超声波检测方法分类与特点
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• P扫描是“投影成像扫描”的简称，是专为检测 焊缝而开发的，其工作原理如图5 16所示。两 个斜探头位于焊缝两侧并按事先规划好的方式 扫查，扫查可手动或自动。测到的声波以1 dB 甚至更小的精度记录于硬盘上，然后，将测得 的结果送入P扫描处理器，它以声线理论为基 础进行计算，并将计算结果以两个投影图的方 式显示：一个是俯视图，投影面平行于表面； 另一个是侧视图，投影面平行于焊缝，且垂直 于表面。
•
ALOK成像系统已试用于核电站作役前 和在役超声检测。它是目前获得实际应用 的少数高级成像系统之一。
4 相控阵和S扫描成像 超声相控阵技术是借鉴相控阵雷达技术的原理 而发展起来的。超声检测中，往往要进行声束扫描。 常用的快速扫描方式有机械扫描和电子扫描。机械 扫描又分为线扫描、扇形扫描、弧形扫描和圆周扫 描等几种形式，而电子扫描则也有线形和扇形扫描 两种形式。相控阵成像是通过控制换能器阵列中各 阵元激励（或接收）脉冲的时间延迟，改变由各阵 元发射（或接收）声波到达（或来自）物体内某点 时的相位关系，就可实现聚焦点和声束方位的变化， 从而可进行扫描成像。
相控阵探头的特点：压电晶片不再是一个整体， 而是由多个独立小晶片单元组成的阵列，常见 的有直线排列的线阵、环形排列的面阵探头等， 如图5-18所示。 相控阵仪器：与探头阵列相对应，仪器中用于 发射和接收信号的电路是多通道的，每一个通 道接一个阵元。根据所需发射的声束特征，由 仪器软件计算各通道的相位（延迟）关系，并 控制发射／接收移相控制器，从而形成所需的 声束和接收信号。
1.B、C、D扫描成像
– 扇形B扫描 – 线形B扫描 – 组合B扫描
• B型显示（亮度-时间扫查记录）
• B型显示(斜探头PE平行扫查)
• B型显示(TOFD非平行扫查)
• 相控阵线扫和扇扫的B扫描成像
• B型显示(TOFD平行扫查)
• C型显示（）
• D扫显示
2. P扫描成像
5.2 A型显示和超声成像
5.2 A型显示和超声成像 按超声信号的显示方式，可将超声检测方 法分为A型显示和超声成像方法，其中超声 成像显示按成像 方式的不同又可再分为B、C、D、S、P型显示 等。
5.1.1 A型显示 A型显示是一种波形显示，是将超声信号的幅 度与传播时间的关系以直角坐标的形式显示出来， 横坐标代表声波的传播时间，纵坐标代表信号幅度。 A型显示是最基本的一种信号显示方式。 此时，示波管的电子束是振幅调制的。换言之， A型显示的内容是探头驻留在工件上某一点时，沿 声束传播方向的回波振幅分布。 结合脉冲放射法的A型显示超声检测是目前用 的最多的一种方法，目前特种设备行业常用的JB/T 4730.3－2005标准规定的就是A型脉冲反射法超声检 测，采用该方法时，检测结果受检测人员的素质、 经验等人为因素影响较大。
3、TOFD检测显示示例
• 4、物理基础－衍射
• 5.1.3 穿透法 • 穿透法是采用一发一收双探头分别放置 在试件相对的两端面，依据脉冲波或连续 波穿透试件之后的能量变化来检测试件缺 陷的方法
特点：一收一发，超声波通过检测区域， 指示透过声波幅度。
应用：复合材料；非金属材料；粗晶材料； 粘接或焊接质量。 发展：早期采用单频连续波；脉冲波；调 制脉冲波。被脉冲回波检测仪取代。
•
相控阵可实现多种扫描成像方式，如前 所述的B、C、D扫描成像，较为特殊的是还 可形成S扫描成像，即在某入射点形成一定 角度的扇形扫查范围，又称扇形扫描成像， 如图5-21所示。
超声相控阵技术的优势在于： (1)由于可采用电子控制方法控制声束进行扫查，可在不移 动或少移动探头的情况下进行快速线扫查或扇形扫查， 从而大大提高了检测效率。 • (2)由于可对声束角度进行控制，具有良好的声束可达 性，通过多个检测角度的设定， 可以进行复杂形状和在 役零件的检测。如核反应堆压力容器管嘴和其他接头、 摩擦焊发动机组件、发动机盘件及叶片的根部和叶盘结 合部的检测。 • (3)通过动态控制声束的偏转和聚焦，可以实现焦点位 置的动态控制，避免了普通聚焦探头为实现全深度聚焦 检测而对不同深度范围频繁更换探头的麻烦。
