物性讲义(电导3)

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材料的电导性能

材料的电导性能
本征离子电导率一般表达式为:
A1 exp( W / kT) A1 exp( B1 / T )
若有杂质也可依照上式写出: A2 exp( B2 / T )
一般A2<<A1,但B2<B1,故有exp(-B2)>>exp(-B1)这说明 杂质电导率要比本征电导率大得多。
4.2.4 影响离子电导率 的因素
(2) 已知电子的运动速度和电场强度成正比,定义载流子的迁移率m为单位电场下 ,载流子的运动速度,求迁移率m ;
(3) 单位电场下,单位时间内通过单位横截面积的电荷数,即电导率s ; (4) 根据载流子密度和载流子迁移率,求电导率 。 解: (1) J=nqn
=1.0×1018cm-3×1.6×10-19C×1.0×104cm.s-1 =1.6×103C. cm-2.s-1= 1.6×103A. cm-2 (2) m = n/E =1.0×104cm.s-1/(10v.cm-1)=1.0×103cm-2. v-1.s-1 (3) s=J/E = 1.6×103A. cm-2 /(10v.cm-1) =160A.v-1. cm-1 =160S. cm-1
(3)压碱效应
含碱玻璃中加入二价金属氧化物,尤其是重金属 氧化物,可使玻璃电导率降低,这是因为二价离 子与玻璃体中氧离子结合比较牢固,能嵌入玻璃 网络结构,以致堵住了离子的迁移通道,使碱金 属离子移动困难, 从而减小了玻璃的电导率。也 可这样理解,二价金属离子的加入,加强玻璃的 网络形成,从而降低了碱金属离子的迁移能力。
(2)迁移率和电导率的一般表达式
物体的导电现象,其微观本质是载流子在电场作 用下的定向迁移。
题:
一电子电导材料载流子是电子,载流子密度即单位体积的电子数为 n=1.0×1018cm-3, 在两端加一E=10v.cm-1的电场强度,若电子的运动速度为 n=1.0×104cm.s-1,求:

化学物质电导率

化学物质电导率

化学物质电导率
(最新版)
目录
1.化学物质电导率的定义
2.影响化学物质电导率的因素
3.化学物质电导率的应用
正文
化学物质的电导率是指化学物质导电的能力,是描述化学物质中电子流动的一种物理性质。

