雷达物位计-软件算法说明

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雷达料位计公式

雷达料位计公式

雷达料位计公式
雷达料位计是一种常用的仪器,用于测量容器中的物料的高度或者液位。

它基
于雷达技术,利用电磁波的特性来实现非接触式的液位测量。

雷达料位计的工作原理是利用射频信号的传播和反射来计算物料的高度。

在雷达料位计中,计算物料高度的公式可以表示为:
H = (T × c) / (2 × ε)
其中,H表示物料的高度,T表示从雷达发射到物料表面反射回来所经历的时间,c表示电磁波在真空中的传播速度,ε表示物料的介电常数。

公式中的时间T通过测量射频信号从发射到接收的时间来获得。

而介电常数ε
是物料的特性之一,根据不同物料的介电常数可以确定不同材料的测量方式和精度。

雷达料位计的公式可以帮助我们计算物料的高度,并且实现非接触式的测量。

采用雷达料位计进行物料测量可以避免传统测量方式中可能出现的液位污染、腐蚀性物料的腐蚀等问题,因此在工业领域得到了广泛的应用。

需要注意的是,不同种类和品牌的雷达料位计可能使用不同的公式和参数。


使用时,应根据具体设备的说明书和厂家提供的相关资料进行适当的参数配置和测量方法选择,以获得准确可靠的测量结果。

同时,在使用雷达料位计时,还需注意设备的安装位置和环境条件的适应性,以确保测量结果的准确性和稳定性。

综上所述,雷达料位计公式是根据射频信号的传播和电磁波的特性计算物料高
度的公式。

它是一种实现非接触式、准确可靠的物料测量方法,广泛应用于工业领域。

在使用时,需根据具体设备的要求进行参数配置和测量方法选择,以保证测量结果的准确性。

26G高频雷达物位计说明书

26G高频雷达物位计说明书

正确安装
错误安装
当罐中有障碍物影响测量时,要加装反射板才能正常测量
正确安装(反射板把障碍信号折射走)
错误安装
● 导波管中测量 发射的微波波束发射区域内有障碍物,如:人字梯、限位开关、加热设备、支架等造成
干扰,导致测量错误。若受干扰需要增加导波管进行测量。
云润仪表制造有限公司
如何确保安装满足ip67的要求请确保密封头未受损请确保电缆未受损请确保所使用的电缆符合电气连接规范的要求在进入电气接口前将电缆向下弯曲以确保水不会流入壳体见请拧紧电缆密封头见请将未使用的电气接口用盲堵堵紧见5雷达物位计调试调试方法yrrd90有三种调试方法
26G 智能雷达物位计 YR-RD90 系列
云润仪表制造有限公司
26G 智能雷达物位计 YR-RD90 系列
1、产品概述 YR-RD90系列传感器是26G高频雷达式物位测量仪表,输出4-20mA模拟信号,测量最大
距离可达70米。天线被进一步优化处理,新型的快速的微处理器可以进行更高速率的信号分 析处理,使得仪表可以用于:反应釜或固体料仓非常复杂的测量条件。 原理
云润仪表制造有限公司
26G 智能雷达物位计 YR-RD90 系列
型 号:YR-RD95 应 用:固体颗粒、粉尘 测量范围:30米 过程连接:螺纹、法兰 介质温度:-40~250℃ 过程压力:常压 精 度:±10mm 频率范围:26G 防爆等级:Exib ⅡC T6 Gb 防护等级:IP67 信号输出:4-20Ma/HART(两线/四线)/RS485/Modbus
Uss<10Mv

