实验三表面粗糙度测量

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《互换性与技术测量》实验指导书1

《互换性与技术测量》实验指导书1

互换性与技术测量实验指导书目录实验一通用量具应用及量块组合选择(选用)实验二用比较仪检测工件尺寸误差实验三表面粗糙度的测量实验四直线度误差的测量实验1 通用量具应用及量块组合选择(孔轴测量)(选做)一、实验目的:1.了解量块、千分尺、游标卡尺的构造和工作原理。

2.掌握量块尺寸组合、千分尺、游标卡尺测量尺寸的方法3.掌握由测得数据进行数据处理的一般方法,并分析产生误差的原因及误差类型。

二、实验所需仪器千分尺、游标卡尺 83块一套的量块三、实验步骤1.利用游标卡尺测量工件直径尺寸,共测量十组数据,将测量结果填入实验报告,并对测量数据进行数据处理。

2.利用千分尺测量工件长度尺寸,共测量十组数据,将测量结果填入实验报告,并对测量数据进行数据处理。

3.用83块一套的量块对千分尺测量的数据处理以后的数据进行尺寸组合。

四、测量数据1.用游标卡尺测量直径尺寸2.用千分尺测量的数据3.用83块一套的量块对千分尺测量的数据数据处理以后的数据进行组合的量块尺寸尺寸:第一块量块:第二块量块:第三块量块:第四块量块:六、思考题1:测量误差一般分为几类型,一般各怎么进行数据处理?实验2 用比较仪测量工件尺寸误差1.实验目的1.1 立式光学比较仪工作原理及使用方法。

1.2 熟悉轴的直径误差的测量方法。

1.3 学会基本的测量误差处理方法。

2.设备与器材立式光学比较仪、被测轴和相同尺寸量块3.实验原理与方案立式光学比较仪主要用于作长度比较测量。

要先用量块将标尺和指针调到零位,被测尺寸对量块的偏差可从仪器标尺上读得。

并可对某轴的固定部位进行多次重复测量,计算测量误差。

立式光学计主要组成见外形图2-2。

由底座1、立柱2、支臂3、直角光管4和工作台11等几部分组成。

立式光学计的光学系统图2-3所示。

光线由进光反射镜6进入光学计管中,由通光棱镜7将光线转折90度,照亮了分划板4上的刻度尺9。

刻度尺上有±100 格的刻线,此处刻线作为目标,位于物镜2的焦平面上。

互换性与技术测量实验报告

互换性与技术测量实验报告

《互换性与技术测量》实验报告机械工程基础实验室技术测量室编年级班级姓名实验名称及目录:实验一、尺寸测量实验1—1、轴的测量实验1—2、孔的测量实验二、形位误差测量实验2—1、直线度误差的测量实验2—2、平行度误差、平面度误差测量实验三、表面粗糙度测量、螺纹测量实验3—1、表面粗糙度的测量实验3—2、螺纹中径、螺距及牙形半角的测量实验四、齿轮测量实验4—1、直齿圆柱齿轮公法线的测量实验4—2、直齿圆柱齿轮齿厚偏差的测量一、实验目的三、被测零件:四、测量示意图:七、测量数据分析并判断被测零件是否合格;八、思考题:1、用立式光学计测量塞规属于什么测量方法?2、绝对测量和相对测量各有什么特点?3、什么是分度值?刻度间距?4、仪器的测量范围和刻度尺的示值范围有何不同?一、实验目的三、被测零件:四、测量示意图:六、测量数据记录:(单位:mm)七、测量数据分析并判断被测零件是否合格;八、思考题:1、用内径千分尺和内径量表测量孔的直径是,各属于哪种测量方法?2、内径量表测量孔时“转折点”意味着什么?一旦“零位”确定,百分表指针超过“零位”发生转折,示值为正还是负?百分表指针不过“零位”发生转折,示值为正还是负?3、组合量块组的原则是什么?实验报告:直线度误差的测量(形状公差的测量)一、实验目的:二、实验仪器:四、测量示意图:(要求画出简单的仪器的测量原理图和被测面的测量截面图)六、作图:分别用最小区域法和两端点连线法求直线度误差值,并作出合格性结论。

