材料现代测试分析方法期末考试卷与答案
材料现代测试分析方法期末考试卷与答案
材料现代测试分析方法期末考试卷与答案江西省理工大学材料分析测试题（可供参考）一、名词解释（共有20分，每小题2分。
）1.辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。
2.俄歇电子：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是离子)处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。
3.背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
4.溅射：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。
5.物相鉴定：指确定材料（样品）由哪些相组成。
6.电子透镜：能使电子束聚焦的装置。
7.质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。
8.蓝移：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。
9.伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。
10.差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术。
二、填空题（共20分，每小题2分。
）1.电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部分，其中中间部分包括（红外线）、（可见光）和（紫外线），统称为光学光谱。
2.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。
光谱按强度对波长的分布（曲线）特点（或按胶片记录的光谱表观形态）可分为（连续）光谱、（带状）光谱和（线状）光谱3类。
3.分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。
分子散射包括（瑞利散射）与（拉曼散射）两种。
4.X射线照射固体物质(样品)，可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子5.多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（X 射线衍射仪法）。
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案一、选择题（每题2分，共20分）1. 下列哪一项不是材料现代测试分析方法？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 光学显微镜（OM）C. 质谱仪（MS）D. 能谱仪（EDS）2. 在材料现代测试分析中，哪种技术可以用于测量材料的晶体结构？A. X射线衍射（XRD）B. 原子力显微镜（AFM）C. 扫描隧道显微镜（STM）D. 透射电子显微镜（TEM）3. 下列哪种测试方法主要用于分析材料的表面形貌？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 透射电子显微镜（TEM）C. 原子力显微镜（AFM）D. 光学显微镜（OM）4. 在材料现代测试分析中，哪种技术可以用于测量材料的磁性？A. 振动样品磁强计（VSM）B. 核磁共振（NMR）C. 红外光谱（IR）D. 紫外可见光谱（UV-Vis）5. 下列哪种测试方法可以同时提供材料表面形貌和成分信息？A. 扫描电子显微镜（SEM）B. 原子力显微镜（AFM）C. 能谱仪（EDS）D. 质谱仪（MS）二、填空题（每题2分，共20分）1. 扫描电子显微镜（SEM）是一种利用_____________来扫描样品表面，并通过_____________来获取样品信息的测试方法。
2. 透射电子显微镜（TEM）是一种利用_____________穿过样品，并通过_____________来观察样品内部结构的测试方法。
3. 原子力显微镜（AFM）是一种利用_____________与样品表面相互作用，并通过_____________来获取表面形貌和力学性质的测试方法。
4. 能谱仪（EDS）是一种利用_____________与样品相互作用，并通过_____________来分析样品成分的测试方法。
5. 振动样品磁强计（VSM）是一种利用_____________来测量样品磁性的测试方法。
三、简答题（每题10分，共30分）1. 请简要介绍扫描电子显微镜（SEM）的工作原理及其在材料测试中的应用。