电导率通常用希腊字母σ表示,单位是西门子每米(S/m)。

电导率和电阻率是相反的概念,电阻率越高,电导率越低。

影响化学物质电导率的因素主要有以下几点:
首先,化学物质的结构和组成对其电导率有重要影响。

例如,金属元素的电导率通常很高,因为它们的原子结构中存在大量的自由电子。

而非金属元素,如碳、硅等,它们的电导率相对较低,因为它们的原子结构中没有足够的自由电子。

其次,温度也会影响化学物质的电导率。

一般来说,随着温度的升高,电导率也会增加。

这是因为温度的升高会增加原子中的热运动,使得电子更容易从一个能级跃迁到另一个能级,从而增加电导率。

此外,化学物质的电导率还会受到其物理形态的影响。

例如,金属在固态时具有很高的电导率,但在液态时电导率会大大降低。

化学物质的电导率在许多领域都有应用,如电子工业、金属冶炼、化学反应等。

在电子工业中,高电导率的材料被广泛用于制造电子器件,如导线、电缆、电极等。

在金属冶炼中,电导率可以用来监测金属的纯度和熔融程度。

在化学反应中,电导率可以用来研究离子的传输和反应速率等。

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物质的电导和电阻知识点总结

物质的电导和电阻知识点总结

物质的电导和电阻知识点总结在物理学中,物质的电导和电阻是重要的概念。

它们用于描述物质对电流的导电性和阻碍电流流动的程度。

本文将对物质的电导和电阻进行知识点总结。

一、电导(Conductivity)电导是指物质导电性的度量,它与物质的电阻(Resistance)有着密切的关系。

在电导中,常常使用电导率(Conductivity)这一物理量来描述物质的导电性能。

电导率的定义如下:电导率(σ) = 1 / 电阻(R)电导率的单位是西门子/米(S/m)。

如果一个物质的电导率较高,意味着它对电流的导电性较好;反之,如果电导率较低,则表示该物质对电流的导电性较差。

实际上,电导率与物质的本征电导性质和物质的几何形状都有关系。

对于均质导体而言,电导率只与物质自身的导电性质有关;而对于非均质导体,则还与物质的形状和结构有关。

二、电阻(Resistance)电阻是指物质对电流流动的阻碍程度。

按照欧姆定律(Ohm's Law),电阻与电流(I)和电压(V)之间存在如下关系:电阻(R)= 电压(V)/ 电流(I)电阻的单位是欧姆(Ω)。

电阻的值越大,表示物质对电流的阻碍越强;反之,电阻值越小,表示物质对电流的阻碍越弱。

不同物质的电阻值是不同的,这是因为不同物质具有不同的导电性质。

例如,金属常常具有很低的电阻,因此是较好的导体;而绝缘体则具有很高的电阻,从而对电流的传导起到阻碍作用。

三、电阻与电导的关系电导和电阻是相互关联的概念,它们之间存在以下关系:电导率(σ)= 1 / 电阻(R)由此可见,电导率和电阻是互为倒数的关系。

如果两个物质的电阻分别为R₁和R₂,那么它们的电导率分别为1/R₁和1/R₂,大的电阻对应小的电导率,小的电阻对应大的电导率。

四、温度对电导和电阻的影响在理想情况下,电导率是不随温度变化的。

但在实际应用中,很多物质的电导率和电阻会随温度的变化而发生改变。

对于金属来说,它们的电导率在一定温度范围内基本保持不变,但随着温度升高,电导率会略微下降。

材料物理性能第五章材料电导

材料物理性能第五章材料电导
如果l1l2l3l,则 I 2lV
二.电导的物理特性
1.载流子(电荷的自由粒子)
无机材料中的载流子可以是电子(负电子,空 穴),离子(正、负离子,空位)。载流子为离 子的电导为离子电导,载流子为电子的电导为电 子电导。
1)霍尔效应
电子电导的特性是具有霍尔效应。
轴方向沿加试一样磁x轴场方H向z,通那入么电在流y轴I(方电向流上密将度产Jx生)一,电Z 场Ey,这一现象称为霍尔效应。所产生电场为:
EyRHJxHz
RH为霍尔系数。若载流子浓度为ni,则
RH
1
ni e
根据电导率公式 niei ,则HRH
( H 称为霍尔迁移率)
霍尔效应的产生是由于电子在磁场作用下,产生 横向移动的结果,离子的质量比电子大得多,磁场作 用力不足以使它产生横向位移,因而纯离子电导不呈 现霍尔效应。利用霍尔效应可检验材料是否存在电子 电导。 2)电解效应(离子电导特征)
一.载流子浓度 对于固有电导(本征电导),载流子由晶体本
身热缺陷——弗仑克尔缺陷和肖脱基缺陷提供。
弗仑克尔缺陷的填隙离子和空位的浓度相等。都 可表示为:
N f N ex E fp 2 kT
N——单位体积内离子结点数
E f ——形成一个弗仑克尔缺陷所需能量
肖脱基空位浓度,在离子晶体中可表示为:
I SJ (5.2)
同样 电场强度也是均匀的 VLE (5.3)
把(5.2)(5.3)代入(5.1)则:
除以S得:
SJ LE R
J L E 1E
SR
RSL为材料的电阻率,电阻率倒数为电导率,
即 1 ,上式可写为
J E
这是欧姆定律的微分形式,适用于非均匀导体。
微分式说明导体中某点的电流密度正比于该点的 电场,比例系数为电导率σ。

