数字电路实验
数字电路实验测试
数字电路实验测试数字电路实验测试是电子工程领域中非常重要的一项实验内容，通过对数字电路的测试与分析，可以验证电路设计的正确性、稳定性和可靠性。
本文将介绍数字电路实验测试的基本原理和常见的测试方法。
一、实验测试的基本原理数字电路实验测试的基本原理是通过输入不同的电信号，观察电路输出的情况，从而判断电路的工作状态和性能指标。
常见的数字电路实验测试基本原理包括输入输出特性测试、时序性能测试和逻辑功能测试。
输入输出特性测试：通过给定不同的输入信号，观察输出信号的变化情况。
测试输入输出特性可以确定电路输入输出的电平范围和电平变化关系，判断电路的输入、输出能力是否符合设计要求。
时序性能测试：通过给定不同的输入信号，并配合时钟信号，观察电路输出信号的时序性能。
测试时序性能可以判断电路的延时时间、时钟频率、时钟相位等时序参数是否满足设计要求，避免电路工作时出现时序冲突或时序偏差。
逻辑功能测试：通过给定不同的输入信号，观察电路输出信号的逻辑功能是否正确。
测试逻辑功能可以判断电路实现的逻辑运算是否符合设计要求，识别输入信号的各种组合情况，验证电路的逻辑表达式是否正确。
二、实验测试的方法1. 硬件测试方法硬件测试方法是通过专用的测试设备进行数字电路实验测试的方法。
常见的硬件测试设备包括逻辑分析仪、信号发生器、频谱仪等设备。
这些设备可以提供稳定的输入信号和高精度的输出信号，通过对电路输入输出信号的测量和分析，可以准确判断电路的工作状态和性能参数。
2. 软件仿真方法软件仿真方法是通过计算机模拟数字电路的工作状态和性能表现的方法。
常见的软件仿真工具包括Verilog、VHDL等。
通过在仿真工具中编写电路的描述代码，并给定不同的输入信号，可以模拟电路的工作过程，观察电路输出信号的变化情况，从而分析电路的工作状态和性能指标。
三、实验测试的步骤1. 确定测试目标：根据实验要求，明确测试的目标，例如测试输入输出特性、时序性能或逻辑功能等。
数字电路全部实验
数字电子技术实验报告实验一门电路逻辑功能及测试 (1)实验二数据选择器与应用 (4)实验三触发器及其应用 (8)实验四计数器及其应用 (11)实验五数码管显示控制电路设计 (17)实验六交通信号控制电路 (19)实验七汽车尾灯电路设计 (25)班级：08030801学号：2008301787 2008301949姓名：纪敏于潇实验一 门电路逻辑功能及测试一、实验目的：1.加深了解TTL 逻辑门电路的参数意义。
2.掌握各种TTL 门电路的逻辑功能。
3.掌握验证逻辑门电路功能的方法。
4.掌握空闲输入端的处理方法。
二、实验设备：THD —4数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发射器， 74LS00二输入端四与非门，导线若干。
三、实验步骤及内容： 1.测试门电路逻辑功能。
选用双四输入与非门74LS00一只，按图接线，将输入电平按表置位，测输出电平用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑。
用74LS00实现与逻辑。
用74LS00实现或逻辑。
用74LS00实现异或逻辑。
2.按实验要求画出逻辑图，记录实验结果。
3.实验数据与结果将74LS00二输入端输入信号分别设为信号A 、B用74LS00实现与逻辑 1A B A B =∙ 逻辑电路如下：12374LS00AN45674LS00ANA BA 端输入TTL 门信号，B 端输入高电平，输出波形如下：A 端输入TTL 门信号，B 端输入低电平，输出波形如下：1、 用74LS00实现或逻辑11A B A B A B +=∙=∙∙∙逻辑电路如下12374LS00AN45674LS00AN910874LS00ANcU1A BA 端输入TTL 门信号，B 端输入高电平，输出波形如下：A 端输入TTL 门信号，B 端输入低电平，输出波形如下：2、 用74LS00实现异或逻辑 A B AB BA AB BA ABB ABA ⊕=+=∙=∙逻辑电路如下：A 端输入TTL 门信号，B 端输入高电平，输出波形如下：A 端输入TTL 门信号，B 端输入低电平，输出波形如下：实验二数据选择器及其应用一、实验目的1.通过实验的方法学习数据选择器的电路结构和特点。