七、思考题:1、以本实验为例,试比较按最小区域法和两端点连线法评定的直线度误差值何者更合理?2、用作图法求直线度误差值时,如前所述,总是按平行于纵坐标计量,而不是按垂直于两条平行包容直线的距离计量,原因何在?实验报告:平面度误差的测量一、实验目的:四、测量示意图:六、析判断被测平面是否合格?实验报告:平行度误差的测量一、实验目的:四、测量示意图:六、分析判断被测件平行度是否合格?实验报告:表面粗糙度的测量Array一、实验目的:二、实验仪器:三、实验内容:1、用表面粗糙度电感测微仪测量表面粗糙度的R a值;2、用干涉显微镜测量表面粗糙度的R z值。

email光切显微镜实验讲解

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实验3—1 用光切显微镜测量表面粗糙度 一、实验目的1. 了解用光切显微镜测量表面粗糙度的原理和方法。

2. 加深对粗糙度评定参数轮廓最大高度Rz 的理解。

二、实验内容用光切显微镜测量表面粗糙度的Rz 值。

三、测量原理及计量器具说明参看图1,轮廓最大高度Rz 是指在取样长度lr 内,在一个取样长度范围内,最大轮廓峰高Rp 与最大轮廓谷深Rv 之和称之为轮廓最大高度 。

即Rz = Rp + Rv图1 图2光切显微镜能测量80~1μm 的粗糙度,用参数Rz 来评定。

光切显微镜的外形如图2所示。

它由底座1、工作台2、观察光管3、投射光管11、支臂7和立柱8等几部分组成。

光切显微镜是利用光切原理来测量表面粗糙度的,如图3所示。

被测表面为P 1、P 2阶梯表面,当一平行光束从450方向投射到阶梯表面上时,就被折成S 1和S 2两段。

从垂直于光束的方向上就可在显微镜内看到S 1和S 2两段光带的放大象1S '和2S '。

同样,S 1和S 2之间距离h 也被放大为1S '和2S '之间的距离1h '。

通过测量和计算,可求得被测表面的不平度高度 h 。

图4为光切显微镜的光学系统图。

由光源1发出的光,经聚光镜2、狭缝3、物镜4以450方向投射到被测工件表面上。

调整仪器使反射光束进入与投射光管垂直的观察光管内,经物镜5成象在目镜分划板上,通过目镜可观察到凹凸不平的光带(图5 b )。

光带边缘即工件表面上被照亮了的h 1的放大轮廓象为h 1′,测量亮带边缘的宽度h 1′,可求出被测表面的不平度高度h 1:1h =1h cos450=Nh'1cos450式中 N —物镜放大倍数。

图 3 图 4为了测量和计算方便,测微目镜中十字线的移动方向(图5a )和被测量光带边缘宽度h 1′成450斜角(图5b ),故目镜测微器刻度套筒上读数值h 1′与不平度高度的关系为:1h ''=020145cos 45cos Nh h ='所以 h =Nh N h 245cos 1021"=" 式中,N21=C ,C 为刻度套筒的分度值或称为换算系数,它与投射角α、目镜测微器的结构和物镜放大倍数有关。

表面粗糙度的检测

表面粗糙度的检测

课题三表面粗糙度的检测表面粗糙度的检测方法主要有比较法、针触法、光切法、光波干涉法。

1.比较法用比较法检验表面粗糙度是生产车间常用的方法。

它是将被测表面与粗糙度样块进行比较来评定表面粗糙度。

如图3-1所示。

比较法可用目测直接判断或借助于放大镜、显微镜比较或凭触觉、来判断表面粗糙度。

缺点是精度较差,只能作定性分析比较。

图3-1表面粗糙度比较样板2.针触法针触法是通过针尖感触被测表面微观不平度的截面轮廓的方法,它实际是一种接触式电量方法。

所用测量仪器为轮廓仪,它可以测定Ra为0.025~5um。

该方法测量范围广,速度可靠、操作简便并易于实现自动测量和微机数据处理。

但被测表面易被触针划伤。

如图3-2所示。

图3-2针触法测量原理图3.光切法光切法就是利用“光切原理”来测量被测零件表面的粗糙度,采用仪器是光切显微镜又称双管显微镜。

该仪器适宜测量车、铣、刨或其它类似的方法加工的金属零件的平面或外圆表面。

光切法通常用于测量Ra=0.5~80µm的表面。

4.光波干涉法干涉显微镜是利用光波干涉原理测量表面粗糙度。

干涉显微镜测量的范围一般为0.03~1µm。

也可作Rz、Ry参数评定。

本课题结合课堂讲授的典型零件的标注,分析并检测表面粗糙度,根据国家标准评定表面粗糙度。

选用方法为光切法和光波干涉法。

实验3-1 用光切显微镜检测表面粗糙度一、实验目的1.了解用光切显微镜测量表面粗糙度的原理和方法2.正确理解表面粗糙度的评定参数,加深对微观不平度十点高度Rz的理解二、测量原理及仪器说明双管显微镜又撑光切显微镜,它是利用被测表面能反射光的特性,根据“光切法原理”制成的光学仪器,R=0.8-80um的表面粗糙度。

