并行口实验实验报告

并行口实验实验报告
并行口实验实验报告

8255并行口实验实验报告

作者:

一、实验目的

掌握8255A的编程原理。

二、实验设备

CPU挂箱、8086CPU模块。

三、实验内容

8255A的A口作为输入口,与逻辑电平开关相连。8255A的B口作为输出口,与发光二极管相连。编写程序,使得逻辑电平开关的变化在发光二极管上显示出来。

四、实验原理介绍

本实验用到两部分电路:开关量输入输出电路和8255可编程并口电路。

五、实验步骤

1、实验接线

CS0?CS8255; PA0~PA7?平推开关的输出K1~K8; PB0~PB7?发光二极管的输入LED1~LED8。

2、编程并全速或单步运行。

3、全速运行时拨动开关,观察发光二极管的变化。当开关某位置于L 时,对应的发光二极管点亮,置于H时熄灭。

六、实验提示

实验也是如此。实验中,8255A工作于基本8255A是比较常用的一种并行接口芯片,其特点在许多教科书中均有介绍。8255A有三个8位的输入输出端口,通常将A端口作为输入用,B端口作为输出用,C端口作为辅助控制用,本输入输出方式(方式0)。

七、实验结果

程序全速运行后,逻辑电平开关的状态改变应能在LED上显示出来。例如:K2置于L位置,则对应的LED2应该点亮。

八、程序框图(实验程序名:t8255.asm)

开始

设置8255工作方式

读A口

输出至B口

结束

九、程序源代码清单:

assume cs:code

code segment public

org 100h

start: mov dx,04a6h ;控制寄存器地址

mov ax,90h ;设

置为A口输入,B口输出

out dx,ax

mov al,0feh

start1:mov dx,04a2h 芯片的

入口地址

out dx,al

mov bl,al

mov dx ,04a0h

in al,dx

test ax,01h

jz strat2

mov al ,bl rol al,1 流水灯循环左移

mov bl,al

mov cx,3000h 设置cx为灯闪烁时间对应的循环次数

add:

loop add

jmp start1 无条件跳转至start1 strat2:mov al,bl

mov dx,04a2h

out dx,al

ror al,1 流水灯循环左移

mov bl, al

mov cx,3000h

add1:

loop add

jmp start 无条件跳转至start code ends

end start

十、实验总结

通过该实验,掌握了8255A的编程原理,学会了用汇编语言来编写程序控制8255A进行流水灯的操作实验。

8255并口实验详解

xxxx大学计算机学院实验报告

一、实验内容与要求 1.1 实验内容 (1)8255方式0实验 从8255端口C输入数据,再从端口A输出 (2)8255方式1输出实验 编程实现每按一次单脉冲按钮产生一个正脉冲,使8255产生一次中断服务:依次输出01H,02H,04H,08H,10H,20H,40H,80H使L0~L7依次发光,中断8次结束。 (3)8255方式1输入实验 编程实现:每按一次单脉冲按钮产生一个正脉冲使8255产生一次中断请求,让CPU进行一次中断服务:读取逻辑电平开关预置的ASCII码,在屏幕上显示其对应的字符,中断8次结束。 1.2 实验要求 (1)8255方式0实验 实验预期效果:拨动逻辑开关,启动程序,开关打开的对应灯可以亮起。改变开关的状态,灯的亮暗也随之改变。 (2)8255方式1输出实验 实验预期效果:按一次单脉冲按钮,L0亮起;以后每按一次,后面的灯依次会亮起。中断8次结束。 (3)8255方式1输入实验 实验预期效果:每按一次单脉冲按钮读取逻辑电平开关预置的ASCII码,在屏幕上显示其对应的字符,中断8次结束。 二、实验原理与硬件连线 2.1 实验原理 CPU通过指令将控制字写入8255A的控制端口设置它的工作方式。8255A有两个控制字:方式选择控制字和端口C置位/复位控制字,这两个控制字均写入同一个控制端口地址(端口选择

先A1A0=11) 8255A有3种工作方式:方式0——基本输入/输出方式;方式1——选通输入/输出方式;方式2——双向传输方式。方向选择控制字用于设置各端口的工作方式。 方式0称为基本输入/输出方式。该方式下,端口A、端口B、端口C的高4位和端口C的低4位均可独立地设为输入或输出数据端口。在方式0时,8255A与CPU时间没有应答联络信号,可用于无条件传送或查询方式数据传送场合。采用查询方式传送时,可以将端口A、端口B 作为数据端口,用端口C存放外部设备状态信息,用于CPU查询。 方式1称为选通输入/输出方式。该方式下,端口A、端口B可作为数据传输口,而端口C 的一些引脚规定作为端口A、端口B的联络控制信号,有固定的搭配规定。在方式1时,CPU和8255A之间有应答联络信号,所以采用中断方式或程序查询方式传送数据。 当端口A作为方式1输入时,端口C的PC3、PC4、PC5作为端口A的联络控制信号。 当端口A作为方式1输出时,端口C的PC7、PC6、PC3作为端口A的联络控制信号。 状态字通过读端口C获得。需要强调,从端口C读出的状态字与端口C的外部引脚的状态无关。 2.2 硬件连线 (1)8255方式0实验1 连接实验电路,8255端口C接逻辑电平开关K0~K7,端口A接LED显示电路 L0~L7 U18 8255 K0 K1 K5 L0 L1 L2 L3 L4 L5 L6 L7图2-2-1 实验一接线

