图解芯片制作工艺流程
图解芯片制作工艺流程图

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放置晶圆的黑盒子
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单个内核:内核级别。从晶圆上切割下来的单个内核,这 里展示的是Core i7的核心。
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封装:封装级别,20毫米/1英寸。衬底(基片)、内核、散 热片堆叠在一起,就形成了我们看到的处理器的样子。衬 底(绿色)相当于一个底座,并为处理器内核提供电气与机 械界面,便于与PC系统的其它部分交互。散热片(银色)就 是负责内核散热的了。
的硅,学名电
子级硅(EGS),
平均每一百万
个硅原子中最
多只有一个杂
质原子。此图
展示了是如何
通过硅净化熔
炼得到大晶体
的,最后得到
的就是硅锭
(Ingot)。
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单晶硅锭:整体基本呈圆柱形,重 约100千克,硅纯度99.9999%。
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处 理 晶 圆 的 机 器
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硅锭切割:横向切割成圆形的单个硅片,也就是我们常说 的晶圆(Wafer)。顺便说,这下知道为什么晶圆都是圆形 的了吧?
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铜层:电镀完成后,铜离子沉积在晶圆表面,形 成一个薄薄的铜层。
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抛光:将多余的铜抛光掉,也就是磨光晶圆表面。
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金属层:晶体管级别,六个晶体管的组合,大约500纳米。在不同晶 体管之间形成复合互连金属层,具体布局取决于相应处理器所需要的 不同功能性。芯片表面看起来异常平滑,但事实上可能包含20多层复 杂的电路,放大之后可以看到极其复杂的电路网络,形如未来派的多 层高速公路系统
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光刻胶:再次浇上光刻胶(蓝色部分),然后光刻, 并洗掉曝光的部分,剩下的光刻胶还是用来保护 不会离子注入的那部分材料。
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离子注入(Ion Implantation):在真空系统中,用经过加 速的、要掺杂的原子的离子照射(注入)固体材料,从而在 被注入的区域形成特殊的注入层,并改变这些区域的硅的 导电性。经过电场加速后,注入的离子流的速度可以超过 30万千米每小时。
图解芯片制作工艺流程图ppt课件

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• 光刻:由此进入50-200纳米尺寸的晶体管级别。一块晶圆
上可以切割出数百个处理器,不过从这里开始把视野缩小
到其中一个上,展示如何制作晶体管等部件。晶体管相当
于开关,控制着电流的方向。现在的晶体管已经如此之小,
一个针头上就能放下大约3000万个。
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• 溶解光刻胶:光刻过程中曝光在紫外线下的光刻 胶被溶解掉,清除后留下的图案和掩模上的一致。
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•芯 片 加 工 无 尘 车 间
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• 光刻胶(Photo Resist):图中蓝色部分就是在晶圆旋转过 程中浇上去的光刻胶液体,类似制作传统胶片的那种。晶 圆旋转可以让光刻胶铺的非常薄、非常平。
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• 光刻:光刻胶层随后透过掩模(Mask)被曝光在紫外线(UV)之下,变得 可溶,期间发生的化学反应类似按下机械相机快门那一刻胶片的变化。 掩模上印着预先设计好的电路图案,紫外线透过它照在光刻胶层上, 就会形成微处理器的每一层电路图案。一般来说,在晶圆上得到的电 路图案是掩模上图案的四分之一。
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共九个步骤
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• 沙子:硅是地壳内第二丰富的元素,而脱氧后的沙子(尤 其是石英)最多包含25%的硅元素,以二氧化硅(SiO2)的 形式存在,这也是半导体制造产业的基础。
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• 硅熔炼:12 英寸/300毫米 晶圆级,下同。 通过多步净化 得到可用于半 导体制造质量 的硅,学名电 子级硅(EGS), 平均每一百万 个硅原子中最 多只有一个杂 质原子。此图 展示了是如何 通过硅净化熔 炼得到大晶体 的,最后得到 的就是硅锭 (Ingot)。
图解芯片制作工艺流程..

