第六章存储器装置(1)
第六章 习题及参考答案

第六章习题及参考答案
1. 某半导体存储器容量16K ×8位,可选芯片容量为4K×4/片。
地址总线A15-A0(低),双向数据线D7-D0(低),由R
W/线控制读写。
请设计并画出该存储器逻辑图,注明地址分配、片选逻辑式及片选信号极性。
参考答案:
(1) 芯片选取与存储空间分配:
共需8片“4K×4/片”的芯片,存储空间分配如下图所示:
(2).地址分配与片选逻辑如下图所示:
(3).存储器逻辑图如下图所示:
2. 某半导体存储器总容量15k ×8位,其中固化区8k ×8,选用EPROM芯片4K ×8/片,可随机读写区7K ×8,可选用SRAM芯片有:4K ×4/片、2K ×4/片、1K ×4/片。
地址总线A15∼A0,双向数据总线D7∼D0,由R
W/线控制读写,MREQ为低电平时允许存储器工作。
请设计并画出该存储器逻辑图,注明地址分配、片选逻辑式及片选信号极性。
参考答案:
(1)芯片选取与存储空间分配如下图所示:
(2)地址信号与片选逻辑如下图所示:
(4)存储器逻辑图如下图所示:。
微机原理及接口技术重点及例题

第一章思考题与习题:1.什么叫微处理器、微机?微机系统包含哪些部分?2 .为什么计算机使用二进制计数制?3.CPU 在内部结构上由哪几部分组成?4 .十六进制的基数或底数是。
5.将下列十进制数分别转换成十六进制、二进制、八进制数:563 6571 234 1286 .将下列十进制小数转换成十六进制数(精确到小数点后4 位数):0.359 0.30584 0.9563 0.1257.将1983.31510转换成十六进制数和二进制数。
8.将下列二进制数转换成十进制数、十六进制数和八进制数:(1)101011101.11011 (2 )11100011001.011 (3 )1011010101.00010100111 9.将下列十六进制数转换成十进制数和二进制数:AB7.E2 5C8.11FF DB32.64E10.判断下列带符号数的正负,并求出其绝对值(负数为补码):10101100;01110001;11111111;10000001。
11.写出下列十进制数的原码、反码和补码(设字长为8 位):+64 -64 +127 -128 3/5 -23/12712.已知下列补码,求真值X :(1)[X]补=1000 0000(2 )[X]补=1111 1111(3 )[-X]补=1011011113.将下列各数转换成BCD 码:30D,127D,23D,010011101B,7FH14.用8421 BCD 码进行下列运算:43+99 45+19 15+3615.已知X =+25,Y =+33,X = -25,Y = -33,试求下列各式的值,并用其对应的真值进行验证:1 12 2(1)[X +Y ]补1 1(2 )[X -Y ]补1 2(3 )[X -Y ]补1 1(4 )[X -Y ]补2 2(5 )[X +Y ]补1 2(6 )[X +Y ]补2 216.当两个正数相加时,补码溢出意味着什么?两个负数相加能产生溢出吗?试举例说明。
计算机外存储设备

5英寸软盘容量为:2×80×15×512=1228800B≈1.2MB
6、寻址时间:磁头从启动位置到达读写位置所经历
的全部时间,包括寻道时间和平均等待时间(磁盘 旋转半周所需时间)。3寸软驱寻址时间约为144ms。 7、数据传输速率:指磁头在磁盘上找到相应的地址 后,每秒读写的字节数。可通过下述方法计算: 传输速率=每磁道上全部字节数/旋转一周时间 传输速率=每扇区字节数×扇区数/旋转一周时间 5寸盘数据传输速率约为45KB/S,3寸盘约为54KB/S
三、硬盘区域的划分