数字电路实验报告 实验5
实验五移存器功能测试及应用一、实验目的1、熟悉移位寄存器（移存器）的电路结构和工作原理。
2、掌握D触发器74HC(LS)74及集成移位寄存器74HC(LS)194的逻辑功能和使用方法。
二、实验设备和器件1、数字逻辑电路实验板1块2、74HC(LS)74（双D触发器）2片3、74HC(LS)194（4位双向通用移位寄存器）2片三、实验原理移位寄存器是具有移位功能的寄存器，其中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。
既能左移又能右移的称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。
移位寄存器存取信息的方式分为：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。
实验用器件管脚介绍：1、74HC(LS)74（双D触发器）管脚如下图所示。
2、74HC(LS)194（4位双向通用移位寄存器）管脚如下图所示。
四、实验内容与步骤1、利用两块74HC(LS)74（四个D触发器）构成一个单向的移位寄存器（基本命题）参照用两块74HC(LS)74（四个D触发器）构成一个单向移位寄存器的实验电路图连接电路，Q输出依次接LED指示灯，加电后在移位输入端加入不同信号观察LED指示灯变化。
1.1电路图1.2实验结果LED灯依次变亮，每次间隔一个CP。
2、测试74HC(LS)194的功能（基本命题）例如，Q输出依次接LED指示灯，改变S1、S0的值配合其它输入观察LED的变化。
2.1电路图2.2实验结果：置数：LED显示状态与置数端相同。
左移：LED从下往上（QD到QA）依次变亮，每次间隔一个CP右移：LED从上往下（QA到QD）依次变亮，每次间隔一个CP3、用两片74HC(LS)194做出模16的扭环计数器（扩展命题）将两片的Q输出依次都接到LED指示灯上，加电并加CP观察LED的变化。
现象一般为八盏灯先依次变暗再依次变亮如此循环。
3.1电路图3.2计数器拓展当进行M=2n 偶数计数时，可采用扭环型，D1=Q n ̅̅̅̅，将Q n 和高电平与非后反馈至第一片的输入端。
数字电路设计实训实验报告
一、实验目的1. 熟悉数字电路的基本组成和基本逻辑门电路的功能。
2. 掌握组合逻辑电路的设计方法，包括逻辑表达式化简、逻辑电路设计等。
3. 提高动手实践能力，培养独立思考和解决问题的能力。
4. 理解数字电路在实际应用中的重要性。
二、实验原理数字电路是一种用数字信号表示和处理信息的电路，其基本组成单元是逻辑门电路。
逻辑门电路有与门、或门、非门、异或门等，它们通过输入信号的逻辑运算，输出相应的逻辑结果。
组合逻辑电路是由逻辑门电路组成的，其输出仅与当前输入信号有关，与电路的过去状态无关。
本实验将设计一个简单的组合逻辑电路，实现特定功能。
三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 逻辑门电路（如与非门、或非门、异或门等）3. 逻辑电平测试仪4. 线路板5. 电源四、实验内容1. 组合逻辑电路设计（1）设计一个三人表决电路三人表决电路的输入信号为三个人的投票结果，输出信号为最终的表决结果。
根据题意，当至少有两人的投票结果相同时，输出为“通过”；否则，输出为“不通过”。
（2）设计一个4选1数据选择器4选1数据选择器有4个数据输入端、2个选择输入端和1个输出端。
根据选择输入端的不同，将4个数据输入端中的一个输出到输出端。