其测量范围取决于选用的物镜的放大倍数,一般用于测量Z图3-3光切显微镜1—底座;2—立柱;3—升降螺母;4—微调手轮;5—支臂;6—支臂锁紧螺钉;7—工作台;8—物镜组;9—物镜锁紧机构;10—遮光板手轮;11—壳体;12—目镜测微器;13—目镜仪器外型如图3-3所示,它由底座6,支柱5,横臂2,测微目镜13,可换物镜8及工作台7等部分组成。

互换性与测量技术粗糙度测量基础实验报告

互换性与测量技术粗糙度测量基础实验报告

互换性与测量技术基础之表面粗糙度测量专业:机械设计制造及其自动化1105班姓名:高朋学号:110415042013年12月17日目录互换性与测量技术基础之表面粗糙度测量 (1)一.实验目的 (3)二.实验用具 (3)三.实验内容 (3)(1)用表面粗糙度样板确定Ra值。

(3)(2)用RM-20袖珍式表面粗糙度仪检测。

(3)(3)用TR220手持式粗糙度仪,测量Ra、Ry、Rz。

(6)四.数据处理 (7)五.实验感悟与体会 (9)六.上网研究 (9)七. 我的创新 (13)一.实验目的1、掌握表面粗糙度检测常用仪器的原理与使用方法。

2、加深对参数Ra、Rz、Ry的理解。

二.实验用具样板、RM-20袖珍式表面粗糙度仪、TR220手持式粗糙度仪、信号采集系统、PC机三.实验内容(1)用表面粗糙度样板确定Ra值比较法:将被测表面粗糙度样板直接进行比较。

前提:两者的加工方法和材料应尽可能相同,否则将产生较大误差,用肉眼或借助于放大镜等比较,也可以手摸,指甲划动的感觉来判断被测表面的粗糙度(指比较粗糙的工件)。

样板不能用手乱摸,防止生锈。

这种方法一般多用于车向或评定Ra值较大的工件。

评定的准确性很多程度上取决于检验人员的经验。

(2)用RM-20袖珍式表面粗糙度仪检测材料:碳化硅加工方法:电火花注意事项:指定样件,指定表面才能使用该仪器,粗糙面严紧使用,否则损坏一起。

Ra最大只能测15um。

图1 RM-20袖珍型表面粗糙度仪RM-20袖珍型表面粗糙度仪的使用方法:A.开机打开电源开关,电源接通,屏幕显示为0.B.功能选择如果需要选择测量参数Rz,将手指轻触图一中3键,屏幕左上角将会有Rz字样的显示,表明现在切换为测量Rz模式。