真空镀膜实验报告

真空镀膜实验报告 摘要:本实验在获得真空环境的基础上,在真空室内进行镀膜。在实验中需要复习获得真空的步骤和注意事项,学会使用蒸发镀膜设备,和在玻璃上镀锡的操作方法。 关键词:真空镀膜 蒸发镀膜 引言: 真空镀膜又叫物理气相沉积,它是利用某种物理过程,如物质的热蒸发或在受到粒子束轰击时物质表面原子的溅射等现象,实现物质从源物质到薄膜的可控的原子转移过程。物理气相沉积技术中最为基础的两种方法就是蒸发法和溅射法。在薄膜沉积技术发展的最初阶段,由于蒸发法相对于溅射法具有一些明显的优势,包括较高的沉积速度,相对较高的真空度以及由此导致的较高的薄膜质量等,因此蒸发法受到了相对教大程度的重视。但另一方面,溅射法也有自己的优势,包括在沉积多元合金薄膜时化学成分容易控制,沉积层对衬底的附着力较好等。 真空镀膜的操作是将固体材料置于真空室内,在真空条件下,将固体材料加热蒸发,蒸发出来的原子或分子能自由地弥布到容器的器壁上。当把一些加工好的基板材料放在其中时,蒸发出来的原子或分子就会吸附在基板上逐渐形成一层薄膜。 正文: 一、实验原理 1、真空泵简介 (1)机械泵 机械泵通过不断改变泵内吸气空腔的容积,使被抽容器内气体的体积不断膨胀压缩从而获得真空,常用的是旋片式机械泵。它主要由定子、转子、旋片、弹簧等组成。机械泵的极限真空度为Pa 1 10 ,它主要由机械泵油的饱和蒸汽压和泵的机械加工精度决定的。当达到极限真空度时,抽气和漏气的速度相等,真空度不再变化。如果将两个机械泵组合起来,可以将真空度提高一个数量级。

旋片式机械泵使用注意: 1) 检查油槽中油液面的高度是否符合规定,机械泵转子的转动方向与规定方向是否一 致; 2) 机械泵停止工作时,要立即使进气口与大气相通,防止回油现象。这步由机械泵上 的电磁阀自动进行。 3) 机械泵不宜工作过长,否则会影响使用寿命。 (2)扩散泵 扩散泵利用气体扩散现象来抽气的。利用高速定向喷射的油分子在喷嘴出口处的蒸汽流中形成一低压,将扩散进入蒸汽流的气体分子带至泵口被前级泵抽走。 扩散泵使用注意: 启动压强低于1Pa ,保证绝大部分的气体分子以定向扩散形式进入高速蒸汽流,高压会导致一些副反应的发生,影响真空的形成。扩散泵一般能达到-5到-7的压强数量级。 2、真空的测量 测量真空的装置称为真空计,常用的油热耦真空计和电离真空计。 热耦真空计可以测量0.1~10Pa 的压强,利用低压下气体的热传导与压强成正比的原理;电离真空计利用电子与气体分子碰撞产生电离电流随压强变化的原理制成,可测量范围是10的-1~-6数量级。注意,电离真空计必须在0.1Pa 一下使用,否则会损坏装置。 3、蒸发镀膜 蒸发镀膜是在真空中通过电流加热,电子束轰击加热和激光加热等方法,使薄膜材料蒸

电子科大电子技术实验报告

电子科技大学 电子技术实验报告 学生姓名:班级学号:考核成绩:实验地点:仿真指导教师:实验时间: 实验报告内容:1、实验名称、目的、原理及方案2、经过整理的实验数据、曲线3、对实验结果的分析、讨论以及得出的结论4、对指定问题的回答 实验报告要求:书写清楚、文字简洁、图表工整,并附原始记录,按时交任课老师评阅实验名称:负反馈放大电路的设计、测试与调试

一、实验目的 1、掌握负反馈电路的设计原理,各性能指标的测试原理。 2、加深理解负反馈对电路性能指标的影响。 3、掌握用正弦测试方法对负反馈放大器性能的测量。 二、实验原理 1、负反馈放大器 所谓的反馈放大器就是将放大器的输出信号送入一个称为反馈网络的附加电路后在放大器的输入端产生反馈信号,该反馈信号与放大器原来的输入信号共同控制放大器的输入,这样就构成了反馈放大器。单环的理想反馈模型如下图所示,它是由理想基本放大器和理想反馈网络再加一个求和环节构成。 反馈信号是放大器的输入减弱成为负反馈,反馈信号使放大器的输入增强成为正反馈。四种反馈类型分别为:电压取样电压求和负反馈,电压取样电流求和负反馈,电流取样电压求和负反馈,电流取样电流求和负反馈。 2、实验电路

实验电路如下图所示,可以判断其反馈类型累电压取样电压求和负反馈。 3.电压取样电压求和负反馈对放大器性能的影响 引入负反馈会使放大器的增益降低。负反馈虽然牺牲了放大器的放大倍数,但它改善了放大器的其他性能指标,对电压串联负反馈有以下指标的改善。 可以扩展闭环增益的通频带 放大电路中存在耦合电容和旁路电容以及有源器件内部的极间电容,使得放大器存在有效放大信号的上下限频率。负反馈能降低和提高,从而扩张通频带。 电压求和负反馈使输入电阻增大 当 v一定,电压求和负反馈使净输入电压减小,从而使输入电流 s

单片机实验报告

院系:计算机科学学院专业:智能科学与技术年级: 2012 学号:2012213865 姓名:冉靖 指导教师:王文涛 2014年 6月1日

一. 以下是端口的各个寄存器的使用方式: 1.方向寄存器:PxDIR:Bit=1,输出模式;Bit=0,输入模式。 2.输入寄存器:PxIN,Bit=1,输入高电平;Bit=0,输入低电平。 3.输出寄存器:PxOUT,Bit=1,输出高电平;Bit=0,输出低电平。 4.上下拉电阻使能寄存器:PxREN,Bit=1,使能;Bit=0,禁用。 5.功能选择寄存器:PxSEL,Bit=0,选择为I/O端口;Bit=1,选择为外设功能。6.驱动强度寄存器:PxDS,Bit=0,低驱动强度;Bit=1,高驱动强度。 7.中断使能寄存器:PxIE,Bit=1,允许中断;Bit=0,禁止中断。 8.中断触发沿寄存器:PxIES,Bit=1,下降沿置位,Bit=0:上升沿置位。 9.中断标志寄存器:PxIFG,Bit=0:没有中断请求;Bit=1:有中断请求。 二.实验相关电路图: 1 MSP430F6638 P4 口功能框图: 主板上右下角S1~S5按键与MSP430F6638 P4.0~P4.4口连接: 2按键模块原理图: 我们需要设置两个相关的寄存器:P4OUT和P4DIR。其中P4DIR为方向寄存器,P4OUT 为数据输出寄存器。 主板上右下角LED1~LED5指示灯与MSP430F6638 P4.5~P4.7、P5.7、P8.0连接:

3 LED指示灯模块原理图: P4IN和P4OUT分别是输入数据和输出数据寄存器,PDIR为方向寄存器,P4REN 为使能寄存器: #define P4IN (PBIN_H) /* Port 4 Input */ #define P4OUT (PBOUT_H) /* Port 4 Output */ #define P4DIR(PBDIR_H) /* Port 4 Direction */ #define P4REN (PBREN_H) /* Port 4 Resistor Enable */ 三实验分析 1 编程思路: 关闭看门狗定时器后,对P4.0 的输出方式、输出模式和使能方式初始化,然后进行查询判断,最后对P4.0 的电平高低分别作处理来控制LED 灯。 程序流程图: 2 关键代码分析: #include void main(void) { WDTCTL = WDTPW + WDTHOLD; // 关闭看门狗 P4DIR |= BIT5; // 设置4.5口为输出模式 P4OUT |= BIT0; // 选中P4.0为输出方式 P4REN |= BIT0; // P4.0使能 while (1) // Test P1.4 { if (P4IN & BIT0) //如果P4.0为1则执行,这是查询方式按下去后是低,否则为高

真空镀膜试验

真空镀膜实验 一、 实验目的 真空镀膜技术广泛地应用在现代工业和科学技术中,光学仪器的反射镜,增透镜,激光器谐振腔的高反射膜,计算机上存储和记忆用的磁性薄膜,以及材料表面的超硬薄膜。此外在电子学、半导体等其它各尖端学科也都采用了真空技术。 本实验的目的是学习真空蒸发镀膜技术。通过本门实验,要求学生掌握如下几点:①较系统了解真空镀膜仪器的结构;②了解真空系统各组件的功能;③了解石英晶体振荡器测厚原理;④掌握真空蒸镀的基本原理;⑤了解真空镀膜仪器的基本操作。 二、预习要求 要求学生在实验之前对真空系统有一定了解,可以通过以下几本相关书籍获得相关信息。《薄膜材料制备原理、技术及应用》—— 唐伟忠著,冶金工艺出版社出版社;《薄膜物理与技术》—— 杨邦朝,王文生编著,电子科学出版社;《薄膜技术》—— 王力衡,清华大学出版社;《薄膜技术》—— 顾培夫,浙江大学出版社;《真空技术物理基础》—— 张树林,东北工学院出版社;《真空技术》—— 戴荣道,电子工业出版社。 三、实验所需仪器设备 实验过程需要的主要设备为DMDE 450型光学多层镀膜机。 真空镀膜机:本实验使用DMDE-450光学多层镀膜机,其装置结构如图3所示。它主要由真空系统、蒸发设备及膜厚监控系统组成。真空系统由各种真空器件组成,主要包括:真空室;真空泵(机械泵、和分子泵);真空导管;各种真空阀门和测量真空度的真空计等。高真空阀门为碟式,机械泵与分子泵的连通阀门为三同式,将阀门拉出时,机械泵可以直接对镀膜室抽气,推入时机械泵与分子泵连通,同时也切断了机械泵与镀膜室的连接。 蒸发系统由真空钟罩,蒸发电极(共有二对), 活动挡板,蒸发源,底盘等组成。蒸发源安装在电 图3镀膜机装置图 1电离管 2高真空碟阀 3分子泵 4机械泵 5低真空磁力阀 6储气桶 7低真空三同阀 8磁力充气阀 9热偶规 10钟罩 11针型阀

单片机实训心得体会

单片机实训心得体会 篇一: 通过今次单片机实训,使我对单片机的认识有了更深刻的理解。系统以51单片机为核心部件,利用汇编软件编程,通过键盘控制和数码管显示实现了基本时钟显示功能、时间调节功能,能实现本设计题目的基本要求和发挥部分。 由于时间有限和本身知识水平的限制,本系统还存在一些不够完善的地方,要作为实际应用还有一些具体细节问题需要解决。例如:不能实现只用两个按键来控制时钟时间,还不能实现闹钟等扩展功能。 踉踉跄跄地忙碌了两周,我的时钟程序终于编译成功。当看着自己的程序,自己成天相伴的系统能够健康的运行,真是莫大的幸福和欣慰。我相信其中的酸甜苦辣最终都会化为甜美的甘泉。 但在这次实训中同时使我对汇编语言有了更深的认识。当我第一次接触汇编语言就感觉很难,特别是今次实训要用到汇编语言,尽管困难重重,可我们还是克服了。这次的实训使培养了我们严肃认真的做事作风,增强了我们之间的团队合作能力,使我们认识到了团队合作精神的重要性。 这次实训的经历也会使我终身受益,我感受到这次实训是要真真正正用心去做的一件事情,是真正的自己学习的过

程和研究的过程,没有学习就不可能有研究的能力,没有自己的研究,就不会有所突破。希望这次的经历能让我在以后学习中激励我继续进步。 篇二:单片机实验心得 通过这次单片机实习,我不仅加深了对单片机理论的理解,将理论很好地应用到实际当中去,而且我还学会了如何去培养我们的创新精神,从而不断地战胜自己,超越自己。创新可以是在原有的基础上进行改进,使之功能不断完善,成为真己的东西。 作为一名自动化专业的快大三学生,我觉得做单片机实习是十分必要的。在已度过的大学时间里,我们大多数接触的是专业课。我们在课堂上掌握的仅仅是专业课的理论知识,如何去锻炼我们的实践能力,如何把我们所学的专业基础课理论知识运用到实践中去,我想做类似实习就为我们提供了良好的实践平台 学习单片机没有捷径,不能指望两三天就学会,要坚持不懈,重在积累单片机是一门应用性和实践性很强的学科,要多动手,多做实验。 (4)要学会参考别人的程序,减少自己琢磨的时间,迅速提高自己的编程能力。 (5)碰到问题可以借助网络来搜寻答案和对自己有帮助的问题,一定会有所收获。

