常用材料测试方法总结
材料测试方法汇总
材料测试方法汇总材料测试是一种通过实验和测试来评估材料性能和质量的过程。
不同类型的材料需要不同的测试方法来评估其特定的性能指标。
本文将综述一些常见的材料测试方法，包括力学性能测试、物理性能测试、化学性能测试和表面性能测试。
力学性能测试是评估材料在外力作用下的变形和破坏行为的关键方法。
常见的力学性能测试方法包括拉伸试验、弯曲试验、冲击试验和硬度测试等。
拉伸试验是测量材料在拉力下的变形行为。
通过在试样上施加一个拉力，可以测量其拉伸强度、屈服强度、断裂延伸率等参数。
弯曲试验是评估材料在弯曲载荷下的变形能力和弯曲强度的方法。
冲击试验是通过施加冲击载荷来评估材料在低温或高速载荷下的韧性和抗冲击能力。
硬度测试是用来评估材料抵抗表面压力的能力，常见的硬度测试方法包括布氏硬度、洛氏硬度和维氏硬度等。
物理性能测试是评估材料物理特性的方法，包括密度、热性能、电性能等。
密度测试是测量材料单位体积质量的方法，常用的测试方法有测量体积和质量来计算密度。
热性能测试是评估材料导热性、膨胀系数和燃烧特性的方法，常见的测试方法有热膨胀试验、导热系数测试和燃烧性能测试等。
电性能测试是评估材料导电性和绝缘性能的方法，常见的测试包括电导率测试、介电常数测试、绝缘电阻测试和击穿电压测试等。
化学性能测试是评估材料化学稳定性和耐腐蚀性的方法。
常见的化学性能测试方法包括溶解度测试、PH值测试、酸碱度测试和腐蚀性测试等。
溶解度测试是测量材料在不同溶剂中的溶解度的方法，常用的测试方法有浸泡法和萃取法等。
PH值测试是测量材料溶液酸碱程度的方法，常用的测试方法有PH试纸和PH计等。
酸碱度测试是评估材料对酸碱介质的耐受性的方法，常用的测试方法有浸泡法和撞击法等。
腐蚀性测试是评估材料在腐蚀介质中的腐蚀性能的方法，常用的测试方法有腐蚀试验、电化学腐蚀测试和盐雾腐蚀测试等。
表面性能测试是评估材料表面性质和处理效果的方法。
常见的表面性能测试方法包括表面硬度测试、表面粗糙度测试、表面张力测试和涂层附着力测试等。
材料分析测试方法
材料分析测试方法材料分析测试方法是一种用于确定材料的组成成分、结构特征和性能特性的实验方法。
通过对材料进行分析测试，可以提供有关材料的关键信息，为科学研究、工程设计和质量控制等提供数据支持。
以下是几种常用的材料分析测试方法。
1.光学显微镜分析：光学显微镜是一种使用可见光进行观察的显微镜。
通过使用透射或反射光学系统，可以对材料进行观察，并研究其表面形貌、晶体结构和材料中的微小缺陷等信息。
2.扫描电子显微镜分析：扫描电子显微镜（SEM）是一种通过扫描电子束来观察材料的表面形貌和微观结构的显微镜。
SEM可以提供高分辨率的图像，并能够进行化学成分分析、能谱分析和逆向散射电子显微镜等特殊分析。
3.X射线衍射分析：X射线衍射（XRD）是一种通过用高能X射线照射材料，根据材料中晶格原子的间距和位置来分析材料结构的方法。
XRD可以用来确定晶体结构、晶体取向和晶体缺陷等信息。
4.能谱分析：能谱分析是一种通过测量材料在不同能量范围内的辐射或吸收来分析其化学成分的方法。
常见的能谱分析方法包括X射线能谱分析（XPS）、能量色散X射线能谱分析（EDX）、傅里叶变换红外光谱分析（FTIR）等。
5.热分析：热分析是一种通过对材料在加热或冷却过程中的物理和化学变化进行分析的方法。
常见的热分析方法包括差示扫描量热法（DSC）、热重分析（TGA）和热解吸法（TPD）等。
6.压力测试：压力测试是一种通过使用压力传感器和脉冲测定器等设备来测量材料的力学性能和材料的变形特性的方法。
常见的压力测试包括硬度测试、拉伸测试、压缩测试和扭曲测试等。
7.化学分析：化学分析是一种通过对材料进行化学试剂处理和测量来确定其化学成分和化学特性的方法。
常用的化学分析方法包括气相色谱（GC）、液相色谱（HPLC）和质谱分析等。
8.磁性测试：磁性测试是一种通过测量材料在外加磁场下的响应来分析材料磁性的方法。
常见的磁性测试方法包括霍尔效应测量、磁滞回线测量和磁力显微镜测量等。
材料物理性能及测试
材料物理性能及测试材料的物理性能是指材料在物理方面的性质和行为，包括材料的力学性能、热学性能、电学性能以及光学性能等。
这些性能对于材料的使用和应用起着重要的作用。
为了准确地评估和测试材料的物理性能，科学家和工程师使用了各种测试方法和仪器设备。
一、力学性能力学性能是衡量材料在外力作用下的行为的一种性能。
主要指材料的强度、韧性、硬度、延展性等。
常用的测试方法包括拉伸测试、压缩测试、剪切测试和弯曲测试等。