• • • • • • • • • • • • • • •
设备参数： 外形尺寸：45cm×30cm×22cm 最大重量：12.8公斤 脉冲输出：50V～300V，1V步进； 系统带宽：（0.5~25）MHz； 脉冲发射/接收器数量：16； 增益范围：（0~70）dB ，每步0.1dB； 检波方式：全波，正半波，负半波，射频； 脉冲重复频率：20KHz可调； 检测模式：PE、PC、TT、TOFD； 编码器：2个正交编码器或数字输入； 记录方式：时间，连续，位置或外部； 实时平均次数：1～16 高通滤波器：无，1,2,5,10MHz; A扫查长度：32～8092点
P扫描实际上是一种同时显示C扫描图 像（侧视）和D扫描图像（侧视）的商品化 成像系统
3. ALOK超声成像 ALOK（德文）是“振幅一传播时间一位置曲线” 的缩写，其成像基本原理如图5-17所示。在采集数 据时不加时间闸门，测量系统记下探头在各测量点 Pi得到的回波串中所有的正峰值及其出现的时间。 ALOK允许32个不同的探头同时在线收集数据。成像 和数据分析事后在计算机上进行。根据几何声学原 理，回波的传播时间r．k在重构空间中确定了圆心 在测量点P。半径rik—Cik/V的一条圆弧。许多圆弧 的交点就是重构出的缺陷的像点，回波振幅用来对 重建图像作修正。振幅修正后可提高信噪比约20 dB。
纵波法、横波法、表面波法、板波法、爬波 法等 5. 3.1纵波法 使用纵波进行检测的方法，称为纵波法。
在同一介质中传播时，纵波速度大于其 他波型的速度，穿透能力强，对晶界反射 或散射的敏感性不高，所以可检测工件的 厚度是所有波型中最大的，而且可用于粗 晶材料的检测。
1．纵波直探头法 使用纵波直探头进行检测的方法，称 为纵波直探头法。 波束垂直入射至工件检测面，以不变 的波型和方向透人工件，所以又称垂直入 射法，简称垂直法，如图5-22所示。
概 述
5、按探头与试件的接触方式分类：
接触法 UT 液浸法
电磁耦合 法
概 述
6、按人工干预的程度分类：
手工检测
UT
自动检测
概 述
每一个具体的超声检测方法都是上述 不同分类方式的一种组合，如最常用的： 单探头横波脉冲反射接触法（A型显示）。 每一种检测方法都有其特点和局限性，针 对每一检测对象所采用的不同的检测方法， 是根据检测目的及被检工件的形状尺寸、 材质等特征来进行选择的。
•
超声成像方法发展到现代，主要采用扫 描接收信号、再进行图像重构的方式，因 此又称为超声扫描成像技术，起初主要为B、 C扫描成像，随后为检测焊缝而开发出D、P 扫描（投影扫描成像）；因为相控阵技术 的出现，又出现S扫描（扇形扫描成像）等。 而对应的，A型显示又可称为A扫描显示。
探头扫查位置相关的图象显示（B扫描成像， C扫描成像，D扫描成像，P扫描成像，TOFD 扫查成像，合成孔径聚焦技术（SAFT）， 波峰延时定位技术（ALOK）） 阵元探头相位控制，合成声束技术（移动， 转角，聚焦，采样相控阵技术（SAMPLING PHASED ARRAY ）
相控阵声束偏转和声束聚焦的原理： 为了实现声束的偏转，相当于要使波阵 面以一定的角度倾斜，也就是说，要使各 阵元发出的声波在与探头成一定角度的平 面上具有相同的相位，如图5-19所示。这时， 需要使各单元的激励脉冲从左到右等间隔 增加延迟时间，使得合成波阵面具有一个 倾角，实现了声束方向的偏转。通过改变 延时间隔，可以调整声束角度。
超声波检测方法分类与特点
概 述
1、按原理分类：
脉冲反射法 衍射时差法 （TOFD） 穿透法 共振法
UT
概 述
2．按显示方式分类：
B型显示
A型显示
UT 超声成像 显示
C型显示 D型显示 S型显示 P型显示
概 述
3．按波型分类：