2. 组合逻辑电路搭建与测试（1）搭建三人表决电路根据电路设计，将三个与门、一个或门和一个异或门连接起来，构成三人表决电路。
（2）搭建4选1数据选择器根据电路设计，将四个或非门、一个与非门和一个与门连接起来，构成4选1数据选择器。
（3）测试电路使用逻辑电平测试仪，测试搭建好的电路在不同输入信号下的输出结果，验证电路的正确性。
3. 实验结果与分析（1）三人表决电路测试结果当输入信号为（1，0，0）、（0，1，0）、（0，0，1）时，输出为“通过”；当输入信号为（1，1，0）、（0，1，1）、（1，0，1）时，输出为“不通过”。
测试结果符合设计要求。
（2）4选1数据选择器测试结果当选择输入端为（0，0）时，输出为输入端A的信号；当选择输入端为（0，1）时，输出为输入端B的信号；当选择输入端为（1，0）时，输出为输入端C的信号；当选择输入端为（1，1）时，输出为输入端D的信号。
数字电路实验
实验一基本门电路（验证型）一、实验目的（1）熟悉常用门电路的逻辑功能；（2）学会利用门电路构成简单的逻辑电路。
二、实验器材数字电路实验箱 1台；74LS00、74LS02、74LS86各一块三、实验内容及步骤1、TTL与非门逻辑功能测试（1）将四2输入与非门74LS00插入数字电路实验箱面板的IC插座上，任选其中一与非门。
输入端分别输入不同的逻辑电平（由逻辑开关控制），输出端接至LED“电平显示”输入端。
观察LED亮灭，并记录对应的逻辑状态。
按图1－1接线，检查无误方可通电。
图1－1表1－1 74LS00逻辑功能表2、TTL或非门、异或门逻辑功能测试分别选取四2输入或非门74LS02、四2输入异或门74LS86中的任一门电路，测试其逻辑功能，功能表自拟。
3、若要实现Y=A′, 74LS00、74LS02、74LS86将如何连接，分别画出其实验连线图，并验证其逻辑功能。
4、用四2输入与非门74LS00实现与或门Y=AB+CD的功能。
画出实验连线图，并验证其逻辑功能。
四、思考题1.TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平？2.如何处理各种门电路的多余输入端？附：集成电路引出端功能图实验二组合逻辑电路（设计型）一、实验目的熟悉简单组合电路的设计和分析过程。
二、实验器材数字电路实验箱 1台，74LS00 三块，74LS02、74LS04、74LS08各一块三、实验内容及步骤1、设计一个能比较一位二进制A与 B大小的比较电路，用X1、X2、X3分别表示三种状态：A>B时，X1=1;A<B时X2=1;A=B时X3＝1。
(用74LS04、74LS08和74LS02实现）要求：（1）列出真值表；（2）写出函数逻辑表达式；（3) 画出逻辑电路图，并画出实验连线图；（4）验证电路设计的正确性。
2、测量组合电路的逻辑关系：（1）图3-2电路用3块74LS00组成。
按逻辑图接好实验电路，输入端A、B、C 分别接“逻辑电平”，输出端D、J接LED“电平显示”；图3-2 表3－2（2）按表3－2要求，将测得的输出状态和LED显示分别填入表内；（3）根据测得的逻辑电路真值表，写出电路的逻辑函数式，判断该电路的功能。
《数字电路》实验报告
《数字电路》实验报告项目一逻辑状态测试笔的制作一、项目描述本项目制作的逻辑状态测试笔，由集成门电路芯片74HC00、发光二极管、电阻等元器件组成，项目相关知识点有：基本逻辑运算、基本门电路、集成逻辑门电路等；技能训练有：集成逻辑二、项目要求用集成门电路74HC00制作简易逻辑状态测试笔。
要求测试逻辑高电平时，红色发光二极管亮，测试逻辑低电平时绿色发光二极管亮。
三、原理框图四、主要部分的实现方案当测试探针A测得高电平时，VD1导通，三级管V发射级输出高电平，经G1反相后，输出低电平，发光二级管LED1导通发红光。
又因VD2截止，相当于G1输入端开路，呈高电平，输出低电平，G3输出高电平，绿色发光二级管LED2截止而不发光。
五、实验过程中遇到的问题及解决方法（1）LED灯不能亮：检查硬件电路有无接错；LED有无接反；LED有无烧坏。
