贝克线移动规律

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单偏光镜下的晶体光学性质

单偏光镜下的晶体光学性质

N≈1.60-1.55±的矿物(云母、斜长石类等),约等于20°-10°.
由上可知:不同的矿物,当其折射率值相差较大时,虽具有相同组数 的解理,但因其解理可见临界角不同,在薄片中见到解理缝的机会是不同 的。如辉石解理常见,而斜长石解理就不常见。 同种矿物不同方向的切面,解理缝的可见性、宽度、组数也是不同的。 如角闪石虽具两组解理,但在薄片中,有些切面上只见一组解理缝,另一 些切面上则看不见解理缝,只有垂直Z轴或近于垂直Z轴的切面才可见到两 组解理缝。因此,在镜下观察矿物的解理时,切不可以个别或少数切面判 断矿物解理的有无、完善程度、组数,必须多观察一些切面,进行综合判 断。 此外,薄片中矿物还可能存在一些裂缝,裂缝一般表现为弯曲或不规 则的细缝,有时也可以较细密而平直,但其缝与缝之间的距离往往不等。 观察时应结合所具有的矿物学、结晶学知识来区别它们。
色光的混合一互补原理
矿片对白光中各种色光选择性吸收后所呈 现的颜色,遵循色光的混合-互补原理。如图 42所示:红、绿、蓝三种色光称原色光。 红光+绿光+蓝光=(等比例混合)白光
红光+绿光=黄光;
红光+蓝光=品红光; 绿光+蓝光=青光(以等比例两两混合)。 若改变这三种原色混合的比例,则可产生 其它颜色的光。如红光多于绿光混合成橙光; 蓝光多于红光混合成紫光等。 当两种色光混合后呈现白色,则称这两种 色光为互补色光。红光与青光、绿光与品红光、 蓝光与黄光等都是互补色光。 因此,薄片中矿物呈现的特定颜 色,是透过矿片的色光按上述原则混 合的结果。例如矿物对白光中的黄光 全部吸收,对其它色光吸收程度相近, 矿物就呈现蓝色。
第四节
薄片中矿物的边缘、
贝克线、糙面及突起
一、矿物的边缘与贝克线
1、边缘 在两个折射率不同的物质接触处,可

单偏光镜下特征

单偏光镜下特征

单偏光镜下晶体光学性质
矿物的边缘及贝克线
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
• 当折射率不同的两种矿物接触时,光线折向折射 率较大的一方,沿矿物边界形成一条亮带,称为 “贝克线”。在光线相对较少的一方变暗,形成 圈闭的“暗带”,即为矿物的边缘。 • 折射率差值愈大,边缘愈粗、愈黑,贝克线愈宽、 愈亮。 • 薄片中矿物的边缘、贝克线的宽度和明显程度主 要取决于矿物与树胶折射率的差值。 • 橄榄石、萤石边缘和贝克线明显;石英、斜长石 和正长石不明显
贝克线的移动规律
提升镜桶,贝克线向折射率大 的介质一方移动
矿物的形态
• 形态与切面的关系 • 几种常见矿物的镜下形态:石英、长石、 云母、方解石、白云石、菱铁矿
糙面
• 糙面是光线通过矿片后产生的一种光学效应,是 人对矿片表面粗糙程度的一种错觉,并不代表矿 片真实的物理粗糙程度。 • 糙面产生的原因:矿片表面的显微凸凹不平,以 及矿物和其上的树胶的折射率之间的差异,导致 透过矿片的光线的聚敛和分散。矿物和树胶的折 射率差值愈大,糙面愈显著。 • 橄榄石、辉石、角闪石、锆石、磷灰石糙面显著。 石英、长石糙面不显著。
突起
• 突起是光线透过矿片后产生的一种光学现象,好 象有些矿物高高地漂浮于其他矿物之上。 • 突起的高低取决于矿物与树胶的折射率之间的差 值。差值愈大,边缘愈粗黑、糙面愈显著,突起 愈高。 • 突起可分为正突起和负突起。N矿>N胶,称为正突 起;N矿<N胶, 称为负突起。负突起同样给人向上 突出的感觉。 • 突起的等级:48页表3-4-1
解理和解理夹角的测定
• 解理纹的成因与矿物边缘的成因类似 • 解理纹可见性和组数与切面的关系:解 理纹的可见临界角 • 矿物与树胶折射率愈大的矿物,愈易见 到解理纹,并且解理纹愈明显 • 解理夹角的测定:选择同时垂直两组解 理面的切面