纵波法 横波法
UT
表面波法 板波法
ຫໍສະໝຸດ Baidu爬波法
概 述
4、按探头数目分类：
单探头法 UT 双探头法 多探头法
• 垂直法分为单晶直探头脉冲反射法、双晶直探 头脉冲反射法和穿透法。 • 常用的是单、双晶直探头脉冲反射法。 单直探头，由于远场区接近于按简化模型进行 理论推导的结果，可用当量法对缺陷进行评定； 同时由于盲区和分辨力的限制，只能发现工件 内部离检测面一定距离以外的缺陷。 双晶直探头利用两个晶片一发一收，很大程度 上克服了单直探头盲区的影响，因此适用于检 测近表面缺陷和薄壁工件。
英国TD FOCUS-SCAN 多功能超声相控阵探伤 仪 一、TD FOCUS-SCAN超声相控阵主机 1、硬件规格 128/64/16 128晶片 /64有源 /16常规 晶片数量 128个晶片 + 16个常规晶片 激活通道数量 可达64个 动态深度聚焦 是
管道腐蚀成像三视图检测
5.3 按波型分类的超声检测方法
衍射时差法超声检测
• TOFD(time of flight diffraction) • 超声波衍射时差法,是采用一发一收两只探头, 利用缺陷端点处的衍射信号探测和测定缺陷尺 寸的一种自动超声检测方法 TOFD基本结构：一发一收双探头,宽角度 纵波斜探头（通常）
• 2、TOFD检测设备举例
5.3.2横波法 将纵波倾斜入射至工件检测面，利用波型转换 得到横波进行检测的方法，称为横波法。由于入射 声束与检测面成一定夹角，所以又称斜射法。 斜射声束的产生通常有两种方式： 接触法时采用斜探头，由晶片发出的纵波通过 一定倾角的斜楔到达接触面，在界面处发生波型转 换，在工件中产生折射后的斜射横波声束； 利用水浸直探头，在水中改变声束入射到检测 面时的入射角，从而在工件中产生所需波型和角度 的折射波。
• 垂直法主要用于铸造、锻压、轧材及其制 品的检测，该法对于与检测面平行的缺陷 检出效果最佳。由于垂直法检测时，波型 和传播方向不变，所以缺陷定位比较方便。
2．纵波斜探头法 将纵波倾斜入射至工件检测面，利用折射纵波 进行检测的方法，称为纵波斜探头法。此时，入射角 小于第一临界角a一，工件中既有纵波也有横波，由 于纵波传播速度快，几乎是横波的两倍，因此可利用 纵波来识别缺陷和定量，但注意不要与横波信号混淆。 小角度纵波斜探头： 探头移动范围较小、检测范围较深的一些部件，如 从螺栓端部检测螺栓，多层包扎设备的环焊缝等。 粗晶材料，如奥氏体不锈钢焊接接头的检测。 TOFD检测技术使用的探头一般也为纵波斜探头。
5.1 按原理分类的超声
检测方法
超声检测方法按原理分类，可分为脉
冲反射法、衍射时差法、穿透法和共振法。
5.1.1 脉冲反射法 超声波探头发射脉冲波到被检工件内， 通过观察来自内部缺陷或工件底面反射波 的情况来对试件进行检测的方法，称为脉
冲反射法。
缺陷回波法 脉冲反射法 底波高度法 多次底波法
5.1.2 衍射时差法 1.定义：Time Of Flight Diffraction
特点：自收自发或一发一收，显示测量接 收脉冲信号的传输时间和幅度。 应用：一般金属，非金属的无损检测。 模拟A扫显示；传输延时比例；回波幅度比 较 数字化A扫显示；参数化控制和读数
• A型显示（幅度-时间曲线记录）
• 5.1.2 超声成像方法 • 超声成像就是用超声波获得物体可见图像的方 法。由于声波可以穿透很多不透光的物体，故利用 声波可以获得这些物体内部结构声学特性的信息， 超声成像技术将这些信息变成人眼可见的图像，即 可以获得不透光物体内部声学特性分布的图像。物 体的超声图像可提供直观和大量的信息，直接显示 物体内部情况，且可靠性、复现性高，可以对缺陷 进行定量动态监控。一般而言，超声成像方法是基 于A型显示形成的工件不同截面的图像显示，大都 具有自动数据采集、自动数据处理和自动作出评价 的功能。
• 5.1.4 共振法
• 依据试件的共振特性来判断缺陷情况和工 件厚度变化情况的方法称为共振法。常用 于试件测厚。共振法测厚的原理见4.1.6， 目前已很少使用 • 共振法测厚。