如果需要选择取样长度,将手指轻按图一中4键,屏幕右方将会有取样长度示数的变化,再轻触4键,取样长度示数会再次发生变化,再轻触4键,屏幕将循环到最初形式。

C.参数选择如果需要选择测量参数Ra,将手指轻触图1中3键,如果需要选择测量参数Rz,将手指轻触图1中3键,屏幕将显示Rz值,再直接按3键,屏幕将回到Ra值。

表面粗糙度的测量方法

表面粗糙度的测量方法

21
干涉显微镜
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22
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23
Mirau干涉仪的改进: R被固定在PZT上。
1986年WYKO公司研制成功 的TOPO非接触微表面测量 系统。 测量精度达 1
1000
自动完成测量。
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24
Nomarski干涉显微镜及改进
带有旋转检偏器测相的改进的微分干涉显微镜(清华)
m
Sm =2C (ei1 ei ) / m i1
❖ (5)用光切法测量Ra值
因测量与计算都很麻烦,故很少应用。
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19
4.仪器的测量误差和示值相对误差的检定
❖ (1)测量误差的主要因素有:瞄准误差、测微目镜制造误 差、估读误差、 定度用标准尺误差、被测工件定位误差、 仪器使用调整误差等。
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二、光切法测量表面粗糙度
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10
1.光切法原理:
所谓光切法就是用一狭窄的扁平光束 以一定的倾斜角照射到被测表面上,光 束在被测表面上发生反射,将表面微观 不平度用显微镜放大成象进行观测的方 法。图4-5是光切法的测量原理图。
图4-5 光切原理
❖ 若倾斜角取45°,则得:
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8
4.间接测量方法 这类方法是利用被测表面的某种特性来间接评定表
面粗糙度的数值。例如: ❖ 气动法:是利用流经测量头与被测表面间气体流量的大小
或其所引起的压力变化来评定表面粗糙度。 ❖ 电容法:是利用测量头与被测表面间形成的电容量大小来
评定表面粗糙度。不能直接测出表面参数Ra或Rz,而需 进行比对定标,且要配备一些和被测表面几何形状相适应 的测量头。 ❖ 其他方法:激光散射法、激光散班法、激光全息法等。

表面粗糙度及检测

表面粗糙度及检测
评定长度是指用于判别被评定轮廓表面粗糙度所必需的一段 长度,如图4-2所示。
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任务二 表面粗糙度的评定
3.轮廓中线犿 轮廓中线:是定量计算表面粗糙度数值大小的一条基准线,
基准线通常有以下两种: (1)轮廓最小二乘中线。
在取样长度范围内,实际被测轮廓线上的各点至一条假想线 的距离的平方和为最小。 (2)轮廓算术平均中线。
表面粗糙度符号及其意义见表4-6。
4.3.2 表面粗糙度代号
有表面度符号及其他表面特征要求的标注,组成了表面粗糙度 的代号。表面特征各项规定在基本符号中注写的位置如图4-7所 示。
高度参数选用Ra时,可以省略其代号而只标注允许值。参数 为Rz或Ry时,允许值前必须注出相应的参数符号。
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项目二 编辑、创建原理图元器件
在取样长度内,由一条假想线将实际轮廓分成上、下两部分, 而且使上部分面积之和等于下部分面积之和。
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任务二 表面粗糙度的评定
4.2.2 表面粗糙度的评定参数
(1)轮廓算术平均偏差Ra:在取样长度内,被测表面轮廓上各点至 基准线距离yi的绝对值的平均值,如图4-4所示。用下式表示为
(2)微观不平度十点高度Ry :在取样长度内,被测实际轮廓上5个 最大轮廓峰高的平均值与5个最大轮廓谷深的平均值之和,如图 4-5所示。用下式表示为
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任务二 表面粗糙度的评定
4-2-3 表面粗糙度国家标准
表面粗糙度的评定参数值已经标准化,设计时应根据国家标 准规定的参数值系列选取。国家标准GB/T1031—200 9对参数系列值的规定有基本系列和补充系列,要求优先选用基 本系列。
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任务三 表面粗糙度的符号及标注

【最新精选】简明指导--用光切显微镜测量表面粗糙度

【最新精选】简明指导--用光切显微镜测量表面粗糙度

实验 用光切显微镜测量表面粗糙度一、 目的与要求1、学习光切显微镜测量表面粗糙度的原理和方法;2、了解微观不平度十点高度Rz 的实际含义。

二、 测量原理光切显微镜是利用光切法来测量表面粗糙度的,其原理如图3-1所示。

由光源发出的光经过聚光镜2,穿过狭缝3形成带状光束。

光束再经物镜4以45度角射向工件5,在凹凸不平的表面上呈现出曲折光带,再以45度角反射,经物镜6到达分划板7上。

从目镜看到的曲折亮带,有两个边界,光带影像边界的曲折程度表示影像的峰谷高度h ΄。

h ΄与表面凸起的实际高度h 之间的关系为式中,M 为物镜6的放大倍数。

在目镜视场里,高度h ΄是沿45度方向测量的,若在目镜测微器7的读数值为H ,则h ΄与H 的关系为 h ΄=Hcos45˚,将前后两式代入可得,MH M H h 2245cos 0==,令E M =21,则H E h ∙=。