《晶体光学》重点内容

《晶体光学》重点内容

《晶体光学》重点内容1、可见光定义、波长范围及白光(名词解释)眼睛可以直接看见的一部分电磁波称为可见光,波长大致为390-770nm,白光是各种频率不同的单色光按一定比例组成的混合光。

2、自然光和偏振光(名词解释)直接自光源发出的光都是自然光,自然光是由无数个振动方向各异的光波复合而成,即在垂直自然光传播方向的平面内,各个方向上都有相等振幅的光波振动。

在垂直传播方向的某一固定方向上振动的光波,称为平面偏振光,简称偏光。

3、光的折射与全反射(名词解释)光从一种介质射入另一种介质时,传播方向发生改变的现象叫光的折射。

光从光密介质射向光疏介质,当入射角大于某一角度时,光在分界面上全部反射回原来介质的现象叫做全反射。

4、折射率定义、公式及折射率值的意义(名词解释)光在空气中的速度与在介质中的速度之比称为折射率。

5、均质体和非均质体定义及双折射(名词解释)高级晶族矿物晶体的光学性质各个方向相同,称为均质体矿物。

中级晶族和低级晶族矿物的光学性质随方向而异,称为非均质体矿物。

6、一轴晶和二轴晶定义及其特征(名词解释)非均质体矿物中,中级晶族矿物被称为一轴晶,低级晶族矿物被称为二轴晶,一轴晶平行高次对称轴方向光不发生双折射,二轴晶两个光轴在Ng、Np面内,且对称的位于Ng或Np两侧。

7、光率体定义(名词解释)光率体是表示光波在晶体中各个振动方向上折射率和双折射率变化规律的一个立体几何图形。

8、常光和非常光定义(名词解释)光在一轴晶中发生双折射,一束偏光的传播速度不随入射方向的改变而改变,即它的折射率为常数,这束偏光称为常光,以No表示。

另一束偏光的传播速度随入射方向的改变而改变,即它的折射率为变数,这一束偏光称为非常光,以Ne‘表示。

9、一轴晶光率体的光性符号及主要切面和特征Ne、No。

垂直光轴园切面(得儿它N=0)、平行光轴椭圆切面(德尔塔=Nmax)、斜交光轴椭圆切面。

10、二轴晶光率体主折射率、主轴、主轴面a。

晶体光学名词解释

晶体光学名词解释

晶体光学名词解释自然光:指直接由光源发出的光,光波振动方向在垂直于光波传播方向的平面内,作任何方向等振幅的振动偏光:自然光经过反射、折射、双折射或选择性吸收等作用后,可以转变为只在一个方向上振动的光波,称为偏振光或偏光均质体:具各向同性的介质、其光学性质不随方向发生变化非均质体:一切具有双折射特征的介质称为光性非均质体。