（2）不能产生中断或中断效果：检查硬件电路有无接错；程序中有无中断入口或中断子程序。
（3）输入电压没有反应：数据原理图有没有连接正确，检查显示部分电路有无接错；4011逻辑门的输入端有无浮空。
六、心得体会第一次做的数字逻辑试验是逻辑状态测试笔，那时什么都还不太了解，听老师讲解完了之后也还不知道从何下手，看到前面的人都起先着手做了，心里很焦急可就是毫无头绪。
老师说要复制一些文件协助我们做试验（例如：试验报告模板、试验操作步骤、引脚等与试验有关的文件），还让我们先画原理图。
这时，关于试验要做什么心里才有了一个模糊的框架。
看到别人在拷贝文件自己又没有U盘只好等着借别人的用，当然在等的时候我也画完了逻辑测试笔的实操图。
后面几次都没有过，但最后真的发觉试验的次数多了，娴熟了，知道自己要做的是什么，明确了目标，了解了方向，其实也没有想象中那么困难。
七、元器件一逻辑状态测试笔电路八、附实物图项目二多数表决器电路设计与制作一、项目描述本项目是以组合逻辑电路的设计方法，用基本门电路的组合来完成具有多数表决功能的电路。
数字电路实验
数字电路实验数字电路实验是电子工程相关专业的一门重要实践课程，旨在帮助学生掌握数字电路设计与实验的基本原理、方法和技能。
通过实验，学生可以加深对数字电路理论知识的理解，提升实践能力和创新思维，为将来从事电子工程领域的研究和实践奠定坚实的基础。
一、实验目的数字电路实验的目的是培养学生的实验操作技能，提高学生的动手实践能力，掌握数字电路设计和测试的方法。
通过实际操作，学生可以了解数字电路的基本原理、功能及其实验现象，加深对数字电路的理论知识的理解。
二、实验器材数字电路实验需要以下器材和设备：1. 实验箱：用于组装和连接数字电路实验电路。
2. 示波器：用于观察和测量电路中的信号波形。
3. 信号发生器：用于产生各种测试信号。
4. 计数器：用于计数和测量电路中的脉冲频率。
5. 多用途通用测试仪：用于电路测试和故障诊断。
三、实验内容数字电路实验的内容主要包括以下几个方面：1. 数字逻辑门电路实验：包括与门、或门、非门、与非门、异或门等的实验。
2. 组合逻辑电路实验：包括编码器、解码器、复用器、译码器等的实验。
3. 时序逻辑电路实验：包括时钟、触发器、时序逻辑门、计数器、寄存器等的实验。
4. 数字电路综合实验：通过综合实验，学生需自主设计数字电路，实践数字电路设计的基本方法和技巧。
四、实验步骤1. 根据实验内容和要求，选择适当的实验器材和设备。
2. 设计和搭建数字电路实验电路，注意连接的准确性和稳定性。
3. 使用示波器和信号发生器对电路进行测试和调试，观察和测量信号波形和频率。
4. 记录实验过程中的数据和现象，并进行数据分析和处理。
5. 总结实验结果，撰写实验报告，包括实验目的、原理、电路图、实验步骤、数据分析和结论等内容。
五、实验注意事项1. 实验前需充分了解实验原理和电路设计，做好实验准备工作。
2. 实验操作过程中要注意安全，遵守实验室的各项规定。
3. 实验过程中需认真记录数据和现象，保证实验结果的准确性和可靠性。
数字电路实验报告实验
数字电路实验报告实验一、引言数字电路是计算机科学与工程学科的基础，它涵盖了数字信号的产生、传输、处理和存储等方面。
通过数字电路实验，我们可以深入了解数字电路的原理和设计，掌握数字电路的基本知识和实验技巧。
本报告旨在总结和分析我所进行的数字电路实验。
二、实验目的本次实验的目的是通过搭建和测试电路，验证数字电路的基本原理，掌握数字电路实验中常用的实验仪器和操作方法。
具体实验目的如下：1. 组装和测试基础门电路，包括与门、或门、非门等。
2. 理解和实践加法器电路，掌握准确的运算方法和设计技巧。
3. 探究时序电路的工作原理，深入了解时钟信号和触发器的应用。
三、实验装置和材料1. 模块化数字实验仪器套装2. 实验台3. 数字电路芯片（例如与门、或门、非门、加法器、触发器等）4. 连接线、电源、示波器等。