电缆入口/插头
M20*1.5电缆头和盲堵各一个
接线端子
导线横截面2.5mm2
输出信号/通讯协议 4-20mA/HART ;RS485/Modbus

eh导波雷达物位计说明书

eh导波雷达物位计说明书

eh导波雷达物位计说明书
一、简介
EH导波雷达物位计是一种新型的位置测量和管道监测系统。

它采用激光成像传感技术,结合数字信号处理和数字信号处理技术,将信号转换为数字图像,以检测管道内物体的位置。

此外,它还通过位置数据记录器,可实时记录物位变化,从而提供精确的位置信息。

二、特点
1、具有高性能:EH导波雷达物位计使用高频信号,在检测距离较远的物体时,精度更高。

2、高灵敏度:EH导波雷达物位计采用激光成像传感技术,比普通的电容传感器更灵敏、更准确。

3、可靠性高:EH导波雷达物位计采用微处理器控制技术,具有较高的可靠性,可连续监测,使物位的变化更具可靠性。

三、适用对象
EH导波雷达物位计可用于管道中任何形状的物体的位置测量和管道监测,如液体、蒸气、固体和气体等,是工业管道检测领域的理想设备。

四、使用方法
1、安装:安装EH导波雷达物位计时,应将传感器安装在物位应测的管道上,再与控制器及显示器等设备连接;
2、调试:对安装完成的EH导波雷达物位计进行调试,以保证其正常工作;
3、监测:通过操作及实时检测,可监测物位变化,从而及时发现异常情况,并予以及时处理;
4、记录:实时记录物位变化,为预防异常状况提供数据支持。

;。

科隆雷达物位计

科隆雷达物位计

科隆雷达物位计一、简介科隆雷达物位计是一种常用的工业自动化设备,用于测量和监测物料的位移和物位高度。

它采用雷达技术原理进行测量,具有高精度、稳定性好、抗干扰能力强等优点。

科隆雷达物位计广泛应用于各个行业的物料存储、石化、粮食、水处理等领域。

二、工作原理科隆雷达物位计的工作原理基于雷达技术,利用电磁波的回波时间来测量物料的位移和物位高度。

具体的工作过程如下:1.发射器发射电磁波信号。

2.信号经过天线发射到物料表面。

3.当信号遇到物料时,一部分信号被反射回来。

4.接收器接收到反射的信号。

5.根据信号的回波时间,计算出物料与传感器之间的距离。

6.根据距离计算出物料的位移和物位高度。

三、特点科隆雷达物位计具有以下特点:1.高精度:科隆雷达物位计采用精密的雷达技术,能够实现高精度的物位测量,误差范围小。

2.稳定性好:科隆雷达物位计在各种环境条件下都能够保持稳定的工作状态,不受温度、湿度等因素的影响。

3.抗干扰能力强:科隆雷达物位计能够有效抵御干扰信号的影响,确保测量结果的准确性。

4.易于安装和使用:科隆雷达物位计体积小、重量轻,安装方便,用户只需按照说明书进行简单的设置即可使用。

5.显示方便:科隆雷达物位计具有直观的显示界面,用户可以直接在仪器上查看物料的位移和物位高度。

6.长寿命:科隆雷达物位计采用高品质的材料制造,具有较长的使用寿命和可靠性。

四、应用领域科隆雷达物位计广泛应用于各个行业的物料存储、石化、粮食、水处理等领域,主要用于以下方面:1.物料存储:科隆雷达物位计可用于仓储设备的物位检测,帮助企业实现对物料存储量的准确控制。

