材料现代研究方法 第一章 组织形貌分析概论

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材料现代分析方法重点

材料现代分析方法重点

一、材料X射线衍射分析1、X射线的性质、产生及谱线种类及机理2、X射线与物质的相互作用:几种现象及机理3、X射线衍射方向:布拉格方程及推导,X射线衍射方法4、X射线衍射强度:多晶体衍射图相的形成过程,衍射强度影响因数及积分强度公式5、多晶体分析方法:X射线衍射仪的构造及各部件的作用,实验参数的选择6、物相分析及点阵常数精确测定二、X衍射线知识点1、X射线的本质一种电磁波(波长短:0.01-10nm)2、X射线产生原理由高速运动着的带电粒子与某种物质相撞击后淬然减速,且与该物质中的层电子相作用而产生的。

3、X射线产生的几个基本条件(1) 产生自由电子;(2) 使电子作定向高速运动;(3) 在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物4、旋转阳极(用于大功率转靶XRD仪)工作原理:因阳极不断旋转,电子束轰击部位不断改变,故提高功率也不会烧熔靶面。

目前有100kW 的旋转阳极,其功率比普通X射线管大数十倍。

5、X射线谱X射线强度与波长的关系曲线6、连续x射线谱管压很低时,例如小于20kv,X射线谱曲线是连续变化的。

7、形成连续x射线谱两种理论解释:I.经典物理学理论:一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。

由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相8/同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。

II.量子力学概念:当能量为ev的电子与靶的原子整体碰撞时,电子失去自己的能量,其中一部分以光子的形式辐射出去,每碰撞一次,产生一个能量为hv的光子,即“韧致辐射”。

大量的电子在到达靶面的时间、条件均不同,而且还有多次碰撞,因而产生不同能量不同强度的光子序列,即形成连续谱。

8、特征(标识)X射线谱当管电压等于或高于20KV时,则除连续X射线谱外,位于一定波长处还叠加有少数强谱线,它们即特征X射线谱。

9、形成特征X射线谱的理论解释:原子结构的壳层模型:特征X射线的产生机理与靶物质的原子结构有关。

材料研究方法--绪论

材料研究方法--绪论
20世纪末期装备有场发射枪电子源的透射电子显微镜已 逐渐成为商品透射电镜的主流,这种电子源能提供束斑 尺寸在纳米量级、亮度又足够进行成分分析的入射电子 束,使样品在纳米范围内进行形貌、结构、成分的综合 分析成为可能,有力地促进了材料界面、纳米结构、微 电子器件的表征研究。
另有一类谱仪是基于材料受激发的发射谱,专 为研究晶体缺陷附近的原子排列状态而设计的, 如核磁共振谱仪、电子自旋共振谱仪、穆斯堡 尔谱仪、正电子湮没等等。
• C 化学组分分析
扫描探针显微镜的主要功能虽然是形貌观察, 但控制探针的隧道电流、近程力等,除与探针 跟试样之间的距离有关外,还与试样表面的化 学元素、电子态、自旋态等有关。所以这类仪 器从原理上说,也有探测表面化学状态的潜力。 有些扫描探针显微镜也已开发出这种功能。
图1-7 氧化锆-氮化硼复合粒子的电子能量损失谱 (a)电子束辐照整个复合粒子所得的电子能量损失谱;
(b)电子束只辐照表面膜的电子能量损失谱
• 1.2.4 从材料出发的综合分析
将电子束只集中 在覆盖层采集电子能 量损失谱,如图17(b)所示,可以清楚 看到BN的两个元素峰。
图1-7 氧化锆-氮化硼复合粒子的电子能量损失谱 (a)电子束辐照整个复合粒子所得的电子能量损失谱;
第一章 引言
1.2 材料科学研究方法
第一章 引言 1.2 材料科学研究方法
• 1.2.1 • 1.2.2 • 1.2.3 • 1.2.4
性能检测 显微组织分析原理 显微结构表征 从材料出发的综合分析
第一章 引言
1.2 材料科学研究方法
1.2.3 显微结构表征
• 显微结构表征包括观察组织的形貌、确定 其原子排列方式和分析化学组分。
• C 化学组分分析

