透射电镜分析技术-05

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拉曼光谱和透射电镜

拉曼光谱和透射电镜

拉曼光谱和透射电镜
拉曼光谱和透射电镜是两种用于研究材料结构和性质的分析技术,它们分别通过不同的原理和方法提供有关样品的信息。

1.拉曼光谱(Raman Spectroscopy):
原理:拉曼光谱是一种分析技术,基于分子或晶体中的分子振动引起的光子散射现象。

当激光光束通过样品时,其中的分子会散射光子,产生拉曼散射光。

通过分析拉曼散射光的频移,可以获得关于分子振动和结构的信息。

应用:拉曼光谱广泛用于材料科学、化学、生物学等领域,可以用于分析晶体结构、化学成分、分子构型等。

2.透射电镜(Transmission Electron Microscopy,TEM):
原理:透射电镜是一种高分辨率的显微镜,使用电子束而不是可见光。

样品被穿透的电子束通过样品后,通过透射电镜的透射系统形成高分辨率的图像。

TEM可以显示样品的内部结构,具有极高的分辨率,可以观察纳米级别的细节。

应用:透射电镜主要用于研究材料的微观结构,如晶体结构、纳米颗粒、生物细胞等。

它在纳米科技、材料科学、生物学等领域有广泛的应用。

这两种技术在研究材料时具有互补性。

拉曼光谱提供关于分子振动和结构的信息,而透射电镜则提供关于材料微观结构的高分辨率图像。

结合使用这两种技术,可以更全面地了解材料的性质和结构。

透射电镜的应用

透射电镜的应用

透射电镜在材料分析上的应用1概述透射电子显微镜(缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。

散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。

由于电子的德布罗意波长非常短,透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍。

因此,使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。

在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。

而当放大率倍数较高的时候,复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同,因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。

通过使用TEM不同的模式,可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。

2应用特点通过TEM中的荧光屏,我们可以直接几乎瞬时观察到样品的图像或衍射花样。

我们可以一边观察,一边改变样品的位置及方向,从而找到我们感兴趣的区域和方向。

在得到所需图像后,可以利用相机照相的方法把图像记录下来。

现在新一代TEM也有的装备了数字记录系统,可以将图像直接记录到计算机中去,这样可以大大提高工作效率。

3.应用3 TEM的主要功能对于材料科学的研究而言,TEM已经成为了一种不可或缺的研究工具,以至于在今天,已经很难想象没有TEM的帮助,我们如何深入开展材料科学的研究工作。

下面我简单地列举TEM在材料科学研究中的6个常见用途。

(a)利用质厚衬度(又称吸收衬度)像,对样品进行一般形貌观察;(b)利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射物等技术对样品进行物相分析,从而确定材料的物相、晶系,甚至空间群;(c)利用高分辨电子显微术可以直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影这一特点,确定晶体结构,大于100nm物体用低压、低分辨电镜即可观察。

透射电镜(TEM)原理详解

透射电镜(TEM)原理详解
• 更短的波长是X射线(0.01~10nm)。但是, 迄今为止还没有 找到能使X射线改变方向、发生折射和聚焦成象的物质, 也就是说还没有X射线的透镜存在。因此X射线也不能作为 显微镜的照明光源。
• 除了电磁波谱外, 在物质波中, 电子波不仅具有短波长, 而且存在使之发生折射聚焦的物质。所以电子波可以作为 照明光源, 由此形成电子显微镜。
图为日立公司H800透射电子显微镜(镜筒)
高压系统
真空系统
操作控制系统
观察和记录系统
阴极透电射子电枪镜来, 获通得常工电采作子用原束热 理
作为照明源。 热阴极发射的电子, 在
阳极加速电压的作用下, 高速穿过阳极孔, 然后被 聚光镜会聚成具有一定直 径的束斑照到样品上。
具有一定能量的电子束 与样品发生作用, 产生反 映样品微区厚度、平均原
量决定于衬度
B
A
(像中各部分
的亮度差异)。
现在讨论的
这种差异是由
于相邻部位原
子对入射电子
散射能力不同, Aˊ
因而通过物镜
光阑参与成像
质厚衬度表达式 令N1为A区样品单位面积参与成像
的电子数,N2为B区样品单位面积参
与成像的电子数,则A.B两区的电子
衬G将度上GN式为1N展1N成2 级 1数,ex并p略N A去 二0M2级22及t2 其
• 正确分析透射电子像,需要了解图象衬度与以上这 些反映材料特征信息之间的关系。
• 透射电子像中,有三种衬度形成机制: • 质厚衬度 • 衍射衬度 • 相位衬度
透射经电典镜像理衬论形成认原为理(散一)射质是厚衬度
供入观察射形貌电结子构的在复型靶样物品和质非晶粒态物质样品的衬度是质厚衬度
1子转.原场。子中可核受采和力用核而散外发 射电生截子偏面对入射电子的散射