导电性能

导电性能

N N
3 4
c V
n n
e
2kT h 2 2kT h 2 m m exp Eg 2kT e h
h
2
2
32
E c E v exp me m h 2 kT
3 2
3 4
ne nh N e
E g
2 kT
二、杂质半导体中的载流子浓度 • 杂质对半导体的导电性能影响极大,例如
掺入受主杂质的半导体称为p 型半导体或空穴型半导体, 因为其中的载流子为空穴。
• p型半导体的载流子主要为空穴,设单位体 积中有NA个受主原子:
n NV N A exp E E / 2kT NV N A exp E
1 2 1 2 h A V
i
2kT
3.2.3电子电导率的表达式
E2 ne E1 G E F e E dE
• G(E)为电子允许状态密度,F(E)为电子存在的几 率。
8 G E 2 h
1
c 2
2
* me 2
32

E Ec
12
F E 1 e
e
e
c
1
E
E f kT
32 Ef kT
二、电导率的一般表达式 • 物体的导电现象,其微观本质是载流子在电场作 用下的定向迁移。设有一介质,设为单位截面积 (1cm2),在单位体积(1cm3)内载流子数为n(cm-3), 每一载流子的荷电量为q,则单位体积内参加导 电的自由电荷为nq。 • 如果介质处在外电场中,则作用于每一个载流子 的力等于qE。在这个力的作用下,每一载流子在 E方向发生漂移,其平均速度为v(cm/s) 。容易看 出,单位时间(1s)通过单位截面S的电荷量为

