verilog实验3
Verilog实验报告(电子)参考模板
西安邮电大学Verilog HDL大作业报告书学院名称：电子工程学院学生姓名：专业名称：电子信息工程班级：实验一异或门设计一、实验目的（1）熟悉Modelsim 软件（2）掌握Modelsim 软件的编译、仿真方法（3）熟练运用Modelsim 软件进行HDL 程序设计开发二、实验内容my_or，my_and和my_not门构造一个双输入端的xor门，其功能是计算z=x’y+xy’,其中x和y为输入，z为输出；编写激励模块对x和y的四种输入组合进行测试仿真1、实验要求用Verilog HDL 程序实现一个异或门，Modelism仿真，观察效果。
2、步骤1、建立工程2、添加文件到工程3、编译文件4、查看编译后的设计单元5、将信号加入波形窗口6、运行仿真实验描述如下：module my_and(a_out,a1,a2);output a_out;input a1,a2;wire s1;nand(s1,a1,a2);nand(a_out,s1,1'b1);endmodulemodule my_not(n_out,b);output n_out;input b;nand(n_out,b,1'b1); endmodulemodule my_or(o_out,c1,c2)；output o_out;input c1,c2;wire s1,s2;nand(s1,c1,1'b1);nand(s2,c2,1'b1);nand(o_out,s1,s2); endmodulemodule MY_XOR(z,x,y);output z;input x,y;wire a1,a2,n1,n2;my_not STEP01(n1,x);my_not STEP02(n2,y);my_and STEP03(a1,n1,y);my_and STEP04(a2,n2,x);my_or STEP05(z,a1,a2); Endmodulemodule stimulus;reg X,Y;wire OUTPUT;MY_XOR xor01(OUTPUT,X,Y);initialbegin$monitor($time,"X=%b,Y=%b --- OUTPUT=%b\n",X,Y,OUTPUT);endinitialbeginX = 1'b0; Y = 1'b0;#5 X = 1'b1; Y = 1'b0;#5 X = 1'b1; Y = 1'b1;#5 X = 1'b0; Y = 1'b1;endendmodule二、实验结果波形图：三、分析和心得通过这次的实验，我基本熟悉Modelsim 软件，掌握了Modelsim 软件的编译、仿真方法。
实验三2的指导书 1.doc
实验三、3-8译码器的设计一、实验目的1、学会用Verilog语言的描述方式来设计电路;2、掌握3-8译码器的设计方法；3、掌握迁else语句和case语句的使用方法。
二、实验原理1.设计电路的接口描述输入变量为三个A,B,C,输出变量有8个，即Y0~Y7。
G1,G2A,G2B为选通输入，仅当Gl=l, G2A=0, G2B=0时，译码器能够正确输出，否则，译码器输出无效，Y0~Y7均为高电平“ 11111111"。
2.电路设计基本方法译码器输出连接8个二极管，低电平显示输出端有效。
三、实验内容1、用Verilog语言设计3-8译码器（Verilog程序代码和仿真的波形图附在实验报告后面）。
2、下载并验证结果。
四、实验结果1、详细的描述你的设计思路。
根据38译码器工作原理，我设计了四个输入，即三个译码输入以及使能端，八个输出，对照38译码器真值表实现功能能即可；在此处实验，我设计了 if-else嵌套，case有限状态机，以及带算法实现三种方法。
接下来我就逐一比较分析。
方案一：module trans（input wire [2:0] data in, //三线输入，高电平有效input en, //使能端，低电平有效output reg [7:0] data_out〃8 线输出，低电平有效）；always©(data_in or en) beginif (!en)if(data_in==3, bOOO)data_out=8, blllllllO;else if(data_in==3, bOOl)data_out=8, bllllllOl;else if (data_in=3‘bOlO)data_out=8, blllllOll;else if(data_in==3, bOll)data_out=8, bllllOlll;else if (data_in=3‘blOO)data_out=8, blllOllll;else if(data_in==3, blOl)data_out=8, bllOlllll;else if (data_in=3‘bllO)data_out=8, blOllllll;else if(data_in==3, bill)data_out=8, bOlllllll;elsedata_out=8, hff;endendmodule此方法可以实现38译码，缺点是多个if-else嵌套，逻辑较为复杂，程序可读性不高，并且在想扩展至更多功能，比如4-16, 5-32, 6-64甚至更多译码时，难以实现，工作量大。