格式化后的硬盘,由格式化软件把硬盘划分为四 个区域:即主引导记录区、DOS引导记录区、文件分配 表和文件目录区,其中: 主引导记录区位于0柱面0磁头1扇区,存放硬盘的 主引导程序和硬盘分区表;DOS引导记录区位于0柱面1 磁头1扇区,存放DOS的引导程序和硬盘格式化后的若 干重要参数以及文件分配表和文件目录的存放位置。 病毒感染破坏了这两个区域数据,计算机即瘫痪。 其他两个区域存放的都是有关文件的重要数据。 计算机中,一个物理的硬盘驱动器可以经格式化 划分为多个逻辑驱动器,使计算机可以有C、D、E、F 等多个逻辑硬盘,方便使用和文件管理。但多个逻辑 硬盘中,只有C盘能够启动计算机操作系统。
硬盘驱动器1
系统 总线 EIDE接口 硬盘驱动器 硬盘驱动器2 光盘驱动器
6.4 磁盘阵列存储器
1、什么是磁盘阵列?将多个独立的磁盘组成一个独立 的逻辑盘,通过数据在多个物理盘上的分割交叉存储 和并行访问得到较高的逻辑性能。 2、磁盘阵列存储器的特点 – 小盘径磁盘驱动器阵列比单一的大型驱动器成本 低、功耗低、误码率低,可靠性高且能连续工作; – 由于采用数据分块和交叉存储技术,磁盘阵列具 有高传输速率和I/O吞吐率,可实现数据并行处理; – 磁盘阵列具有海量存储能力,1024GB已属平常; – 访问负载均匀分布在所有磁盘,延长磁盘使用期; – 阵列的控制、数据的分块和拼接、磁盘阵列的并 行调度等阵列控制功能全部固化在阵列控制卡上。
信息记录与存储技术第六章 磁盘存储技术

五、磁带主要部件结构
(一)磁头 (二)走带机构
六、磁带的物理特性
磁带是磁表面存储介质,是典型的顺 序存取存储设备。磁带有盒式和卷式之分。 用于录音、录像的磁带常为盒式磁带,小 型的高速数字磁带也使用盒式;大容量文 献、信息磁带则使用卷式。
七、磁带的标准化
在信息检索领域,文献磁带主要用于 批式检索。文献磁带是二次文献编辑出版 机构的信息产品,1965年首次出现在市场上。 为了使文献磁带能广泛应用,图书情报机 构对数据形式和记录格式进行了研究和改 进。1973年推出了ISO2709书目信息交换磁 带格式。
第二节 磁记录与存储的工作原理
一、磁记录基本原理
(一)磁记录介质 1、材料 2、特性
(二)磁头
1、环形磁头 2、单极型磁头 3、薄膜磁头 4、磁阻磁头
(三)信息存取原理
计算机磁表面存储器采用数字磁记录 方式,被记录的是脉冲信号,介质上留下 的是一连串的饱和磁化位元,读出时由磁 头再转换成电信号。
十一、磁带的选择
磁带品种较多,在选择时要考虑多方面的因 素。其中包括: (1)磁带的密度和容量 (2)数据传输率。 (3)磁带寿命。 (4)向下兼容。 (5)接口不同的磁带机有不同接口,要选择与机器 相一致的。
第六节 磁盘阵列
一、磁盘阵列原理
RAID是由美国加州大学伯克利分校的 D A Patterson教授在1988年提出的。RAID是 Redundent Array of Inexpensive Disks的缩写, 直译为“廉价冗余磁盘阵列”,也简称为 “磁盘阵列”。
二、磁带的优点
(一)高容量低密度 (二)高可靠性 (三)互换性好
三、磁带基本组成和工作原理
(一)基本组成 (二)基本工作过程
微机原理-第6章(2)

四.扩展存储器设计