• 铜层:电镀完成后,铜离子沉积在晶圆表面,形 成一个薄薄的铜层。
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• 抛光:将多余的铜抛光掉,也就是磨光晶 圆表面。
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• 金属层:晶体管级别,六个晶体管的组合,大约500纳米。在不同晶 体管之间形成复合互连金属层,具体布局取决于相应处理器所需要的 不同功能性。芯片表面看起来异常平滑,但事实上可能包含20多层复 杂的电路,放大之后可以看到极其复杂的电路网络,形如未来派的多 层高速公路系统
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• 光刻:由此进入50-200纳米尺寸的晶体管级别。一块晶圆 上可以切割出数百个处理器,不过从这里开始把视野缩小 到其中一个上,展示如何制作晶体管等部件。晶体管相当 于开关,控制着电流的方向。现在的晶体管已经如此之小, 一个针头上就能放下大约3000万个。
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• 溶解光刻胶:光刻过程中曝光在紫外线下的光刻 胶被溶解掉,清除后留下的图案和掩模上的一致。
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• 零售包装:制造、测试完毕的处理器要么 批量交付给OEM厂商,要么放在包装盒里 进入零售市场。这里还是以Core i7为例。
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核级别。从晶圆上切割下来 的单个内核,这里展示的是Core i7的核心。
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• 封装:封装级别,20毫米/1英寸。衬底(基片)、内核、散 热片堆叠在一起,就形成了我们看到的处理器的样子。衬 底(绿色)相当于一个底座,并为处理器内核提供电气与机 械界面,便于与PC系统的其它部分交互。散热片(银色)就 是负责内核散热的了。
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• 晶圆测试:内核级别,大约10毫米/0.5英寸。图 中是晶圆的局部,正在接受第一次功能性测试, 使用参考电路图案和每一块芯片进行对比。
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• 晶圆切片(Slicing):晶圆级别,300毫米 /12英寸。将晶圆切割成块,每一块就是一 个处理器的内核(Die)。
芯片制造流程ppt课件

芯片制作过程– 电路连接
The portions of a chip that conduct electricity form the chip’s interconnections. A conducting metal (usually a form of aluminum) is deposited on the entire wafer surface. Unwanted metal removed during lithography and etching leaves microscopically thin lines of metal interconnects. All the millions of individual conductive pathways must be connected in order for the chip to function. This includes vertical interconnections between the layers as well as horizontal Interconnections across each layer of the chip.
SMIC
0.13u
Cu
BEOL
Flow
1M L D D FL O W
C V D S IN D E P FSG D EP S IO N D E P V IA P H O T O V IA D R Y E T C H V IA C L E A N B A R C C O A T IN G PLUG ETCH BACK M TO X PH O TO M T DRY ETCH M T CLEAN STO P LA Y ER R EM O V E P O S T -S L R C L E A N T a N /T a & C u S E E D C U P L A T IN G M 2CU CM P
芯片制作工艺流程

芯片制作工艺流程工艺流程1) 表面清洗晶圆表面附着一层大约2um的Al2O3和甘油混合液保护之,在制作前必须进行化学刻蚀和表面清洗。