现代仪器分析及材料研究方法(绪论)教材

现代仪器分析及材料研究方法(绪论)教材

原料(Raw Materials)与材料
由原料到材料 ※原料一般不是为获得产品,而是生产材料,往往伴随化 学变化。 ※材料的特点往往是为获得产品,一般从材料到产品的转 变过程不发生化学变化。
材料与物质(Materials and Matter)
※ 材料可由一种或多种物质组成。 ※ 同一物质由于制备方法或加工方法不同可以得到用途各异 、类型不同的材料。
现代仪器分析及材料研究方法
第一章 绪论
任祥忠 深圳大学化学与化工学院
1
(一)材料的定义 (Definition)
材料 Materials Material:材料科学 (工科)
物质科学 (理科) •Webster编著的“New International Dictionary(1971年) ”中关于材料(Materials)的定义为:材料是指用来制造某些 有形物体(如:机械、工具、建材、织物等的整体或部分)的 基本物质(如金属、木料、塑料、纤维、陶瓷等) •材料是指具有满足指定工作条件下使用要求的形态和物理性状 的物质。
材料科学的发展趋势
1、从简单物质到复杂物质;随着对材料功能化要求的不断提高,构成材料
的基本物质也越来越倾向于从简单物质到复杂物质。
2、从简单结构到结构控制;对于同种材料,结构上的改变可以带来许多崭新
的功能,而对简单的结构加以调控,才可能使功能得到优化。
3、从粉体材料到器件材料;相对于粉体材料而言,当材料制备成器件后会具
冶炼方法——平炉、转炉、电炉、沸腾炉钢
铸铁 —
灰铸铁 可锻铸铁 球墨铸铁 蠕墨<4.5g/cm2) 铝、镁、纳、钙
• 重金属 (>4.58/cm2) 铜、镍、铅、锌
• 贵金属
金、银、铂、铑

材料现代研究方法 第二章 组织形貌分析概论

材料现代研究方法 第二章 组织形貌分析概论

第 1 :1首
四、扫描隧道显微镜
• 19 8 1 年 , IBM 公司的 Gerd Binnig 和 Heinrich
Rohrer发明了扫描隧道显微镜 CSTM)
检视'1)针尖垂豆位置 的方法
控制 针尖位 置 的反馈系统
驱动 样品 (或针尖 )
做光栅式扫 描的压 电扫 描器
也闭路针尖
与4芋 ,霄‘ 1词
第 1 :1首
Gerd Binnig Heinrich Rohrer
第 1 章组织形貌芳析概论
第 1 :1首
Gerd Binnig Heinrich Rohrer
隙的粗 i周 定位系统
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I~I
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第 1 :1首
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第 1 :1首
"18M" 是由单个原子构成的
第 1 章组织形貌芳析概论
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第 1 :1首
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第 1 :1曾
三、扫描电子显微镜
1952年 , 英国奥特利发明扫描电 子显 微镜
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第 1 :1首
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第 1 :1首
· 最高分辨率为 0.2μm , 比人眼的分辨率 C O.lmm ) 提 高 了 500倍。
分辨率

材料现代分析方法绪论

材料现代分析方法绪论

扫描电镜
扫描隧道电 镜
OM
Ni-Cr合金的铸造组织
SEM
人类血细胞SEM照片
TEM
碳纳米管TEM照片
SPM
云母的表面原子阵列
图为IBM公司的Eigler博士用扫描探针显微镜(SPM)搬动 35个氙原子绘制的“IBM”字样。如果这种原子搬动技术 被巧妙使用的话,就完全可以绘制成美妙的原子艺术画。
不良品
良品
齿轮疲劳失效,是由于渗 碳处理不均匀,根本原因 在于硅的偏聚。
浸炭不 良部
不良品