系数E 作为目镜测微器装在光切显微镜上使用时的分度值。

E 值与物镜的放大倍数M 有关,一般它已由仪器说明书给定。

三、测量仪器光切显微镜1、基座,2、立柱,3、横臂,4、手轮,5、横臂紧固螺丝,6、微调手轮,7、手柄,8、照明灯,9、插座,10、摄影装置,11、测微目镜,12、物镜组,13、快门线,14、百分尺,15、工作台紧固螺丝,16、壳体,17、V型块,18、座标工作台。

19、测微目镜紧固螺丝,20、摄影选择旋钮,21、对焦辅助旋钮四、测量步骤1、按工作粗糙度的估计值,选择适当放大倍数的物镜并装在仪器上;2、将被测工作置于工作台上;3、通过变压器接通电源;4、调整仪器,其步骤如下:(1)松开横臂紧固螺丝5,转动横臂3及手轮4,使镜头对准被测量表面上方,然后锁紧横臂紧固螺丝5;(2)调节微调手轮6,上下移动壳体16,使目镜视场中出现切削痕纹;(3)转动工作台,使加工痕纹与投射在工作表面上的光带垂直,然后交错调整微调手轮6、对焦辅助旋钮21,直到获得最清晰光带为止;(4)松开测微目镜紧固螺丝19,转动目镜,使目镜中的十字线的水平线与光带大致平行。

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实验三 表面粗糙度测量实验3—1 用双管显微镜测量表面粗糙度 一、实验目的1. 了解用双管显微镜测量表面粗糙度的原理和方法。

2. 加深对粗糙度评定参数轮廓最大高度Rz 的理解。

二、实验内容用双管显微镜测量表面粗糙度的Rz 值。

三、测量原理及计量器具说明参看图1,轮廓最大高度Rz 是指在取样长度lr 内,在一个取样长度范围内,最大轮廓峰高Rp 与最大轮廓谷深Rv 之和称之为轮廓最大高度 。

即Rz = Rp + Rv图1 图2双管显微镜能测量80~1μm 的粗糙度,用参数Rz 来评定。

双管显微镜的外形如图2所示。

它由底座1、工作台2、观察光管3、投射光管11、支臂7和立柱8等几部分组成。

双管显微镜是利用光切原理来测量表面粗糙度的,如图3所示。

被测表面为P 1、P 2阶梯表面,当一平行光束从450方向投射到阶梯表面上时,就被折成S 1和S 2两段。

从垂直于光束的方向上就可在显微镜内看到S 1和S 2两段光带的放大象1S '和2S '。

同样,S 1和S 2之间距离h 也被放大为1S '和2S '之间的距离1h '。

通过测量和计算,可求得被测表面的不平度高度h 。

图4为双管显微镜的光学系统图。

由光源1发出的光,经聚光镜2、狭缝3、物镜4以450方向投射到被测工件表面上。

调整仪器使反射光束进入与投射光管垂直的观察光管内,经物镜5成象在目镜分划板上,通过目镜可观察到凹凸不平的光带(图5 b )。

光带边缘即工件表面上被照亮了的h 1的放大轮廓象为h 1′,测量亮带边缘的宽度h 1′,可求出被测表面的不平度高度h 1:Z p 2lrZ v 6Z v 5Z p 6Z p 5Z p 4Z p 3Z v 4 Z v 3Z p 1R z中线Z v 1Z v 21h =1h cos450=Nh'1cos450式中 N —物镜放大倍数。

图 3 图 4为了测量和计算方便,测微目镜中十字线的移动方向(图5a )和被测量光带边缘宽度h 1′成450斜角(图5b ),故目镜测微器刻度套筒上读数值h 1′与不平度高度的关系为:1h ''=020145cos 45cos Nh h ='所以 h =Nh N h 245cos 1021"=" 式中,N21=C ,C 为刻度套筒的分度值或称为换算系数,它与投射角α、目镜测微器的结构和物镜放大倍数有关。

(a )(b)图 5四、测量步骤1. 根据被测工件表面粗糙度的要求,按表1选择合适的物镜组,分别安装在投射光管和观察光管的下端。

2. 接通电源。

3. 擦净被测工件,把它安放在工作台上,并使被测表面的切削痕迹的方向与光带垂直。

当测量圆柱形工件时,应将工件置于V 型块上。

表1物镜放大倍数N总放大倍数视场直径 (mm )物镜工作距离(mm )测 量 范 围 Rz (μm)7X 60X 2.5 17.8 10—80 14X 120X 1.3 6.8 3.2—10 30X 260X 0.6 1.6 1.6—6.3 60X520X0.30.650.8—3.24. 粗调节:参看图2,用手托住支臂7,松开锁紧螺钉9,缓慢旋转支臂调节螺母10,使支臂7上下移动,直到目镜中观察到绿色光带和表面轮廓不平度的影象(图5b )。