2) 初次氧化有热氧化法生成SiO2 缓冲层,用来减小后续中Si3N4对晶圆的应力氧化技术干法氧化 Si(固) + O2 à SiO2(固)湿法氧化 Si(固) +2H2O à SiO2(固) + 2H2干法氧化通常用来形成,栅极二氧化硅膜,要求薄,界面能级和固定电荷密度低的薄膜。
干法氧化成膜速度慢于湿法。
湿法氧化通常用来形成作为器件隔离用的比较厚的二氧化硅膜。
当SiO2膜较薄时,膜厚与时间成正比。
SiO2膜变厚时,膜厚与时间的平方根成正比。
因而,要形成较厚的SiO2膜,需要较长的氧化时间。
SiO2膜形成的速度取决于经扩散穿过SiO2膜到达硅表面的O2及OH基等氧化剂的数量的多少。
湿法氧化时,因在于OH基在SiO2膜中的扩散系数比O2的大。
氧化反应,Si 表面向深层移动,距离为SiO2膜厚的0.44倍。
因此,不同厚度的SiO2膜,去除后的Si表面的深度也不同。
SiO2膜为透明,通过光干涉来估计膜的厚度。
这种干涉色的周期约为200nm,如果预告知道是几次干涉,就能正确估计。
对其他的透明薄膜,如知道其折射率,也可用公式计算出(d SiO2) / (d ox) = (n ox) / (n SiO2)。
SiO2膜很薄时,看不到干涉色,但可利用Si的疏水性和SiO2的亲水性来判断SiO2膜是否存在。
也可用干涉膜计或椭圆仪等测出。
SiO2和Si界面能级密度和固定电荷密度可由MOS二极管的电容特性求得。
(100)面的Si的界面能级密度最低,约为10E+10 -- 10E+11/cm –2 .e V -1 数量级。
(100)面时,氧化膜中固定电荷较多,固定电荷密度的大小成为左右阈值的主要因素。
3) CVD(Chemical Vapor deposition)法沉积一层Si3N4(Hot CVD或LPCVD)。
芯片生产工艺流程ppt课件

SiO 2
外延层
发射区
基区
集电区
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背金合金
SiO 2
外延层
发射区
基区
集电区
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芯片测试
SiO 2
外延层
发射区
基区
集电区
测试系统
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N型片制造(一般)工艺流程
N
一次氧化
基区光刻
干氧氧化
硼离子注入
基区扩散
发射区光刻
发射区磷预淀积
发射区扩散
发射区低温氧化
氢气处理
3次光刻
铝蒸发
四次光刻
氮氢合金
铝上CVD
先进光刻曝光设备
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单项工艺-光刻(2)
现场用光刻曝光设备
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单项工艺-光刻(3)
检查用显微镜
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单项工艺-光刻(4)
清洗
淀积/生长隔离层
(SiO2 Si3N4 金属…)
匀胶
-HMDS喷淋(增加Si的粘性) -匀光刻胶
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单项工艺-光刻(5)
前烘
-增加黏附作用 -促进有机溶剂挥发
对版
-对每个圆片必须按要求对版
匀胶
-用弧光灯将光刻版上的图案转 移到光刻胶上。
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单项工艺-光刻(6)
显影/漂洗
-将圆片进行显影/漂洗,不需要的 的光刻胶溶解到有机溶剂。
坚
膜
-硬化光刻胶。 -增加与硅片的附着性。
腐蚀
-干法腐蚀/湿法腐蚀
去胶
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单项工艺-光刻(7)
光刻工艺过程
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单项工艺-CVD(1)
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单项工艺-CVD(2)
溅射原理示意图
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单相工艺-蒸发(3)
芯片的制作流程及原理

芯片的制作流程及原理
沙子,是制造芯片最基本的材料,而脱氧后的沙子,是半导体制造产业的基础。
通过多步净化得到可用于半导体制造质量的硅,学名电子级硅(EGS),最后得到的就是硅锭(Ingot)
硅锭切割:横向切割成圆形的单个硅片,也就是我们常说的晶圆(Wafer)。
顺便说,这下知道为什么晶圆都是圆形的了吧?