2.石化行业:科隆雷达物位计可用于石化设备中的物料位移监测,帮助企业实现对生产过程的自动化管控。

3.粮食加工:科隆雷达物位计可用于粮食仓储设备中的物位测量,提高粮食仓库管理的效率和准确性。

4.水处理:科隆雷达物位计可用于水处理设备中的液位监测,帮助企业实现对水处理过程的精确控制。

《2024年导波式雷达物位计测量误差分析与软件修正》范文

《2024年导波式雷达物位计测量误差分析与软件修正》范文

《导波式雷达物位计测量误差分析与软件修正》篇一一、引言导波式雷达物位计是一种广泛应用于工业领域的测量设备,用于测量液体或固体物料的物位。

然而,由于各种因素的影响,其测量结果往往存在误差。

本文旨在分析导波式雷达物位计的测量误差来源,并提出相应的软件修正方法,以提高其测量精度和可靠性。

二、导波式雷达物位计测量原理导波式雷达物位计通过发射和接收电磁波信号来测量物位。

其工作原理为:雷达发射器发出电磁波信号,当信号遇到物料表面时发生反射,反射信号被接收器接收并处理成物位信息。

由于电磁波在介质中的传播速度恒定,因此可以通过测量电磁波的传播时间来计算物位。

三、测量误差来源分析1. 环境因素:环境温度、湿度、蒸汽等对电磁波的传播速度和强度产生影响,导致测量误差。

2. 介质因素:介质的介电常数、导电性等物理特性影响电磁波的传播,从而产生测量误差。

3. 设备因素:雷达物位计的发射器、接收器、天线等设备性能的差异和老化也会引起测量误差。

4. 安装因素:安装位置、角度等不准确,导致雷达物位计与物料表面之间的耦合效果不佳,从而产生测量误差。

四、软件修正方法针对上述测量误差来源,本文提出以下软件修正方法:1. 环境补偿算法:根据环境温度、湿度等参数,对电磁波的传播速度进行修正,以减小环境因素对测量结果的影响。

2. 介质校正模型:针对不同介质的物理特性,建立相应的校正模型,对测量结果进行修正。

3. 设备自检与校准:定期对雷达物位计的发射器、接收器等设备进行自检与校准,确保设备性能的稳定性和准确性。

4. 安装参数优化:根据实际安装情况,优化安装位置、角度等参数,提高雷达物位计与物料表面之间的耦合效果。

五、软件修正实施步骤1. 收集数据:收集各种环境、介质、设备及安装条件下的测量数据。

2. 分析数据:对收集到的数据进行统计分析,找出误差规律和原因。

3. 制定修正算法:根据分析结果,制定相应的软件修正算法。

4. 编写程序:将修正算法编写成软件程序,实现对测量结果的实时修正。

馨威科技 雷达物位计 说明书

馨威科技 雷达物位计 说明书

雷达物位计1、原理雷达物位计天线发射极窄的微波脉冲,这个脉冲微波以光速在空间传播,在被测介质表面被反射回来,被同一天线接收。

发射脉冲微波与接收微波的时间间隔与天线到被测介质表面的距离成正比。

WRD60系列雷达物位计采用一种特殊的相关解调技术,可以准确识别发射微波与接收微波的时间间隔,从而进一步计算出天线到被测介质表面的距离。

特点由于采用了先进的微处理器和独特的Echo回波处理技术,雷达物位计可以应用于各种复杂工况。

“虚假回波存储”功能使得仪表在多个虚假回波的工况下,可正确地确认真实回波,获得准确的测量结果。

多种过程连接方式及天线型式,使得WRD60系列雷达物位计适于各种复杂工况。

如:高温、高压及小介电常数介质的测量等。

采用脉冲工作方式,雷达物位计发射功率极低,可安装于各种金属、非金属容器内,对人体及环境均无伤害。

2、仪表概况:WRD61WRD62WRD63应用:最大量程:测量精度:过程连接:天线材料:过程温度:过程压力:信号输出:液体特别是腐蚀性液体,简单过程条件20m±10mm螺纹G1½APP/PTFE-40...120C-1.0...10bar两线制4...20mA/HART腐蚀性液体、固体20m±3mm法兰不锈钢316L/PTFE-40...150C-1.0...16bar两线制4...20mA/HART存储容器或过程容器,过程条件复杂35m±3mm法兰316L不锈钢316L-40...300C-1.0...60bar两线制/四线制4...20mA/HARTWRD64WRD66应用:最大量程:测量精度:过程连接:天线材料:过程温度:过程压力:信号输出:存储容器或过程容器,过程条件复杂,小介电常数介质。

70m±5mm法兰316L不锈钢316L-40...450C-1.0...60bar两线制/四线制4...20mA/HART存储容器或过程容器,过程条件复杂,70m±3mm法兰316L/螺纹G1½A不锈钢316L/PTFE-40...200C-1.0...60bar两线制/四线制4...20mA/HART3、安装要求:基本要求天线发射脉冲微波时,都有一定的发射角。