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案第一部分：选择题（共10题，每题2分，共20分）1. 以下哪项不是材料现代测试分析的主要方法？- A. X射线衍射分析- B. 扫描电子显微镜分析- C. 质谱分析- D. 核磁共振分析2. 在材料现代测试分析中，以下哪种方法适用于分析材料的晶体结构？- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. X射线衍射分析- D. 高效液相色谱分析3. 以下哪项不是扫描电子显微镜分析的主要应用？- A. 表面形貌观察- B. 元素分析- C. 晶体结构分析- D. 电子能谱分析4. 质谱分析主要用于检测和分析材料中的什么？- A. 元素成分- B. 分子结构- C. 表面形貌- D. 晶体结构5. 核磁共振分析常用于确定材料中的什么信息？- A. 元素含量- B. 晶体结构- C. 分子结构- D. 表面形貌6. 以下哪种方法适用于分析材料的热性能？- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. 扫描电子显微镜分析- D. 核磁共振分析7. 在材料现代测试分析中，以下哪种方法适用于分析材料的表面形貌？- A. 红外光谱分析- B. 扫描电子显微镜分析- C. X射线衍射分析- D. 质谱分析8. 以下哪项不是红外光谱分析的主要应用？- A. 元素分析- B. 分子结构分析- C. 表面形貌观察- D. 化学成分分析9. 在材料现代测试分析中，以下哪种方法适用于分析材料的化学成分？- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. X射线衍射分析- D. 高效液相色谱分析10. 高效液相色谱分析主要用于检测和分析材料中的什么？- A. 元素成分- B. 分子结构- C. 化学成分- D. 表面形貌第二部分：简答题（共5题，每题10分，共50分）1. 简述材料现代测试分析的意义和应用范围。
2. 请列举并解释任意两种材料现代测试分析方法。
3. 简述扫描电子显微镜分析的原理和应用领域。
现代化材料分析测试方法期末试题及解答
现代化材料分析测试方法期末试题及解答试卷分析本试卷主要考察了现代化材料分析测试方法的基本概念、原理、技术及其应用。
试题涵盖了各种测试方法的特点、优缺点、适用范围以及相关设备的操作和维护等内容。
试题部分一、选择题（每题2分，共20分）1. 下列哪一项不属于材料分析测试方法的分类？A. 物理方法B. 化学方法C. 力学方法D. 生物学方法2. 扫描电子显微镜（SEM）的分辨率通常高于透射电子显微镜（TEM）。
其主要原因是？A. 加速电压更高B. 样品制备更简单C. 电磁透镜的放大倍数更大D. 信号采集方式更优越3. 在能谱分析中，能量色散谱（EDS）与波谱分析（WDS）的主要区别是什么？A. 能量分辨率不同B. 信号采集方式不同C. 检测元素种类不同D. 谱图形态不同4. 以下哪种测试方法可以同时获得材料的微观形貌和成分信息？A. X射线衍射B. 光学显微镜C. 扫描电子显微镜D. 原子力显微镜5. 某同学在使用X射线光电子能谱（XPS）进行分析时，发现获取的信号强度较低。
可能的原因是？A. 样品制备不充分B. 仪器灵敏度不够C. 加速电压设置不当D. 样品与仪器接触不良二、简答题（每题5分，共25分）6. 请简述透射电子显微镜（TEM）的工作原理及其在材料分析中的应用。
7. 什么是拉曼光谱？请列举其在材料分析中的应用。
8. 请简述原子力显微镜（AFM）的工作原理及其在材料分析中的优势。
三、论述题（每题10分，共30分）9. 论述能谱分析（EDS）在材料分析中的应用范围及其局限性。
10. 结合实际情况，论述现代化材料分析测试方法在科研和工业领域的应用前景。
答案部分一、选择题答案1. D2. D3. A4. C5. B二、简答题答案6. 透射电子显微镜（TEM）的工作原理是利用电子束透过样品，样品对电子束产生散射和吸收，形成衍射图样和吸收图像。
在材料分析中，TEM可以用于观察材料的微观结构、晶体学分析、相变研究等方面。
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案
期末考试卷：材料现代测试分析方法和答案第一部分：选择题1. 在材料现代测试分析方法中，下列哪种方法可以用来确定材料的成分？- A. 热分析法- B. 机械测试法- C. 磁性测试法- D. 光谱分析法- 答案：D2. 材料现代测试分析方法的主要目的是什么？- A. 确定材料的力学性能- B. 分析材料的热性能- C. 评估材料的化学稳定性- D. 确定材料的组成和结构- 答案：D3. 以下哪种测试方法可以用来评估材料的耐腐蚀性能？- A. 硬度测试- B. 疲劳测试- C. 电化学测试- D. 热膨胀测试- 答案：C4. 材料的断裂韧性可以通过下列哪种测试方法进行评估？- A. 硬度测试- B. 拉伸测试- C. 冲击测试- D. 磁性测试- 答案：C5. 下列哪种测试方法可以用来评估材料的疲劳寿命？- A. 硬度测试- B. 拉伸测试- C. 冲击测试- D. 疲劳测试- 答案：D第二部分：简答题1. 简要解释材料现代测试分析方法的定义和作用。