透射电镜(TEM)讲义

透射电镜(TEM)讲义

05
TEM操作与注意事项
操作步骤与技巧
01
02
03
04
准备样品
选择适当的样品,进行适当的 处理和固定,以确保观察效果 最佳。
调整仪器参数
根据观察需求,调整透射电镜 的加速电压、放大倍数等参数 ,以达到最佳观察效果。
操作步骤
按照仪器操作手册的步骤进行 操作,包括安装样品、调整焦 距、观察记录等。
技巧
定量分析方法
颗粒统计
对图像中颗粒的数量、大 小和分布进行统计,计算 颗粒的平均尺寸和粒度分 布。
电子衍射分析
利用电子衍射技术分析晶 体结构和相组成,确定晶 格常数和晶面间距。
能谱分析
通过能谱仪测定图像中各 点的元素组成和相对含量, 进行定性和定量分析。
04
TEM图像解析实例
晶体结构分析
利用高分辨的TEM图像,可以观察到晶体内部的原 子排列和晶体结构,如面心立方、体心立方或六方 密排结构等。
掌握操作技巧,如正确使用操 作杆、合理利用观察窗口等, 以提高观察效果和效率。
仪器维护与保养
定期清洁
定期对透射电镜进行清 洁,保持仪器内部和外
部的清洁度。
检查部件
更换消耗品
定期检查透射电镜的部 件,如电子枪、镜筒等,
确保其正常工作。
根据需要,及时更换透射 电镜的消耗品,如真空泵
油、电子枪灯丝等。
保养计划
在操作透射电镜时,应严格遵守操作规程, 确保仪器和人身安全。
THANK YOU
感谢聆听
80%
观察模式
根据观察目的选择不同的观察模 式,如明场、暗场、相位对比和 微分干涉等。
图像解析与解读
01
02
03