1.拉伸测试拉伸测试是一种常见的方法，用来评估材料的强度和延展性。
在拉伸测试中，材料样品被施加拉伸力，通常通过测量载荷和伸长量来计算拉伸应力和应变。
拉伸强度是指材料在拉伸过程中承受的最大应力，屈服强度是指材料开始产生可观察的塑性变形的应力。
2.压缩测试压缩测试用于测量材料在受压力下的性能。
将材料样品放入压力装置中，施加压力使其受到压缩，通过测量载荷和位移来计算压缩应力和应变。
压缩强度是指材料在压缩过程中承受的最大应力。
3.剪切测试剪切测试用于评估材料的抗剪切能力。
将材料样品放入剪切装置中，施加剪切力使其发生剪切变形，通过测量载荷和位移来计算剪切应力和应变。
剪切强度是指材料在剪切过程中承受的最大应力。
弯曲测试用于评估材料在弯曲载荷下的行为。
将材料样品放入弯曲装置中，施加弯曲力使其发生弯曲变形，通过测量载荷和位移来计算弯曲应力和应变。
弯曲强度是指材料在弯曲过程中承受的最大应力。
二、热学性能热学性能是指材料在温度变化下的行为。
主要包括热膨胀性、热导率、比热容等性能。
常用的测试方法包括热膨胀测试、热导率测试和比热容测试等。
1.热膨胀测试热膨胀测试用于测量材料随温度变化而发生的膨胀或收缩。
在热膨胀测试中，材料样品被加热或冷却，通过测量长度变化来计算热膨胀系数。
2.热导率测试热导率测试用于测量材料传导热的能力。
在热导率测试中，材料样品的一侧被加热，另一侧被保持在恒定温度，测量两侧温度差来计算热导率。
3.比热容测试比热容测试用于测量材料吸热或放热的能力。
材料研究与测试方法
材料研究与测试方法
材料研究包括材料结构、性质和性能的研究，以及应用领域中材料的适应性和可靠性的评估。
以下是一些常用的材料研究与测试方法：
1. 材料制备：包括常规的熔融、溶液法、固相反应等方法，以及先进的化学气相沉积、分子束外延等方法。
2. 组织表征：材料的组织结构对其性质和性能具有重要影响。
常用的组织表征方法包括光学显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射等。
3. 物理性能测试：包括密度测量、热膨胀系数测定、热导率测量、电导率测量、磁性测量等。
4. 力学性能测试：包括拉伸、压缩、弯曲、硬度等力学性能的测试。
5. 热性能测试：包括热膨胀系数、热导率、比热容等热性能的测量。
6. 电性能测试：包括电导率、电介电性质、电磁性等电性能的测试。
7. 化学性能测试：包括材料的化学成分分析、化学稳定性、腐蚀性等化学性能的测试。
8. 环境适应性测试：用于评估材料在特定环境条件下的耐久性和性能稳定性。
9. 动态力学分析（DMA）：用于测试材料的动态力学性能，包括弹性模量、损耗因子等。
10. 疲劳性能测试：用于评估材料在长期循环加载下的疲劳寿命和性能。
通过这些研究与测试方法，可以了解材料的物理、化学、力学、热学、电学等性质，为材料设计、优化和应用提供科学依据。
材料分析测试方法考点总结
材料分析测试方法XRD1、x-ray 的物理基础X 射线的产生条件：⑴ 以某种方式产生一定量自由电子⑵ 在高真空中，在高压电场作用下迫使这些电子做定向运动⑶ 在电子运动方向上设置障碍物以急剧改变电子运动速度→x 射线管产生。
X 射线谱——X 射线强度随波长变化的曲线：（1）连续X 射线谱：由波长连续变化的X 射线构成，也称白色X 射线或多色X 射线。
每条曲线都有一强度极大值（对应波长λm ）和一个波长极限值（短波限λ0）。
特点：最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。
最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。
影响连续谱因素：管电压U 、管电流 I 和靶材Z 。
I 、Z 不变，增大U→强度提高，λm 、λ0移向短波。
U 、Z 不变，增大I ；U 、I 不变，增大Z→强度一致提高，λm 、λ0不变。
（2）特征X 射线谱：由一定波长的若干X 射线叠加在连续谱上构成，也称单色X 射线和标识X 射线。
特点：当管电压超过某临界值时才能激发出特征谱。
特征X 射线波长或频率仅与靶原子结构有关，莫塞莱定律特定物质的两个特定能级之间的能量差一定，辐射出的特征X 射线的波长是特定。
特征x 射线产生机理：当管电压达到或超过某一临界值时，阴极发出的电子在电场加速下将靶材物质原子的内层电子击出原子外，原子处于高能激发态，有自发回到低能态的倾向，外层电子向内层空位跃迁，多余能量以X 射线的形式释放出来—特征X 射线。