特点：连续波工作，自收自发，超声波和 工件相互作用，指示振荡峰值频率或自振 频率计数。 应用：复合材料结构；非金属材料粘接； 厚度测量。 发展：仪器扫频；系统自振。
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ALOK成像系统已试用于核电站作役前 和在役超声检测。它是目前获得实际应用 的少数高级成像系统之一。
4 相控阵和S扫描成像 超声相控阵技术是借鉴相控阵雷达技术的原理 而发展起来的。超声检测中，往往要进行声束扫描。 常用的快速扫描方式有机械扫描和电子扫描。机械 扫描又分为线扫描、扇形扫描、弧形扫描和圆周扫 描等几种形式，而电子扫描则也有线形和扇形扫描 两种形式。相控阵成像是通过控制换能器阵列中各 阵元激励（或接收）脉冲的时间延迟，改变由各阵 元发射（或接收）声波到达（或来自）物体内某点 时的相位关系，就可实现聚焦点和声束方位的变化， 从而可进行扫描成像。
相控阵探头的特点：压电晶片不再是一个整体， 而是由多个独立小晶片单元组成的阵列，常见 的有直线排列的线阵、环形排列的面阵探头等， 如图5-18所示。 相控阵仪器：与探头阵列相对应，仪器中用于 发射和接收信号的电路是多通道的，每一个通 道接一个阵元。根据所需发射的声束特征，由 仪器软件计算各通道的相位（延迟）关系，并 控制发射／接收移相控制器，从而形成所需的 声束和接收信号。
1.B、C、D扫描成像
– 扇形B扫描 – 线形B扫描 – 组合B扫描
• B型显示（亮度-时间扫查记录）
• B型显示(斜探头PE平行扫查)
• B型显示(TOFD非平行扫查)
• 相控阵线扫和扇扫的B扫描成像
• B型显示(TOFD平行扫查)
• C型显示（）
• D扫显示
2. P扫描成像
5.2 A型显示和超声成像
5.2 A型显示和超声成像 按超声信号的显示方式，可将超声检测方 法分为A型显示和超声成像方法，其中超声 成像显示按成像 方式的不同又可再分为B、C、D、S、P型显示 等。
5.1.1 A型显示 A型显示是一种波形显示，是将超声信号的幅 度与传播时间的关系以直角坐标的形式显示出来， 横坐标代表声波的传播时间，纵坐标代表信号幅度。 A型显示是最基本的一种信号显示方式。 此时，示波管的电子束是振幅调制的。换言之， A型显示的内容是探头驻留在工件上某一点时，沿 声束传播方向的回波振幅分布。 结合脉冲放射法的A型显示超声检测是目前用 的最多的一种方法，目前特种设备行业常用的JB/T 4730.3－2005标准规定的就是A型脉冲反射法超声检 测，采用该方法时，检测结果受检测人员的素质、 经验等人为因素影响较大。
3、TOFD检测显示示例
• 4、物理基础－衍射
• 5.1.3 穿透法 • 穿透法是采用一发一收双探头分别放置 在试件相对的两端面，依据脉冲波或连续 波穿透试件之后的能量变化来检测试件缺 陷的方法
特点：一收一发，超声波通过检测区域， 指示透过声波幅度。
应用：复合材料；非金属材料；粗晶材料； 粘接或焊接质量。 发展：早期采用单频连续波；脉冲波；调 制脉冲波。被脉冲回波检测仪取代。
•
相控阵可实现多种扫描成像方式，如前 所述的B、C、D扫描成像，较为特殊的是还 可形成S扫描成像，即在某入射点形成一定 角度的扇形扫查范围，又称扇形扫描成像， 如图5-21所示。
超声相控阵技术的优势在于： (1)由于可采用电子控制方法控制声束进行扫查，可在不移 动或少移动探头的情况下进行快速线扫查或扇形扫查， 从而大大提高了检测效率。 • (2)由于可对声束角度进行控制，具有良好的声束可达 性，通过多个检测角度的设定， 可以进行复杂形状和在 役零件的检测。如核反应堆压力容器管嘴和其他接头、 摩擦焊发动机组件、发动机盘件及叶片的根部和叶盘结 合部的检测。 • (3)通过动态控制声束的偏转和聚焦，可以实现焦点位 置的动态控制，避免了普通聚焦探头为实现全深度聚焦 检测而对不同深度范围频繁更换探头的麻烦。