偏光化:当光波射入非均质体后,除特殊方向以外被分解成振动方向互相垂直的两种偏光的现象双折射:两种不同方向偏光的速度不等,导致折射率不等。

双折射率:两种偏光折射率的差值,简称双折率。

光轴:光波沿非均质体的特殊方向射入时不发生双折射,也不改变入射光的振动方向,这种特殊方向称为光轴(“OA”)。

光率体:是表示光波在晶体中传播时,光波的振动方向与相应折射率值之间关系的一种光性指示体。

光学法线:通过光率体中心而垂直光轴面的方向称光学法线,光学法线与主轴Nm轴一致。

光轴面法线方向永远是Nm。

光轴角:两个光轴之间所夹的锐角称光轴角,以符号“2V”表示。

光性方位:光率体主轴与晶体结晶轴之间的关系称为光性方位。

解理:是指矿物晶体在外力作用下,沿一定方向裂成光滑平面的性质。

解理缝:解理在薄片中表现为一些相互平行的细缝,称解理缝。

解理夹角:两组解理的夹角。

多色性与吸收性:非均质体矿物对光波的选择吸收和吸收总强度是随方向而异。

矿片颜色变化的现象称为多色性;颜色深浅变化的现象称为吸收性。

矿物的边缘:岩石薄片中,在两种折射率不同的物质接触处,可以看到一条比较黑暗的界限,称矿物的边缘贝克线:矿物边缘附近常见到一条比较明亮的细线,升降物台,亮线发生移动,这条亮线称贝克线。

贝克线移动规律:下降物台,贝克线向折射率大的方向移动;上升物台,贝克线向折射率小的方向移动。

糙面:在单偏光下观察不同矿物的表面时,可看到某些矿物表面显得较为粗糙呈麻点状,好象粗糙皮革,这种现象称为糙面突起:薄片中有的矿物表面显得高,有的显得低,这种表面似乎高低不平的现象称为矿物的突起闪突起:在单偏光镜下,转动物台,矿物突起高低发生显著变化的现象称为闪突起消光:矿片在正交下呈现黑暗的现象,称为消光现象全消光:旋转载物台一周(360 )过程中,矿片的消光现象不改变,故称为全消光消光位:非均质体除垂直光轴切面以外的任何方向切面,在正交偏光镜间处于消光时的位置,称为消光位。

《材料结构表征及应用》思考题

《材料结构表征及应用》思考题

第二章1、什么是贝克线?其移动规律如何?有什么作用?在两个折射率不同的物质接触处,可以看到比较黑暗的边缘,在这轮廓附近可以看到一条比较明亮的线细线,当升降镜筒时,亮线发生移动,这条明亮的细线称为贝克线。

贝克线的移动规律:提升镜筒,贝克线向折射率大的介质移动。

根据贝克线的移动,可以比较相邻两晶体折射率的相对大小。

2、单偏光镜和正交偏光镜有什么区别?单偏光下和正交偏光下分别可以观察哪些现象?单偏光(仅使用下偏光)下可以观察晶体的形态、结晶习性、解理、颜色以及突起、糙面、多色性和吸收性,比较晶体的折光率(贝克线移动),用油浸法测定折光率等,对矿物鉴定十分重要。

正交偏光镜:联合使用上、下偏光镜,且两偏光镜的振动面处于互相垂直位置。

可看到消光现象、球晶。

第三章1.电子透镜的分辨率受哪些条件的限制?透镜的分辨率主要取决于照明束波长儿其次还有透镜孔径半角和物方介质折射率。

2.透射电镜主要分为哪几部分?电子光线系统(镜筒)、电源系统、真空系统和操作控制系统。

3.透射电镜的成像原理是什么?透射电镜,通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源。

热阴极发射的电子,在阳极加速电压的作用下,高速穿过阳极孔,然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。

具有一定能量的电子束与样品发生作用,产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位向差别的多种信息。

透过样品的电子束强度,其取决于这些信息,经过物镜聚焦放大在其平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像,经过中间镜和投影镜进一步放大,在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像,还可将其记录在电子感光板或胶卷上。

4.请概述透射电镜的制样方法。

支持膜法,复型法、晶体薄膜法和超薄切片法。

高分子材料必要时还需染色、刻蚀。

5.扫描电镜的工作原理是什么?由三极电子枪发射出来的电子束,在加速电压作用下,经过2〜3个电子透镜聚焦后,在样品表面按顺序逐行进行扫描,激发样品产生各种物理信号,如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。