vega雷达物位计说明书

vega雷达物位计说明书

vega雷达物位计说明书第一章:引言1.1产品简介Vega雷达物位计是一种先进的仪器,用于测量液体、固体和粉粒状物料的物位。

它通过发射和接收雷达信号来确定物料的位移和高度。

这个说明书将帮助用户了解和正确使用Vega雷达物位计。

1.2主要特点- 高精度测量:Vega雷达物位计具有高精度的测量功能,可准确测量各种物料的物位。

- 可靠性:Vega雷达物位计采用先进的技术和材料,具有稳定性和耐用性。

- 轻松安装:Vega雷达物位计具有简单的安装过程,适用于不同类型的容器。

- 易于使用:Vega雷达物位计采用用户友好的界面,使用户可以轻松进行配置和操作。

- 多功能:Vega雷达物位计具有多种功能,如物料温度测量、反射强度调节和距离补偿等。

第二章:产品规格2.1外观和尺寸Vega雷达物位计外观典雅,尺寸为100mm×200mm×50mm,重量为1kg。

2.2技术指标-测量范围:0-20米- 准确度:±2mm-工作温度:-40°C至85°C-电源:220VAC或24VDC- 输出信号:4-20mA或Modbus RS485第三章:安装与操作3.1安装步骤1)在容器上选择一个合适的位置进行安装。

2) 使用提供的安装配件将Vega雷达物位计固定在容器上。

3)连接电源和信号线。

3.2配置与校准1) 打开Vega雷达物位计的电源。

2)进入配置模式,通过菜单进行参数设置,如温度单位、物料类型等。

3)进行校准,按照说明书中给出的步骤进行操作。

3.3操作与维护1) 使用人员应熟悉Vega雷达物位计的各项功能和操作方式。

2) 定期检查和维护Vega雷达物位计,确保其正常运行。

3) 避免将Vega雷达物位计暴露在恶劣的环境中,以免损坏设备。

第四章:故障排除4.1常见问题与解决方法-问题:无法正常启动解决方法:检查电源连接是否正确,重新插拔电源线。

-问题:测量结果不准确解决方法:检查安装是否正确,进行重新校准。

WK30雷达物位计说明书解析

WK30雷达物位计说明书解析

目录导波雷达物位计1.产品概述•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••1 2.仪表介绍••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••2 3.安装指南••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••4 4.接线方式•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••7 5.调试•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••7 6.仪表尺寸•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••9 7.仪表线性•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••10 8.技术参数•••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••11 9. 物位计选型参数表••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••••12导波雷达物位计1. 产品概述1.1测量原理导波雷达是基于时间行程原理的测量仪表,雷达波以光速运行,运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。

探头发出高频脉冲并沿缆式探头传播,当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收,并将距离信号转化为物位信号。

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1.法兰距离计算1.1.流程图1.2.信号加窗信号加窗用于减小频谱泄露,可选择三种窗函数之一:矩形窗、汉宁窗、布莱克曼窗。

假设中频信号电压采样数组为v[N],采样点数为N(N=1199);加窗实际上是构建一个N点的数组w[N],将v[N]和w[N]进行点乘运算;信号加窗后的输出数组x[N]可表示为:x[n]=v[n]∗w[n](0≤n<N)(1-1)1)矩形窗矩形窗的w[N]是一个全1的数组,相当于对v[N]不进行加窗处理。

2)汉宁窗汉宁窗的w[N]表示如下:w[n]=0.5−0.5cos(2πnN)(0≤n<N)(1-2) 3)布莱克曼窗布莱克曼窗的w[N]表示如下:w[n]=0.42−0.5cos(2πnN )+0.08cos(4πnN)(0≤n<N)(1-3)1.3.信号补零将N(N=1199)点的数组x[N]扩展成M(M=4096)点的数组y[M]:y[n]={ x[n](0≤n<N) 0 (N≤n<M)(1-4)1.4.FFT运算对M点的数组y[M]进行实数快速傅里叶变换并求模,具体算法请参考数字信号处理相关书籍;TMS320F28335有现成的库函数RFFT_f32(RFFT_F32_STRUCT *)、RFFT_f32_mag(RFFT_F32_STRUCT *)供调用, FFT运算的输出为数组Y[M/2]。

1.5.频谱峰值探测根据MATLAB信号处理工具箱中Peak Finder的算法思路:处于两个波谷间且大于波谷一定阈值的点即为波峰;对应的流程图为:频谱峰值探测的输出为波峰索引数组。

1.6.回波筛选有效回波必须满足一定的位置条件和幅值条件。

系统的距离分辨单元为:∆D=C2B ∗11994096(1-5)式中,C—真空中光速B—扫频带宽则回波的位置和幅度可以表示为:D=∆D∗i−TCLA=Y[i](1-6)式中,i—波峰索引TCL— TCL长度1)位置条件有效回波位置必须处于盲区和罐底之间,将处于该范围之外的回波剔除。