实验6.1_8255并行接口与交通灯控制

8255端口地址: 控制寄存器地址28BH A口的地址288H B口的地址289H C口的地址28AH 实验程序: DATA SEGMENT BUF1 EQU 00100100B ;南北绿灯亮东西红灯亮BUF2 EQU 01000100B ;南北黄灯亮东西红灯亮BUF3 EQU 00000100B ;南北灯灭东西红灯亮BUF4 EQU 10000001B ;南北红灯亮东西绿灯亮BUF5 EQU 10000010B ;南北红灯亮东西黄灯亮BUF6 EQU 10000000B ;南北红灯亮东西灯灭DATA ENDS CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE, DS:DATA START: MOV AX,DATA MOV DS,AX MOV AL,80H MOV DX,28BH OUT AX,AL ALL: MOV AL,BUF1 MOV DX,28AH OUT DX,AL CALL DELAYL MOV CX,5 YEL1: MOV AL,BUF2 MOV DX,28AH OUT DX,AL CALL DELAYS MOV AL,BUF3 MOV DX,28AH OUT DX,AL CALL DELAYS LOOP YEL1 MOV AL,BUF4 MOV DX,28AH OUT DX,AL CALL DELAYL MOV CX,4 YEL21: MOV AL,BUF5 MOV DX,28AH

OUT DX,AL CALL DELAYS MOV AL,BUF6 MOV DX,28AH OUT DX,AL CALL DELAYS LOOP YEL2 JMP ALL MOV AH,4CH INT 21H DELAYL PROC NEAR ;长延时 PUSH CX PUSH DI Y1:MOV CX,2000H X1:MOV DI,2000H DEC DI JNE X1 LOOP Y1 POP DI POP CX RET DELAYL ENDP DELAYS PROC NEAR ;短延时 PUSH CX PUSH DI Y2:MOV CX,500H X2:MOV DI,1000H DEC DI JNE X2 LOOP Y2 POP DI POP CX RET DELAYS ENDP CODE ENDS END START 桂林电子科技大学信息与通信学院

材料的低温物性与测试技术

材料的低温物性与测试技术 一、电阻测量方案 1.实验装置及基本测量线路(采用四引线方法): 2.实验步骤: 样处理与电极制作:将试样切成长方形的薄条,上、下两面磨平。在每个样品的一面制作四根电极引线,电极的制作可采用真空镀膜(银膜或铝膜)、铟压或银胶(注:这里采用银胶法)。若需要计算样品的 真空室 卷烟纸 和电绝缘) 实验装置及基本测量线路图

电阻率,需记录样品的几何参数。 安装样品:将接有引线的试样的另一面涂上少量低温胶,通过卷烟纸(另一面也涂有少量低温胶)贴到恒温块上。同时可安装三个样品。通过卷烟纸和低温胶可保证试样与恒温块有良好的热接触和电绝缘。然后将电极引线与测量引线一一焊接,并记录好引线的标号。 建立测试线路:熟悉仪器,检查所有接线,包括每一个样品的电流、电压引线,温度计引线等,确认哪些该通,哪些不该通,哪些有阻值等等。 在室温下进行测量,确认整个恒温器系统和测试线路能够正常运行。将恒温室密封,抽真空,再进行一次测量。 降温与升温:启动制冷机,可以在降温过程中观察现象。关掉制冷机开关,温度升高至室温,此过程进行数据测量,并记录下来。电阻数值可直接由台式万用表读出。 实验数据处理:温度数值可由标准电阻阻值确定。由样品电阻和温度数据给出R-T实验曲线。 结果讨论:结合实验结果讨论半导体、金属和合金材料的电阻率与温度的关系有何不同,并说明导致不同的原因(实验报告:每组一份!)。 二、样品电极制备 1.样品清洗 1)将样品放如入丙酮溶液的玻璃容器内进行超声清洗5分钟; 2)再将样品放入盛有HF溶液的塑料容器内中浸泡10分钟,取出后

用去离子水清洗,烘干后待用。 2.电极制备 1)将香少许香蕉水(或丙酮)倒入放有导电银胶的玻璃容器内,使干燥的导电银胶溶解成糊状以待用; 2)取四根铜丝,每根铜丝两头用小刀或砂纸去掉漆包漆; 3)用牙签蘸少许导电银胶将铜丝固定在样品上,烘干后样品电极即制备完成。 4)最后将每根铜丝电极的另一头焊接在相应的金属电极上,用万用表测量电极连接情况。 实验数据处理和分析: 由实验的铑铁温度计的电阻与温度的关系查表得到各点温度值并与待测的金属、半导体和合金的电阻做出R-T关系曲线,实验数据和作图附在最后,由图像观察到金属的电阻随温度的下降而下降,并呈现良好的线性关系,而半导体与合金的电阻随温度的下降而上升。 由于半导体和合金电阻率主要由载流子浓度决定,而载流子浓度随温度上升而增加,故电阻率减小。 金属电阻主要由自由电子决定,温度升高自由电子数目增加,故电阻率增加 实验误差的分析: 1.有于降温速度过快而造成测量的不准确,这应该是降温曲线和升温曲线不完全重合的主要原因 2.测量这几个电阻有先后顺序,期间温度发生了变化