晶体光学与光性矿物学复习思考题

晶体光学与光性矿物学复习思考题

晶体光学与光性矿物学复习思考题《晶体光学与光性矿物学》复习思考题第一章晶体光学基础1.光波在均质体和非均质体中的传播特点有何不同?为什么?2.光波在非均质体中传播时,其传播速度及相应折射率值是取决于光波的传播方向?还是取决于光波的振动方向?3.光轴、一轴晶、二轴晶的概念?4.光率体的概念?一轴晶光率体、二轴晶光率体的形态特点?5.一轴晶光率体平行光轴的椭圆切面、垂直光轴的圆切面各有多少个?6.一轴晶光率体的光性正负是如何定义的?7.分别画出一轴晶正光性、负光性光率体的三种(垂直OA、平行OA、斜交OA)主要切面,指出各切面的双折射率,并注明每一个切面的光率体半径名称。

8.二轴晶光率体的光性正负是如何定义的?9.二轴晶光率体的主要光学要素有哪些?10.什么是光轴角(2V)、光轴面(AP)、光学法线?11.分别画出二轴晶正光性、负光性光率体垂直Bxa切面、垂直Bxo切面、垂直OA切面、平行AP切面、垂直AP的斜交OA切面,指出各切面的双折射率,并在各切面上标出光率体要素。

12.什么是光性方位?矿物的光性方位与所属晶系之间有何关系?指出中级晶族、斜方晶系、单斜晶系、三斜晶系矿物的光性方位。

第三章单偏光显微镜下的晶体光学性质1.正交偏光镜下可观察测定透明矿物的哪些光学性质?2.什么叫矿物的边缘、糙面?边缘的粗细和糙面的明显程度与哪些因素有关?为什么有的矿物(如橄榄石)边缘明显、糙面显著,而有的矿物(如石英)轮廓看不清楚、表明较为光滑?3.什么叫贝克线?贝克线的移动规律是什么?4.什么叫突起?薄片中矿物的突起高低取决于什么因素?为什么在偏光显微镜下同一薄片中的不同矿物颗粒给人一种突起高低不同的感觉?5.如何规定突起的正负?在薄片中怎样确定正突起和负突起?6.举例说明矿物突起划分为哪6个等级?7.什么是闪突起?哪些矿物具闪突起?具有闪突起的晶体是否无论在任何切面都能见到闪突起?什么样的切面闪突起最明显?8.解理纹的可见度与哪些因素有关?9.辉石和斜长石都具有两组完全解理,在岩石薄片中,为什么辉石具解理缝的切面多于长石且解理纹很清楚?而斜长石的解理纹却难见到?10.角闪石具有两组完全解理,夹角为56°;在岩石薄片中,为什么有的切面上见到两个方向解理纹,有的切面只见到一个方向解理纹,而有的切面上见不到解理纹呢?测量解理夹角应在什么切面上进行?11.含黑云母的薄片中,为什么有的黑云母切面上看不见解理缝,而且多色性不明显?见到大部分黑云母颗粒不具解理纹;能说这种黑云母不具解理吗?为什么?12.什么叫矿物的颜色?矿物的颜色与哪些因素有关?13.什么是多色性?多色性明显程度与哪些因素有关?14.什么是吸收性和吸收性公式?15.矿物的多色性在什么方向切面上最明显?为什么?测定一轴晶和二轴晶矿物的多色性公式,需要选择什么方向的切面?16.如何利用黑云母确定下偏光振动方向?第四章正交偏光显微镜间的晶体光学性质1.正交偏光镜下可观察测定透明矿物的哪些光学性质?2.什么叫消光?什么叫消光位?3.什么叫全消光?四次消光?哪些类型的切面可以呈全消光?四次消光?4.什么叫干涉色?干涉色与颜色的区别?5.Ⅰ~Ⅲ级干涉色色序?Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级干涉色的特点?6.写出云母试板、石膏试板的光程差、干涉色及光率体椭圆半径的方位和名称。

