电磁兼容性测试报告
EMC电磁兼容测试报告
EMC电磁兼容测试报告
一、测试目的
电磁兼容（EMC）测试是对电子设备的电磁辐射和电磁抗扰能力进行
评估的过程。
本次测试旨在评估被测设备在电磁环境中是否能够正常工作，并且不会对周围电子设备产生干扰。
二、测试范围
本次测试对被测设备的辐射电磁场和抗扰能力进行了评估。
测试涉及
以下方面：
1.辐射电磁场测试：测量被测设备在使用过程中发出的电磁辐射水平，评估其是否符合相关标准要求。
2.抗扰能力测试：通过模拟实际工作环境中的干扰源，评估被测设备
对外部电磁干扰的抵抗能力。
三、测试方法
1.辐射电磁场测试：使用设备测量被测设备在各个频段的辐射电磁场
强度，并与相关标准进行比较。
2.抗扰能力测试：将被测设备置于模拟干扰环境中，通过测量其输出
信号的质量和稳定性来评估其抗扰能力。
四、测试结果
1.辐射电磁场测试结果：根据测试数据和相关标准要求，被测设备在
所有频段的辐射电磁场强度均符合要求，并未产生超出标准的辐射水平。
2.抗扰能力测试结果：在模拟干扰环境下，被测设备的输出信号质量和稳定性均良好，符合相关标准要求。
五、结论
根据测试结果，被测设备在电磁环境下表现出良好的电磁兼容性能，能够正常工作且不会对周围设备产生干扰。
符合相关标准要求。
六、建议
鉴于被测设备经过了电磁兼容测试并符合相关标准要求，建议继续进行后续的功能和性能测试，以确保设备在各个方面都具备稳定和可靠的性能。
七、测试人员信息
测试人员：XXX。
电磁兼容实验报告3-4
电磁兼容实验报告学院：信息科学与工程学院班级：姓名：学号：实验三电感耦合对电路性能的影响电力系统中，在电网容量增大、输电电压增高的同时，以计算机和微处理器为基础的继电保护、电网控制、通信设备得到广泛采用。
因此，电力系统电磁兼容问题也变得十分突出。
例如，集继电保护、通信、SCADA功能于一体的变电站综合自动化设备，通常安装在变电站高压设备的附近，该设备能正常工作的先决条件就是它能够承受变电站中在正常操作或事故情况下产生的极强的电磁干扰。
此外，由于现代的高压开关常常与电子控制和保护设备集成于一体，因此，对这种强电与弱电设备组合的设备不仅需要进行高电压、大电流的试验，同时还要通过电磁兼容的试验。
GIS的隔离开关操作时，可以产生频率高达数兆赫的快速暂态电压。
这种快速暂态过电压不仅会危及变压器等设备的绝缘，而且会通过接地网向外传播，干扰变电站继电保护、控制设备的正常工作。
随着电力系统自动化水平的提高，电磁兼容技术的重要性日益显现出来。
一、实验目的通过运用Multisim仿真软件，了解此软件使用方法，熟悉电路中因电感耦合造成的电磁兼容性能影响。
二、实验环境：Multisim仿真软件三、实验原理：1.耦合（1）耦合元件：除二端元件外，电路中还有一种元件，它们有不止一条支路，其中一条支路的带压或电流与另一条支路的电压或电流相关联，该类元件称为偶合元件。
（2）磁耦合：如果两个线圈的磁场村相互作用，就称这两个线圈具有磁耦合。
（3）耦合线圈：具有磁耦合的两个或两个以上的线圈，称为耦合线圈。
（4）耦合电感：如果假定各线圈的位置是固定的，并且忽略线圈本身所具有的电阻和匝间分布电容，得到的耦合线圈的理想模型就称为耦合电感。
自感磁链：11ψ=1N 11Φ 22ψ=2N 22Φ 互感磁链：21ψ=2N 21Φ 12ψ=1N 12Φ 2.伏安关系耦合线圈中的总磁链：1ψ=11ψ±12ψ=1L 1i ±M 2i2ψ=22ψ±21ψ=2L 2i ±M 1i根据法拉第电磁感定律及楞次定律：电路变化将在线圈的两端产生自感，电压U L1，U L2和互感电压U M21，U M12。
电磁兼容性测试报告
泉海科技电磁兼容性（EMC)测试报告（电源电压：24V）机 型QH7101H2图 号DZ93189781020状 态正常生产失效模式等级的定义（依据ISO 7637－3附页A）：A等级：在干扰照射期间和照射后，器件或系统所有功能符合设计要求。
B等级：在干扰照射期间，器件或系统所有功能符合设计要求，但部分指标超差，在照射移开后，超差的指标能自动恢复正常，记忆功能应保持A级。
C等级：在照射期间，器件或系统有一个功能不符合设计要求，但在照射移开后，能自动恢复正常操作。
D等级：在照射期间，器件或系统有一个功能不符合设计要求，在照射移开后，不能自动恢复正常操作，需通过简单的操作，器件或系统才能复位。
E等级：在照射期间和照射后，器件或系统有多个功能不能符合设计要求，需要修理或替换器件或系统才能恢复正常。