电子技术基础实验报告

电子技术实验报告学号: 2220 姓名:刘娟 专业:教育技术学 实验三单级交流放大器(二) 一、实验目的 1. 深入理解放大器的工作原理。 2. 学习测量输入电阻、输出电阻及最大不失真输出电压幅值的方法。 3. 观察电路参数对失真的影响. 4. 学习毫伏表、示波器及信号发生器的使用方法。 二. 实验设备: — 1、实验台 2、示波器 3、数字万用表 三、预习要求 1、熟悉单管放大电路。 2、了解饱和失真、截止失真和固有失真的形成及波形。 3、掌握消除失真方法。 四、实验内容及步骤 实验前校准示波器,检查信号源。 按图3-1接线。 图3-1 1、测量电压参数,计算输入电阻和输出电阻。 调整RP2,使V C=Ec/2(取6~7伏),测试V B、V E、V b1的值,填入表3-1中。 ~ 表3-1 … 输入端接入f=1KHz、V i=20mV 的正弦信号。 分别测出电阻R1两端对地信 号电压V i 及V i ′按下式计算 出输入电阻R i : 测出负载电阻R L开路时的输出电压V∞,和接入R L(2K)时的输出电压V0 , 然后按下 式计算出输出电阻R ; 将测量数据及实验结果填入表3-2中。 V i (mV)Vi′(mV)R i ()V ∞ (V)V (V)R () 调整 R P2测量 V C (V)Ve(V)Vb(V)Vb1(V)

[ 输入信号不变,用示波器观察正常工作时输出电压V o 的波形并描画下来。 逐渐减小R P2的阻值,观察输出电压的变化,在输出电压波形出现明显失真时,把失真的波形描画下来,并说明是哪种失真。( 如果R P2=0Ω后,仍不出现失真,可以加大输入信号V i ,或将R b1由100K Ω改为10K Ω,直到出现明显失真波形。) 逐渐增大R P2的阻值,观察输出电压的变化,在输出电压波形出现明显失真时,把失真波形描画下来,并说明是哪种失真。如果R P2=1M 后,仍不出现失真,可以加大输入信号V i ,直到出现明显失真波形。 表 3-3 调节R P2使 输出电压波形不失 真且幅值 为最大(这 时的电压 放大倍数 最大), 测量此时 的静态工作点V c 、V B 、V b1和V O 。 表 3-4 ` 五、实验报告 1、分析输 入电阻 和输出电阻的测试方法。 按照电路图连接好电路后,调节RP2,使Vc 的值在6-7V 之间,此时使用万用表。接入输入信号1khz 20mv 后,用示波器测试Vi 与Vi ’,记录数据。用公式计算出输入电阻的值。在接入负载RL 和不接入负载时分别用示波器测试Vo 的值,记录数据,用公式计算出输出电阻的值。 2、讨论静态工作点对放大器输出波形的影响。 静态工作点过低,波形会出现截止失真,即负半轴出现失真;静态工作点过高,波形会出现饱和失真,即正半轴出现失真。 实验四 负反馈放大电路 一、 实验目的 1、熟悉负反馈放大电路性能指标的测试方法。 2、通过实验加深理解负反馈对放大电路性能的影响。 二、实验设备 、 阻值 波 形 何种失真 正常 不失真 R P2减小 饱和失真 R P2增大 ? 截止失真 V b1 (V) V C (V) V B (V) V O (V)

工作报告之大学单片机实验报告

大学单片机实验报告 【篇一:单片机实验报告】 单片机实验报告 姓名:班级:学号:任课教师:上课地点: 实验一流水灯实验 一、实验目的及要求 1、闪烁的led; 2、从左到右的流水灯; 3、8只led左右来回点亮; 4、led模拟交通灯。 要求1:led按设定的时间间隔闪烁 要求2:接在p0口的8个led从左到右循环依次点亮,产生走马灯效果要求3:程序利用循环移位函数_crol_和_cror_形成来回滚动的效果; 二、实验原理电路图1、 电路图2、 三、源程序 要求1: #includereg51.h #define uchar unsigned char #define uint unsigned int sbit led=p1^0; //延时 void delayms(uint x) { uchar i; while(x--) {for(i=0;i120;i++); } } //主程序 void main() { while(1) {led=~led;delayms(150); } } 要求2: #include reg51.h #include intrins.h //包含程序中的_cror_(p0,y) #define uchar unsigned char #define uint unsigned int uchar led; void delay(unsigned int i) { uint j; uchar k; for(j=i;j0;j-- )for(k=125;k0;k--); } void main() { led=0x7f;//只亮第一个 delay(1000); while(1) { p0=led; delay(500); led=_cror_(led,1);//p0逐步右移一位。} } 要求3: #include reg51.h

实验二 8255A并行接口实验

实验二 8255A并行接口实验(一) 一实验目的 1、掌握通过8255A并行口传输数据控制LED发光二极管的亮灭;进一 步熟悉软件编程环境。 二实验设备 1、微机系统一套; 2、TPC-3型微机接口实验系统一台; 3、导线若干。 三实验内容 1、基础部分:用8255A的A端口控制8个LED发光二极管的亮和灭(端口 输出为1则亮,输出为0则灭)。其中L0―L2为东西方向,L5―L7为南北 方向、L3-L4不用,PA口与相应的发光二极管驱动信号输入端相连,输入端 为1时发光二极管亮。接线如图4-5所示。 图4-5 编制程序,通过8255A控制发光二极管,以模拟交通灯的管理。 2.提高部分:利用开关K0,K1的控制,以模拟几种交通灯的管理,具体要求 为: K0K1灯控制 00正常运行 01南北路口绿灯亮、东西路口红灯亮 10东西路口绿灯亮、南北路口红灯亮 3.如果模拟车流量大小来来决定红绿灯交通时间,请问你有什么解决办法。如果 能解决请加以解释并编程调试。