实验三 4位十进制频率计设计
实验三4位十进制频率计设计一、实验目的1.掌握数字频率计的Verilog描述方法；2.学习设计仿真工具的使用方法3.学习层次化设计方法；二、实验原理根据频率的定义和频率测量的基本原理，测定信号的频率必须有一个脉宽位1秒的输入信号脉冲计数允许信号；1秒计数结束后，计数值锁入锁存器的锁存信号和为下一次测频计数周期做准备的计数器清零信号。
这3个信号由测频控制信号发生器产生，它的设计要求是，测频控制信号发生器的计数使能信号输出CNT_EN 能产生一个1秒脉宽的周期信号，并对频率计的每一计数器CNT10的ENA使能端进行同步控制。
当CNT_EN 高电平时，允许计数；当CNT_EN低电平时停止计数，并保持所计的脉冲数。
在停止计数期间，首先需要一个锁存信号LOAD的上跳沿将计数器在前1秒钟的计数值锁存进各个锁存器REG4B中，并由外部的七段译码器译出，显示计数值。
设置锁存器的好处是，显示数据稳定，不会由于周期性的清零信号而不断闪烁。
信号锁存之后，还必须用清零信号RST_CNT对计数器进行清零，为下1秒钟的计数操作做准备。
三、实验内容1、用4位十进制计数器对用户输入时钟进行计数，计数间隔为1秒，计数满1秒后将计数值（即频率值）锁存到4位寄存器中显示，并将计数器清0，再进行下一次计数。
2、为上述设计建立元件符号3、设计仿真文件，进行验证。
4、编程下载并在实验箱上进行验证四、实验步骤程序源代码module FREG (clk1HZ,uclk,led0,led1,led2,led3,rst,en,load);input clk1HZ, uclk;output [3:0]led0,led1,led2,led3;output load,rst,en;wire in_load,in_rst,in_en,c0,c1,c2;wire [3:0]dout0,dout1,dout2,dout3;assign load=in_load;assign rst=in_rst;assign en=in_en;CNTL u1(.CLK(clk1HZ),.CNL_EN(in_en),.RST_CNL(in_rst),.LOAD(in_load));CNT10 u2 (.CLK(uclk),.EN(in_en),.RST(in_rst),.COUT(c0),.DOUT(dout0));CNT10 u3 (.CLK(c0),.EN(in_en),.RST(in_rst),.COUT(c1),.DOUT(dout1));CNT10 u4 (.CLK(c1),.EN(in_en),.RST(in_rst),.COUT(c2),.DOUT(dout2));CNT10 u5 (.CLK(c2),.EN(in_en),.RST(in_rst),.DOUT(dout3));RGB4 u6 (.DIN(dout0),.LOAD(in_load),.DOUT(led0));RGB4 u7 (.DIN(dout1),.LOAD(in_load),.DOUT(led1));RGB4 u8 (.DIN(dout2),.LOAD(in_load),.DOUT(led2));RGB4 u9 (.DIN(dout3),.LOAD(in_load),.DOUT(led3));endmodulemodule CNT10(CLK,RST,EN,COUT,DOUT); //4位计数器input CLK,RST,EN;output COUT;output[3:0] DOUT;reg[3:0] Q; reg COUT;always @ (posedge CLK or posedge RST)beginif(RST) Q=0;else if(EN) beginif(Q<9) Q=Q+1;else Q=0;endendalways @ (Q)if(Q==4'b1001) COUT=1;else COUT=0;assign DOUT=Q;endmodulemodule RGB4(DIN,LOAD,DOUT); //数据缓存器input LOAD;input[3:0] DIN;output[3:0] DOUT;reg[3:0] DOUT;always @ (posedge LOAD)DOUT=DIN;endmodulemodule CNTL(CLK,CNL_EN,RST_CNL,LOAD);//控制部分input CLK;output CNL_EN,RST_CNL,LOAD;reg CLKDIV,CNL_EN,LOAD,RST_CNL;always @ (posedge CLK)CLKDIV=~CLKDIV;always @ (posedge CLK) beginCNL_EN=CLKDIV;LOAD=~CLKDIV;endalways @ (CLK) beginif(CLK==1'b0&&CNL_EN==1'b0)RST_CNL=1;elseRST_CNL=0; endendmoduleRTL视图仿真结果功能分析：在波形中，CLK1HZ的频率为1HZ，以CLK1HZ为输入，产生en，rst，load的输出波形。