Note:8086 CPU同8088 CPU一样,也有20条地址总线,其寻 8086 CPU同 CPU一样 也有20条地址总线, 一样, 20条地址总线 址能力达1MB。不同之处是8086 数据总线是16位的, 16位的 址能力达1MB。不同之处是8086 CPU 数据总线是16位的, 与8086 CPU对应的1MB存储空间可分为两个512kB(524 288 CPU对应的1MB存储空间可分为两个512kB(524 对应的 存储空间可分为两个512 B)的存储体。其中一个存储体由奇地址的存储单元(高字节) B)的存储体。其中一个存储体由奇地址的存储单元(高字节) 的存储体 奇地址的存储单元 组成,另一个存储体由偶地址的存储单元(低字节)组成。 组成,另一个存储体由偶地址的存储单元(低字节)组成。 偶地址的存储单元 前者称为奇地址的存储体,后者称为偶地址的存储体。 前者称为奇地址的存储体,后者称为偶地址的存储体。
≈
0
≈ ≈
0 0
0
0
0
0
0
0
0 1…1
作片外寻址的高位不变地址线全部 参加了译码,这种译码方法称为全 参加了译码,这种译码方法称为全 地址译码方法 方法。 地址译码方法。
片外寻址
四.扩展存储器设计
A19 A18 A17 A16 A15 A14 A13 A12 A11 A10 A9~A0 X 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0…0
4KB 00000H 00FFFH
≈
●
模块1 模块
存储器接口 (2)

地把双端口RAM看作是本地RAM一样进行访问,不 仅方便了软件设计,还大大地提高了系统的工作 效率。
二、半导体存储器的主要性能指标 主要从一下几方面考察: 1、存储容量 2、速度 3、功耗 4、集成度 5、可靠性
三、存储芯片的组成
1、地址译码器:接收来自CPU的N位地址信息, 经译码后产生2的N次方个地址选择信号对片内 寻址。
/CS=0,/OE=0时为读; /CS=0,/WE=0时为写。 /WE和/OE分别接CPU的/WR和/RD信号。
2、存储器与CPU数据总线的连接 根据存储器结构选择连接CPU的数据总线。
6.3 主存储器接口
主存储器的类型不同,则接口不同。以 EPROM、SRAM、DRAM为例分别介绍。
一、EPROM与CPU的接口 目前广泛使用的典型EPROM芯片有Intel公
(1)Tc=总容量/N×8/M=128K/8K×8/8 =16片
(2)Tc=128K/8K×16/8=32片
6.2存储器接口技术
一、存储器接口中应考虑的问题
1、存储器与CPU的时序配合
几个问题: (1)什么是总线周期?(2)什么 是时钟周期?(3)什么是T状态?(4)如何实 现二者之间的时序配合?(5)设计产生等待信 号电路应注意那些问题?(见图6-3)
2、如何完成寻址功能?
要完成寻址功能必须具备两种选择:
(1)片选:即首先要从众多存储器中,选中要 进行数据传输的某一存储器芯片,称为片选。一 般由接口电路中的端口译码产生。
(2)字选:然后从该芯片内选择出某一存储单 元,称为字选。由存储器内部的译码电路完成。
3、片选控制的译码方法
常用方法有:线选法、全译码法、部分译码法、 混合译码法等。
或列出地址分配表; ③根据地址分配图或分配表确定译码方法并画出
第6章半导体存储器

(a)
图6-8
(b)
3.快闪存储器(Flash Memory)
而且浮置栅一源区间的电容要比浮置栅一控制栅间的电容小得多 。 当控制栅和源极间加上电压时,大部分电压都将降在浮置栅与源极 之间的电容上。 快闪存储器的存储单元就是用这样一只单管组成的,如图6-8(b)所 示。
(a)
图6-8
(b)
半导体存储器的技术指标
存取容量:表示存储器存放二进制信息的多少。二值 信息以字的形式出现。一个字包含若干位。一个字的 位数称做字长。