2)幅值条件有两种幅值条件:统一阈值、ATP阈值。

统一阈值是将峰值小于某阈值的回波剔除;ATP阈值是由位置——阈值构成的一条折线,将峰值处于折线下方的回波剔除。

回波筛选的输出为回波索引数组。

1.7.谱估计对回波索引数组中的每一个回波(D,Y[i]),根据该回波前后各1个点(D−∆D,Y[i−1])、(D+∆D,Y[i+1])的值,利用二次曲线拟合法估算回波的真实位置为:D0=D+Y[i−1]−Y[i+1]2(Y[i−1]+Y[i+1]−2Y[i])∗∆D(1-7)回波的幅度为:A0=(D0−D)(D0−D−∆D)Y[i−1]−2(D0−D−∆D)(D0−D+∆D)Y[i]+(D0−D)(D0−D+∆D)Y[i+1]2∆D2(1-8)1.8.回波跟踪如果选择首回波算法,则回波跟踪过程可以用如下状态机表示:如果选择回波搜索算法,则回波跟踪过程可以用如下状态机表示:跟踪窗口内有回波/注:如果激活缓慢搜索,则搜索窗口初始化为跟踪窗口;否则,搜索窗口初始化为0~100m回波跟踪的输出为液面状态、位置和幅度。

1.9.滤波处理有三种滤波方法:跳跃滤波、阻尼、最小二乘法滤波;其中阻尼不能和最小二乘法滤波同时使用,但跳跃滤波能和阻尼或最小二乘法滤波同时使用。

1)跳跃滤波跳跃滤波用于减少液面的大幅度快速抖动,跳跃滤波用到两个参数:跳跃滤波阈值JFilt_Thresh、跳跃滤波延迟JFilt_Delay,其算法思路如下:i. 如果当前液位与前一时刻液位输出值相距大于JFilt_Thresh ,跳跃滤波计数器累加;否则跳跃滤波计数器清零, 用当前液位值作为当前时刻的输出。

ii. 如果跳跃滤波计数器大于JFilt_Delay ,用当前液位值作为当前时刻的输出;否则用前一时刻液位输出值作为当前时刻的输出。

2) 阻尼阻尼用距离滤波因子来度量,施加阻尼后系统的输出为:D n ′=D n−1′+(D n −D n−1′)∗DistFiltFactor(1-9)式中,D n ′ — 当前时间输出值 D n−1′ — 前一时刻的输出值 D n — 当前时刻的测量值DistFiltFactor — 距离滤波因子距离滤波因子和阻尼时间常数之间可用如下关系式表示:DistFiltFactor =1−e −∆TT(1-10)式中,T — 时间常数,单位为s∆T —液位计算的时间间隔(0.1s)3) 最小二乘法滤波最小二乘法滤波用于快速跟踪液位的变化,其算法步骤如下:iii. 利用前N (N=10)个时刻的输出值D ′(0)、D ′(∆T )、D ′(2∆T )、…、D ′((N −1)∆T),根据最小二乘法,拟合一条输出随时间变化的直线:D ′′(t )=a +b ∗t (1-11)iv. 利用拟合直线,计算当前时刻的预测值:TankHeight_R OffsetDist_GBottomOffsetDist_C+Level+Ullage +Flange_DD′′(N∆T)=a+b∗N∆T (1-12) v.根据当前时刻的预测值和测量值,计算当前时刻的输出值:D′(N∆T)=D′′(N∆T)+[D(N∆T)−D′′(N∆T)]∗DistFiltFactor(1-13) 式中,D(N∆T)—当前时刻的测量值。

注:最小二乘法线性拟合见附录A。

2.液位计算以用户定义的液位零点为参考点,计算出的液位值为:Level=TankHeight_R−Flange_D−OffsetDist_G+CalibrationLevel+LevelOffset (2-1)式中,TankHeight_R—储罐高度Flange_D—上一步计算出来的法兰距离OffsetDist_G—距离偏移量CalibrationLevel—液位校准值LevelOffset—液位修正量3.距离计算以用户定义的距离零点为参考点,计算出的距离值为:Ullage=Flange_D+OffsetDist_G−CalibrationLevel+UllageOffset(3-1) 式中,UllageOffset—距离修正量4.体积计算有4种体积计算方法:插值法、理想球罐法、理想垂直圆柱罐法、理想水平圆柱罐法。