良品
Si
XPS X射线光电子能谱
3. 4 分子结构分析
利用电磁波与分子键和原子核的作用,获得分 子结构信息。
红外光谱(IR)、拉曼光谱(Raman)、荧 光光谱(PL)等是利用电磁波与分子键作用 时的吸收或发射效应;
而核磁共振(NMR)则是利用原子核与电磁 波的作用来获得分子结构信息的。
4设计材料的开发
对于新材料的发现和研制,材料开发循环过程为:
功能需求分析一确定性能指标一确定材料体系 和加工方法一材料成分设计和工艺参数优化性能 评价一应用产品失效分析,然后进入下一乾循环, 直至达到预定要求(如图)。
例:如何分析聚合物材料
绪论
1.材料现代分析方法的概念 2.材料分析的内容及相应的分析方法 3.材料分析的理论依据
3.1 组织形貌分析 3.2 相结构分析 3.3 成分和价键分析 3.4分子结构分析
4.设计材料的开发 5.本课程的结构和特点
1.材料现代分析方法
材料现代分析方法是关于材料分析测试技术及其有关理论的 一门课程。 成分、结构、加工和性能是材料科学与工程的四个基本要素, 成分和结构从根本上决定了材料的性能,对材料的成分和结 构的进行精确表征是材料研究的基本要求,也是实现性能控 制的前提。

浙大材料现代分析技术-讲义-热分析1

浙大材料现代分析技术-讲义-热分析1


温度-差热分析法(DTA)

热量-差示扫描量热法(DSC)

质量-热重分析法(TG)
代 分 析
力学性质-动态热机械法(TMA) 尺寸、体积-热膨胀法(Thermodilatometry)

发光强度-热释光法(Thermophotometry)

电极化-热释电法(Thermoelectrometry)
分 析
1891年,英国人Relerts和Austen首次使用示差 热电偶记录试样与参比物间产生的温度差∆T,这 既是目前广泛使用的差热分析法的原始模型。

测试过程的自动化,测定装置的精密化与微量化,

数据处理的计算机化使差热分析不断发展并广泛 应用。
§2. 差热分析法

2.1 差热分析的基本原理


吸收所有波长的辐射能; 真空和大多数气体能全部或几乎全部透过热辐射线。

当物体将辐射能吸收后,辐射能将重新转变为热能贮于物体内部。

热辐射的过程可划分为三个阶段:
析 技
第一,热的物体表面的热能转变成电磁波振动; 第二,由这种电磁波振动向外透过空间传播; 第三,电磁波在接受物体表面转为热能,又被该物体吸收。

电磁辐射与材料的相互作用


发射
电 磁

荧光

磷光
辐 射
光电离
光电子 俄歇电子

固体试样
光电流


nA
散射
(电子散射、分子散射)
吸收(透射、反射)
1.材料现代分析技术绪论

粒子(束)与材料的相互作用

现 代

材料科学分析技术(材料科学研究与测试方法-绪论)

材料科学分析技术(材料科学研究与测试方法-绪论)
25
X射线的物理基础
(3)X射线的吸收
dIx = Ix+dx-Ix
dIx I x dx I x = Ix Ix
= -l· dx
X光减弱规律的图示
l为线吸收系数(cm-1),与入射X射线束的波长
及被照射物质的元素组成和状态有关。
26
X射线的物理基础
X射线与物质的作用
X射线通过整个物质厚度的衰减规律:

6
performance
Tetrahedron
synthesis-processing
properties
composition-structure
7
Hexahedron
8
结构决定性能是自然界永恒的规律
“相” (phase)
在体系内部物理性质和化学性质完全均匀的一部分 成分和结构完全相同的部分才称为同一个相
11
检测分析
信号发生
分析仪器
信号发生器
分析过程
产生分析信号
信号检测 信号处理
信号读出
检测器 信号处理器
读出装置
测量信号 放大、运算、 比较 记录、显示
12
检测信号与材料的特征关系
1.2 衍射分析方法概述
衍射分析主要用于物相分析和晶体结构的测定。
13
定义:光在传播过程中能绕过障碍物的边缘而偏 离直线传播,并且在屏幕上形成明暗相间的条 纹分布的现象。 光的衍射不易发生的原因: (1)无线电波:波长几百米,天涯若比邻 (2)声波,波长几十米,未见其人先闻其声
I/I0 = exp(-l • d)
式中I/I0称为X射线透射系数, I/I0 <1。 I/I0愈小,表示X射线被衰减的程度愈大。