四、实验步骤及结果1. 实验一：组装和测试基础门电路在实验台上搭建与门、或门、非门电路，并连接电源。
通过连接线输入不同的信号，测试输出的结果是否与预期一致。
记录实验步骤和观察结果。
2. 实验二：实践加法器电路将加法器电路搭建在实验台上，并输入两个二进制数字，通过加法器电路计算它们的和。
验证求和结果是否正确。
记录实验步骤和观察结果。
3. 实验三：探究时序电路的工作原理将时序电路搭建在实验台上，并连接时钟信号和触发器。
观察触发器的状态变化，并记录不同时钟信号下的观察结果。
分析观察结果，总结时序电路的工作原理。
五、实验结果与分析1. 实验一的结果与分析：通过测试与门、或门、非门电路的输入和输出，我们可以观察到输出是否与预期一致。
若输出与预期一致，则说明基础门电路连接正确，电路工作正常；若输出与预期不一致，则需要检查电路连接是否错误，或者芯片损坏。
通过实验一，我们可以掌握基础门电路的搭建和测试方法。
2. 实验二的结果与分析：通过实践加法器电路，我们可以输入两个二进制数字，并观察加法器电路的运算结果。
如果加法器电路能正确计算出输入数字的和，则说明加法器电路工作正常。
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目录实验一TTL集成逻辑与非门参数的测试 (2)实验二组合逻辑电路 (4)实验三编码器和译码器 (6)实验四触发器及其应用 (8)实验五同步计数器测试与扩展 (10)实验六任意进制计数器 (12)实验七移位寄存器功能测试及应用 (14)实验八555集成定时器及应用 (15)实验一 TTL 集成逻辑与非门参数的测试一 .实验目的1、 了解TTL 与非门各参数的意义。
2、 掌握TTL 集成与非门主要参数的测试方法。
3、 掌握TTL 器件的使用规则。
二．实验设备与器材1、数字逻辑实验箱 1台2、万用电表1台 3、集成四-2输入与非门74LS001只三． 实验内容及步骤1、验证与非门74LS00的逻辑功能将与非门的两输入端分别接到数字逻辑实验箱的逻辑开关k 1和k 2上，输出端接逻辑指示灯和万用电表上。
按表1逐项验证其逻辑功能，测量结果填入表1–1中。
表1与非门逻辑功能的测试2、电压传输特性测试按下图图1完成连线。
调节RP,改变Vi 值，按表2的要求逐个设定电压值，读出每个设定值对应的输出值，并描绘电压传输特性曲线。
图1表2 与非门的电压传输特性Rp 4.7KVi (V)3、测试与非门部分参数测试4．实验思考题（1）门电路的带负载能力是什么？（2）测量扇出系数N O的原理是什么？实验二 组合逻辑电路一．实验目的1、掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。
2、用实验验证所设计电路的逻辑功能。
二、实验设备及器件1、逻辑实验箱 1个2、万用表 1个3、集成芯片74LS283 、74LS00、74LS86 、74LS51 各1片三、实验内容及步骤1、集成全加器74LS283功能测试 按表1数据要求，记录测试结果其中上图： 【1】 C 0与A 4A 3A 2A 1以及B 4B 3B 2B 1分别接9个不同逻辑开关【2】 C 4与输出端∑4∑3∑2∑1分别接5个不同发光二极管2、门电路74LS86、、74LS00组成半加器图中A 、B 为数据输入端，S 、C 分别为求和信号、进位信号输出。
B1B2B3B4C03、门电路74LS86、74LS51、74LS00组成全加器按表3条件输入数据，记录测试结果。
表3图中：【1】将输入端A 、B 、C0各接一个逻辑开关。
【2】输出端∑、C1各接一只状态显示发光二极管。
四．实验思考题（1）通过实验，你认为SSI 组合逻辑电路设计的关键步骤是什么？ （2）对于同一个命题，是否有不同的设计方案，比较各自的优缺点。
（3）为防止集成电路的电源电压接反，而造成器件损坏，保护电路如何设计C0AB实验三编码器和译码器一、实验目的1、掌握中规模集成电路译码器、编码器的逻辑功能和使用方法。