晶体光学复习思考题

晶体光学复习思考题1、研究透明矿物的晶体光学性质应用哪种光?为什么?2、矿物折射率的大小与哪些因素有关?3、光在均质体和非均质体矿物中的传播有何异同?4、光波在非均质体中传播时,其传播速度及相应折射率值大小是取决于光波的传播方向还是取决于光波的振动方向?为什么?5、绘出一轴晶负光性光率体的三种主要切面,并注明每一个切面的半径名称。

6、解释:光率体、一轴晶、二轴晶、光轴、常光、非常光、光学主轴、主轴面、光轴面、光轴角、Bxo、Bxa、双折射率。

7、试从形态、主轴(主折射率)、光轴、主要切面、光性规定等,对比一轴晶与二轴晶光率体的特征。

8、绘出下列切面,并标出轴名(主折射率)及双折射率的相对大小(以正光性为例)。

哪种切面双折射率最大?∥Ap、⊥Ap的斜交切面、⊥A(1)、⊥A(2)、⊥Bxa、∥A、斜交A9、写出下列切面的轴性、光性、切面方向和双折射率大小。

Ne10、当入射光波为偏光,如果其振动方向平行于垂直入射光波的光率体椭圆切面长短半径之一时,光波进入矿片后的情况如何?如果入射偏光的振动方向与光率体椭圆长短半径斜交时,光波进入矿片后的情况又如何?11、何谓光性方位?单斜晶系矿物的光性方位有何特点?举例说明之。

12、假设普通角闪石的Ng、Nm和Np分别为1.701、1.691和1.655,且其光性方位是Nm=Y,N g∧Z=30°, β=60°。

试确定普通角闪石的光性符号,并绘出普通角闪石的光性范围图以及(001)、(010)和(100)面上的光率体椭圆切面及长短半径与{110}解理缝之间的关系。

13、偏光显微镜由哪些主要部件组成14、偏光显微镜与生物显微镜有什么区别?这些区别有什么作用?15、使用偏光显微镜应注意哪些事项?16、为什么要校正偏光显微镜的中心?在校正中心时,扭动定心校正螺丝时,为什么只能使质点由α`处移动至偏心圆圆心(O点)而不能直接移至十字丝交点?如果使质点移至十字丝交点,将会发生什么也的情况?17、如何确定下偏光镜的振动方向?这样才能使目镜十字丝能够代表上、下偏光镜的振动方向?18、单偏光(-N)装置有何特点?如何确定下偏光的振动方向?在-N下可研究矿物晶体的哪些光学性质?19、试描述下列矿物的形态、解理组数及完善程度。

材料现代分析方法

材料现代分析方法一.绪论1.材料现代分析方法:是关于材料成分、结构、微观形貌与缺陷等的现代分析,测试技术及其有关理论基础的科学。

2.基于电磁辐射及运动粒子束与物质相互作用的各种性质建立的各种分析方法已成为材料现代分析方法的重要组成部分,大体可分为光谱分析、电子能谱分析、衍射分析与电子显微分析等四大类方法。

3.各种方法的分析、检测过程均可大体分为信号发生器、检测器、信号处理器与读出装置等几部分组成。

二.核磁共振1.核磁共振(Nuclear Magnetic Resonance,NMR):无线电波照射样品时,使特定化学结构环境中的原子核发生的共振跃迁(核自旋能级跃迁)。

2.拉摩尔进动:外磁场与核自旋磁场的相互作用,导致核自旋轴绕磁场方向发生回旋,称为拉摩尔进动。

3.核磁共振现象的产生机理:主要是由核的自旋运动引起的,核的自旋产生了不同的核自旋能级,当某种频率的电磁辐射与核自旋能级差相同时,原子核从低自旋能级跃迁到高自旋能级,产生了核磁共振现象。