测试项目测试条件等级要求测试结果备注 脉冲1Ua: 27 V Us: -600 Vt1: 5 s t2: 200 mst3: ≤100 µs td: 2ms tr: ≤（3+0/1.5）µs Ri: 50 Ω脉冲数量: 5000 。
B级符合要求B级 本报告由泉海公司实验室提供 脉冲2a Ua:27 V Us: +50 Vt1: 5 s t2: 200 mstd: 0.05ms tr: ≤（3+0/1.5）µs Ri: 2 Ω 脉冲数量：5000个B级符合要求B级 脉冲2b Ua:27 V Us: +20 Vtd:0.2~2s tr: 1ms ±0.5ms Ri: 0.05Ω t12: 1ms ±0.5mst6: 1ms ±0.5ms 脉冲数量：10个B级符合要求B级 脉冲3a Ua:27 V Us: -200 Vt1: 100 µs t4: 10 mst5: 100 ms td: 0.1µs tr:≤5 ns±1.5ns Ri: 50 Ω测试时间：1h。
IoT-A28LI 电磁兼容性试验报告
广州致远电子股份有限公司 电磁兼容实验室
广州市天河区车陂路黄洲工业区 7 栋 2 楼 电话：+86-20-28872446 传真：+86-20-28267891
注意事项
本报告中所描述的试验现象和试验结果仅适用于受试产品，最终解释权归广州致远电 子股份有限公司“电磁兼容实验室”。为确保试验结果的准确性和可重复性，该实验室会 不定期地与第三方权威检测认证机构进行试验数据的比对，以确保结果的可对比性。
按照下面的电话或邮件，及时与我们联系。
广州致远电子股份有限公司
品质管理部
邮政编码：510660 联系电话：+86-20-28872446 传 真：+86-20-38601440 电子邮箱： chenyongzhi@ 地 址：广州市天河区车陂路黄洲工业区 7 栋 2 楼 公司网站：；
试验报告总结
产品信息：
制造厂商： 委托单位： 试验要求：
项目编号： PM-02-2015060010-01 产品型号： IoT-A28LI 额定电压： DC +12V
产品名称： 产品版本： 工作模式：
广州致远电子股份有限公司
联系方式：
广州致远电子-嵌入式事业部
联系方式：
立项指标
产品标准
评估套件 V1.00 正常工作
试验报告
TEST REPORT
报告编号(Report No.)：EMC20151118
产品名称 Description
产品型号 Model
制造厂商 Manufacture
委托单位 Client
试验项目 Test Item
试验日期 Test Date
试验结论 Conclusion
emc测试报告模板
emc测试报告模板
篇一：EMC试验报告范文
抗扰度试验判据说明：
试验框图：
静电发生器的连接框图
试验图片：
图接触放电运行界面
图气隙放电运行界面
试验框图：
试验波形图：
图 L2-L3的波形图
图 L1-PE的波形
篇二：EMC报告格式
电磁兼容性测量
电磁兼容性测量
试验项目：静电放电抗扰性样品编号：试验条件：温度：℃相对湿度：%RH大气压强： kPa
电磁兼容性测量
试验项目：电快速瞬变脉冲群抗扰性样品编号：试验条件：温度：℃相对湿度： %RH大气压强： kPa 电磁兼容性测量
试验项目：浪涌抗扰性样品编号：试验条件：温度：℃相对湿度： %RH大气压强： kPa
编号：报告编号
共 5 页第 5 页
检验仪器、设备清单
篇三：硬件测试报告
硬件测试报告
一、功能测试
仪器：
辅助设备：
二、 EMC测试
仪器：
辅助设备：。
LCD-TM070RDH12电磁兼容性实验报告
广州致远电子有限公司 电磁兼容实验室广州市天河区车陂路黄洲工业区7栋2楼 电话：+86 20 28872446 传真：+86 20 28267891EPC-LCD-TM070RDH12 电磁兼容性试验报告目录目录 (I)1 概述 (2)1.1 试验标准 (2)1.2 试验仪器 (2)1.3 试验的不确定度 (2)2 电磁抗扰度试验 (3)2.1性能判据 (3)2.2 静电放电抗扰度 (4)2.2.1 试验说明 (4)2.2.2 试验配置和方法 (4)2.2.3 试验结果 (6)3 其他试验项目 (7)4 试验现场图片 (7)4.1 受试产品 (7)4.1.1正视图 (7)4.1.2后视图 (7)4.2 试验现场 (8)4.2.1 ESD试验 (8)产品信息：工控机显示屏型号： EPC-LCD-TM070RDH12版本： V1.00额定电压：DC12V工作电压：DC12V工作模式： 