透射电镜分析

透射电镜分析

透射电镜分析透射电镜是一种常用的材料表征技术,广泛应用于材料科学、生物医学和纳米技术领域。

透射电镜通过电子束的透射来观察样品的内部结构和成分。

本文将介绍透射电镜的原理、仪器结构、操作流程以及在材料科学领域的应用。

透射电镜利用高能电子束穿透样品,通过电子束与样品相互作用的方式,获取样品的内部信息。

与光学显微镜不同,透射电镜具有更高的空间分辨率,可以观察到更细小的结构细节。

同时,透射电镜具有较高的成分分辨率,可以确定材料的化学组成。

透射电镜主要由电子源、透镜系统、样品台和检测器组成。

电子源产生高能电子束,透镜系统对电子束进行聚焦和调节,样品台用于支撑样品并调节其位置,检测器用于接收透射电子并将其转化为图像信号。

在进行透射电镜观察时,首先需要制备适合的样品。

通常,样品要求薄至几个纳米至几十纳米的厚度,以保证电子束的穿透能力。

其次,样品需要通过切片技术制备成透明薄片或通过离子薄化技术获得适当厚度的样品。

制备好的样品被放置在透射电镜的样品台上,并进行位置调节以获得最佳的观察效果。

在透射电镜观察中,可以使用不同的探测模式来获取样品的信息。

例如,原子级分辨透射电镜(HRTEM)可以获得材料的晶体结构信息,高角度透射电子显微镜(HAADF-STEM)可以获得材料的成分信息。

透射电子衍射(TED)可以用于分析晶体的结晶方式和晶格参数。

透射电镜在材料科学领域有着广泛的应用。

首先,透射电镜可以用于研究材料的微观结构和相变行为。

例如,通过观察材料的晶体结构和缺陷,可以了解材料的力学性能和导电性能。

其次,透射电镜可以用于研究材料的纳米结构和纳米尺度现象。

由于透射电镜具有很高的分辨率,可以观察到纳米颗粒、纳米线和二维材料等纳米结构的形貌和性质。

此外,透射电镜还可以用于观察生物样品的超微结构,为生物学研究提供重要的信息。

总之,透射电镜是一种强大的材料表征技术,具有高分辨率和高成分分辨率的优势。

它在材料科学、生物医学和纳米技术等领域发挥着重要作用。

透射电镜成像分析

透射电镜成像分析

萃取复型和粉末样品
• 萃取复型最常见的两种是: • 碳萃取复型 • 火棉胶-碳二次萃取复型
3.4.2 质厚衬度原理
质厚衬度的前提:
非晶体试样中原子对入射电子的散射 和电镜小孔径角成像(依靠衬度光阑)
试样各部分对电子束散射本领的不同, 经衬度光阑的作用后,在荧光屏上产生了 放大的强度不一的像。
3.4.2 质厚衬 度原理
光最终减薄
3.4.1 薄膜样品的制备
材料
溶液配方
备注
铁和钢 铁和钢
30%HNO3+15%HCl+10% 热溶液 HF+45%H2O
33%H3PO4+40%H2O2
60C
铁和钢 35%HNO3+65%H2O
热溶液
3.4.1 薄膜样品的制备
• 非金属薄膜样品的制备:
• 复型:将试样表面组织浮雕复制到一种
• 若以未发生强烈衍射的A晶粒亮度IA作为 图像的背景强度I,则B晶粒的像衬度为:

(I/I)=(IA-IB)/I0 Ihkl /I0
• 让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡
掉得到图像衬度的方法-明场像(BF)
3.4.3 衍衬成像原理
• 若将光阑孔套住hkl而把透射束 挡掉,就可以得到---暗场像 (DF)
• 当电子束穿过晶体薄膜时,严格满足布拉格 条件的晶面产生强衍射束,不严格满足布拉 格条件的晶面产生弱衍射束,不满足布拉格 条件的晶面不产生衍射束。
3.4.3 衍衬成像原理
• 假设薄膜只有两颗位向不同的
入射束I0
晶粒A和B
• 在入射电子束的照射下,B晶 样品 粒的某(hkl)晶面组恰好与入 物镜
B

IAI0 因为与B晶粒不同位向的A晶

《透射电镜成像分析》课件

《透射电镜成像分析》课件

人工智能与图像解析
总结词
透射电镜结合人工智能技术进行图像解析是 未来的发展趋势,能够提高图像解析的准确 性和效率,为科学研究提供更可靠的数据支 持。
详细描述
透射电镜获取的图像数据量庞大,人工解析 效率低下且容易出错。结合人工智能技术进 行图像解析可以提高准确性和效率,为科学 研究提供更可靠的数据支持。同时,人工智 能技术还可以用于图像识别、模式匹配等方 面,有助于科学家们更好地理解和分析透射 电镜的图像数据。
基于一系列连续的二维图像,通过图像配准和三维插值等技术, 重建出物体的三维结构。
投影与表面重建
通过透射电镜的投影数据,利用表面重建算法,得到物体的表面几 何形态。
立体视觉与深度恢复
利用双目或多目视觉原理,恢复出物体的深度信息,实现三维场景 的重建。
图像数据库与信息管理技术
图像数据存储
采用高效的数据存储方式,如分布式存储或云存储, 确保大量图像数据的可靠存储。
06
透射电镜的未来发展与挑战
BIG DATA EMPOWERS TO CREATE A NEW
ERA
高分辨成像技术
总结词
透射电镜的高分辨成像技术是未来发展的重要方向,能够揭示更细微的结构和分子排列,为科学研究提供更深入 的观察和分析。
详细描述
随着材料科学、生物学等领域的不断发展,对高分辨成像技术的需求越来越迫切。透射电镜的高分辨成像技术能 够捕捉到更细微的结构和分子排列,为科学家们提供更深入的观察和分析,有助于揭示物质内部的奥秘和规律。
数据索引与检索
建立图像数据的索引机制,提供快速的图像检索功能 ,便于用户快速查找所需数据。
数据安全与隐私保护
采用加密和安全传输等技术,确保图像数据的安全性 和隐私保护。