X 射线与物质相互作用：散射，吸收（主要）（1）相干散射：当X 射线通过物质时，物质原子的内层电子在电磁场作用下将产生受迫振动，并向四周辐射同频率的电磁波。
由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称相干散射→ X 射线衍射学基础 ()σλ-=Z K 1（2）非相干散射：X 射线光子与束缚力不大的外层电子或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X 射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加，也称为康普顿散射。
材料科学研究与测试方法
材料科学研究与测试方法
材料科学研究是关于材料的性质、结构、制备和应用等方面的研究。
为了深入了解材料的特性和性能，需要使用一系列的测试方法来进行材料的分析和表征。
下面是一些常用的材料科学研究与测试方法：
1. X射线衍射分析：通过照射材料样品，通过测量材料对X射线的衍射模式来确定材料的晶体结构和晶格参数。
2. 扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描电子束与材料表面的相互作用，获取高分辨率的表面形貌和形态信息。
3. 透射电子显微镜（TEM）：通过透射电子束与材料的相互作用，观察材料的微观结构和晶体缺陷。
4. 热重分析（TGA）：通过监测材料在升温过程中的质量变化，来确定材料的热稳定性和热分解特性。
5. 差示扫描量热仪（DSC）：通过测量材料在升温和降温过程中的热流量变化，来研究材料的相变、热性能和热分解行为。
6. 红外光谱（IR）：通过测量材料对红外辐射的吸收和散射，来确定材料的分子结构和官能团。
7. 核磁共振（NMR）：通过测量材料中的核自旋共振现象，来确定材料的分子结构和化学环境。
8. 拉伸试验：通过施加外力，测量材料在拉伸过程中的力学性能，如强度、延展性和弹性模量等。
9. 硬度测试：通过施加外力，测量材料在表面的压痕大小，来评估材料的硬度和耐磨性。
10. 电导率测量：通过测量材料的电导率，来评估材料的导电性能和电子迁移性能。
以上是材料科学研究与测试方法中的一部分，不同的材料和研究目的会选择不同的测试方法来进行材料的表征和分析。
化学领域中的材料性能测试方法
化学领域中的材料性能测试方法材料性能测试是化学领域中至关重要的一项工作。
它对于研发和制造各种化学材料，如金属、塑料、橡胶、高分子材料等，具有重要的指导作用。
通过材料性能测试，可以评估材料的力学性能、热学性能、电学性能、光学性能等，为材料的研发和应用提供科学依据。
1. 力学性能测试方法力学性能是材料工程中最常见的性能之一，主要包括材料的强度、韧性、硬度等指标。
常用的力学性能测试方法有拉伸试验、压缩试验、弯曲试验等。
拉伸试验是一种常见的力学性能测试方法，通过对试样施加正向力来测定材料的抗拉强度、屈服强度和延伸率等。
压缩试验用于测定材料的抗压强度和变形特性，常用于金属和陶瓷材料的测试。
弯曲试验则用于测定材料的弯曲强度和弯曲模量。
2. 热学性能测试方法热学性能测试涉及材料的导热性、热膨胀性等性能指标。
导热性测试是一种常用的热学性能测试方法，主要用于测定材料的导热系数。
常见的导热性测试方法有热传导仪法和热释电法等。
热膨胀性测试用于测定材料的线膨胀系数和体膨胀系数，常见的测试方法有膨胀仪法和激光干涉法等。
3. 电学性能测试方法电学性能测试是研究材料的电导率、介电常数等电学性质的方法。
电导率测试是电学性能测试中的重要方法之一，用于测定材料的电导率和电阻率。
常用的电导率测试方法有四探针法、电导率仪器法等。
介电常数测试用于测定材料在电场作用下的电导率和介电耗散因子，常见的测试方法有介电分析法和介电谐振法等。
4. 光学性能测试方法光学性能测试主要用于研究材料的光学特性，如折射率、透射率、反射率等。
透射率测试是光学性能测试中的一种常用方法，用于测定材料对光的透明程度。
反射率测试用于测定材料对光的反射能力，常见的测试方法有透射—反射法和半球积分法等。
折射率测试用于测定材料在光场中的折射性能，常用的测试方法有折射光栅法和竖直玻璃分杯法等。
总结而言，化学领域中的材料性能测试方法涵盖了力学性能、热学性能、电学性能和光学性能等多个方面。
材料实验技术力学性能测试方法详述
材料实验技术力学性能测试方法详述导言材料在工程中的应用广泛。