涂上光刻胶,必须保证光刻胶非常平非常平。
然后进行光刻,这一步需要的技术水平非常高(目前中国自己的光刻机只有90nm的制程,而国外先进的可以做到7nm。
)光刻胶层随后透过掩模(Mask)被曝光在紫外线(UV)之下。
先溶解光刻胶,光刻过程中曝光在紫外线下的光刻胶被溶解掉,清除后留下的图案和掩模上的一致再进行蚀刻,使用化学物质溶解暴露出来的晶圆,剩下的光刻胶保护着不应该蚀刻的部分。
离子注入:在真空中,用经过加速的原子、离子照射(注入)固体材料,使被注入的区域形成特殊的注入层,改变区域的硅的导电性。
电镀:在晶圆上电镀一层硫酸铜,把铜离子沉淀到晶体管上。
铜离子会从正极走向负极。
电镀完成之后,铜离子沉积在晶圆表面,形成薄薄的铜层
抛光:将多余的铜抛光掉,也就是磨光晶圆表面。
再经过测试,切片,丢弃瑕疵内核。
留下完好的准备进入下一步。
完成封装。
芯片生产全过程概述PPT(39张)

从沙子到芯片-3
光刻胶:再次浇上光 刻胶(蓝色部分),然后 光刻,并洗掉曝光的 部分,剩下的光刻胶 还是用来保护不会离 子注入的那部分材料。
从沙子到芯片-3
离子注入(Ion Implantation):在真 空系统中,用经过加 速的、要掺杂的原子 的离子照射(注入)固体 材料,从而在被注入 的区域形成特殊的注 入层,并改变这些区 域的硅的导电性。经 过电场加速后,注入 的离子流的速度可以 超过30万千米每小时
从沙子到芯片-3
清除光刻胶:离子注 入完成后,光刻胶也 被清除,而注入区域 (绿色部分)也已掺杂, 注入了不同的原子。 注意这时候的绿色和 之前已经有所不同。
从沙子到芯片-3
晶体管就绪:至此, 晶体管已经基本完成。 在绝缘材(品红色)上蚀 刻出三个孔洞,并填 充铜,以便和其它晶 体管互连。
从沙子到芯片-3
从沙子到芯片-2
硅熔炼:12英寸/300 毫米晶圆级,下同。 通过多步净化得到可 用于半导体制造质量 的硅,学名电子级硅 (EGS),平均每一百万 个硅原子中最多只有 一个杂质原子。此图 展示了是如何通过硅 净化熔炼得到大晶体 的,最后得到的就是 硅锭(Ingot)。
从沙子到芯片-3
单晶硅锭:整体基本 呈圆柱形,重约100千 克,硅纯度99.9999%。
从沙子到芯片-3
晶圆测试:内核级别, 大约10毫米/0.5英寸。 图中是晶圆的局部, 正在接受第一次功能 性测试,使用参考电 路图案和每一块芯片 进行对比。
从沙子到芯片-3
晶圆切片(Slicing): 晶圆级别,300毫米 /12英寸。将晶圆切割 成块,每一块就是一 个处理器的内核(Die)。
从沙子到芯片-3
从沙子到芯片-3
装箱:根据等级测试 结果将同样级别的处 理器放在一起装运。
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INTEL 图解芯片制作工艺流程
共九个步骤
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• 沙子:硅是地壳内第二丰富的元素,而脱氧后的沙子(尤 其是石英)最多包含25%的硅元素,以二氧化硅(SiO2)的 形式存在,这也是半导体制造产业的基础。
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• 硅熔炼:12 英寸/300毫米 晶圆级,下同。 通过多步净化 得到可用于半 导体制造质量 的硅,学名电 子级硅(EGS), 平均每一百万 个硅原子中最 多只有一个杂 质原子。此图 展示了是如何 通过硅净化熔 炼得到大晶体 的,最后得到 的就是硅锭 (Ingot)。
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• 光刻:由此进入50-200纳米尺寸的晶体管级别。一块晶圆 上可以切割出数百个处理器,不过从这里开始把视野缩小 到其中一个上,展示如何制作晶体管等部件。晶体管相当 于开关,控制着电流的方向。现在的晶体管已经如此之小, 一个针头上就能放下大约3000万个。
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• 溶解光刻胶:光刻过程中曝光在紫外线下的光刻 胶被溶解掉,清除后留下的图案和掩模上的一致。
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• 晶圆测试:内核级别,大约10毫米/0.5英寸。图 中是晶圆的局部,正在接受第一次功能性测试, 使用参考电路图案和每一块芯片进行对比。
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• 晶圆切片(Slicing):晶圆级别,300毫米 /12英寸。将晶圆切割成块,每一块就是一 个处理器的内核(Die)。
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• 丢弃瑕疵内核:晶圆级别。测试过程中发 现的有瑕疵的内核被抛弃,留下完好的准 备进入下一步。
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• 零售包装:制造、测试完毕的处理器要么 批量交付给OEM厂商,要么放在包装盒里 进入零售市场。这里还是以Core i7为例。
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• 放置晶圆的黑盒子