然后,将螺钉9固紧。

要注意防止物镜与工件表面相碰,以免损坏物镜组。

5. 细调节:缓慢而往复转动调节手轮6,调焦环12和调节螺钉13,使目镜中光带最狭窄,轮廓影象最清晰并位于视场的中央。

6. 松开螺钉5,转动目镜测微器4,使目镜中十字线的一根线与光带轮廓中心线大致平行(此线代替平行于轮廓中线的直线)。

然后,将螺钉5固紧。

7. 根据被测表面的粗糙度级别,按国家标准GB1031—68的规定选取取样长度和评定长度。

8. 旋转目镜测微器的刻度套筒,使目镜中十字线的一根线与光带轮廓一边的峰(或谷)相切,如图5b 实线所示,并从测微器读出被测表面的峰(或谷)的数值。

在取样长度范围内测出最高点(最高的峰)和最低点(最低的谷)的数值。

然后计算出R z 的数值。

9. 纵向移动工作台,在测量范围长度内,共测出n (n 一般取5)个取样长度的Rz 值,取它们的平均值作为被测表面的轮廓最大高度。

按下式计算:Rz (平均)=nRzini ∑=110. 根据计算结果,判断被测表面粗糙度的适用性。

附:目镜测微器分度值C 的确定。

由前述可知,目镜测微器套筒上每一格刻度间距所代表的实际表面不平度高度的数值(分度值)与物镜放大倍率有关。

由于仪器生产过程中的加工和装配误差,以及仪器在使用过程中可能产生的误差,会使物镜的实际倍率与表1所列的公称值之间有某些差异。

因此,仪器在投入使用时以及经过较长时间的使用之后,或者在调修重新安装之后,要用玻璃标准刻度尺来确定分度值C ,即确定每一格刻度间距所代表的不平度高度的实际数值。

确定方法如下:(1) 将玻璃标准刻度尺置于工作台上, 调节显微镜的焦距,并移动标准刻度尺,使在 目镜视场内能看到清晰的刻度尺刻线(图6)。

(2) 参看图2,松开螺钉5,转动目镜 测微器4,使十字线交点移动方向与刻度尺象 平行,然后固紧螺钉5。

(1) 按表2选定标准刻度尺线格数Z ,将十字线焦点移至与某刻线重合(图6中实 图 6 线位置),读出第一次读数n 1。

然后,将十字线焦点移动Z 格(图6中虚线位置),读出第二次读数n 2,两次读数差为:A =12n n -表2C =ATZ 2 式中 T ——标准刻度尺的刻度间距(10μm )。

把从目镜测微器测得的十点读数的平均值h //乘上C 值,即可求得Rz 值:Rz =Ch //思 考 题1 . 为什么只测量光带一边的最高点(峰)和最低点(谷)? 2. 测量表面粗糙度还有哪些方法?其应用范围如何?3. 用双管显微镜测量表面粗糙度为什么要确定分度值C ?如何确定?实验3-2 用干涉显微镜测量表面粗糙度 一、实验目的1. 熟悉用干涉显微镜测量表面粗糙度的原理和方法。