第一章 材料表面形貌分析方法及其应用

第一章 材料表面形貌分析方法及其应用
1.2 电子束与样品作用产生的主要信号 1.2.5 吸收电子
定义:入射电子进入样品后,经多次非弹性散射使
其能量消耗殆尽,最后被样品吸收,称吸收电子。
产生范围:产生于样品表层约1微米的深度范围
产额:随样品平均原子序数增大而减小。因为,在 入射电子束强度一定的情况下,对应背散射电子产
额大的区域吸收电子就少,所以吸收电子像也可提
图 电子束的扫描方式 a) 光栅扫描 b) 角光栅扫描
第1章 表面形貌分析方法及其应用
1.3 扫描图像成像原理及其衬度特点
1.3.1 扫描电子显微镜的基本结构 a) 电子光学系统
(3)扫描线圈 电子通道花样分析时, 采用角光栅 ( 摇摆) 扫描 方式 扫描线圈同步控制电子 束在样品表面的扫描和 显像管的扫描
第1章 表面形貌分析方法及其应用
1.2 电子束与样品作用产生的主要信号 1.2.7 特征X射线 产生过程:如前所述,当入射电子能量足以使样品 原子的内层电子击出时,原子处于能量较高的激发 态,外层电子将向内层跃迁填补内层空位,发射特 征X射线释放多余的能量。 特点:产生于样品表层约 1m 的深度范围其能量或 波长与样品中元素的原子序数有对应关系,其强度 随对应元素含量增多而增大。 应用:特征 X 射线主要用于材料微区成分定性和定 量分析
第1章 表面形貌分析方法及其应用
1.2 电子束与样品作用产生的主要信号 1.2.4 二次电子 能量:能量较低,一般不超过 50eV ,大多数均小 于10eV
应用:二次电子一般都是在表层5~10nm 深度范围
内发射出来的,它对样品的表面形貌十分敏感,
因此,能非常有效的显示样品的表面形貌。但二
第1章 表面形貌分析方法及其应用
1.3 扫描图像成像原理及其衬度特点
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成分
原子结构 原子排列
性能
什么是 材料科学 组织形貌分析? 相结构 结构
与工程
显微组织
加工
结构缺陷
1. 1 组织形貌分析的含义


组织形貌或微观结构,包括材料的外观形貌、 晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态(含量 与分布)、界面(表面、相界、晶界)、位向 关系(新相与母相、孪生相)、晶体缺陷(点 缺陷、位错、层错)、夹杂物、内应力。 微观结构的观察和分析对于理解材料的本质至 关重要。


扫描电镜与X射线能谱配合使用,使得我们在看到样品的 微观结构的同时,还能分析样品的元素成分及在相应视 野内的元素分布。
钛靶局部被单脉冲激光烧蚀
1018号钢的断口——塑性断裂
韧窝状形貌 和夹杂物
金纳米线 高分子聚合物薄膜断口
6~9 m ~100 m
头发分叉处
红血球
~100 m
~10 m
0.001 nm 10-12 m
2.1 光学显微镜简介

它的最高分辨率为0.2μm,是人眼的分辨率的500倍。

光学显微镜最先用于在医学及生物学 方 面,直接导致了细胞的发现,在 此基础上形成了19世纪自然科学三大 发现之一——细胞学说。 应用:观察金属或合金的晶粒大小和 特点等;无机非金属材料的岩相分析 等;研究高聚物的结晶形态、取向过 程等。
4.2.2 透镜的分辨率

两埃利斑中心间距等于第一暗环半径R0时 , 样品上相应 的两个物点间距离∆r0 定义为透镜能分辨的最小距离,也 就是透镜的分辨本领,或分辨率。
0.61 r0 R0 / M n sin

透镜的分辨率由数值孔径和照明光源的波长两个因素决 定。数值孔径越大,照明光线波长越短,分辨率就越高。



1.2 恩斯特· 阿贝

在显微镜的发展史中,贡献最为卓著的是德国的 物理学家、数学家和光学大师恩斯特 · 阿贝(Ernst Abbe)。 他提出了显微镜的完善理论,阐明了成像原理、 数值孔径等问题,在1870年发表了有关放大理论 的重要文章。