1)插值法使用拉格朗日插值法进行体积计算;假设体积插值表可表示为(L0,V0)、(L1,V1)、…、(L N−1,V N−1),并且满足L0<L1<⋯<L N−1、V0<V1<V N−1;首先将液位转换为以插值表参考零点为基准:Level_V=TankHeight_R−Flange_D−OffsetDist_G+CalibrationLevel+LevelOffs(4-1)式中,LevelOffs—插值表液位偏移量①线性插值寻找点(L i,V i)、(L i+1,V i+1),使得L i≤Level_V<L i+1,使用下式计算体积值:V′=Level_V−L i+1L i−L i+1∗V i+Level_V−L iL i+1−L iV i+1(4-2)如果Level_V<L0,用(L0,V0)、(L1,V1)进行计算;如果Level_V≥L N−1,用(L N−2,V N−2)、(L N−1,V N−1)计算。

②二次曲线插值法寻找点(L i,V i)、(L i+1,V i+1),使得L i≤Level_V<L i+1,使用下式计算体积值:V′=(Level_V−L i+1)(Level_V−L i+2)(L i−L i+1)(L i−L i+2)∗V i+(Level_V−L i)(Level_V−L i+2)(L i+1−L i)(L i+1−L i+2)∗V i+1+(Level_V−L i)(Level_V−L i+1)(L i+2−L i)(L i+2−L i+1)∗V i+2 (4-3) 如果Level_V<L0,用(L0,V0)、(L1,V1)、(L2,V2)计算;如果Level_V≥L N−2,用(L N−3,V N−3)、(L N−2,V N−2)、(L N−1,V N−1)计算。

插值法的体积输出值为:Volume=V′+VolumeOffs(4-4)式中,VolumeOffs—体积修正量2)理想球罐法Level_V=TankHeight_R−Flange_D−OffsetDist_G+CalibrationLevel+ZeroLevelToBottomVolume=1π(3L1−2Level_V)∗Level_V2+VolumeOffs6(4-5) 式中,ZeroLevelToBottom—液位零点到罐底的距离L1—球罐直径3)理想垂直圆柱罐法Level_V=TankHeight_R−Flange_D−OffsetDist_G+CalibrationLevel+ZeroLevelToBottomπL12∗Level_V+VolumeOffsVolume=14(4-6) 式中,L1—圆柱体直径4)理想水平圆柱罐法Level_V=TankHeight_R−Flange_D−OffsetDist_G+CalibrationLevel+ZeroLevelToBottomVolume=14atan2(√L12−(L1−2Level_V)2,(L1−2Level_V))∗L12−14(L1−2Level_V)∗√L12−(L1−2Level_V)2+ VolumeOffs(4-7)式中,L1—圆柱体直径L2—圆柱体高度5.液位速率计算液位速率由下式计算:LevelRate=Level_V−Level_V ′∆T(5-1) 式中,Level_V′—上一时刻的液位值∆T—液位计算的时间间隔(0.1s)附录A 最小二乘法线性拟合最小二乘法线性拟合就是将一组符合Y=a+bX 关系的测量数据,用计算的方法求出最佳的a 和b 。

假设直线方程的表达式为:bx a y +=要根据测量数据求出最佳的a 和b 。

对满足线性关系的一组等精度测量数据(x i ,y i ),假定自变量x i 的误差可以忽略,则在同一x i 下,测量点y i 和直线上的点a+bx i 的偏差d i 如下:111bx a y d --= 222bx a y d --=n n n bx a y d --=显然最好测量点都在直线上(即d 1=d 2=……=d n =0),求出的a 和b 是最理想的,但测量点不可能都在直线上,这样只有考虑d 1、d 2、……、d n 为最小,也就是考虑d 1+d 2+……+d n 为最小,但因d 1、d 2、……、d n 有正有负,加起来可能相互抵消,因此不可取;而|d 1|+ |d 2|+……+ |d n |又不好解方程,因而不可行。

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