物质中的电导特性

物质中的电导特性

物质中的电导特性物质中的电导特性是指物质对电流的导电能力,是电学中一个重要的概念。

不同的物质具有不同的电导特性,这对于电学理论的研究和应用有着重要的影响。

本文将从不同角度探讨物质中的电导特性。

一、电导特性的定义与单位电导特性指的是物质对电流的导电能力。

它是用来描述物质电导率的一个物理量。

电导率(conductivity)是指单位体积内导体两个相距为1米的平行导线间跨过的电荷量与导线间的电压之比。

电导特性的单位是西门子/米(S/m)。

二、电导特性与导体、绝缘体、半导体的关系根据物质在电流通过时的电导特性,可以将物质分为导体、绝缘体和半导体三类。

1. 导体(Conductor)导体是能够良好传导电流的物质,其电导特性较好。

导体中,由于自由电子的存在,电荷载流子能够自由移动,从而形成电流。

金属是典型的导体,金属中的自由电子能够快速移动。

导体的电阻较小,电阻和温度成正比。

导体常常被用作电线、电缆等导电材料。

2. 绝缘体(Insulator)绝缘体是电导特性非常差的物质。

绝缘体中,电荷载流子的运动受到很大的限制,导致电流无法通过。

绝缘体常用于隔离导体,防止电流泄露和电击等危险情况的发生。

常见的绝缘体有橡胶、塑料等。

3. 半导体(Semiconductor)半导体是介于导体和绝缘体之间的一类物质。

它的电导特性介于导体和绝缘体之间,具有一定的导电能力,但比导体差。

半导体在一些特殊条件下,例如施加电场或加热等,能够增强其电导特性。

因此,半导体的导电性质是可调控的。

半导体在电子学领域有着广泛的应用,如集成电路等。

三、影响电导特性的因素物质中的电导特性受到多种因素的影响,以下是影响电导性的几个重要因素:1. 导体材料不同的导体材料具有不同的电导特性。

金属通常能够良好导电,而一些合金或化合物的电导性就较差。

2. 导体尺寸导体的尺寸对其电导特性也有影响。

一般来说,导体的截面积越大,电导特性越好。

3. 温度温度是影响导体电导特性的重要因素之一。

材物讲义(电导)-1

材物讲义(电导)-1

M(II)+MX(III):
(t M M t X X) q
迁移率和电导率的一般表达式
迁移率的物理意义
载流子在单位电场强度作用下的迁移速度【cm2/V· s】
J n q v
J—电流密度,单位时间(s)通过单位截面s(cm2)的电荷量
n—单位体积载流子数(cm-3)
q—载流子荷电量
eEH=Hzevx
Jx 1 EH Hz vx Hz J x Hz R HJ x Hz ne ne
1 霍尔系数: R H ne
由电导率公式σ=n e μ可得到霍尔迁移率μH
μH=RHσ
在一定实验条件下,通过测定RH和σ,可以求出 载流子浓度n和迁移率μ 霍尔效应的产生是由于运动电荷受磁场中洛伦兹 力的作用
若将探针与接触处看成点 电源,则形成以点电源为 中心的半球等势面
那么在r处的电流密度为
I J 2 2r
由J=E/ρ,可得在r处得电场强度E为
Iρ E 2 2r
由于
dV E dr
且r→ ∞时,V→0 ,则 r 处的电位V为
Iρ V 2r
同理,电流由4流出样品时,在r处的电位为
Iρ V 2r
杂质离子电导浓度取决于杂质的数量、种类
h R V ρV S
反映材料的导电能力
RS―与表面环境有关,不反映材料的导电能力 体电阻率ρV是表征材料的本征参数
关键是测量材料的体电阻
圆片试样
A
r1 a r2
g h
V
b
E
主电极 a
环形电极 g 全电极 b
若a-g间为等电位,其表面电阻可忽略
π S (r1 r2 ) 2 4
V h 4h R V ρV ρV 2 I S π(r1 r2 )