两年后.又发明了油浸物镜,并在光学玻璃、显 微镜的设计和改进等方向取得了光辉的业绩。
后 焦 面
3. 光学显微镜的构造和光路图
光学显微镜包括光学系统和机械装臵两大部分:
目镜 物镜
聚光镜和光阑
反光镜
4. 显微镜的重要光学技术参数
4.1 数值孔径 4.2 分辨率(重点) 4.3 放大率和有效放大率
4.4 光学透镜的像差
4.1 数值孔径

数值孔径(NA)是物镜前透镜与被检物体之间介 质的折射率(n)和半孔径角(α)的正弦之乘积, NA= nsinα。表示物镜分辨细节的能力。
脑神经元
白血球
4.1 扫描探针显微镜简介

1981年,IBM公司的两位科学家Gerd Binnig和Heinrich Rohrer发明了所谓的扫描隧道显微镜,完全失去了传统显 微镜的概念。 扫描隧道显微镜依靠所谓的“隧道效应”工作,它没有镜 头,使用一根金属探针,在探针和物体之间加上一定偏压 (几十mV),当探针距离物体表面很近(纳米级)隧道效 应就会起作用。电子会穿过物体与探针之间的空隙,形成 一股微弱的电流。如果探针与物体的距离发生变化,电流 会呈指数级改变。这样,通过测量电流可以探测物体表面 的形状,分辨率可以达到原子的级别(埃,10-10m)。

光强
2.1.3 衍射斑


由于衍射效应,物体上每个物点通过透镜成像后不会是一个点, 而是一个衍射斑——埃利斑。如果两个衍射光斑靠得太近,它们 将无法被区分开来。 0.61M R0 埃利斑第一暗环半径 n sin 其中,n 为物方介质折射率, 光源波长, 透镜孔径半角,M 透镜放大倍数,n sin 数值孔 径。埃利斑半径与照明光源波长成正比,与透镜数值孔径成反比。
(利用电子的波动性)


用于组织形貌分析的扫描电子显微镜是在1952年由英国工 程师Charles Oatley发明的,分辨率达1.0 nm。(利用电子
的粒子性)
3.2 扫描电Leabharlann 显微镜简介扫描电子显微镜是将电子枪发射出来的电子聚焦成很细 的电子束,用此电子束在样品表面进行逐行扫描,电子 束激发样品表面发射二次电子,二次电子被收集并转换 成电信号,在荧光屏上同步扫描成像。由于样品表面形 貌各异,发射二次电子强度不同。对应在屏幕上亮度不 同,得到表面形貌像。 目前扫描电子显微镜的分辨率已经达到了1 nm左右。
2.1.2 狭缝衍射实验

狭缝中间连线b上每一点可以看成一个“点光源”,向四面八方 发射子波,子波之间相互干涉(叠加),在屏幕上形成衍射花 样。
整个狭缝内发出的光波在 P0 点的波程差为零,相干增强,形成 中央亮斑。在P1处发生相干抵消,形成光强的低谷。在P2点处, 从狭缝上缘和下缘发出的光波的波程差1½ 个波长,P2成为相干 增强区的中心,称为第一级衍射极大值。



课程内容

第一篇 组织形貌分析 第二篇 晶体物相分析 第三篇 成分和价键(电子)结构分析 第四篇 分子结构分析



第 1 篇 组织形貌分析
第一章 组织形貌分析概论
第一章 组织形貌分析概论
1. 组织形貌分析的含义和发展阶段 2. 光学显微镜 3. 电子显微镜
4. 扫描探针显微镜
1. 1 组织形貌分析的含义

4.2 扫描隧道显微镜图像
1981年,硅原子像(7X7)
硅 (111) –(7X7)原子图像
4.3 STM对单原子和分子的操纵
图中的“IBM”是由单个氙(Xe)原子构成的
三位诺贝尔物理学奖获得者
从左至右依次是Ernst Ruska,Gerd Binnig和Heinrich Rohrer 分别因为发明电子显微镜和扫描隧道显微镜而分享1986年的诺贝尔物理学奖