2、利用译码器、编码器进行组合逻辑电路设计。
二、实验设备与器材1、数字逻辑实验箱1台2、集成芯片：74LS148，74LS138，74LS48 ，74LS20 各一片3、共阴数码管BS202 1个三、实验内容与步骤1、编码器逻辑功能测试：按图1连接好电路，拔动逻辑电平开关，按表1测试功能。
74LS148图12、译码显示器的功能测试：（74LS48 引脚：4—K1；5—K2；3—K3；K1K2K3＝“111”）按图2连接好电路，填表2真值表，分析逻辑功能表24、用3线－8线译码器74LS138和与非门74LS20设计如下多输出逻辑函数。
要求设计逻辑电路并连接好电路，用逻辑电平开关输入信号，0－1指示器输出。
实验四 触发器及其应用一、实验目的1、了解D 型、JK 型触发器逻辑功能，2、掌握D 型、JK 型触发器功能转换。
二、实验设备及器件1、数字逻辑实验箱2、集成芯片 74LS74 、74LS112 、74LS00 各1个三、实验内容及步骤1、双上升沿D 型触发器74LS74功能测试：（异步输入端PRE 、CLR 不能同时作用低电平） 【1】异步输入端PRE 、CLR 功能测试。
【2】输入端D 、CP 功能测试。
2、 双下降沿JK 型触发器74LS112功能测试【1】异步输入端PRE 、CLR 功能测试。
“×”表示可以为任意状态D CP S R D DK CP S R D DJ D CP S R D D【2】输入端J、K、CP功能测试。
3、触发器逻辑功能转换【1】将D型触发器转换成T′触发器。
设触发器初态为“0”，异步输入端接逻辑开关。
按右表要求，记录实验结果、绘制波形图。
【2】将JK型触发器转换成D触发器QD实验五同步计数器测试与扩展一、实验目的1、掌握同步计数器的基本功能；2、熟练运用同步计数器扩展电路二、实验设备及器件1、数字逻辑实验箱2、集成芯片74LS161 2个3、集成芯片 74LS00 1个三、实验内容及步骤1、同步计数器的测试（调节连续脉冲源频率约为1HZ）【1】计数功能：按图连接电路，K0与K1置1 ，观察指示灯变化，画出计数状态转化图，注意CO图1【2】清零功能：按动单次脉冲源P1，看计数器指示灯状态【3】置数功能：按动单次脉冲源P0，拨动开关K2—K5，设置P0—P3置数值，观察指示灯的状态，注意置数与时钟之间的关系【4】保持不变功能：分别置K0与K1为0，观察计数器是否停止；当Q4Q3Q2Q1=1111时，再置K0与K1为0，观察L0指示变化，说明PE、TE禁止功能对进位端控制的差别2、同步计数器的扩展【1】两片74LS161扩展成8位同步计数器（调节连续脉冲源频率约为1KHZ）要求：画出电路图，并连接好电路；用频率计测量时钟CP与高位进位端CO得频率，计算N=fCP/Fco【2】两片74LS161扩展成8位异步计数器（调节连续脉冲源频率约为1KHZ）要求：画出电路图，并连接好电路；用频率计测量时钟CP与高位进位端CO得频率，计算N=fCP/Fco实验六 任意进制计数器一、实验目的1、了解集成计数器的种类；2、学会计数器的测试方法及功能扩展二、实验设备及器件1、数字逻辑实验箱2、集成芯片74LS160 、74LS192、74LS00 各1个三、实验内容及步骤1、十进制异步清零、同步置数计数器74LS160功能测试【1】计数功能测试参数记录表【2】．实现6进制计数（时钟信号CP 为1Hz ）参照上述电路，要求分别用清零法与置数法实现，记录数据，画出状态转换图K1K2K3AB DC CLK CLR(K1)K3Q A Q B Q C Q D RCO提示：K2掷于高电平，K4、K5、K6、K7任意状态2、十进制异步计数器74LS192功能测试（记录参数，画出波形图，表中×：可为任意状态）。
输入端UP接单脉冲，减法计数：输入端UP接高电平，K1输入端DOWN接单脉冲。