答案：材料现代测试分析方法是一种使用现代科学技术手段对材料进行分析和测试的方法。
它的作用是确定材料的组成、结构和性能，以便评估材料的适用性和可靠性。
2. 举例说明材料现代测试分析方法在工程领域中的应用。
答案：材料现代测试分析方法在工程领域中有广泛的应用。
例如，在航空航天工程中，可以使用材料现代测试分析方法来评估航天器的耐热性能和抗腐蚀性能，以确保航天器在极端环境下的安全运行。
在建筑工程中，可以使用材料现代测试分析方法来评估建筑材料的力学性能和耐久性，以确保建筑物的结构安全可靠。
3. 请简要描述一种材料现代测试分析方法，并说明其适用性。
答案：一种材料现代测试分析方法是扫描电子显微镜（SEM）分析。
它通过扫描材料表面并记录电子显微图像，可以对材料的形貌、结构和成分进行分析。
SEM分析适用于对材料的微观结构和成分进行研究，可以用于材料的质量控制、故障分析和新材料的研发。
期末考试卷-现代材料测试分析法与答案
期末考试卷-现代材料测试分析法与答案一、选择题1. 下列哪种测试方法不适用于现代材料的分析？A. X射线衍射B. 热重分析C. 磁力显微镜观察D. 电子显微镜观察正确答案：C2. 现代材料测试分析法的目的是什么？A. 确定材料的物理性质B. 评估材料的化学成分C. 分析材料的力学性能D. 检测材料的表面缺陷正确答案：B3. 下列哪种测试方法可以用于测定材料的热稳定性？A. 热重分析B. 磁力显微镜观察C. X射线衍射D. 电子显微镜观察正确答案：A4. 现代材料测试分析法中，常用的表面缺陷检测方法是：A. 热重分析B. 磁力显微镜观察C. X射线衍射D. 电子显微镜观察正确答案：B5. X射线衍射是一种常用的测试方法，其主要用途是：A. 分析材料的化学成分B. 检测材料的表面缺陷C. 确定材料的物理性质D. 分析材料的晶体结构正确答案：D二、简答题1. 简要说明热重分析的原理和应用。
热重分析是一种通过测量材料在加热过程中质量的变化来分析材料性质的方法。
它基于材料在不同温度下的热稳定性不同的原理，通过测量样品在加热过程中的质量变化来评估材料的热稳定性。
热重分析广泛应用于材料科学、化学工程和环境科学等领域，用于研究材料的热分解、热失重、腐蚀性等性质。
2. 简要说明磁力显微镜观察的原理和应用。
磁力显微镜观察是一种通过使用磁场来观察材料的磁性和磁结构的方法。
它利用材料的磁性与磁场的相互作用，通过观察材料在磁场中的行为来推断材料的磁性和磁结构。
磁力显微镜观察广泛应用于材料科学、磁学和电子学等领域，用于研究材料的磁性、磁相变、磁畴结构等性质。
三、解答题1. 现代材料测试分析法存在哪些优势？现代材料测试分析法具有以下优势：- 准确性：现代测试方法能够提供精确的数据和结果，用于准确评估材料的性能和特性。
- 高效性：现代测试方法通常能够在短时间内完成测试，提高了工作效率。
- 非破坏性：大部分现代测试方法是非破坏性的，可以对材料进行分析而不损坏其结构和性能。
现代材料分析测试方法：期末考试卷和答案
现代材料分析测试方法：期末考试卷和答案第一部分：选择题1. 以下哪项不是常用的材料分析测试方法？- A. 扫描电子显微镜（SEM）- B. 红外光谱（IR）- C. 傅里叶变换红外光谱（FTIR）- D. 核磁共振（NMR）答案：D2. 扫描电子显微镜（SEM）主要用于：- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 力学性能测试答案：A3. X射线衍射（XRD）常用于：- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 晶体结构分析答案：D4. 热重分析（TGA）主要用于：- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 热稳定性分析答案：D5. 扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的区别在于：- A. SEM可以观察表面形貌，TEM可以观察内部结构- B. SEM可以观察内部结构，TEM可以观察表面形貌- C. SEM只能观察金属材料，TEM只能观察非金属材料- D. SEM只能观察非金属材料，TEM只能观察金属材料答案：A第二部分：简答题1. 简述红外光谱（IR）的原理和应用领域。
红外光谱是一种基于物质吸收、散射和透射红外光的测试方法。
它利用物质分子的特定振动模式与入射红外光发生相互作用，从而获得物质的结构信息和化学成分。
红外光谱广泛应用于有机物的鉴定、无机物的分析、聚合物材料的检测以及药物和食品的质量控制等领域。
2. 简述傅里叶变换红外光谱（FTIR）的原理和优势。
傅里叶变换红外光谱是一种红外光谱的分析技术，它通过对红外光信号进行傅里叶变换，将时域信号转换为频域信号，从而获得高分辨率和高灵敏度的红外光谱图谱。