配合工控机进行显示委托单位： 广州致远电子嵌入式事业部 联系方式： 7860试验项目： 静电放电抗扰度试验 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 雷击（浪涌）抗扰度试验射频场感应的传导骚扰抗扰度试验工频磁场抗扰度试验电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验直流电源 输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验测试场地： 广州致远电子有限公司 EMC 实验室开始测试： 2011年05月25日结束测试： 2011年05月25日测试结果： Pass Failure报告声明： 本测试报告只对被测样品负责，未经本实验室书面认可不能部分复制本报告。
测试（Operator ）： 2011-05-25 祝天文 Date Name Signature审核（Reviewer ）： 2011-05-25 陈勇志 Date Name Signature批准（Approver ）： 2011-05-25 陈勇志 DateNameSignature试验报告总结1概述静电放电抗扰度试验Pass Failure电快速瞬变脉冲群抗扰度试验Pass Failure雷击（浪涌）抗扰度试验Pass Failure射频场感应的传导骚扰抗扰度试验Pass Failure工频磁场抗扰度试验Pass Failure电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验Pass Failure直流电源 输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验Pass Failure1.3试验的不确定度有以下几个方面的不确定度会影响产品的抗扰度试验：——仪表的精度和校准；——试验场所的周围环境；——试验配置的状况。
EMC电磁兼容测试报告2
产 品 名 称 NAME OF SAMPLE 智能读卡锁 商 标 型 号TRADE MARK & TYPECHD1200M制 造 厂 商 MANUFACTURER 深圳市纽贝尔电子有限公司 委 托 单 位 CLIENT 深圳市纽贝尔电子有限公司检 验 类 别TEST SORT委托检 验 项 目 TEST ITEM 静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度深圳电子产品质量检测中心SHENZHEN ELECTRONIC PRODUCT QUALITY TESTING CENTER检 验 记 录编号NO.2812共 页深圳电子产品质量检测中心检验记录第 2 页共页样品名称智能读卡锁商标/制造厂商深圳市纽贝尔电子有限公司型号规格CHD1200M委托单位深圳市纽贝尔电子有限公司取样方式委托人送样抽样单位/ 抽样母数1台抽样地点/ 样品数量1台生产日期-- 抽样日期/ 送检日期2008年11月14日检验日期2008年11月14日--2008年12月4日检验环境15～35℃ 45～75%RH样品说明:检测样品1台，检测编号：1#，检测前后样品外观完好，功能正常。
测试时供电电压：DC 12V检验项目:静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度检测依据:IEC 61000-4-5:2005、IEC 61000-4-2：2001、IEC 61000-4-4-2004、企业要求检验概况:依据标准和企业要求对1台样品分别进行了静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度共3项的检测，测试结果均符合企业要求。
详见后页。
检验结论:共检3项，3项均符合企业要求检验负责人：审核：批准：职务：年月日年月日年月日抗扰度试验判据说明：检验项目：浪涌（冲击）抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-5:2005 、企业要求产品名称：智能读卡锁商标型号：CHD1200M样品编号：1#试验条件：温度：23 ℃，湿度：52 %RH，正常大气压。
电磁环境测试报告