• • • • • • • • • • • • • • •
设备参数： 外形尺寸：45cm×30cm×22cm 最大重量：12.8公斤 脉冲输出：50V～300V，1V步进； 系统带宽：（0.5~25）MHz； 脉冲发射/接收器数量：16； 增益范围：（0~70）dB ，每步0.1dB； 检波方式：全波，正半波，负半波，射频； 脉冲重复频率：20KHz可调； 检测模式：PE、PC、TT、TOFD； 编码器：2个正交编码器或数字输入； 记录方式：时间，连续，位置或外部； 实时平均次数：1～16 高通滤波器：无，1,2,5,10MHz; A扫查长度：32～8092点
P扫描实际上是一种同时显示C扫描图 像（侧视）和D扫描图像（侧视）的商品化 成像系统
3. ALOK超声成像 ALOK（德文）是“振幅一传播时间一位置曲线” 的缩写，其成像基本原理如图5-17所示。在采集数 据时不加时间闸门，测量系统记下探头在各测量点 Pi得到的回波串中所有的正峰值及其出现的时间。 ALOK允许32个不同的探头同时在线收集数据。成像 和数据分析事后在计算机上进行。根据几何声学原 理，回波的传播时间r．k在重构空间中确定了圆心 在测量点P。半径rik—Cik/V的一条圆弧。许多圆弧 的交点就是重构出的缺陷的像点，回波振幅用来对 重建图像作修正。振幅修正后可提高信噪比约20 dB。
纵波法、横波法、表面波法、板波法、爬波 法等 5. 3.1纵波法 使用纵波进行检测的方法，称为纵波法。
在同一介质中传播时，纵波速度大于其 他波型的速度，穿透能力强，对晶界反射 或散射的敏感性不高，所以可检测工件的 厚度是所有波型中最大的，而且可用于粗 晶材料的检测。
1．纵波直探头法 使用纵波直探头进行检测的方法，称 为纵波直探头法。 波束垂直入射至工件检测面，以不变 的波型和方向透人工件，所以又称垂直入 射法，简称垂直法，如图5-22所示。
概 述
5、按探头与试件的接触方式分类：
接触法 UT 液浸法
电磁耦合 法
概 述
6、按人工干预的程度分类：
手工检测
UT
自动检测
概 述
每一个具体的超声检测方法都是上述 不同分类方式的一种组合，如最常用的： 单探头横波脉冲反射接触法（A型显示）。 每一种检测方法都有其特点和局限性，针 对每一检测对象所采用的不同的检测方法， 是根据检测目的及被检工件的形状尺寸、 材质等特征来进行选择的。
•
超声成像方法发展到现代，主要采用扫 描接收信号、再进行图像重构的方式，因 此又称为超声扫描成像技术，起初主要为B、 C扫描成像，随后为检测焊缝而开发出D、P 扫描（投影扫描成像）；因为相控阵技术 的出现，又出现S扫描（扇形扫描成像）等。 而对应的，A型显示又可称为A扫描显示。
探头扫查位置相关的图象显示（B扫描成像， C扫描成像，D扫描成像，P扫描成像，TOFD 扫查成像，合成孔径聚焦技术（SAFT）， 波峰延时定位技术（ALOK）） 阵元探头相位控制，合成声束技术（移动， 转角，聚焦，采样相控阵技术（SAMPLING PHASED ARRAY ）
相控阵声束偏转和声束聚焦的原理： 为了实现声束的偏转，相当于要使波阵 面以一定的角度倾斜，也就是说，要使各 阵元发出的声波在与探头成一定角度的平 面上具有相同的相位，如图5-19所示。这时， 需要使各单元的激励脉冲从左到右等间隔 增加延迟时间，使得合成波阵面具有一个 倾角，实现了声束方向的偏转。通过改变 延时间隔，可以调整声束角度。
超声波检测方法分类与特点
概 述
1、按原理分类：
脉冲反射法 衍射时差法 （TOFD） 穿透法 共振法
UT
概 述
2．按显示方式分类：
B型显示
A型显示
UT 超声成像 显示
C型显示 D型显示 S型显示 P型显示
概 述
3．按波型分类：
纵波法 横波法
UT
表面波法 板波法
ຫໍສະໝຸດ Baidu爬波法
概 述
4、按探头数目分类：
单探头法 UT 双探头法 多探头法