3、实现16进制计数器利用74LS160与74LS192扩展成16进制计数器（调节连续脉冲源频率约为1HZ）要求：画出电路图，并连接好电路，观察数码管变化，并记录数据，画出状态转化图实验七 移位寄存器功能测试及应用一、实验目的：1.掌握中规模4位双向寄存器逻辑功能及使用方法。
2.熟悉移位寄存器的应用，实现数据的串行、并行转换和构成环形计数器二、实验设备及器件1、数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。
2 集成芯片：74LS194 74LS04三、实验内容及步骤1、测试74LS194的逻辑功能 ，按要求连接电路，记录实验数据【1】清除：令=0，其它输入均为任意态，记录寄存器输出Q0、 Q1、 Q2 、Q 状态 【2】置数：令=S1=S0=1 ，送入任意4位二进制数，如D0、D1、D2、D3=abcd ，加CP脉冲，观察CP=0、CP 由1→0、三种情况下寄存器输出状态的变化， 【3】右移：清零后，令=1， S1=0 S0=1，由右移输入端SR 送入二进制数码如0100，由CP 端连续加4个脉冲，观察输出情况，记录之。
【4】左移：先清零或予至，再令=1 S1=1，S0=0，由左移 输入端SL 送入二进制数码如1111，连续加四个CP 脉冲，观察输出端情况，记录之。
【5】保持：寄存器予置任意4位二进制数码abcd ，令=1，S1=S0=0，加CP 脉冲，观察寄存器输出状态，记录之。
2、环形计数器（模值=6）【1】自行设计电路，连接电路图，用0-1指示器指示记录数据 【2】用并行置数法予置寄存器为某二进制数码（如0100）， 【3】进行右移循环，观察寄存器输出端状态的变化，四、实验思考题使寄存器 清零，除采用输入低电平外，可否采用右移或左移的方法？可否使用并行送数法？若可行，如何进行操作？图1 74LS194的逻辑符号图及引脚功能图（1）、S1、S0、SL 、SR 、D0、D1、D2、D3分别接至逻辑开关（2）Q0、Q1、Q2、Q3接至发光二极管（3）CP 端接单次脉冲源实验八 555集成定时器及应用一、实验目的1．熟悉555集成定时器的组成及工作原理。
2．掌握555集成定时器的典型应用。
3．掌握555集成定时器应用电路的测量和调试方法。
二、实验设备和器材1、信号发生器 1台2、双踪示波器 1台3、集成芯片CC7555C 1片4、电阻、电容 若干三、实验内容及步骤1．用CC7555连接成基本RS 触发器 （1）按图1连接电路。
（2）测试集成定时器构成RS 触发器的逻辑功能，记录有关实验数据。
2．用CC7555连接成单稳态触发器 （1）按图2所示联接好电路。
（2）V 0接LED 电平指示器，V i 由单次脉冲源提供触发脉冲，用双踪示波器仔细观察 V i ，V O 波形，特别注意当V i 脉冲下沿时， V O 由低电平上跳为高电平，测定幅度， 记录数据。
（3）合理选择输入信号（TL 端）的频率和脉宽，以保证输入信号的周期大于输出（OUT 端）的脉宽。
加输入信号后，用示波器观察输入信号υI 、电容两端电压υC 、输出端υO 的电压波形，记录波形，并在波形图中标出周期、幅度、脉宽等。
（4）将R 改为1K ，C 改为0.1μf ，V i 加1KHz 的连续脉冲，观察V i 、V O 及V C ，测定幅度及延时时间，记录之。
图1 555集成定时器构成RS 触发器图2 555集成定时器构成的单稳态3．用CC7555连接成一个施密特触发器 （1）按图3所示，联接好电路。
（2）V i 由音频信号源提供，f=1KHz ，正弦波信号，用双踪示波器观测V i 、V O 波形，逐渐 加大输入信号V i 的幅度，继续用示波器观 测V i （t ）、V O （t ）波形，记录下来。
（3）记录计算误差电压ΔV 的值。
（4）绘出电压传输特性曲线（即V O =f （V i ）函数关系曲线）4．用CC7555连接成一个多谐振荡器 （1）按图4所示联接好电路。
（2）用双踪示波器观测V C 及V O 的波形，用示波器及频率计测定频率，记录之。