2. 加深对轮廓最大高度Rz 的理解二、实验内容用6JA 型干涉显微镜测量表面粗糙度的Rz 值。

三、测量原理及计量器具说明干涉显微镜是干涉仪和显微镜的组合,用光波干涉原理来反映出被测工件的粗糙程度。

由于表面粗糙度是微观不平度,所以用显微镜进行高倍放大后以便观察和测量。

干涉显微镜一般用于测量0.8~0.025μm 的Rz 值。

图1为6JA 型干涉显微镜的外观图。

图2为该仪器的光学系统图,由光源1发出的光束, 通过聚光镜2、4、8(3是滤色片),经分光镜9分成两束。

其中一束经补偿板10、物镜11至被测表面18,再经原光路返回至分光镜9,反射至目镜19。

另一光束由分光镜9反射(遮光板20移出),经物镜12射至参考镜13上,再由原光路返回,并透过分光镜9,也射向目镜19。

两路光束相遇迭加产生干涉,通过目镜19来观察。

由于被测表面有微小的峰、谷存在,峰、谷处的光程不一样,造成干涉条纹的弯曲。

相应部位峰、谷的高度差h ,与干涉条纹弯曲量a 和干涉条纹间距b 有关(图5b ),其关系式为:h =2λb a 式中,λ为测量中的光波长。

本实验就是利用测量干涉条纹弯曲量a 和干涉条纹间距b 来确定Rz值的。

四、测量步骤1. 调整仪器测量时调整仪器的方法如下:开亮灯泡,转动手轮10和6(图1),使图2中的遮光板14从光路中转出。

如果视场亮度不均匀,可转动调节螺丝4a,使视场亮度均匀。

转动手轮8,使目镜视场中弓形直边清晰,如图3所示。

图2图 3 图4在工作台上放置好洗净的被测工件。

被测表面向下,朝向物镜。

转动手轮6,遮去图2中的参考镜13的一路光束。

转动滚花轮2c,使工作台升降直到目镜视场中观察到清晰的工件表面象为止,再转动手轮6,使图2中的遮光板从光路中转出。

松开螺丝1b取下测微目镜1,直接从目镜管中观察,可以看到两个灯丝象。

转动手轮11,使图2中的孔径光阑6开至最大,转动手轮7和9,使两个灯丝象完全重合,同时调节螺丝4 a,使灯丝象位于孔径光阑中央,如图4所示,然后装上测微目镜,旋紧螺丝1b。

在精密测量中,通常采用光波波长稳定的单色光(本仪器用的是绿光),此时应将手柄12推到底,使图2中的滤色片3插入光路。

当被测表面粗糙度较低而加工痕迹又不很规则时,干涉条纹将呈现出急剧的弯曲和断裂现象,这时则不推动手柄12,而采用白光,因为白光干涉成彩色条纹,其中零次干涉条纹可清晰地显示出条纹的弯曲情况,便于观察和测量。

如在目镜中看不到干涉条纹,可慢慢转动手轮14直到出现清晰的干涉条纹为止(图5a )。

转动手轮7和9以及手轮8和14,可以得到所需的干涉条纹亮度和宽度。

转动工作台2b ,使加工痕迹的方向与干涉条纹垂直。

松开螺丝1b ,转动测微目镜1,使视场中十字刻线之一与干涉条纹平行,然后拧紧螺丝1b ,此时即可进行具体的测量工作。

2. 测量方法在此仪器上,表面粗糙度可以用两种方法测量。

(1)用测微目镜测量1)转动测微目镜的测微器1a ,使视场中与干涉条纹平行的十字线中的一条线对准一条干涉条纹峰顶中心(图5b ),这时在测微器上的读数为N 1。

然后再对准相邻的另一条干涉条纹峰顶中心,读数为N 2。

(N 1—N 2)即为条纹间距b 。

2)对准一条干涉条纹峰顶中心读数N 1后,移动十字线,对准同一条干涉条纹谷底中心,读数为N 3。

(N 1-N 3)即为干涉条纹弯曲量a 。

按轮廓最大高度Rz 的定义,在取样长度范围内测量同一条干涉条纹的最高的峰和最的低谷,这个干涉条纹弯曲量的值a 为:a 平均=min 3max 1N N -被测表面的轮廓最大高度R Z 为:2Rz λb a =采用白光时,λ=0.55μm ;采用单色光时,则按仪器所附滤色片检定书载明的波长取值。

按测量长度要求,各取样长度的Rz 值还需平均后才能作为评定表面粗糙度的可靠数据。

(a ) (b)图 5(2)用目视估计判定 用肉眼观察视场,直接估读出弯曲量a 为干涉条纹间距b 的多少倍或几分之一,用目视估读的a/b 值来代替测微目镜的读数。

在取样长度范围内,对同一条干涉的最高的峰和最的低谷估读比值,然后计算Rz 值。

同样,根据求得的各取样长度的Rz 值再平均后作为最后的评定数据。

目视估读法效率高,方法简便,但不够准确,因此只能作为一种近似的测量方法。

思 考 题仪器使用说明书上写着:用光波干涉原理测量表面粗糙度,就是以光波为尺子来计量被测面上微观峰谷的高度差。

这把尺子的刻度间距和分度值如何体现?。

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