透射电镜的原理

透射电镜的原理

透射电镜的原理
透射电镜是一种使用电子束而不是光束的显微镜,用于观察非常细小的物体,例如细胞、原子和分子。

透射电镜的原理基于电子束的特性。

当电子束通过物样后,它会与物样中的原子和分子相互作用,从而发生散射和吸收。

透射电镜通过记录散射和吸收的电子,可以确定物样的结构和组成。

透射电镜主要由以下几个关键部分组成:电子源、准直系统、透射样品、物镜和接收器。

电子源产生高能电子束,准直系统通过透镜将电子束聚焦为平行的束流。

透射样品是待观察的物样,放置在电子束前方。

物样中的原子和分子会与电子束发生相互作用,导致电子的散射和吸收。

透射电镜在透过物样之前使用物镜将被电子束散射的电子重新聚焦到接收器上。

接收器记录这些散射和吸收的电子,形成一个电子图像。

通过分析电子图像,可以得出物样的结构和组成。

透射电镜可以实现非常高的分辨率,可以观察到纳米尺度的细节。

与光学显微镜不同,透射电镜使用的是电子束,因此可以获得远高于光的分辨率。

由于电子具有波粒二象性,其波长比可见光短得多,因此透射电镜可以观察到更小的细节。

此外,透射电镜可以使用许多高级技术,例如能量散射谱(EDS)和选区电子衍射(SAED),以进一步分析物样的结构和化学成分。

总之,透射电镜利用电子束与物样相互作用的原理来观察和分
析物样的结构和组成。

它的高分辨率和多种分析技术使其成为研究微观世界的重要工具。

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2〕晶带轴指数变换 (简述原理) 倒易点指数变换―――逐点变换 晶带轴指数变换―――整体变换
原理:
找出与基体晶带轴 [uvw] 相平行的孪晶体晶带轴
[u’v’w’], 在借助二维倒易面画法, 斑点孪晶体衍射花样。
• 方法举例
四、菊池线花样
一 、什么叫菊池线 在电镜观察过程中常发现的明、暗成对出现的衍射线。
2 .菊池花样可以是多晶带花样。斑点花样通 常只含一个晶带。
五、花样标定
1. 方法——三菊池极法 (此方法适合于结构为已知) 2. 标定步骤:
1)选三对相交的菊池线对。
2)测量各线对距离 R1, R2, R3
3)采用衍射方程 L=Rd, 计算晶面 间距 d1, d2, d3
4)根据d 值,初步定出各线对的指 数。 {h1k1l1}, {h2k2l2}, {h3k3l3}
5)测量各晶面间的夹角,再依据夹 角验算唯一地确定各线对的指数。

一、挛晶花样
1.

挛晶的结构特点,表征挛晶的两要素,
挛晶体与基体间的倒易向量的关系
B // (HKL) 2. 花样标定 B (HKL) 晶带轴变换 指数变换
3.B // (HKL), 基体花样和挛晶体花样具有对称关 系,在各自的
倒易点阵中标定指数。 B (HKL), 将挛晶体斑点坐标换成以基体的倒易点阵为参 考系的坐标。
标定步骤: 仔细分析花样, 看花样中是否有对称关系→是否在某 一列上斑点重合


根据明、暗场技术, 确定基体、挛晶体斑点
标定基体斑点 在对称位置上标定挛晶体斑点。
例子
光阑
讨论

当 (HKL) // B 时, 我们在作指数标定时是把基体和挛晶 体作为独立的体系来考虑的。 若将各斑点以倒易向量的形式来表征,基体的斑点是以基 体的倒易点阵的基矢来表示, 而挛晶体的斑点是以挛 晶 体的倒易点阵的基矢来表示。 有挛晶存在时,尽管基体与挛晶体的晶格有对称关系,但 它们的倒易点阵并不一样,它们的基矢至少在方向上是不 一样的。
2) 若孪生面(HKL)的斑点不在花样中,那麽在花样中,挛晶体斑点与 基体斑点与基体斑点不存在对称关系。
3) 只有 [HKL] // B 时, (HKL) 斑点才能在花样中反映出来 。
5. 花样标定 (HKL) // B 分两种情况 (HKL) B 1) (HKL) // B, 此时,(HKL) 斑点在花样中,花样有明显的对称关系
三、 孪晶花样
1.孪晶 什么是孪晶——孪晶是一个面缺陷, 是单晶体内部的一部分在 切应力的作用下, 在特定的晶面上沿特定的方向作整体形变。
2. 孪晶的主要特点