四、编程提示: 1.要完成本实验,首先必须了解交通灯的亮灭规律。设有一个十字路口,南北、东西方向初始态为四个路口的红灯全亮。之后,南北路口的绿灯亮,东西 路口的红灯亮,南北路口方向通车。延迟一段时间后,南北路口的绿灯熄灭, 而南北路口的黄灯开始闪烁。闪烁8次后,南北路口的红灯亮,同时东西路口 的绿灯亮,东西路口方向开始通车。延迟一段时间后,东西路口的绿灯熄灭, 而黄灯开始闪烁。闪烁苦干次后,再切换到南北路口方向。之后,重复上述过 程。 2.程序中应设定好8255A的工作模式,使三个端口均工作于方式0,并处于输出态 3.8255A的A端口地址为:288H B端口地址为:289H C端口地址为:28AH 控制口地址为:28BH 五、实验要求: 1.做好实验预习和准备工作,并写出预习报告(要求写出实验的流程图及程序),熟练掌握8255A编程原理及编程方法。 2.实验操作的最低要求是要做出实验内容的基础部分,然后根据实际操作能力争取做出实验内容的提高部分及回答实验内容的第三部分问题。 3.写出实验报告,内容为: 1)实验目的; 2)实验设备; 3)实验中遇到的问题及解决问题的分析思路与办法,问题定位及问题的性质; 4)对本实验的建议及有何创新。 ;这是自动生成的代码模板 STACKS SEGMENT STACK ;堆栈段 DW 128 DUP(?) ;注意这里只有128个字节 STACKS ENDS DATAS SEGMENT ;数据段 ;请在这里定义您的数据 DATAS ENDS CODES SEGMENT ;代码段 ASSUME CS:CODES,DS:DATAS START: MOV AX,DATAS ;初始化 MOV DS,AX

真空镀膜 2

得分教师签名批改日期深圳大学实验报告 课程名称:近代物理实验 实验名称:真空镀膜 学院:物理科学与技术学院 组号指导教师: 报告人:学号: 实验地点实验时间 实验报告提交时间:

一.实验目的 1.、直接地接触薄膜材料,对薄膜材料有一个直观的感性认识; 2.了解和学会直流磁控溅射制备金属薄膜的原理和方法; 3.了解清洗基片和测量薄膜膜厚的方法。 二.实验仪器 直流磁控溅射镀膜机;气体质量流量计;数显复合真空计;超声波清洗器;石英晶体振荡膜厚监控仪;氩气;K9玻璃基片等。 三.实验原理 一、真空的获得和测量 1.真空的获得 各级真空,均可通过各种真空泵来获得.不同的真空泵,都不可能在整个真空范围内工作,有些泵可直接从大气压下开始工作,但极限真空度都不高,如机械泵和吸附泵,通常这类泵用作前级泵;而有些泵则只能在一定的预备真空条件下才能开始正常工作,如扩散泵、离子泵等,这类泵需要前级泵配合,可作为高真空泵.一般利用分子泵-机械泵组来获得10-2Pa以上的高真空。本实验真空系统的主泵选分子/增压泵,前级泵选用直联高速旋片式机械泵。 (1)机械泵: 获得低真空常用的方法是采用机械泵.机械泵是运用机械方法不断地改变泵内吸气空腔的容积,使被抽容器内气体的体积不断膨胀从而获得真空的泵.机械泵的种类很多,目前常用的是旋片式机械泵.机械泵可以从大气压开始工作,常被用来获得高真空泵的前缀真空和高真空系统的预备真空。通常,机械泵的极限压强为1×10-1 Pa. (2) 分子/增压泵:最早用来获得高真空的泵是扩散泵,目前依然广泛使用. 2..真空的测量 测量真空度的装置称为真空计或真空规.由于被测量的真空度范围很广,真空计的种类很多.根据气体产生的压强、气体的粘滞性、动量转换率、热导率、电离等原理制成了各种真空计.本实验选用数显复合真空计来测量镀膜室内的真空度,测量范围:1×105Pa~1×10-4Pa。 二、基片的清洗方法 基片上的污染物会影响在它上面形成的薄膜的性质。对于玻璃基片,清洗的方法有若干种:1.用化学溶剂等清洗的方法 如果玻璃表面的污染物质是一般的油类时,也经常用化学溶剂来把油脂溶解掉。最标准的化学溶剂是罗铬酸和硫酸混合液(把重铬酸溶解于浓硫酸使之达到饱和的溶液在室温用几个小时,若是接近沸腾状态的溶液只要用几分钟,就能把严重的污染清洗干净,但是,一般因玻璃种类而异,大多数光学玻璃手酸或碱侵蚀时,在玻璃表面就会产生由二氧化硅骨架形成的所谓腐蚀斑痕。而且由于这种混合液含有铬离子,故废液的处理很麻烦,因此,最近,大多采用处理半导体的强碱溶液。在玻璃污染不是很严重的时候,依次浸入丙酮、酒精、流水的方法也是有效的。使用化学溶剂时,最后玻璃要用流水进行充分的冲洗,并且随后从沸水或者沸腾的酒精中取出来,迅速进行干燥,等等。这些都是有效的措施。 2、超声波清洗 若使超声波在液体中传播,则在液体中就会产生空穴又产生又消失的现象(气穴效应),这是空穴内的压力,瞬时局部地升高,如果作用到放在液体中的固体表面,就产生局部升温和局部高速流动,结果就将固体表面洗净。这就是超声波清洗的原理。该方法对于除去油脂

电子技术基础实验报告要点

电子技术实验报告 学号: 222014321092015 姓名:刘娟 专业:教育技术学

实验三单级交流放大器(二) 一、实验目的 1. 深入理解放大器的工作原理。 2. 学习测量输入电阻、输出电阻及最大不失真输出电压幅值的方法。 3. 观察电路参数对失真的影响. 4. 学习毫伏表、示波器及信号发生器的使用方法。 二. 实验设备: 1、实验台 2、示波器 3、数字万用表 三、预习要求 1、熟悉单管放大电路。 2、了解饱和失真、截止失真和固有失真的形成及波形。 3、掌握消除失真方法。 四、实验内容及步骤 ●实验前校准示波器,检查信号源。 ●按图3-1接线。 图3-1 1、测量电压参数,计算输入电阻和输出电阻。 ●调整RP2,使V C=Ec/2(取6~7伏),测试V B、V E、V b1的值,填入表3-1中。 表3-1 Array ●输入端接入f=1KHz、V i=20mV的正弦信号。 ●分别测出电阻R1两端对地信号电压V i及V i′按下式计算出输入电阻R i : ●测出负载电阻R L开路时的输出电压V∞,和接入R L(2K)时的输出电压V0 , 然后按下式计算出输 出电阻R0;