实验三_用状态机实现序列检测器的设计Verilog
实验三用状态机实现序列检测器的设计一、实验目的：用状态机实现序列检测器的设计，并对其进行仿真和硬件测试。
二、原理说明：序列检测器可用于检测一组或多组由二进制码组成的脉冲序列信号，当序列检测器连续收到一组串行二进制码后，如果这组码与检测器中预先设置的码相同，则输出a，否则输出b。
由于这种检测的关键在于正确码的收到必须是连续的，这就要求检测器必须记住前一次的正确码及正确序列，直到在连续的检测中所收到的每一位码都与预置数的对应码相同。
在检测过程中，任何一位不相等都将回到初始状态重新开始检测。
例3-1描述的电路完成对序列数"11100101"的。
当这一串序列数高位在前（左移）串行进入检测器后，若此数与预置的密码数相同，则输出“a”，否则仍然输出“b”。
【例3-1】//顶层文件：module XULIEQI(clk,reset,din18,LED7S);input clk;input reset;input [17:0] din18;output [6:0] LED7S;wire [3:0] AB;wire [17:0] din18;xulie u1 (clk, din18, reset, din);schk u2 (din,clk,reset,AB);decl7s u3 (AB,LED7S);endmodule//串行检测：module schk(DIN,CLK,CLR,AB);input DIN,CLK,CLR;output[3:0] AB;reg [3:0] AB;reg [7:0] Q;parameteridle = 8'b00000000,a = 8'b00000001,b = 8'b00000010,c = 8'b00000100,d = 8'b00001000,e = 8'b00010000,f = 8'b00100000,g = 8'b01000000,h = 8'b10000000;parameter data=8'b11100101;always @(posedge CLK or negedge CLR) if(!CLR)beginQ <= idle;endelsebegincase(Q)idle:beginif(DIN==data[7]) Q<=a;else Q<=idle;enda:beginif(DIN== data[6]) Q<=b;else Q<=idle;endb:beginif(DIN== data[5]) Q<=c;else Q<=idle;endc:beginif(DIN== data[4]) Q<=d;else Q<=c;endd:beginif(DIN== data[3]) Q<=e;else Q<=a;ende:beginif(DIN== data[2]) Q<=f;else Q<=idle;endf:beginif(DIN== data[1]) Q<=g;else Q<=b;endg:beginif(DIN== data[0]) Q<=h;else Q<=idle;endh:beginif(DIN== data[7]) Q<=a;else Q<=idle;enddefault :Q<=idle;endcaseendalways @(Q)beginif(Q==h) AB <= 4'b1010 ;else AB <= 4'b1011 ;endendmodule//前端预置8位数据输入：module xulie(clk, din18, reset, din);input clk;input[17:0] din18;input reset;output din;reg din;parameters0 = 5'b00000,s1 = 5'b00001,s2 = 5'b00010,s3 = 5'b00011,s4 = 5'b00100,s5 = 5'b00101,s6 = 5'b00110,s7 = 5'b00111,s8 = 5'b01000,s9 = 5'b01001,s10 = 5'b01010,s11 = 5'b01011,s12 = 5'b01100,s13 = 5'b01101,s14 = 5'b01110,s15 = 5'b01111,s16 = 5'b10000,s17 = 5'b10001;reg[4:0] cur_state,next_state;always @ (posedge clk or negedge reset) if(!reset)cur_state <= s17;elsecur_state <= next_state;always @ (cur_state or din18 