铁素体的晶粒 和晶界 奥氏体-铁素体双相组织 灰色:铁素体相,含量40~50% ; 白色:奥氏体相 Ni-Cr合金的铸造组织
2.2 光学显微镜的分辨率

分辨率是可分辨的两点间的最小距离,制约光学显 微镜分辨率的因素是光的衍射。衍射使物体上的一 个点在成像的时候不会是一个点,而是一个衍射光 斑。如果两个衍射光斑靠得太近,它们将无法被区 分开来。
第 1 篇 组织形貌分析
第二章 光学显微技术
第二章 光学显微技术
1. 光学显微镜的发展历程 2. 光学显微镜的成像原理 3. 光学显微镜的构造和光路图
4. 显微镜的重要光学参数
5. 样品制备
1. 1 光学显微镜的四个发展阶段

1590年,荷兰的詹森父子(Hans and zachrias Janssen) 制造出 第一台原始的、放大倍数约为20倍的显微镜。

分辨率与照明源的波长直接相关,若要提高显微镜 的分辨率,关键是要有短波长的照明源。
紫外线波长和X射线虽然波长比可见光短,但用作 显微镜照明源存在局限性。

2.2 光学显微镜的分辨率

绝大多数物质都强烈地吸收紫外线,因此,可供照明 使用的紫外线限于波长 200~250nm的范围。用紫外 线作照明源,用石英玻璃透镜聚焦成像的紫外线显微 镜分辨本领可达l00nm左右,比可见光显微镜提高了 一倍。 X射线波长在10~0.05nm范围,γ射线的波长更短, 但是由于它们直线传播且具有很强的穿透能力,不能 直接被聚焦,不适用于显微镜的照明源。 波长短,又能聚焦成像的新型照明源成为迫切需要。
R0
由斑点光源衍射形成的埃利斑
埃利斑光强分布图
2.2.1 阿贝成像原理(重点)

透射光显微镜的成像过程。光源:准平行 相干光,物体:具有周期性结构。 光通过细小的网孔时发生衍射,同一方向 的衍射光成为平行光束,在后焦面上汇聚。 凡是光程差满足 k,k = 0,1,2,…的, 互相加强,形成0级、1级、2级衍射斑点。 某个衍射斑点是由不同物点的同级衍射光 相干加强形成的;同一物点上的光由于衍 射分解,对许多衍射斑点有贡献。 从同一物点发出的各级衍射光,在产生相 应的衍射斑点后继续传播,在像平面上又 相互干涉,形成物像。
PbMoO4垂直于(001)面的位错蚀坑
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1. 2 组织形貌显微技术的 三个发展阶段

组织形貌分析借助各种显微技术认识材料的微 观结构。人们对微观世界的探索,就是建立在 不断发展的显微技术之上的。 组织形貌分析的显微技术经历了光学显微镜 (OM)、电子显微镜(SEM)、扫描探针显微镜 (SPM)的发展过程。观测显微组织的能力不断 提高,现在已经可以直接观测到原子的图像。
2. 光学显微镜的成像原理
2.1 衍射的形成
2.2 阿贝成像原理 (重点)
2.1.1 什么是波的衍射?

光即电磁波,具有波动性质。光波在遇到尺寸可 与光波波长相比或更小的障碍物或孔时,将偏离 直线传播,这种现象叫做波的衍射。
水波的衍射

障碍物线度越小,衍射现象越明显。 衍射现象可以用“子波相干叠加”的原理来解释。
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钛靶局部被单脉冲激光烧蚀
1018号钢的断口——塑性断裂
韧窝状形貌 和夹杂物
金纳米线 高分子聚合物薄膜断口
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铁素体的晶粒 和晶界
回标题页
奥氏体-铁素体双相组织 灰色:铁素体相,含量40~50% ; 白色:奥氏体相
PbMoO4(001)面的位错蚀坑
Si表面(111)原子图像— Si原子空位
1610年,意大利物理学家伽利略(Galileo)制造了具有物镜、 目镜及镜筒的复式显微镜(左图)。 1665年,英国物理学家罗伯特· 胡克(Robert Hooke)用这台复 式显微镜观察软木塞时发现了小的蜂房状结构,称为“细 胞”,由此引起了细胞研究的热潮。 1684年,荷兰物理学家惠更斯(Huygens) 设计并制造出双透镜目镜-惠更斯目镜, 是现代多种目镜的原型。这时的光学显 微镜已初具现代显微镜的基本结构(右图)。
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