激光测试原理
激光测速仪工作原理
激光测速仪工作原理
激光测速仪是一种使用激光技术进行测速的仪器。
其工作原理基于时差测量法和光电技术。
激光测速仪首先发射一束窄束的激光，激光束经过透镜聚焦形成一个射线束。
当射线束遇到行进中的目标物时，部分激光会被目标物反射或散射。
激光测速仪接收到反射或散射的激光后，通过光电二极管将光信号转换为电信号。
激光测速仪的核心原理是利用激光的光速非常快的特点，计算出激光从发射器发出到接收器接收到的时间差。
通过精确测量时间差，激光测速仪就能计算出目标物的速度。
具体的工作过程如下：激光测速仪通过内部时钟系统记录激光发射的时间，然后激光束经过一段距离后被目标物反射或散射，再经过同样长度的路径返回激光测速仪。
当反射或散射回来的激光被光电二极管接收到时，记录下接收到的时间。
激光测速仪通过计算发射时间和接收时间的差值，得到激光往返的时间。
然后利用光速的固定值，将时间差转换为距离。
根据测得的距离差值和知道的时间差，激光测速仪就可以计算出目标物的速度。
例如，如果已知激光往返时间为10纳秒，
而激光在空气中的传播速度是299,792,458米/秒，就可以得知
目标物与测速仪的距离为2.99792458米。
根据已知的时间间
隔和距离，激光测速仪进一步计算出速度。
激光测速仪工作原理简单而灵活，能够实现高精度的测速。
它广泛应用于交通管理、科学研究以及工业生产等领域。
laser 测量原理
laser 测量原理
激光测距（laser distance measuring）是以激光器作为光源进行测距。
根据激光工作的方式，可以分为连续激光器和脉冲激光器。
激光测距的原理主要是基于光速和时间的关系，通过测量光在空气中传播的时间来计算距离。
对于脉冲激光测距，测距仪发射出的激光经被测量物体的反射后又被测距仪接收，测距仪同时记录激光往返的时间。
光速和往返时间的乘积的一半，就是测距仪和被测量物体之间的距离。
脉冲法测量距离的精度一般是在±10厘米左右，而测量盲区一般是1米左右。
此外，还有相位式激光测距，主要使用连续输出的氦氖、氩离子、氪镉等气体激光器。
相位式激光测距的原理是利用激光器的频率稳定度和传播速度，通过测量相位差来计算距离。
相位式激光测距的精度较高，可以达到毫米级别，但测量范围较小。
以上内容仅供参考，如需获取更多信息，建议查阅关于激光测距的资料或者咨询专业人士。
激光原理实验(山科大)
实验一 He-Ne 激光器模式分析（一）实验目的与要求目的：使学生了解激光器模式的形成及特点，加深对其物理概念的理解；通过测试分析，掌握模式分析的基本方法。
对本实验使用的重要分光仪器——共焦球面扫描干涉仪，了解其原理，性能，学会正确使用。
要求：用共焦球面扫描干涉仪测量He-Ne 激光器的相邻纵横模间隔，判别高阶横模的阶次；观察激光器的频率漂移记跳模现象，了解其影响因素；观察激光器输出的横向光场分布花样，体会谐振腔的调整对它的影响。
（二）实验原理1．激光器模的形成我们知道，激光器的三个基本组成部分是增益介质、谐振腔和激励能源。
如果用某种激励方式，在介质的某一对能级间形成粒子数反转分布，由于自发辐射和受激辐射的作用，将有一定频率的光波产生，在腔内传播，并被增益介质逐渐增强、放大，如图1-1所示。
实际上，由于能级总有一定的宽度以及其它因素的影响，增益介质的增益有一个频率分布，如图1-2所示，图中)(νG 为光的增益系数。
只有频率落在这个范围内的光在介质中传播时，光强才能获得不同程度的放大。
但只有单程放大，还不足以产生激光，要产生激光还需要有谐振腔对其进行光学反馈，使光在多次往返传播中图 1-1 粒子数反转分布 形成稳定、持续的振荡。
形成持续振荡的条件是，光在谐振腔内往返一周的光程差应是波长的整数倍，即q q L λμ=2 （1-1）式中，μ为折射率，对气体μ≈1；L 为腔长；q 为正整数。
这正是光波相干的极大条件，满足此条件的光将获得极大增强。
每一个q 对应纵向一种稳定的电磁场分布，叫作一个纵模，q 称作纵模序数。
q 是一个很大的数，通常我们不需要知道它的数值，而关心的是有几个不同的q 值，即激光器有几个不同的纵模。
从（2-1）式中，我们还看出，这也是驻波形成的条件，腔内的纵模是以驻波形式存在的，q 值反映的恰是驻波波腹的 图 1-2 光的增益曲线 数目，纵模的频率为L cq q μν2= （1-2）同样，一般我们不去求它，而关心的是相邻两个纵模的频率间隔Lc L cq 221≈=∆=∆μν （1-3） 从（2-3）式中看出，相邻纵模频率间隔和激光器的腔长成反比，即腔越长，相邻纵模频率间隔越小，满足振荡条件的纵模个数越多；相反，腔越短，相邻纵模频率间隔越大，在同样的增益曲线范围内，纵模个数就越少。
激光检测原理
激光检测原理激光检测是一种利用激光技术进行测量和检测的方法，它在工业、医疗、科研等领域有着广泛的应用。
激光检测原理是基于激光的特性和相互作用规律，通过对激光的发射、传播、接收和处理，实现对被测对象的测量和检测。