or din ) begincase (cur_state)s17 : begindin <= din18[17];next_state <= s16;ends16 : begindin <= din18[16];next_state <= s15;ends15 : begindin <= din18[15];next_state <= s14;s14 : begindin <= din18[14];next_state <= s13;ends13 : begindin <= din18[13];next_state <= s12;ends12 : begindin <= din18[12];next_state <= s11;ends11 : begindin <= din18[11];next_state <= s10;ends10 : begindin <= din18[10];next_state <= s9;ends9 : begindin <= din18[9];next_state <= s8;ends8 : begindin <= din18[8];next_state <= s7;ends7 : begindin <= din18[7];next_state <= s6;ends6 : begindin <= din18[6];next_state <= s5;ends5 : begindin <= din18[5];next_state <= s4;ends4 : begindin <= din18[4];next_state <= s3;s3 : begindin <= din18[3];next_state <= s2;ends2 : begindin <= din18[2];next_state <= s1;ends1 : begindin <= din18[1];next_state <= s0;ends0: begindin <= din18[0];next_state <= s17;enddefault : begindin <= 1'b0;next_state <= s0;endendcaseendendmodule提示：1.若对于D <= "11100101 "，电路需记忆：初始状态、1、11、111 、1110 、11100、111001、1110010、11100101 共9种状态。
Verilog HDL 实验报告
Verilog实验报告班级：学号：姓名：实验1 :用 Verilog HDL 程序实现直通线1 实验要求：(1) 编写一位直通线的 Veirlog HDL 程序.(2) 编写配套的测试基准.(3) 通过 QuartusII 编译下载到目标 FPGA器件中进行验证.(4) 建议用模式 52 试验程序：module wl(in,out);input in;output out;wire out;assign out=in;endmodule3 测试基准：`include “wl.v”module wl_tb;reg in_tb;wire out_tb;initialbeginin_tb =0;#100 in_tb =1;#130 in_tb =0;endendmodule4 仿真图形：实验2 ：用 Verilog HDL 程序实现一位四选一多路选择器1实验要求:(1) 编写一位四选一多路选择器的 Veirlog HDL 程序.(2) 编写配套的测试基准.(3) 通过 QuartusII 编译下载到目标 FPGA器件中进行验证.(4)建议用模式 52 试验程序：module mux4_to_1 (out,i0,i1,i2,i3,s1,s0);output out;input i0,i1,i2,i3;input s1, s0;reg out;always @ (s1 or s0 or i0 or i1 or i2 or i3)begincase ({s1, s0})2'b00: out=i0;2'b01: out=i1;2'b10: out=i2;2'b11: out=i3;default: out=1'bx;endcaseendendmodule3 测试基准：`include "mux4_to_1.v"module mux4_to_1_tb1;reg ain,bin,cin,din;reg[1:0] select;reg clock;wire outw;initialbeginain=0;bin=0;cin=0;din=0;select=2'b00;clock=0;endalways #50 clock=~clock;always @(posedge clock)begin#1 ain={$random} %2;#3 bin={$random} %2;#5 cin={$random} %2;#7 din={$random} %2;endalways #1000 select[0]=!select[0];always #2000 select[1]=!select[1];mux4_to_1 m(.out(outw),.i0(ain),.i1(bin),.i2(cin),.i3(din),.s1(select[1]),.s0(select[0])); endmodule4 仿真图形：实验3：用 Verilog HDL 程序实现十进制计数器1实验要求:(1) 编写十进制计数器的 Veirlog HDL 程序. 