例如,16位构成一个字,那么该字的字长为16位。一个存储 单元只能存放一个一位二值代码,即只能存一个0或者一个1。 这样,要存储字长为16的一个字,就需要16个存储单元。若 存储器能够存储1024个字,就得有1024×16个存储单元。 通常,用存储器的存储单元个数表示存储器的存储容量,即 存储容量表示存储器存放二进制信息的多少。存储容量应表 示为字数乘以位数。 例如,某存储器能存储1024个字 ,每个字4位,那它的存储容 量就为1024×4=4096,即该存储器有4096个存储单元。 存储器写入(存)或者读出(取)时,每次只能写入或读出 一个字。若字长为8位,每次必须选中8个存储单元。 选中哪些存储单元,由地址译码器的输出来决定。即由地址 码来决定。地址码的位数n与字数之间存在2n=字数的关系。 如果某存储器有十个地址输入端,那它就能存210=1024个字。
[例6-1]
[例6-1]
根据表6-2可以写出Y的表达式: Y7=∑(12,13,14,15) Y6=∑(8,9,10,11,14,15) Y5=∑(6,7,10,11,13,15) Y4=∑(4,5,7,9,11,12) Y3=∑(3,5,11,13) Y2=∑(2,6,10,14) Y1=0 Y0=∑(1,3,5,7,9,11,13,15 ) 根据上述表达式可画出ROM存储点阵如图6-9所示。
数电讲义--6章

15
D5
OE是输出使能端,
D2
11
14
D4
WE是读写控制端。
GND
12
13
D3
静态RAM6116引脚排列图
6116的功能表
片选 CS
1 0 0
输出使能
OE × 0 ×
读/写控制 WE × 1 0
地址码输入 A0 ~ A10
× 稳定 稳定
输出 D0 ~ D7 高阻态
输出 输入
工作模式
低功耗维持 读 写
(m)
Q1 Q2
Qn-1 Qn
并 Q2 行
输 出
Qm
6.1.5 n字×m位FIFO型SAM
2 FILO (先进后出)型 SAM
R /W 1, 读。G2禁止,G1工作,SL/SR =1,寄存器左移,在CP作 R / W 0, 写。用G1下禁数止据,逐G2工位作左,移S,L依/SR次通=0过,G寄1经存I器/O右端移串,行在输C出P作。
...
位 线
31 1
Y1 列译 码
0 31
1 31
位 线
...
位 线
31 31
Y31 器
A5 A6
A7 A8 A9
例如,输入地址码A9A8A7A6A5A4A3A2A1A0=0000000001,则行选线 X1=1、列选线Y0=1,选中第X1行第Y0列的那个存储单元。
(3)RAM的结构 单地址结构,双地址结构
•需定期给栅极电容充电或放电 (刷新),以免信号丢失。
2. 动态CMOS移位寄存器 工作原理:
CP1与CP2互不交叠,因此,TG1与TG2不同时导通。 当CP1=1, CP2=0, TG1 导通, 输入信号以反码存入主触发器。YO1=A
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
随机存取存储 器
(RAM)
只读存储器 (ROM)
静态RAM(SRAM) 动态RAM(DRAM) 非易失RAM(NVRAM) 掩膜式ROM 一次性可编程ROM(PROM) 紫外线擦除可编程ROM(EPROM) 电擦除可编程ROM(EEPROM)
闪烁存储器FLASH ROM(EEPROM)
存取时间与
(2)物理地址有关
存取时间 TA 分为
√ 存储器读出时间 TAR √ 存储器写入时间 TAW
2.存取速度(采用两种参数描述)
(2)存取周期Tmc(Memory Cycle)
含义 指连续两次存储器操作之间的最小时间间隔。
图 示
存取时间TA 间隔时间 存取周期Tmc
存取时间TA
提示 存取周期Tmc略大于 存取时间TA
③ 在送上地址码的同时,还要送上输出允 许信号和片选信号。和有效,双向三态 缓冲器的输出三态门打开,所读信息送 至DB总线上,于是存储单元中的信息被 读出。
2.SRAM的读写过程