为了确保材料能够满足相应的工程要求，在设计和使用过程中，必须对材料的力学性能进行全面的测试和评估。
力学性能测试是材料相关研究的重要一环，它提供了关于材料的强度、硬度、韧性、刚度等信息。
本文将详细介绍常见的材料力学性能测试方法。
一、拉伸试验拉伸试验是最基本的力学性能测试之一，用于评估材料的强度和韧性。
在这个试验中，材料的样品会在受到外力作用下逐渐拉伸，直到断裂。
通过测量载荷和伸长量的变化，可以得到材料的应力应变曲线。
从应力应变曲线中可以得到材料的屈服强度、抗拉强度、断裂延伸率等信息。
二、硬度测试硬度测试是评估材料抵抗针尖压入的能力。
硬度测试的结果可用于测量材料的硬度，从而根据材料硬度推断出材料的其他性能。
最常见的硬度测试方法包括布氏硬度测试、维氏硬度测试和洛氏硬度测试。
不同的硬度测试方法适用于不同材料的测试。
三、冲击试验冲击试验用于评估材料在受到突然加载时的韧性和抗冲击能力。
通常，冲击试验在室温下进行，并使用冲击力来创造出突然的载荷。
通过测量材料在冲击过程中吸收的能量、残余力等，可以获得材料的冲击韧性等参数。
常见的冲击试验方法包括冲击弯曲试验和冲击压缩试验。
四、弯曲试验弯曲试验用于评估材料在加载时的韧性、刚度和弯曲强度。
在弯曲试验中，材料样品通常被放置在两个支撑点之间，然后在中间进行加载。
通过测量材料的变形、载荷等参数，可以得到材料的弯曲应力应变曲线，进而计算出材料的抗弯强度、弯曲模量等。
五、压缩试验压缩试验用于评估材料在受压状态下的强度和变形特性。
在这个试验中，材料样品通常被放置在两个平行的支撑点之间，并受到垂直方向上的加载。
通过测量载荷和变形等参数，可以计算出材料的压缩应力应变曲线，进而得到材料的抗压强度、压缩模量等信息。
结论材料实验技术力学性能测试方法提供了评估材料性能的重要依据。
拉伸试验、硬度测试、冲击试验、弯曲试验和压缩试验是常用的方法，可以得到材料的强度、韧性、硬度以及变形特性等方面的参数，为工程设计和使用提供参考依据。
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成分分析：成分分析按照分析对象和要求可以分为微量样品分析和痕量成分分析两种类型。
按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。
体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X 射线荧光与X 射线衍射分析方法；其中前三种分析方法需要对样品进行溶解后再进行测定，因此属于破坏性样品分析方法；而X射线荧光与衍射分析方法可以直接对固体样品进行测定因此又称为非破坏性元素分析方法。
表面与微区成份分析：X射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS）；（10纳米，表面）俄歇电子能谱（Auger electron spectroscopy，AES）；（6nm，表面）二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）；（微米，表面）电子探针分析方法；（0.5微米，体相）电镜的能谱分析；（1微米，体相）电镜的电子能量损失谱分析；（0.5nm）为达此目的，成分分析按照分析手段不同又分为光谱分析、质谱分析和能谱分析。
1.光谱分析：主要包括火焰和电热原子吸收光谱AAS，电感耦合等离子体原子发射光谱ICP-OES，X-射线荧光光谱XFS 和X-射线衍射光谱分析法XRD；（1）原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS）又称原子吸收分光光度分析。
原子吸收光谱分析是基于试样蒸气相中被测元素的基态原子对由光源发出的该原子的特征性窄频辐射产生共振吸收，其吸光度在一定范围内与蒸气相中被测元素的基态原子浓度成正比，以此测定试样中该元素含量的一种仪器分析方法。
原子吸收分析特点：（a）根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；（b）适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低，ng/cm3，10-10—10-14g；（c）测量准确度很高，1%（3—5%）；（d）选择性好，不需要进行分离检测；（e）分析元素范围广，70多种；应该是缺点（不确定）：难熔性元素，稀土元素和非金属元素，不能同时进行多元素分析；（2）电感耦合等离子体原子发射光谱(Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry, ICP-AES)ICP是利用电感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法；可进行多元素同时分析，适合近70 种元素的分析；很低的检测限，一般可达到10-1～10-5μg/cm-3；稳定性很好，精密度很高，相对偏差在1%以内，定量分析效果好；线性范围可达4～6个数量级；但是对非金属元素的检测灵敏度低。