物理化学:7.2 电导

物理化学:7.2 电导

增加电极的表面积)难以准确测量;
故直接将比值(l /A)定义为电导池常
数 (cell constant of a conductivity cell )
即定义电导池常数 K cell 为:
2021/3/19
17
K cell
l A
(m1)
G l A
• 则:
= G Kcell
• 可用已知准确电导率的标准溶液(如
正、负离子之间相互吸引作用力增大 使离子定向运动速度降低。如图
2021/3/19
26
2021/3/19
27
• 弱电解质
溶液的电导 随浓度变化不 显著。
因为浓度↗ 时, 电离度 ↘, 离子浓度变化 不大。
2021/3/19
28
第 2 讲 (2005.09.02)
§7.2 电导 §7.3 离子的电迁移
§ 7.2 电 导
一、电解质溶液的电导、电导率、摩 尔(当量)电导率
电导 G :(electric conductance) 电导率 :(electrolytic conductivity) 摩尔(当量)电导率 m :(molar conductivity)
2021/3/19
1
电解液与金属导体的共同点
公式中的 c 实质上为电解质的当量浓度。
• “1mol 的电解质” 实质为 “1mol 电解 质基本单元” 或称 “1当量的电解 质”。
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10
例如:
对于0.1m的 KCl、CuSO4、La(NO3)3 及 La2(SO4)3 溶液,则其 “基本单元” 浓 度
(当量浓度)分别为0.1,0.2,0.3 及 0.6
电解质 m
m (Scm2mol-1 )-
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24
本征半导体或高温时的杂质半导体 的电导率与温度的关系
σ σ 0exp(
Eg 2kT
)
温度变化不大时,σ0 可视为常数,lnσ与1/T成直线关系 由直线斜率可求出禁带宽度Eg 取上式倒数,得到电阻率与温度的关系
ρ ρ 0exp(
Eg
2kT Eg lnρ lnρ 0 2kT
25
)
根据质量作用定律,写出平衡常数
2 ][O [VM ]p O Kp 1/2 PO 2
(p:空穴浓度)
从而得到
1/6 ] PO p 2[VM 2
温度一定时,空穴浓度与氧分压的1/6次方成正比,若迁移 率不随氧分压变化,则电导率与氧分压的1/6次方成正比
42
NiO单晶高温电导与氧分压的关系
空穴浓度 某能带(E1和E2间)存在的电子浓度为ne
n e G(E)Fe (E)dE
E1
E2
(1)
G(E) -电子允许状态密度 Fe(E) -能量为E的能级电子存在的几率
12
根据Fermi-Dirac分布函数
1 Fe (E) E Ef 1 exp( ) kT
(2)
Ef - Fermi能级,即电子存在几率为1/2的能级
m* e -电子有效质量
h - Plank常数
2
* e
3 2
1 2
(5)
14
将式(3)、 (5)代入式(4),得到
n e G C (E)Fe (E)dE
EC 3 1 1 8π 2 m* E E e 2 f 2 2 ( 2 ) exp( ) (E E C ) exp( )dE (6) 2π h kT E C kT
40
阳离子空位
MnO、FeO、CoO、NiO中金属不足(氧过剩),写为M1-δ O
δ取决于温度、氧分压以及物质的种类 平衡状态下,缺陷化学反应:
1 O 2 (g) VM O O 2 VM VM h VM h VM
41
1 O 2 (g) VM 2h OO 2
eE V τa τ m
τ -松弛(弛豫)时间,即电子每两次碰撞之间的 平均时间
V eτ μ E m
3
实际晶体中的电子质量一般不同于自由电子质量 根据量子力学理论,电子有效质量m*
2 ε 1 2 m* ( 2 ) κ
h-Plank常数 ε -电子能量
h 2π
κ -波矢量(波数)
迁移率与温度的关系
32
温度对载流子浓度的影响
载流子浓度与温度呈指数式变化
低温区:杂质电导
高温区:本征电导
中温区:饱和,杂质完全离解,载流子浓度不随
温度变化
33
ln ne ln nh
B
本征区
饱和区
B Eg 2k
EC ED 2k E EV B A 2k
(n e N A ) (n h N D )
+
e h
9
电离杂质散射的影响因素
掺杂浓度: 掺杂浓度↑散射↑ 温度:温度↑载流子运动速度↑吸引或排斥↓ 散射↓
高掺杂浓度时,迁移率μ随温度变化较小,与晶格 散射相反
10
二、载流子浓度
本征半导体中的载流子浓度 杂质半导体中的载流子浓度
11
本征半导体中的载流子浓度
根据Fermi统计理论,可计算导带电子浓度和价带
p型半导体的电导率
Eg 2kT
1 2
σ Nexp(
) (μ e μ h ) e
Ei (N V N A ) exp( ) μh e 2kT
26
ln σ
ln σ
1/T (a)
TK (b)
1/T
ln σ
TK 1/T (c)
电导率与温度关系的典型曲线
27
四、电子电导率的影响因素
1 2
ND -施主杂质浓度 ED -施主能级 Ei = EC-ED,电离能
20
p型半导体
EA EV n h (N V N A ) exp( ) 2kT 1 Ei 2 (N V N A ) exp( ) 2kT
1 2
1 1 NA E f (E V E A ) kTln 2 2 NV
43
阳离子空位是负电中心,称作V心
VM
VM
能带结构和晶格缺陷能级模型
44
阴离子空位
TiO2等氧化物在还原炉中焙烧,失去氧,产生氧空位
x 4 3 2 Ti 4 O 2 O 2 (g) Ti1 Ti 2x 2x O 2 x □x 2
□为氧离子空位,分子表达式为TiO2-δ
4
电子的有效质量m*已经反映晶格周期势场的作用
因此可以把晶体中的电子在外电场作用下的迁移率
写成:
eτ μ m*
自由电子
m*= m
5
m*和τ的影响因素
电子和空穴的有效质量m* 平均自由运动时间τ 材料性质决定 载流子的散射强弱决定 散射弱,τ长,μ高
掺杂浓度和温度对μ的影响,本质上是对载流子 散射强弱的影响形成 p 型半导体 Nhomakorabea38
价控半导体可通过改变杂质的组成获得不同的电性能 杂质离子应具备以下条件: •
与被取代离子有几乎相同的离子半径