(2)写入过程
① 地址码A11~A0加到SRAM芯片的 地址输入端,选中相应的存储单元。
② 将要写入的数据放在DB上。
③ 加上有效的片选信号CE和写信号 WE,这时三态门打开,DB上的数据 进入输入电路,送到存储单元的位 线上,写入该存储单元。
R/W
图6-2 存储芯片组成示意图
6.2 随机存取存储器
6.2.1 静态RAM
1.SRAM的基本存储电路
X地址选择 VCC
T5
T3 T4
T6
A
B
T1 T2
T7
I/O
Y地址选择
T8
I/O
T3、T4是负载管,T1、T2为 工作管, T5、T6、 T7、T8是 控制管。
该 电 路 有 两 种 稳 定 状 态 : T1 截 止,T2导通为状态“1”;T2截 止,T1导通为状态“0”。
S
S
VCC GND
CS
1&
WE
1
&
A6 A5 A4 A3 A0 A1 A2
CS
GND
1
18 VCC
A7 A8
A9 2114
I/O1
I/O2
I/O3 I/O4
9
10
WE
图6-5 2114 SRAM结构框图及引脚
6.2.2 动态RAM
1.DRAM的基本存储电路
DRAM是以MOS晶体管栅极电容是否充有电荷
1.存储容量 2.存取速度 3.功耗 4.可靠性 5.性能/价格比
1. 存储容量:存储二进制信息的数量 存储容量=存储单元数目×存储字长=存储位数
2种表示形式: 存储容量=存储位数/8=存储字节数
指令中地址码的位数决定了主存储器的 可直接寻址的最大空间。
例如,32位超级微型机提供32位物理地 址,支持对4G字节的物理主存空间的访问。
(2)工作方式
信号线
工作方式
(PD/PGM) OE
CE
读
低
低
输出禁止
无关
高
功率下降
高
无关
编程
由低到高脉冲 高
VPP VCC
+5V +5V +5V +5V +5V +5V +25V +5V
D0~D7
数据输出 高阻 高阻
数据输入
编程核实
低
低 +25V +5V 数据输出
编程禁止
低
高 +25V +5V 高阻
• 常用的SRAM芯片有2114(1K×4)、2142(1K×4)、6116 (2K×8)、6232(4K×8)、6264(8K×8)、和62256(32K×8) 等。
A4
A9
I/O1 I/O2 I/O3 I/O4
0 行
选 63
存储单元 64行×64
列
输入 数据 控制
0
63
列I/O电路
列选
A0
A3
3.典型SRAM芯片
符号 A0~A9 I/O1~I/O4 CS
WE VCC
表6-1 Intel 2114芯片引脚功能说明
名称
功能说明
地址线
接相应地址总线,用来对某存储单元寻址
双向数据线
用于数据的写入和读出
片选线
低电平时,选中该芯片
写允许线 电源线
CS =0,WE =0时写入数据;CS =0,WE =1,读出数据 +5V
OE
VCC VPP
名称 地址线 数据线
片选(功率下降/编程)线 输出允许线 电源线 电源线
功能说明 接相应地址总线,用来实现对某存储单元寻址
接数据总线,用于工作时数据读出 工作时作为片选信号,编程写入时接编程脉冲
控制数据读出 +5V
编程时接+25V,读操作时接+5V
表6-3 Intel 2716芯片引脚功能说明
……
小结
存取时间
小节: 反映主存速度的指标
存储周期
存储器带宽
6.1.3 半导体存储芯片的组成
1.存储体(行列式) 2.地址译码器 3.控制逻辑电路 4.数据缓冲器
用于暂时存放来自CPU的写入
数据或从存储体内读出的数据。
暂存地 址存储的器目之01的间是在为速存了度协上储调的C差P异U。和10
3 .存储器带宽
单位时间里存储器所存取的信息量。单位 位/秒 或 字节/秒
“带宽”是衡量数据传输速率的重要技术指标。