（3）X-射线荧光光谱(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一种非破坏性的分析方法，可对固体样品直接测定。
在纳米材料成分分析中具有较大的优点；X 射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型；具有较好的定性分析能力，可以分析原子序数大于3的所有元素。
本低强度低，分析灵敏度高，其检测限达到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以测定几个纳米到几十微米的薄膜厚度。
（4）X-射线衍射光谱分析法（X-ray diffraction analysis，XRD）2.质谱分析：主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS 和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS （1）电感耦合等离子体质谱(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS) ICP-MS 是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法；该离子源产生的样品离子经质谱的质量分析器和检测器后得到质谱；检出限低（多数元素检出限为ppb-ppt级）；线性范围宽（可达7个数量级）；分析速度快（1分钟可获得70种元素的结果）；谱图干扰少（原子量相差1可以分离），能进行同位素分析。
（2）飞行时间二次离子质谱法（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。
工作原理：1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。
一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子溅射。
在一次离子束轰击样品时，还有可能发生另外一些物理和化学过程：一次离子进入晶格，引起晶格畸变；在具有吸附层覆盖的表面上引起化学反应等。
溅射粒子大部分为中性原子和分子，小部分为带正、负电荷的原子、分子和分子碎片；2. 电离的二次粒子（溅射的原子、分子和原子团等）按质荷比实现质谱分离；3. 收集经过质谱分离的二次离子，可以得知样品表面和本体的元素组成和分布。
在分析过程中，质量分析器不但可以提供对于每一时刻的新鲜表面的多元素分析数据。
而且还可以提供表面某一元素分布的二次离子图像。
4. TOF（Time of Flight）的独特之处在于其离子飞行时间只依赖于他们的质量。
由于其一次脉冲就可得到一个全谱，离子利用率最高，能最好地实现对样品几乎无损的静态分析，而其更重要的特点是只要降低脉冲的重复频率就可扩展质量范围，从原理上不受限制。
3.能谱分析：主要包括X射线光电子能谱XPS 和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。
随着微电子技术的发展，XPS也在不断完善，目前，已开发出的小面积X射线光电子能谱，大大提高了XPS的空间分辨能力。
通过对样品进行全扫描，在一次测定中即可检测出全部或大部分元素。
因此，XPS已发展成为具有表面元素分析、化学态和能带结构分析以及微区化学态成像分析等功能强大的表面分析仪器。
X射线光电子能谱的理论依据就是爱因斯坦的光电子发散公式。
XPS作为研究材料表面和界面电子及原子结构的最重要手段之一，原则上可以测定元素周期表上除氢、氦以外的所有元素。
其主要功能及应用有三方面:第一，可提供物质表面几个原子层的元素定性、定量信息和化学状态信息;第二，可对非均相覆盖层进行深度分布分析，了解元素随深度分布的情况;第三，可对元素及其化学态进行成像，给出不同化学态的不同元素在表面的分布图像等。