4.描述核自旋运动的量子数I与原子核的质子数和中子数有关,有下列三种情况:(1)偶-偶核,I=0;(2)奇-偶核,I为半整数;(3)奇-奇核,I为整数。

5.核磁共振的条件:(1)原子核有自旋现象(I﹥0);(2)在外磁场中发生能级裂分;(2π)。

(3)照射频率与外磁场的比值υB=γIB。

6.1H核磁共振条件:υO=γI2π7.化学位移:某一质子吸收峰出现的位置,与标准物质质子吸收峰出现的位置之间的差异,称为该质子的化学位移δ。

8.化学位移现象:同一种类原子核,但处在不同的化合物中,或是虽在同一种化合物中,但所处的化学环境不同,其共振频率也稍有不同,这就是所谓的化学位移现象。

9.影响化学位移的因素:诱导效应、共轭效应、磁各向异性效应、氢键效应和溶剂效应。

质子周围电子云密度↑,屏蔽效应↑,在较高磁场强度处(高场)发生核磁共振,δ小;电子云密度↓,屏蔽效应↓,在较低磁场强度处(低场)发生核磁共振,δ大。

晶体光学复习思考题参考答案

晶体光学课后复习思考题参考答案(若有部分错误,请谅解~)第一章1.研究透明矿物的晶体光学性质应用哪种光?为什么?参考答案:根据实验的需要;不同的晶体光学性质需要用不同的光来鉴定。

2.矿物折射率的大小与哪些因素有关?参考答案:矿物自身构造3.①光波在均质体和非均质体中的传播特点有何不同?②为什么?参考答案:①光波射入均质体中,发生单折射现象,基本不改变入射光波振动特点和振动方向。

P5;光波沿光轴方向射入非均质体中时,不发生双折射,基本不改变入射光波的振动特点和振动方向。

光波沿非光轴方向射入非均质体中时,入射光波会发生双折射而分解形成两种偏光。

P5;②由于均质体的光学性质各个方向相同,而非均质体的光学性质随方向的不同而不同。

4.①光波在非均质体中传播时,其传播速度及相应折射率大小是取决于光波的传播方向还是取决于光波的振动方向?②为什么?参考答案:①取决于光波的振动方向P6;②根据电磁波理论,组成物质的原子或离子受电磁波扰动将极化成偶极子,可见光波在吴志忠的传播主要就是通过偶极子的感应振动来进行的。

在晶体中使振动偶极子回复到平衡位置的回复力强度控制光波的传播速度。

因此,光波在非均质体中的传播速度取决于光波的振动方向。

P65.绘出一轴晶负光性光率体的三种主要切面,并注明每一个切面的半径名称。

垂直光轴切面斜交光轴切面平行光轴切面P9 6.解释下列名词:光率体、一轴晶、二轴晶、光轴、常光、非常光、光学主轴、主轴面、光轴面、光轴角、Bxo、Bxa、双折射率。

光率体:表示光波在晶体中传播时,光波的振动方向与相应折射率之间关系的光学立体图形。

P6一轴晶:只有一个光轴的非均质体称一轴晶。

P5二轴晶:有两个光轴的非均质体成为二轴晶。

P5光轴:在非均质体中,不发生双折射的特殊方向成为光轴(Z轴、OA)P5常光:当光波射入一轴晶时,发生双折射形成两种偏光,其中振动方向垂直Z晶轴,其传播速度及其相应折射率值不变的偏光称为常光,以符号”o”表示。