有清零端与进位端, 进位端出在输出为 9 时为高电平.(2) 编写配套的测试基准.(3) 通过 QuartusII 编译下载到目标 FPGA器件中进行验证.(4) 自行选择合适的模式2 实验程序：module counter_10c (Q, clock, clear, ov);output [3:0] Q;output ov;input clock, clear;reg [3:0] Q;reg ov;initial Q=4'b0000;always @ (posedge clear or negedge clock)beginif (clear)Q<=4'b0;else if (Q==8)beginQ<=Q+1;ov<=1'b1;endelse if (Q==9)beginQ<=4'b0000;ov<=1'b0;endelsebeginQ<=Q+1;ov<=1'b0;endendendmodule3 测试基准：`include"./counter_10c.v"module counter_10c_tb;wire[3:0] D_out;reg clk,clr;wire c_out;reg[3:0] temp;initialbeginclk=0;clr=0;#100 clr=1;#20 clr=0;endalways #20 clk=~clk;counter_10c m_1(.Q(D_out),.clear(clr),.clock(clk),.ov(c_out)); endmodule4 仿真波形：实验4 ：用 Verilog HDL 程序实现序列检测器1 实验要求:、(1) 编写序列检测器的 Veirlog HDL 程序. 检测串行输入的数据序列中是否有目标序列5'b10010, 检测到指定序列后, 用一个端口输出高电平表示.(2) 编写配套的测试基准.(3) 通过 QuartusII 编译下载到目标 FPGA器件中进行验证.(4) 自行选择合适的模式2试验程序：module e15d1_seqdet( x, z, clk, rst);input x,clk, rst;output z;reg [2:0] state;wire z;parameter IDLE = 3 'd0,A = 3'd1,B = 3'd2,C = 3'd3,D = 3'd4,E = 3'd5,F = 3'd6,G = 3'd7;assign z =(state==D && x==0)?1:0;always @(posedge clk or negedge rst)if(!rst)beginstate<=IDLE;endelsecasex(state)IDLE: if(x==1)state<=A;else state<=IDLE;A: if (x==0)state<=B;else state<=A;B: if (x==0)state<=C;else state<=F;C: if(x==1)state<=D;else state<=G;D: if(x==0)state<=E;else state<=A;E: if(x==0)state<=C;else state<=A;F: if(x==1)state<=A;else state<=B;G: if(x==1)state<=F;else state <=G;default: state<=IDLE;endcaseendmodule３测试基准：`include"e15d1_seqdet.v"`timescale 1ns/1ns`define halfperiod 20module e15d1_seqdet_tb;reg clk, rst;reg [23:0] data;wire z;reg x;initialbeginclk =0;rst =1;#2 rst =0;#30 rst =1;data= 20 'b1100_1001_0000_1001_0100;#(`halfperiod*1000) $stop;endalways #(`halfperiod) clk=~clk;always @ (posedge clk)begin#2 data={data[22:0],data[23]};x=data[23];ende15d1_seqdet m(.x(x),.z(z),.clk(clk),.rst(rst)); endmodule４仿真波形：。
verilog实验报告
verilog实验报告Verilog实验报告引言：Verilog是一种硬件描述语言（HDL），用于设计和模拟数字电路。