将测量数据及实验结果填入表3-2中。 2、观察静态工作点对放大器输出波形的影响,将观察结果分别填入表3-3,3-4中。 ●输入信号不变,用示波器观察正常工作时输出电压V o的波形并描画下来。 ●逐渐减小R P2的阻值,观察输出电压的变化,在输出电压波形出现明显失真时,把失真的波形描 画下来,并说明是哪种失真。( 如果R P2=0Ω后,仍不出现失真,可以加大输入信号V i,或将R b1由100KΩ改为10KΩ,直到出现明显失真波形。) ●逐渐增大R P2的阻值,观察输出电压的变化,在输出电压波形出现明显失真时,把失真波形描画 下来,并说明是哪种失真。如果R P2=1M后,仍不出现失真,可以加大输入信号V i,直到出现明显失真波形。 表 3-3 ●调节R P2使输出电压波形不失真且幅值为最大(这时的电压放大倍数最大),测量此时的静态工 作点V c、V B、V b1和V O 。 表 3-4 五、实验报告 1、分析输入电阻和输出电阻的测试方法。 按照电路图连接好电路后,调节RP2,使Vc的值在6-7V之间,此时使用万用表。接入输入信号1khz 20mv后,用示波器测试Vi与Vi’,记录数据。用公式计算出输入电阻的值。在接入负载RL和不接入负载时分别用示波器测试Vo的值,记录数据,用公式计算出输出电阻的值。 2、讨论静态工作点对放大器输出波形的影响。 静态工作点过低,波形会出现截止失真,即负半轴出现失真;静态工

8255并行口实验实验报告

8255并行口实验实验报告 作者: 一、实验目的 掌握8255A的编程原理。 二、实验设备 CPU挂箱、8086CPU模块。 三、实验内容 8255A的A口作为输入口,与逻辑电平开关相连。8255A的B口作为输出口,与发光二极管相连。编写程序,使得逻辑电平开关的变化在发光二极管上显示出来。 四、实验原理介绍 本实验用到两部分电路:开关量输入输出电路和8255可编程并口电路。 五、实验步骤 1、实验接线 CS0?CS8255; PA0~PA7?平推开关的输出K1~K8; PB0~PB7?发光二极管的输入LED1~LED8。 2、编程并全速或单步运行。 3、全速运行时拨动开关,观察发光二极管的变化。当开关某位置于L 时,对应的发光二极管点亮,置于H时熄灭。 六、实验提示 实验也是如此。实验中,8255A工作于基本8255A是比较常用的一种并行接口芯片,其特点在许多教科书中均有介绍。8255A有三个8位的输入输出端口,通常将A端口作为输入用,B端口作为输出用,C端口作为辅助控制用,本输入输出方式(方式0)。 七、实验结果 程序全速运行后,逻辑电平开关的状态改变应能在LED上显示出来。例如:K2置于L位置,则对应的LED2应该点亮。 八、程序框图(实验程序名:t8255.asm)

开始 设置8255工作方式 读A口 输出至B口 结束 九、程序源代码清单: assume cs:code code segment public org 100h start: mov dx,04a6h ;控制寄存器地址 mov ax,90h ;设 置为A口输入,B口输出 out dx,ax mov al,0feh start1:mov dx,04a2h 芯片的 入口地址 out dx,al mov bl,al mov dx ,04a0h in al,dx test ax,01h jz strat2 mov al ,bl rol al,1 流水灯循环左移 mov bl,al mov cx,3000h 设置cx为灯闪烁时间对应的循环次数 add: loop add jmp start1 无条件跳转至start1 strat2:mov al,bl mov dx,04a2h out dx,al ror al,1 流水灯循环左移 mov bl, al mov cx,3000h add1: loop add jmp start 无条件跳转至start code ends end start 十、实验总结 通过该实验,掌握了8255A的编程原理,学会了用汇编语言来编写程序控制8255A进行流水灯的操作实验。

真空镀膜实验报告

近代物理实验报告 真空镀膜实验 学院 班级 姓名 学号 时间 2014年4月20日

真空镀膜实验实验报告 【摘要】: 真空镀膜也叫物理气相沉积(PVD:physics vaporous deposit),它是利用某种物理过程,如物质的热蒸发或在受到粒子束轰击时物质表面原子的溅射等现象,实现物质从源物质到薄膜的可控的原子转移过程。物理气相沉积技术中最为基础的两种方法就是蒸发法和溅射法。本实验中用到的是蒸发镀膜法来进行真空镀膜,从而了解真空镀膜的原理和操作。 【关键词】:真空镀膜、蒸发镀膜法 【引言】:真空镀膜也叫物理气相沉积(PVD:physics vaporous deposit),它是利用某种物理过程,如物质的热蒸发或在受到粒子束轰击时物质表面原子的溅射等现象,实现物质从源物质到薄膜的可控的原子转移过程。物理气相沉积技术中最为基础的两种方法就是蒸发法和溅射法。在薄膜沉积技术发展的最初阶段,由于蒸发法相对溅射法具有一些明显的优点,包括较高的沉积速度,相对较高的真空度以及由此导致的较高的薄膜质量等,因此蒸发法受到了相对较大程度的重视。但另一方面,溅射法也具有自己的一些优势,包括在沉积多元合金薄膜时化学成分容易控制,沉积层对衬底的附着力较好等。同时,现代技术对于合金薄膜材料的需求也促进了各种高速溅射方法以及高钝靶材,高钝气体制备技术的发展,这些都使得溅射法制备的薄膜质量得到了很大的改善。如今,由于气相中各组分能够充分的均匀混合,制备的材料组分均匀,易于掺杂,制备温度低,适合大尺寸薄膜的制备,并且能够在形状不规则的衬底上生长薄膜等优点,不仅上述两种物理气相沉积方法已经大量应用于各个技术领域之中,而且为了充分利用这两种方法各自的优点,还开发出了许多介于上述两种方法之间的新的薄膜沉积技术。 【正文】 一、实验原理 真空镀膜是在真空室中进行的(一般气压低于1.3×10-2Pa),当需要蒸发的材料(金属或电介质)加热到一定温度时,材料中分子或原子的热振动能量可增大到足以克服表面的束缚能,于是大量分子或原子从液态或直接从固态(如SiO2、ZnS)汽化。当蒸汽粒子遇到温度较低的工件表面时,就会在被镀工件表面沉积一层薄膜。

