理论康普顿线强度和瑞利线强度，再将这个理论强度与实测的强度进行比较，如果比率接近1，说明本次无标样分析结果较可靠。
如果理论强度与实测强度相差较大，对于康普顿线比率而言，比率大于1，说明样品的平均原子序数偏小，即这次分析的基体偏轻；比率小于1，说明样品的平均原子序数偏大，即基体偏重。
考虑康普顿线对轻元素敏感，瑞利线对重元素敏感，因此，对于轻基体主要看康普顿线比率，对于重基体主要看瑞利线比率。
一般比率在0.7~1.4 之间时，都认为该比率比较接近1。
2.8 由多晶材料得到类单晶衍射数据确定一个晶态材料晶体结构最有力的手段是进行单晶X 射线衍射, 通常要求单晶的粒径在0.1~1mm之间, 但是合乎单晶结构分析用的单晶有时难以获得, 且所发现的新材料通常是先获得多晶样品, 因此, 仅仅依靠单晶衍射进行结构测定显然不能适应新材料研究快速发展的状况. 为加速研究工作的进展,以及对复合材料和纳米材料等的结构研究, 都只能在多晶材料下进行研究和测定其晶体结构, 因此, X射线粉末衍射法在表征物质的晶体结构, 提供结构信息方面具有极其重要的意义和实际应用价值。
近年来, 利用粉末衍射数据测定未知结构的方法获得了很大的成功, 这种方法的关键在于正确地对粉末衍射图谱进行分峰, 确定相应于每一个面指数( hkl )的衍射强度, 再利用单晶结构分析方法测定晶体结构. 从复杂的氧化物到金属化合物都可利用此方法测定晶体结构。
晶体结构测定还有一些经验方法, 如同构型法、傅里叶差值法和尝试法等。
对于较为复杂的晶体结构, 人工尝试往往受到主观因素和计算量大的限制, 存在着可行的模型被忽略的可能性。
目前计算机技术在材料相关系、晶体结构研究和新材料探索中的应用越来越广泛, 其中计算机模拟法是对待测的晶体结构, 先给定一个随机的模型, 根据设定的某一判据, 指导计算机沿正确的方向寻找结构中的原子位置, 以获得初略结构, 继而可采用差值傅里叶合成和立特沃尔德法修正结构。
以衍射强度剩差最小为判据的蒙特卡洛(Monte Carlo)法、以体系能量最低为判据的能量最小法以及模拟退火法和分子动力学模拟法等都属于粉末衍射晶体结构测定的计算机模拟法。