（2）俄歇电子能谱法（Auger electron spectroscopy，AES）俄歇电子能谱法是用具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应，通过检测俄歇电子的能量和强度，从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。
利用受激原子俄歇跃迁退激过程发射的俄歇电子对试样微区的表面成分进行的定性定量分析。
俄歇能谱仪与低能电子衍射仪联用，可进行试样表面成分和晶体结构分析，因此被称为表面探针。
电镜-能谱分析方法：利用电镜的电子束与固体微区作用产生的X射线进行能谱分析（EDAX）；与电子显微镜结合（SEM，TEM），可进行微区成份分析；可进行定性和定量分析。
形貌分析：相貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌，材料的颗粒度，及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。
形貌分析方法主要有：光学显微镜(Optical microscopy, OM)、扫描电子显微镜(Scanning electron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmission electron microscopy, TEM)、扫描隧道显微镜(Scanning tunneling microscopy, STM)和原子力显微镜(Atomic force microscopy, AFM)1.SEM扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像，观察视野大，其分辩率一般为6纳米，对于场发射扫描电子显微镜，其空间分辩率可以达到0.5纳米量级。
其提供的信息主要有材料的几何形貌，粉体的分散状态，纳米颗粒大小及分布以及特定形貌区域的元素组成和物相结构。
扫描电镜对样品的要求比较低，无论是粉体样品还是大块样品，均可以直接进行形貌观察2.TEM透射电镜具有很高的空间分辩能力，特别适合纳米粉体材料的分析。
其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形貌，颗粒大小，分布以还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。
透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束就不能透过了。
对块体样品的分析，透射电镜一般需要对样品进行减薄处理。
透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小、分布状况、粒径分布范围等，并用统计平均方法计算粒径，一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不是晶粒度。
高分辨电子显微镜(HRTEM)可直接观察微晶结构，尤其是为界面原子结构分析提供了有效手段，它可以观察到微小颗粒的固体外观，根据晶体形貌和相应的衍射花样、高分辨像可以研究晶体的生长方向。
3.STM和AFM形貌分析扫描隧道显微镜（STM）主要针对一些特殊导电固体样品的形貌分析。
可以达到原子量级的分辨率，但仅适合具有导电性的薄膜材料的形貌分析和表面原子结构分布分析，对纳米粉体材料不能分析。
扫描隧道显微镜有原子量级的高分辨率，其平行和垂直于表面方向的分辨率分别为0.1 nm和0.01nm，即能够分辨出单个原子，因此可直接观察晶体表面的近原子像;其次是能得到表面的三维图像，可用于测量具有周期性或不具备周期性的表面结构。
通过探针可以操纵和移动单个分子或原子，按照人们的意愿排布分子和原子，以及实现对表面进行纳米尺度的微加工，同时，在测量样品表面形貌时，可以得到表面的扫描隧道谱，用以研究表面电子结构。
扫描原子力显微镜（AFM）可以对纳米薄膜进行形貌分析，分辨率可以达到几十纳米，比STM差，但适合导体和非导体样品，不适合纳米粉体的形貌分析。
这四种形貌分析方法各有特点，电镜分析具有更多的优势，但STM和AFM具有可以气氛下进行原位形貌分析的特点。
物相结构分析常用的物相分析方法有X射线衍射分析、激光拉曼分析、傅里叶红外分析以及微区电子衍射分析。
1.X射线衍射分析XRD 物相分析是基于多晶样品对X射线的衍射效应，对样品中各组分的存在形态进行分析。