晶体光学复习资料

晶体光学复习思考题一、是非题1、要测定矿物的轴性和光性符号,应该选择在正交偏光下干涉色最高的切面。

2、在同一岩石薄片中,同种矿物不同方向的切面上,其干涉色不同。

3、对于一轴晶矿物来说,其延性和光性总是一致的。

4、两非均质体矿片在正交镜间的45°位重迭,当异名半径平行时,因总光程差为零而使矿片变黑暗的现象,称为消色。

5、贝克线的移动规律是下降物台,贝克线总是向折射率大的物质移动。

6、二轴晶光率体,当Np>Nm>Ng时,为负光性。

7、矿物的多色性在垂直光轴的切面上最不明显。

8、一轴晶光率体的旋转轴永远是Ne轴。

9、某矿物的最高干涉色为Ⅱ级紫红,因此该矿物的某些切面可能出现Ⅰ级紫红。

10、一轴晶平行光轴切面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样,在轴性明确的情况下也不能用作光性正负的测定。

11、两非均质矿片在正交镜间的45°位置重叠,当异名半径平行时,总光程差等于两矿片光程差之差。

12、在单偏光镜下,黑云母颜色最深时的解理缝方向可以代表下偏光的振动方向。

13、同一岩石薄片中,同一种矿物的干涉色相同,不同种矿物的干涉色不同。

14、某矿物的干涉色为二级绿,在45°位加云母试板,如同名半径平行,干涉色升高为二级蓝,如异名半径平行,干涉色降低为二级黄。

15、角闪石的多色性只有在垂直Bxa的切面上观察才最明显。

16、当非均质体矿片上的光率体椭圆半径与上、下偏光的振动方向平行时,矿片就会变黑而消色。

17、在岩石薄片中透明矿物所呈现的颜色是矿片对白光中各单色光波折射和散射的结果。

18、矿片干涉色的高低取决于矿物性质和矿片厚度,在标准厚度下则受切面双折射率的影响。

19、二轴晶垂直光轴切面的干涉图用途有:确定轴性、光性、切面方向和估计折射率的大小。

20、矿片糙面的明显程度是受矿物软硬和矿片表面光滑程度的影响。

21、在一轴晶平行光轴切面的干涉图中,从中心到边缘干涉色逐渐升高的方向就是Ne的方向。

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n盖于N之上,接触 界面较陡。因N>n, 有部分入射光的入 射角大于全反射临 界角,光线在接触 面上发生全反射, 向N方向偏折。
接触界面直立时, 垂直于矿片的入射 光不发生折射,但 略斜射光线发生折 射和全反射,光线 仍在折射率大的物 质边缘集中。
光线通过界 面时发生折射 或全反射,总 在界面一边, 光线相对减少 而形成较暗边 缘;在另一边, 光线增多,而 形成比较明亮 的贝克线。
如果提升镜筒,从F1F1上升至F2F2,贝克线向折射率大 的方向移动;反之,向折射率小的方向移动.
贝克线移动规律:提升镜筒,贝克线向折射率大的
物质移动;下降镜筒,贝克线向折射率小的物质移 动。
用 途 : 确 定 相 邻 两 矿物折射率相对大小 。 观察时,应适当缩 小锁光圈,以挡去倾 斜度较大的光线,视 域变暗,贝克线显得 更为清楚。
一、矿物的边缘和贝克线
边缘
(a)
贝克线
(b)
矿物边缘、贝克线产生的原因:是由于相邻两矿 物折射率不等,光波通过二者的接触界面时发生 折射、全反射作用所引起的
ห้องสมุดไป่ตู้
当相邻两物质的接 触界面倾斜时,N 盖于n之上,无论接 触界面倾斜度如何, 光线在接触界面上 均向折射率大的物 质方向折射。
n盖于N之上,接触 界面较缓时,光线 在接触界面上仍向 折射率大的物质方 向折射。
假贝克线:当相邻两物质折射率相差很大、矿片 较厚或矿物解理发育时,在边缘附近有时可见另 一移动规律与贝克线相反的亮线。由反射或内反 射造成的。 换用光孔角小的物镜,使入射光近于平行,可使 假贝克线消除或减弱。 洛多契尼可夫色散效应: 当相邻两物质折射率相差很小时,在白光下观察贝 克线时,有时贝克线会变成有色细线。折射率低的 一边出现橙黄色,高的一边为浅蓝色细线。
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