它是一种高级语言，能够描述电路的行为和结构，方便工程师进行数字电路设计和验证。
本实验报告将介绍我在学习Verilog过程中进行的实验内容和所获得的结果。
实验一：基本门电路设计在这个实验中，我使用Verilog设计了基本的逻辑门电路，包括与门、或门和非门。
通过使用Verilog的模块化设计，我能够轻松地创建和组合这些门电路，以实现更复杂的功能。
我首先创建了一个与门电路的模块，定义了输入和输出端口，并使用逻辑运算符和条件语句实现了与门的功能。
然后，我创建了一个测试模块，用于验证与门的正确性。
通过输入不同的组合，我能够验证与门的输出是否符合预期。
接下来，我按照同样的方法设计了或门和非门电路，并进行了相应的测试。
通过这个实验，我不仅学会了使用Verilog进行基本门电路的设计，还加深了对逻辑电路的理解。
实验二：时序电路设计在这个实验中，我学习了如何使用Verilog设计时序电路，例如寄存器和计数器。
时序电路是一种具有状态和时钟输入的电路，能够根据时钟信号的变化来改变其输出。
我首先设计了一个简单的寄存器模块，使用触发器和组合逻辑电路实现了数据的存储和传输功能。
然后，我创建了一个测试模块，用于验证寄存器的正确性。
通过输入不同的数据和时钟信号，我能够观察到寄存器的输出是否正确。
接下来，我设计了一个计数器模块，使用寄存器和加法电路实现了计数功能。
我还添加了一个复位输入，用于将计数器的值重置为初始状态。
通过测试模块，我能够验证计数器在不同的时钟周期内是否正确地进行计数。
通过这个实验，我不仅学会了使用Verilog设计时序电路，还加深了对触发器、寄存器和计数器的理解。
实验三：组合电路设计在这个实验中，我学习了如何使用Verilog设计组合电路，例如多路选择器和加法器。
组合电路是一种没有状态和时钟输入的电路，其输出只取决于当前的输入。
Verilog实验报告
Verilog实验报告实验一简单组合逻辑电路的设计一实验要求1.用verilog HDL语言描写出简单的一位数据比较器及其测试程序；2.用测试程序对比较器进行波形仿真测试；画出仿真波形；3.总结实验步骤和实验结果。
二实验原理与内容4.这是一个可综合的数据比较器，很容易看出它的功能是比较数据a与数据b，如果两个数据相同，则给出结果1，否则给出结果0。
在Verilog HDL中，描述组合逻辑时常使用assign结构。
注意equal=(a==b)?1:0,这是一种在组合逻辑实现分支判断时常使用的格式。
5.模块源代码测试模块：6.波形图：四结实验步骤和实验结果由图可看出，每当输入的电位值不同时输出为0，这与实验要求一致，相同时输出为1，故此程序是可行的。
实验三在verilog HDL中使用函数一实验要求1.掌握函数在模块中的使用2.用测试程序进行波形仿真测试；画出仿真波形3.总结实验步骤和实验结果二实验原理与内容与一般的程序设计语言一样；verilog HDL也可以使用函数已是应对不同变量采取同一运算的操作。
verilog HDL函数在综合时被理解成具有独立运算功能的电路，每调用一次函数相当于改变这部分电路的输入以得到相应的计算结果。
模块源代码：module ex3(clk,n,result,reset);output[31:0] result;input[3:0] n;input reset,clk;reg[31:0] result;always @(posedge clk)beginif(!reset)result <= 0;elsebeginresult <= n*factorial(n)/((n*2)+1);endendfunction[31:0] factorial;input[3:0] operand;reg[3:0] index;beginfactorial = operand ? 1:0;for(index = 2;index <= operand;index = index+1) factorial = index*factorial;endendfunctionendmodule`timescale 1ns/100ps`define clk_cycle 50module ex3_t();reg[3:0] n,i;reg reset,clk;wire[31:0] result;initialbeginn=0;reset=1;clk=0;#100 reset=0;#100 reset = 1;for(i=0;i <= 15;i=i+1)begin#200 n=i;end#100 $stop;endalways #`clk_cycle clk =~ clk;ex3 ex30(.clk(clk),.n(n),.result(result),.reset(reset)); always @(negedge clk)$display("at n=%d,result=%d",n,result);endmodule波形图：实验四在verilog HDL中使用任务一实验要求1.掌握任务在结构化verilog HDL设计中的应用2.用测试程序进行波形仿真测试；画出仿真波形3.总结实验步骤和实验结果二实验原理与内容仅有函数并不能满足verilog HDL中的运算需求。