本身有固定的化学价
具有高的离子化势能
39
组分缺陷
非化学计量配比(nonstoichiometric)化合物中由于晶 体化学组成的偏离,而形成离子空位或间隙离子等 晶格缺陷称为组分缺陷。 晶格缺陷的种类、浓度对材料的电导有很大影响
ne≈ ND-NA
nh≈ NA-ND 1/T
34
缺陷对电导率的影响
• 杂质缺陷
• 组分缺陷
阳离子空位 阴离子空位 间隙离子
35
杂质缺陷
价控半导体
通过引入杂质形成新的局部能级 BaTiO3中添加La,在空气中烧成
2 2 3 4 3 2 2 Ba 2 Ti 4 O3 xLa3 Ba1 La (Ti Ti )O xBa x x 1 x x 3
6
散射的原因
晶格散射 电离杂质散射
7
晶格散射
晶格振动:半导体晶体中规则排列的晶格,在其晶 格点阵附近产生的热振动
晶格散射:由晶格振动引起的散射 温度↑ 晶格振动↑ 晶格散射↑
低掺杂半导体迁移率随温度升高而大幅下降的原因
8
电离杂质散射
电离杂质产生的正负电中心对载流子的吸引或排斥
作用,导致散射
积分后得到
3 2m* kT EC Ef e 2 n e 2( ) exp( ) 2 h kT
(7)
2m kT 令 N C 2( ) ,为导带的有效状态密度 h EC Ef n e N C exp( ) 则 kT
* e 2 3 2
(8)
15
本征半导体中,价带中的空穴和导带中的电子浓度 相等 F (E) 1 F (E)
1 La 2O3 2La 2e'2O O 2 (g) 2
Ba O
1 La 2O3 2TiO2 2La 2e'2Ti 6O O 2 (g) 2
BaTiO3 Ba Ti O
形成 n 型半导体
36
添加微量Nb5+的BaTiO3在空气中烧成
2 3 4 2 4 Ba 2 Ti 4 O3 yNb5 Ba 2 [Nb5 (Ti Ti )]O yTi y y 1 2y 3
温度
缺陷
28
温度对电导率的影响
• 迁移率 • 载流子浓度
29
温度对迁移率μ的影响
eτ μ * m
τ -载流子与声子碰撞的弛豫时间,受杂质浓度 和温度影响
τ的温度关系决定了μ的温度关系
30
总迁移率μ受散射的控制,包括两部分
声子对迁移率的影响
杂质离子对迁移率的影响
μL a T
3 2
h e
Fh(E)-空穴分布函数 Fe(E)-电子分布函数
只要 Ef -E >> kT,便有
1 1 E Ef Fh (E) 1 exp( ) E Ef Ef E kT 1 exp( ) 1 exp( ) kT kT
(9)
16
仿照导带电子浓度计算,得到价带中的空穴浓度
3 2
17
本征半导体中,ne= nh,由式(8)、(10)可计算出Fermi能级
NC 1 1 E f (E C E V ) kTln 2 2 NV
代入式(8)、(10),得到
(11)
3 EC EV 2kT 3 * * 4 2 n e n h 2( 2 ) (me m h ) exp( ) h 2kT 3 Eg 2kT 3 * * 4 2 2( 2 ) (me m h ) exp( ) h 2kT Eg Nexp( ) (12) 2kT
室温时,kT= 0.025 eV,E-Ef >>kT
E Ef Fe (E) exp( ) kT
(3)
13
EC、EV分别为导带底部能级和价带顶部能级 由式(1),得到导带中的电子浓度ne
n e G C (E)Fe (E)dE
EC

(4)
GC(E) - 导带电子允许状态密度
1 8π m G C (E) 2 ( 2 ) (E E C ) 2π h
电子电导
电子电导的载流子是电子与空穴 一、电子迁移率
二、载流子浓度
σ n eμ
三、电子电导率
四、电子电导的影响因素 五、晶格缺陷与电子电导
1
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