相比传统的红外光谱，FTIR 具有快速测量速度、高信噪比、宽波数范围和高分辨率等优势。
它广泛应用于材料分析、有机合成、生物医学和环境监测等领域。
3. 简述热重分析（TGA）的原理和应用领域。
热重分析是一种测量物质在升温过程中质量变化的测试方法。
材料现代分析方法试题(1-10)有答案
Rietveld 全谱拟合定量分析方法。通过计算机对试样图谱每个衍射峰的形状 和宽度，进行函数模拟。全谱拟合定量分析方法，可避免择优取向，获得高分辨 高准确的数字粉末衍射图谱，是目前 X射线衍射定量分析精度最高的方法。
范围会出现吸收峰?
10．一种化合物含有两个基团与各含一个基团的两种化合物的混合物，其红外谱图有大
的差别吗？为什么？一种化合物含有两个基团与各含一个基团的两种化合物的混合物，其红 外谱图有大的差别吗？为什么？
二、综合及分析题（共 5题，每题 10分）
1．决定 X 射线强度的关系式是
， 试说明式中各参数的物理意义? 2．比较物相定量分析的外标法、内标法、K 值法、直接比较法和全谱拟合法 的优缺点？ 3．请导出电子衍射的基本公式，解释其物理意义，并阐述倒易点阵与电子衍 射图之间有何对应关系? 解释为何对称入射(B//[uvw])时，即只有倒易点阵原点 在爱瓦尔德球面上，也能得到除中心斑点以外的一系列衍射斑点? 4．单晶电子衍射花样的标定有哪几种方法？图 1 是某低碳钢基体铁素体相的 电子衍射花样，请以尝试—校核法为例，说明进行该电子衍射花样标定的过程 与步骤。
μl 和试样圆柱体的半径有关；平板状试样吸收因子与μ有关， 而与θ角无关。
表示温度因子。
2．比较物相定量分析的外标法、内标法、K 值法、直接比较法和全谱拟合法 的优缺点？
答：外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定， 并作曲线图。外标法适合于特定两相混合物的定量分析，尤其是同质多相（同素 异构体）混合物的定量分析。
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镜 11．成分和价键分析手段包括【 b 】
（a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman 12．分子结构分析手段包括【 a 】 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱 （FTIR） （b） NMR、FTIR 和 WDS （c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜） （d） XRD、FTIR 和 Raman 13．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） (b) SEM 和透射电镜 （TEM） (c) 波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS） (d) 扫描隧道显微镜 （STM）和 SEM 14．透射电镜的两种主要功能：【 b 】 （a）表面形貌和晶体结构 （b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键 （d）内部组织和成分价键
五、简答题（共40分，每小题8分） 答题要点：
1. 简述分子能级跃迁的类型，比较紫外可见光谱与红外光谱的特 点。
答：分子能级跃迁的类型主要有分子电子能级的跃迁、振动能级的 跃迁和转动能级的跃迁。紫外可见光谱是基于分子外层电子能级的跃迁 而产生的吸收光谱，由于电子能级间隔比较大，在产生电子能级跃迁的 同时，伴随着振动和转动能级的跃迁，因此它是带状光谱，吸收谱带 （峰）宽缓。而红外光谱是基于分子振动和转动能级跃迁产生的吸收光 谱。一般的中红外光谱是振-转光谱，是带状光谱，而纯的转动光谱处 于远红外区，是线状光谱。
江西省理工大学材料分析测试题
（可供参考） 一、名词解释（共有20分，每小题2分。）
1. 辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。 2. 俄歇电子：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电