数字电子技术实验报告汇总

《数字电子技术》实验报告 实验序号:01 实验项目名称:门电路逻辑功能及测试 学号姓名专业、班级 实验地点物联网实验室指导教师时间2016.9.19 一、实验目的 1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。 2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。 3、学会检测基本门电路的方法。 二、实验仪器及材料 1、仪器设备:双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件: 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片 三、预习要求 1. 预习门电路相应的逻辑表达式。 2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。 四、实验内容及步骤 实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座,按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中

1.与非门电路逻辑功能的测试 (1)选用双四输入与非门74LS20一片,插入数字电路实验箱中对应的IC座,按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插口,输出端接电平显 图 1.1 示发光二极管D1~D4任意一个。 (2)将逻辑开关按表1.1的状态,分别测输出电压及逻辑状态。 表1.1 输入输出 1(k1) 2(k2) 4(k3) 5(k4) Y 电压值(v) H H H H 0 0 L H H H 1 1 L L H H 1 1 L L L H 1 1 L L L L 1 1 2. 异或门逻辑功能的测试

图 1.2 (1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.2接线,输入端1、2、4、5接逻辑开关(K1~K4),输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。 (2)将逻辑开关按表1.2的状态,将结果填入表中。 表1.2 输入输出 1(K1) 2(K2) 4(K35(K4) A B Y 电压(V) L H H H H L L L H H H H L L L H H L L L L L H H 1 1 1 1 1 1 1 1

哈尔滨工业大学单片机实验报告

H a r b i n I n s t i t u t e o f T e c h n o l o g y 单片机原理与应用 实验报告 学生姓名: 学号: 班级: 通信工程 专业: 任课教师: 所在单位: 电子与信息工程学院 月5年2013. 软件实验 在软件实验部分,通过实验程序的调试,使学生熟悉MCS-51的指令系统,了解程序设计过程,掌握汇编语言设计方法以及如何使用实验系统提供的调试手段来排除程序错误。 实验一清零程序 一、实验目的 掌握汇编语言设计和调试方法,熟悉键盘操作。 二、实验内容 把2000~20FFh的内容清零。 三、程序框图

四、实验过程 1、LED环境 ⑴在“P.”状态下按“0→EV/UN”,装载实验所需的代码程序。 ⑵在“P.”状态下键入0640,然后按“STEP”或“EXEC”进入实验项目的调试与运行。. 2、PC环境 在与PC联机状态下,编译、连接、下载PH51\se01.asm,用连续或单步方式运行程序。 3、运行结果检查 ⑴在单步运行时,每走一步可观察其运行结果。 ⑵在连续运行状态下,应按“暂停图标”或实验箱上的“暂停按钮”,使系统无条件退出用户运行状态返回监控,然后再用相应的命令键观察与检查2000~20FFH 中执行程序前后的内容变化。 五、实验结果及分析 实验前截图: 实验后截图:

: 实验源程序ORG 0640H SE01: MOV R0,#00H DPTR MOV DPTR,#2000H ;(2000H送(DPTR 送LOO1: MOVX @DPTR,A ;0INC DPTR ;DPTR+1 1 INC R0 ;字节数加个字节再清FF不到CJNE R0,#00H,LOO1 ; SJMP $ END 实验问题:2000H~20FFh中的内容是什么? 解答:实验运行之前,2000H~20FFh中的内容是随机分配的;在执行完清零程序之后, 2000H~20FFh中的内容都变为0. 实验二拆字程序 一、实验目的 掌握汇编语言设计和调试方法。 二、实验内容 把2000h的内容拆开,高位送2001h低位,低位送2002h低位,2001h、2002h高位清零,一般本程序用于把数据送显示缓冲区时用。 三、程序流程

8255A并行口实验

实验四 1

OUT DX,AL INC DX OUT DX,AL MOV CX,0800H LOOP $ NOT AL JMP P11 CODE ENDS END H1 8255A并行口实验㈡PA输入、PB输出 一、实验目的 ⑴掌握8255A和微机接口方法。 ⑵掌握8255A的工作方式和编程原理。 二、实验内容 用8255 PA作开关量输入口,PB作输出口。 编程提示 8255A芯片简介 8255A可编程外围接口芯片是Intel公司生产的通用并行接口芯片,它具有A、B、C三个并行接口,用+5V电源供电,能在以下三种方式下工作: 方式0:基本输入/输出方式 方式1:选通输入/输出方式 方式2:双向选通工作方式 使8255A端口A工作在方式0并作为输入口,读取K1—K8八个开关量,送PB 口显示。PB口工作在方式0作为输出口。 实验步骤 ⑴按实验电路图连接线路: ①8255A芯片A口的AP0~PA7依次和开关量输入插孔K1~K8相连。 ②8255A芯片B口的AB0~PB7依次接L1~L8 ⑵运行实验程序。 在系统处“P.”状态时,输入32E0,按EXEC键, 拨动K1~K8、L1~L8会跟着亮灭。 -----------------硬件实验二8255A并行口实验(2) PA输入,PB输出------------- CODE SEGMENT 2

ASSUME CS:CODE,DS:CODE,ES:CODE ORG 32E0H PA EQU 0FFD8H PB EQU 0FFD9H PC EQU 0FFDAH PCTL EQU 0FFDBH H2: MOV DX,PCTL MOV AL,90H OUT DX,AL P2: MOV DX,PA IN AL,DX INC DX OUT DX,AL JMP P2 CODE ENDS END H2 3

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