• 垂直法分为单晶直探头脉冲反射法、双晶直探 头脉冲反射法和穿透法。 • 常用的是单、双晶直探头脉冲反射法。 单直探头，由于远场区接近于按简化模型进行 理论推导的结果，可用当量法对缺陷进行评定； 同时由于盲区和分辨力的限制，只能发现工件 内部离检测面一定距离以外的缺陷。 双晶直探头利用两个晶片一发一收，很大程度 上克服了单直探头盲区的影响，因此适用于检 测近表面缺陷和薄壁工件。
英国TD FOCUS-SCAN 多功能超声相控阵探伤 仪 一、TD FOCUS-SCAN超声相控阵主机 1、硬件规格 128/64/16 128晶片 /64有源 /16常规 晶片数量 128个晶片 + 16个常规晶片 激活通道数量 可达64个 动态深度聚焦 是
管道腐蚀成像三视图检测
5.3 按波型分类的超声检测方法
衍射时差法超声检测
• TOFD(time of flight diffraction) • 超声波衍射时差法,是采用一发一收两只探头, 利用缺陷端点处的衍射信号探测和测定缺陷尺 寸的一种自动超声检测方法 TOFD基本结构：一发一收双探头,宽角度 纵波斜探头（通常）
• 2、TOFD检测设备举例
5.3.2横波法 将纵波倾斜入射至工件检测面，利用波型转换 得到横波进行检测的方法，称为横波法。由于入射 声束与检测面成一定夹角，所以又称斜射法。 斜射声束的产生通常有两种方式： 接触法时采用斜探头，由晶片发出的纵波通过 一定倾角的斜楔到达接触面，在界面处发生波型转 换，在工件中产生折射后的斜射横波声束； 利用水浸直探头，在水中改变声束入射到检测 面时的入射角，从而在工件中产生所需波型和角度 的折射波。
• 垂直法主要用于铸造、锻压、轧材及其制 品的检测，该法对于与检测面平行的缺陷 检出效果最佳。由于垂直法检测时，波型 和传播方向不变，所以缺陷定位比较方便。
2．纵波斜探头法 将纵波倾斜入射至工件检测面，利用折射纵波 进行检测的方法，称为纵波斜探头法。此时，入射角 小于第一临界角a一，工件中既有纵波也有横波，由 于纵波传播速度快，几乎是横波的两倍，因此可利用 纵波来识别缺陷和定量，但注意不要与横波信号混淆。 小角度纵波斜探头： 探头移动范围较小、检测范围较深的一些部件，如 从螺栓端部检测螺栓，多层包扎设备的环焊缝等。 粗晶材料，如奥氏体不锈钢焊接接头的检测。 TOFD检测技术使用的探头一般也为纵波斜探头。
5.1 按原理分类的超声
检测方法
超声检测方法按原理分类，可分为脉
冲反射法、衍射时差法、穿透法和共振法。
5.1.1 脉冲反射法 超声波探头发射脉冲波到被检工件内， 通过观察来自内部缺陷或工件底面反射波 的情况来对试件进行检测的方法，称为脉
冲反射法。
缺陷回波法 脉冲反射法 底波高度法 多次底波法
5.1.2 衍射时差法 1.定义：Time Of Flight Diffraction
特点：自收自发或一发一收，显示测量接 收脉冲信号的传输时间和幅度。 应用：一般金属，非金属的无损检测。 模拟A扫显示；传输延时比例；回波幅度比 较 数字化A扫显示；参数化控制和读数
• A型显示（幅度-时间曲线记录）
• 5.1.2 超声成像方法 • 超声成像就是用超声波获得物体可见图像的方 法。由于声波可以穿透很多不透光的物体，故利用 声波可以获得这些物体内部结构声学特性的信息， 超声成像技术将这些信息变成人眼可见的图像，即 可以获得不透光物体内部声学特性分布的图像。物 体的超声图像可提供直观和大量的信息，直接显示 物体内部情况，且可靠性、复现性高，可以对缺陷 进行定量动态监控。一般而言，超声成像方法是基 于A型显示形成的工件不同截面的图像显示，大都 具有自动数据采集、自动数据处理和自动作出评价 的功能。
• 5.1.4 共振法
• 依据试件的共振特性来判断缺陷情况和工 件厚度变化情况的方法称为共振法。常用 于试件测厚。共振法测厚的原理见4.1.6， 目前已很少使用 • 共振法测厚。
特点：连续波工作，自收自发，超声波和 工件相互作用，指示振荡峰值频率或自振 频率计数。 应用：复合材料结构；非金属材料粘接； 厚度测量。 发展：仪器扫频；系统自振。