例: TMC 100ns
8位数据,
其带宽为
1 100ns
8
80
Mb
s
4.功耗: 每个存储元(一个二进制存储位所对应的存储电路)消耗功率的大小。 微瓦/位
5.可靠性 对电磁场及温度变化等的抗干扰能力。用平均故障间隔时间来衡量。 MTBF(Mean Time Between Failures)
A0
地
A1
址
输
入
缓
A5
冲
器
(0,0)
X0 X 地 址 X1
译
(1,0)
码
器
(63,0)
X63
双向
三态 I/O
DBi
缓冲 电路
器
Y0 控制电路
(0,1) (1,1) (63,1)
Y1 Y地址译码器
(0,63) (1,63) (63,63)
Y63
地址输入缓冲器
OE WE CE
A6
A7
A11
图6-4 4K×1位的存储器结构
• 擦除的原理与编程相反,通过向浮置栅上的电子注入 能量,使得它们逃逸。
2.编程和擦除过程
• EPROM的编程过程实际上就是对某些单元写入 “0”的过程,也就是向有关的FAMOS管的浮置 栅注入电子的过程。
3.典型的EPROM芯片介绍
(1)芯片特性 2K*8
符号 A0~A10 D0~D7 CE(PD/PGM)
表6-4 Intel 2716芯片工作方式的选择
6.3.2 电可擦除的可编程E2PROM
1.芯片特性
R/B 1
A12
2
28
Vcc
27 WE
来存储信息的,其基本单元电路一般由四管、三
管和单管组成
行选择线X
T1
C
读出再生 放大器
列选择线Y T2
电容C有电荷表示“1”,无 电荷表示“0”。若地址经 译码后选中行选线X及列选 线Y,则T1、T2同时导通, 可对该单元进行读/写操作。
数据I/O线
图6-6 单管动态RAM基本存储电路
2.DRAM的特点
后援存储器 辅助存储器
磁盘 磁带
光盘
半导体存储器
随机存取存储器 (RAM)
只读存储器 (ROM)
静态RAM(SRAM)
动态RAM(DRAM) 掩膜式ROM 可编程ROM(PROM) 可擦除PROM(EPROM) 电可擦除PROM(E2PROM)
图6-1 半导体存储器的分类
6.1.2 半导体存储器的主要性能指标
(2)只读存储器ROM • ROM是一种在工作过程中只能读不能写的非易失性存储器 • 掉电后所存信息不会丢失
3. 按在计算机中的作用分类
主存储器
存储器
静态 RAM RAM
可与CPU直 动态 RAM
MROM
接交换数据 PROM
ROM EPROM
EEPROM
高速缓冲存储器(Cache)介于CPU与内存之间
(1)DRAM芯片的结构特点
– DRAM与SRAM一样,都是由许多基本存储元电路按 行、列排列组成二维存储矩阵
– DRAM芯片集成度高,存储容量大,因而要求地址线 引脚数量多
(2)DRAM的刷新
– 刷新,就是不断地每隔一定时间(一般每隔2ms)对 DRAM的所有单元进行读出,经读出放大器放大后再 重新写入原电路中,以维持电容上的电荷,进而使所 存信息保持不变
(2)金属氧化物半导体型(MOS型) • 用 来 制 作 多 种 半 导 体 存 储 器 件 , 如 静 态 RAM、 动 态 RAM、
EPROM、E2PROM、Flash Memory等。 • 集成度高、功耗低、价格便宜 • 速度较双极型器件慢
2.按存取方式分类
存取时间与
(1)物理地址无关
(随机访问)
常用的计量存储空间的单位还有K,M,T。 K为210,M为220,G为230)。
2.存取速度(采用两种参数描述)
(1)存取时间 TA (Access Time)
指从CPU给出有效地址启动一次存取(读/写)操作到该操作完成所需的时间。
t
t1
TA
t2
含义 CPU发出读操作命令t1,到取出数据t2的时间之差。