离，此时原子(实际是离子)处于激发态，将发生较外层电子向 空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。 3. 背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。 4. 溅射：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能 量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团 等）的发射，这种现象称为溅射。 5. 物相鉴定：指确定材料（样品）由哪些相组成。 6. 电子透镜：能使电子束聚焦的装置。 7. 质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均 可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗 不同的 区域，这一现象称为质厚衬度。 8. 蓝移：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收 峰波长或位置（最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移 （或紫移，或“向蓝”）。 9. 伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动 和反对称伸缩振动。 10. 差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温 度差随温度或时间变化的函数关系的技术。 二、填空题（共20分，每小题2分。） 1. 电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部 分，其中中间部分包括（ 红外线 ）、（ 可见光 ）和（紫 外线 ），统称为光学光谱。 2. 光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱 波长与强度进行材料分析的方法。光谱按强度对波长的分布 （曲线）特点（或按胶片记录的光谱表观形态）可分为（ 连续 ）光谱、（ 带状 ）光谱和（ 线状 ）光谱3类。 3. 分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分 子聚集体相互作用而产生的散射。分子散射包括（ 瑞利散射） 与（拉曼散射 ）两种。 4. X射线照射固体物质(样品)，可能发生的相互作用主要有二次电 子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子 5. 多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（X
射线衍射仪法）。
6. 依据入射电子的能量大小，电子衍射可分为（ 高能 ）电子衍 射和（ 低能 ）电子衍射。依据电子束是否穿透样品，电子衍 射可分为（ 投射式 ）电子衍射与（ 反射式 ）电子衍 射。
7. 衍射产生的充分必要条件是（(衍射矢量方程或其它等效形式) 加F2≠0）。ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
8. 透射电镜的样品可分为（ 直接 ）样品和（ 间接 ）样品。 9. 单晶电子衍射花样标定的主要方法有（尝试核算法 ）和（
8. d-d跃迁受配位体场强度大小的影响很大，而f-f跃迁受配位体 场强度大小的影响很小。（√ ）
9. 红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱必须有分子极化率 的变化。（ × ）
10. 样品粒度和气氛对差热曲线没有影响。（ × ）
四、单项选择题（共10分，每小题1分。） 1. 原子吸收光谱是（A）。 A、 线状光谱 B、带状光谱 C、连续光谱 2. 下列方法中，（ A ）可用于测定方解石的点阵常数。 A、 X射线衍射线分析 B、红外光谱 C、原子吸收光谱 D 紫 外光谱子能谱 3. 合金钢薄膜中极小弥散颗粒(直径远小于1m)的物相鉴定，可以 选择（D ）。 A、X射线衍射线分析 B、紫外可见吸收光谱 C、差热分析 D、
多功能透射电镜 4. 几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析，可以选择（A ）。 A、红外光谱 B、俄歇电子能谱 C、扫描电镜 D、扫描隧道显微
镜 5. 下列（ B）晶面不属于[100]晶带。 A、（001） B、（100） C、（010） D、（001） 6. 某半导体的表面能带结构测定，可以选择（D ）。 A、 红外光谱 B、透射电镜 C、X射线光电子能谱 D 紫外光 电子能谱 7. 要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，一般应选用（A ）电 子探针仪， A、波谱仪型 B、能谱仪型 8. 要测定聚合物的熔点，可以选择（ C ）。 A、红外光谱 B、紫外可见光谱 C、差热分析 D、X射线衍射 9. 下列分析方法中，（A ）不能分析水泥原料的化学组成。 A、红外光谱 B、X射线荧光光谱 C、等离子体发射光谱 D、原
2. 简述布拉格方程及其意义。 答：晶面指数表示的布拉格方程为2dhklsin=n，式中d为（hkl）晶