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• 单个内核:内核级别。从晶圆上切割下来 的单个内核,这里展示的是Core i7的核心。
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• 封装:封装级别,20毫米/1英寸。衬底(基片)、内核、散 热片堆叠在一起,就形成了我们看到的处理器的样子。衬 底(绿色)相当于一个底座,并为处理器内核提供电气与机 械界面,便于与PC系统的其它部分交互。散热片(银色)就 是负责内核散热的了。
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• 铜层:电镀完成后,铜离子沉积在晶圆表面,形 成一个薄薄的铜层。
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• 抛光:将多余的铜抛光掉,也就是磨光晶 圆表面。
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• 金属层:晶体管级别,六个晶体管的组合,大约500纳米。在不同晶 体管之间形成复合互连金属层,具体布局取决于相应处理器所需要的 不同功能性。芯片表面看起来异常平滑,但事实上可能包含20多层复 杂的电路,放大之后可以看到极其复杂的电路网络,形如未来派的多 层高速公路系统
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• 芯 片 加 工 无 尘 车 间st):图中蓝色部分就是在晶圆旋转过 程中浇上去的光刻胶液体,类似制作传统胶片的那种。晶 圆旋转可以让光刻胶铺的非常薄、非常平。
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• 光刻:光刻胶层随后透过掩模(Mask)被曝光在紫外线(UV)之下,变 得可溶,期间发生的化学反应类似按下机械相机快门那一刻胶片的变 化。掩模上印着预先设计好的电路图案,紫外线透过它照在光刻胶层 上,就会形成微处理器的每一层电路图案。一般来说,在晶圆上得到 的电路图案是掩模上图案的四分之一。
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• 处理器:至此就得到完整的处理器了(这里是一颗 Core i7)。这种在世界上最干净的房间里制造出来 的最复杂的产品实际上是经过数百个步骤得来的, 这里只是展示了其中的一些关键步骤。
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• 等级测试:最后一次测试,可以鉴别出每一颗处理器的关 键特性,比如最高频率、功耗、发热量等,并决定处理器 的等级,比如适合做成最高端的Core i7-975 Extreme,还 是低端型号Core i7-920。
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• 清除光刻胶:离子注入完成后,光刻胶也 被清除,而注入区域(绿色部分)也已掺杂, 注入了不同的原子。注意这时候的绿色和 之前已经有所不同。
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• 晶体管就绪:至此,晶体管已经基本完成。 在绝缘材(品红色)上蚀刻出三个孔洞,并填 充铜,以便和其它晶体管互连。
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• 电镀:在晶圆上电镀一层硫酸铜,将铜离子沉淀 到晶体管上。铜离子会从正极(阳极)走向负极(阴 极) 。
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• 光刻胶:再次浇上光刻胶(蓝色部分),然后光刻, 并洗掉曝光的部分,剩下的光刻胶还是用来保护 不会离子注入的那部分材料。
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• 离子注入(Ion Implantation):在真空系统中,用经过加 速的、要掺杂的原子的离子照射(注入)固体材料,从而在 被注入的区域形成特殊的注入层,并改变这些区域的硅的 导电性。经过电场加速后,注入的离子流的速度可以超过 30万千米每小时。
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单晶硅锭:整体基本呈圆柱形,重 约100千克,硅纯度99.9999%。
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处 理 晶 圆 的 机 器
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• 硅锭切割:横向切割成圆形的单个硅片,也就是我们常说 的晶圆(Wafer)。顺便说,这下知道为什么晶圆都是圆形 的了吧?
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• 晶圆:切割出的晶圆经过抛光后变得几乎完美无瑕,表面甚至可以当 镜子。事实上,Intel自己并不生产这种晶圆,而是从第三方半导体企 业那里直接购买成品,然后利用自己的生产线进一步加工,比如现在 主流的45nm HKMG(高K金属栅极)。值得一提的是,Intel公司创立之 初使用的晶圆尺寸只有2英寸/50毫米。