两边的阵点一孪晶面为镜面对称 孪晶体与基体具有相同的点阵结构 孪生面上的原子是共格的 孪生面

孪晶两要素 孪生方向

不同的结构具有不同的孪生面和孪 生方向

பைடு நூலகம்
怎样找?
将 (hklT) 逐点变换成基体倒易点阵坐标 (htktlt),从 而确定 (hklT) 在基体衍射花样中的位置。 如:基体 (hkl) ghkl = ha*+kb*+lc* 挛晶体 ( hkl)T ghklT = haT* +kbT* +lcT* ghklT = hta* +ktb* +ltc* (ht kt lt) 是孪晶体斑点( hkl)T 以基体倒易点阵为参考 系标定的指数, 求出了(ht kt lt),也就确定了( hkl)T 的位置。
kt = -k + 2K
lt = -l + 2L
• 举例
fcc
对于基体斑点(111), 找孪晶体斑点 (111)T 的位置。 孪生面 (HKL) = (111) ht = - 1/3
kt = -1/3
lt = 5/3 (ht kt lt)= 1/3 (115) 即:(111)T 的位置应在基体斑点 (115)至中心斑点的1/3的位置处。


如 基体:
三基矢 a*
b* bT *
c* cT*
挛晶体: 三基矢 aT*
• 对于基体的斑点 hkl, ghkl = ha*+kb*+lc* • 对于挛晶体斑点 hklT ghklT = haT* +kbT* +lcT*
• 尽管指数一样,但反映的是不同的倒易向量
2. (HKL)
B
此时(HKL)的斑点不在花样中,基体斑点与挛晶体斑点不存在对称关系。 怎样标定呢?――――指数变换 倒易点指数变换 指数变换的两种方式 晶带轴指数变换 1) 倒易点指数变换 什么叫倒易点指数变换: 将孪晶体中的倒易点坐标 (hklT)) 逐点变换成 基体倒易点坐标 (htktlt) 。 即: (hkl)→ (hkl)T (以孪晶体倒易点阵表示的指数) (htktlt) (以基体倒易点阵表示的指数)
4.菊池线对晶体位向十分敏感。如:0.1 , 菊池线移动 8.5 cm (Joel-100cx) 可用于对晶体取向的精确测定。精度可达: 0.1 , 而 斑点误差高达 515
四、菊池极
1.
菊池极 —— 两组菊池线对相交,其中心 线的交点。 即:两晶面的交线, 也就是两晶面的晶带 轴与底片的交点。 (因为菊池线对的中线是晶面在底片上的 迹线)
3.分析孪晶的手段
光镜: 形貌( 尺寸mm级) XRD:结构( 尺寸mm级) TEM:形貌+结构(尺寸µm级)
4. 基体与孪晶体的倒易点阵关系
将ghkl绕[HKL]轴旋转180即得gT, 即A点绕[HKL]轴旋转180即为AT
由此可推断: 1) 若孪生面(HKL)的斑点能在花样中反映出来,那麽在花样中挛晶体 斑 点与基体斑点是以挛晶轴为镜面对称的。
二、菊池花样 1. 菊池花样产生的原理 2. 菊池花样的特征 (位向敏感)
3.花样标定——三菊池极法
二、形成原理
1. 原因: 在晶体中的非弹性散射电子在发生弹性散射引
起的。
三、菊池线特征
1.对一晶面 (hkl), 若衍射斑与菊池线同时出现,线对距离=透射中心 O 到衍射斑的距离。 2. 菊池线对相对于衍射斑的位置随 S 矢量变化, 但线对间的距离不变。
怎样随S 矢 量变化呢?
3.菊池线对的中线是产生菊池线的晶面与底 片极靴的迹线。由此菊池线反映了晶体的 取向。
• 变换公式 (HKL)---孪生面指数, hkl---基体中某一斑点指数,则与 基体(hkl)对应的孪晶体斑点( hkl)T 的位置可由下式确定。 ht = -h + 2H
Hh Kk Ll H 2 K 2 L2 Hh Kk Ll H 2 K 2 L2 Hh Kk Ll H 2 K 2 L2
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