面间距，n为任意整数，称反射级数，为掠射角或布拉格角，为X射线的 波长。干涉指数表示的布拉格方程为2dHKLsin=。其意义在于布拉格方程 表达了反射线空间方位（）与反射晶面面间距（d）及入射线方位（） 和波长（）的相互关系，是X射线衍射产生的必要条件，是晶体结构分 析的基本方程。
选择什么仪器？简述具体的分析方法。 答：要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成 分，应选用配置有波谱仪或能谱仪的扫描电镜。具体的操作分析方法 是：先扫描不同放大倍数的二次电子像，观察断口的微观形貌特征，选 择并圈定断口上的粒状夹杂物，然后用波谱仪或能谱仪定点分析其化学 成分（确定元素的种类和含量）。 5. 简述影响红外吸收谱带的主要因素。 答：红外吸收光谱峰位影响因素是多方面的。一个特定的基团或化 学键只有在和周围环境完全没有力学或电学偶合的情况下，它的键力常 数k值才固定不变。一切能引起k值改变的因素都会影响峰位变化。归纳 起来有：诱导效应、共轭效应、键应力的影响、氢键的影响、偶合效 应、物态变化的影响等。 6．透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何? 答：四大系统:电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系 统。 其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。 7．透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何? 答：主要有三种光阑： ①聚光镜光阑。在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。 作用:限制照明孔径角。 ②物镜光阑。安装在物镜后焦面。作用: 提高像衬度；减小孔径 角，从而减小像差；进行暗场成像。 ③选区光阑:放在物镜的像平面位置。作用: 对样品进行微区衍射 分析。 8．什么是消光距离? 影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是 什么? 答：消光距离:由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果， 使I0和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，此振荡的深度周期叫消 光距离。 影响因素:晶胞体积,结构因子,Bragg角,电子波长。
3. 为什么说扫描电镜的分辨率和信号的种类有关？试将各种信号的
分辨率高低作一比较。 答：扫描电镜的分辨率和信号的种类有关，这是因为不同信号的性 质和来源不同，作用的深度和范围不同。主要信号图像分辨率的高低顺 为：扫描透射电子像（与扫描电子束斑直径相当）二次电子像（几nm， 与扫描电子束斑直径相当）>背散射电子像（50-200nm）>吸收电流像 特征X射图像（100nm-1000nm）。 4. 要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，
标准花样对照法）。 10. 扫描隧道显微镜、透射电镜、X射线光电子能谱、差热分析的英
文字母缩写分别是（ stm ）、（ tem ）、（ xps ）、（ DTA ）。 11. X 射线衍射方法有 劳厄法 、转晶法 、粉晶法 和 衍射仪法 。 12. 扫描仪的工作方式有 连续扫描 和 步进扫描 两种。 13. 在 X 射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由 粉末衍射标准联合 委员会编制，称为 JCPDS 卡片，又称为 PDF 卡片。 14. 电磁透镜的像差有 球差 、色差 、 轴上像散 和 畸变 。 15. 透射电子显微镜的结构分为 光学成像系统、真空系统和 电气系 统。 16. 影响差热曲线的因素有 升温速度 、 粒度和颗粒形状 、 装填密度 和 压力和气氛 。 三、判断题，表述对的在括号里打“√”，错的打“×”（共10分， 每小题1分） 1. 干涉指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识。晶面间距为 d110/2的晶面其干涉指数为（220）。（ √ ） 2. 倒易矢量r*HKL的基本性质为：r*HKL垂直于正点阵中相应的 （HKL）晶面，其长度r*HKL等于(HKL)之晶面间距dHKL的2倍。（ × ）倒数 3. 分子的转动光谱是带状光谱。（ × ）线状光谱 4. 二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率低。（×）高 5. 一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上 才有可能产生衍射。（× ） 6. 俄歇电子能谱不能分析固体表面的H和He。（√ ） 7. 低能电子衍射（LEED）不适合分析绝缘固体样品的表面结构。 （√ ）