verilog hdl实验报告
verilog hdl实验报告《Verilog HDL实验报告》Verilog HDL（硬件描述语言）是一种用于描述电子系统的硬件的语言，它被广泛应用于数字电路设计和硬件描述。
本实验报告将介绍Verilog HDL的基本概念和使用方法，并通过实验展示其在数字电路设计中的应用。
实验目的：1. 了解Verilog HDL的基本语法和结构2. 掌握Verilog HDL的模块化设计方法3. 熟悉Verilog HDL的仿真和综合工具的使用实验内容：1. Verilog HDL的基本语法和结构Verilog HDL是一种硬件描述语言，其语法和结构类似于C语言。
它包括模块定义、端口声明、信号赋值等基本元素。
在本实验中，我们将学习如何定义Verilog模块，并使用端口声明和信号赋值描述数字电路的行为。
2. Verilog HDL的模块化设计方法Verilog HDL支持模块化设计，可以将复杂的电路分解为多个模块，每个模块描述一个子电路的行为。
在本实验中，我们将学习如何设计和实现Verilog模块，并将多个模块组合成一个完整的数字电路。
3. Verilog HDL的仿真和综合工具的使用Verilog HDL可以通过仿真工具进行功能验证，也可以通过综合工具生成实际的硬件电路。
在本实验中，我们将使用Verilog仿真工具对设计的数字电路进行功能验证，并使用综合工具生成对应的硬件电路。
实验步骤：1. 学习Verilog HDL的基本语法和结构2. 设计一个简单的数字电路，并实现Verilog模块描述其行为3. 使用仿真工具对设计的数字电路进行功能验证4. 使用综合工具生成对应的硬件电路实验结果：通过本实验，我们学习了Verilog HDL的基本概念和使用方法，并成功设计和实现了一个简单的数字电路。
我们使用仿真工具对设计的数字电路进行了功能验证，并使用综合工具生成了对应的硬件电路。
实验结果表明，Verilog HDL在数字电路设计中具有重要的应用价值。
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实验三
一、实验内容
用Verilog HDL语言编写二分频器电路模板，四分频器电路模块，八分频器电路模块，并编写测试模块仿真。
二、主要程序
1.电路模块：
moduletwo_div(clk1, clk2, clk4, clk8, rst);
output clk2, clk4, clk8;
reg clk2, clk4, clk8;
input clk1, rst;
always @(posedge clk1 or negedgerst)
begin
if(!rst)
begin
clk2 = 0; clk4 = 0; clk8 = 0;
end
else if(clk1)
begin
clk2 = ~clk2;
if(clk2)
begin
clk4 = ~clk4;
if(clk4)
clk8 = ~clk8;
end
end
end
endmodule
测试模块：
`timescale 1 ns/ 1 ns moduletwo_div_vlg_tst(); // constants
// general purpose registers regeachvec;
// test vector input registers reg clk1;
regrst;
wire clk2;
wire clk4;
wire clk8;
two_div i1 (
.clk1(clk1),
.clk2(clk2),
.clk4(clk4),
.clk8(clk8),
.rst(rst)
);
initial
begin
#1 rst = 1; clk1 = 0;
#1 rst = 0;
#1 rst = 1;
#500 $stop;
end
always
// optional sensitivity list
// @(event1 or event2 or .... eventn)
begin
// code executes for every event on sensitivity list
// insert code here --> begin
#10 clk1 = ~clk1;
// --> end
end
endmodule
三、仿真结果
四、实验小结
通过此次实验。
我在Modeisim软件平台上通过使用Verilog HDL语言编写信号的二分频、四分频、八分频电路。
通过编写二分频电路的基础。
把二分频电路再进行二分频。
使之得到八分频电路。
经过这次实验。
使我对Verilog有个更深刻的了解。
在编写程序的过程中。
Texebenech测试文件的编写十分重要。
因为软件并不能检测出测试文件的错误。
如果测试文件出错。
将无法得到仿真结果。
所以在编写测试文件时要小心谨慎。