电磁环境测试报告目录1. 研究背景1.1 电磁环境测试的重要性1.2 测试对象及范围2. 测试方法2.1 电磁辐射测试2.2 电磁兼容性测试3. 测试结果分析3.1 辐射测试结果3.2 兼容性测试结果4. 结论与建议1. 研究背景1.1 电磁环境测试的重要性电磁环境测试是评估设备在其工作环境下对电磁辐射的敏感性，以及设备本身所产生的电磁辐射情况。
通过电磁环境测试，可以评估设备的电磁兼容性、电磁辐射水平，从而保证设备在工作中稳定可靠，不会对周围环境和其他设备造成干扰。
1.2 测试对象及范围本次电磁环境测试主要针对某电子产品的电磁辐射和电磁兼容性进行评估，测试范围包括设备本身产生的辐射以及设备在工作环境下受到的外部辐射影响。
2. 测试方法2.1 电磁辐射测试电磁辐射测试主要包括辐射电磁场强度测量、频谱分析、辐射发射功率测试等步骤。
通过在不同频段下对设备进行测试，可以评估设备在不同频段下的辐射水平。
2.2 电磁兼容性测试电磁兼容性测试主要包括传导干扰和辐射干扰两方面的评估，通过对设备在不同工作状态下的干扰情况进行测试，可以评估设备在复杂电磁环境下的稳定性和可靠性。
3. 测试结果分析3.1 辐射测试结果根据电磁辐射测试结果分析，设备在特定频段下的辐射水平符合国家相关标准要求，但在某些频段下存在辐射过高的情况，需要进行优化处理。
3.2 兼容性测试结果通过电磁兼容性测试结果分析，设备在遇到特定干扰源时存在一定的干扰抗性问题，需要进一步改进设备设计以提高电磁兼容性。
4. 结论与建议根据测试结果分析，提出设备在辐射水平和电磁兼容性方面的问题，并针对性地给出改进建议，以确保设备在电磁环境下的正常运行和稳定性。
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泉海科技电磁兼容性（EMC)测试报告（电源电压：24V）机 型QH7101H2图 号
DZ93189781020状 态正常生产
失效模式等级的定义（依据ISO 7637－3附页A）：
A等级：在干扰照射期间和照射后，器件或系统所有功能符合设计要求。
B等级：在干扰照射期间，器件或系统所有功能符合设计要求，但部分指标超差，在照射移开后，超差的指标能自动恢复正常，记忆功能应保持A级。
C等级：在照射期间，器件或系统有一个功能不符合设计要求，但在照射移开后，能自动恢复正常操作。
D等级：在照射期间，器件或系统有一个功能不符合设计要求，在照射移开后，不能自动恢复正常操作，需通过简单的操作，器件或系统才能复位。
E等级：在照射期间和照射后，器件或系统有多个功能不能符合设计要求，需要修理或替换器件或系统才能恢复正常。
测试项目测试条件等级要求
测试结果备注 脉冲1Ua: 27 V Us: -600 V
t1: 5 s t2: 200 ms
t3: ≤100 µs td: 2ms tr: ≤（3+0/1.5）µs Ri: 50 Ω
脉冲数量: 5000 。
B级
符合要求B级 本报告由泉海公司实验室提供 脉冲2a Ua:27 V Us: +50 V
t1: 5 s t2: 200 ms
td: 0.05ms tr: ≤（3+0/1.5）µs Ri: 2 Ω 脉冲数量：5000个
B级
符合要求B级 脉冲2b Ua:27 V Us: +20 V
td:0.2~2s tr: 1ms ±0.5ms Ri: 0.05Ω t12: 1ms ±0.5ms
t6: 1ms ±0.5ms 脉冲数量：10个
B级符合要求B级 脉冲3a Ua:27 V Us: -200 V
t1: 100 µs t4: 10 ms
t5: 100 ms td: 0.1µs tr:≤5 ns±1.5ns Ri: 50 Ω
测试时间：1h。
A级
符合要求A级 脉冲3b Ua: 27 V Us:+200 V
t1: 100 µs t4: 10 ms
t5: 100 ms td: 0.1µs tr:≤5 ns±1.5ns Ri: 50 Ω
测试时间：1h
A级
符合要求A级 脉冲4Ub: 27 V Us: -16V
Ua: -5~12V V t7: 100 ms
t8: ≤50 ms t9: 20s
t10:10ms t11: 100 ms
Ri: 0.02 Ω
脉冲数量：9000个(其中t8=100ms，
3000个t8=1s，3000个，t8=5s，3000个)
B级符合要求B级 脉冲5a Ua: 27 V Us: +174 V
td: 350 ms tr: 10 ms
Ri: 2 Ω 周期:1min
脉冲数量：10个B级符合要求B级
测试员：何秀英 测试日期：2013.1.12
报告编号：qh-js-1201003。