本文将从激光的特性、激光检测的基本原理和应用实例等方面进行介绍。
激光的特性。
激光是一种具有高亮度、高直线度、高单色性和高相干性的光束。
这些特性使得激光在检测领域有着独特的优势。
高亮度和高直线度使得激光能够远距离传播而不发散，保持较小的光斑；高单色性使得激光具有特定的波长，适用于特定的测量和检测需求；高相干性使得激光能够产生干涉和衍射现象，实现精密的测量。
激光检测的基本原理。
激光检测的基本原理是利用激光束与被测对象相互作用后产生的光学信号进行测量和分析。
激光检测可以通过测量激光的反射、散射、吸收、干涉等方式来获取被测对象的信息。
例如，通过测量激光的反射光强来确定目标的距离和形状；通过测量激光的散射光强来分析目标的表面粗糙度和形貌；通过测量激光的吸收光强来检测目标的化学成分和浓度；通过测量激光的干涉图案来实现精密的位移和形变测量。
激光检测的应用实例。
激光检测在工业、医疗、科研等领域有着广泛的应用。
在工业领域，激光检测被应用于精密加工、质量检测、无损检测等方面，例如激光测距仪、激光干涉仪、激光扫描仪等设备；在医疗领域，激光检测被应用于医学影像、激光治疗、生物检测等方面，例如激光扫描显微镜、激光手术系统、激光生物传感器等设备；在科研领域，激光检测被应用于物理、化学、生物等学科的实验和研究，例如激光光谱仪、激光干涉仪、激光散射仪等设备。
总结。
激光检测是一种基于激光技术的测量和检测方法，它利用激光的特性和相互作用规律，实现对被测对象的精密测量和分析。
激光检测具有高亮度、高直线度、高单色性和高相干性的特性，适用于工业、医疗、科研等领域。
通过对激光的发射、传播、接收和处理，激光检测可以实现对目标的距离、形状、表面粗糙度、化学成分、位移和形变等信息的获取，为各个领域的应用提供了有力的技术支持。
激光功率计原理
激光功率计原理激光功率计是一种用来测量激光输出功率的仪器，广泛应用于激光科学、医学、工业等领域。
其原理基于热效应。
本文将就激光功率计的原理进行详细阐述。
1、激光功率计的基本原理激光功率计的基本原理是将激光能量转化为电信号，然后通过电信号来计算激光功率。
其一般分为两类：热效应式功率计和光学式功率计。
其中热效应式功率计是最常见的一种，它的基本原理是将激光束引导到一个吸收能量的元件上，产生热能，并通过测量产生的温度变化来计算激光功率的大小。
2、激光功率计的热效应原理热效应功率计通过激光束的吸收，产生热能使其温度发生变化，从而改变其电学特性，例如电阻值、电容等。
当激光束通过吸收元件时，元件内部的温度会升高，导致元件的电学性能发生变化，从而改变元件的电阻值或电容值。
因此，通过测量该变化，可以计算出激光功率的大小。
3、热效应功率计的元件种类热效应功率计的元件种类繁多，根据激光的波长和功率级别，选择不同的元件可以更好地适应测试需求。
3.1、表面吸收型功率计表面吸收型功率计通常是一种金属导电材料，例如铂电阻、钨电阻等。
激光束穿过元件时被吸收，产生热能，导致电阻值的变化，从而测量激光功率。
3.2、体积吸收型功率计体积吸收型功率计一般是一种玻璃或陶瓷材料，容易吸收激光能量，产生越来越高的温度，从而扩散到周围，并通过热传导扩散到功率计的表面。
通过测量温度变化来计算激光功率。
4、光学式功率计的原理与热效应式功率计不同，光学式功率计通过测量激光束经过传感器时的光强度变化来计算激光功率。
光学式功率计的传感器通常使用各类敏感元件，例如硅光电传感器、红外传感器等等。
直接测量激光的光能，然后通过功率与光能的关系可以计算出激光功率。
5、总结综上所述，激光功率计通过测量激光束在吸收元件上产生的热效应或光学光强度变化来计算其输出功率。
在测试激光系统或者对激光器进行性能测试的过程中，可以选择适当的激光功率计来确保系统的稳定性和精度。
因此，激光功率计在如今激光应用领域已经不可或缺，它在激光科学、医学、工业制造等领域中发挥着十分重要的作用。
激光测试技术 原理
激光测试技术原理激光测试技术是一种利用激光器发射出的激光束对目标进行测量和分析的技术。
它通过测量激光束在目标上的反射或散射情况，来获取目标的相关信息，如距离、形状、表面特性等。
激光测试技术在工业、科学研究、医学等领域有着广泛的应用。
激光测试技术的原理主要包括激光器的发射、激光束的传输、目标的反射或散射以及接收和处理信号等几个关键步骤。
首先，激光器会产生一束单色、相干性强、方向性好的激光束。
这个激光束经过适当的光学元件传输到目标上。
目标可以是一个物体的表面，也可以是一个空间中的点。
当激光束与目标发生作用时，会发生反射、散射或折射等现象。
在激光束照射到目标上后，一部分激光束会被目标表面反射回来，形成反射光。
另一部分激光束会被目标表面散射或折射，形成散射光或透射光。
这些光束经过光学系统的聚焦和收集后，被接收器接收到。
接收器可以是光电二极管、光电倍增管或光电探测器等。
接收到的光信号会经过电路放大、滤波等处理后，转化成电信号。
接收到的电信号可以用来计算目标与激光器的距离。
利用激光束的速度已知，通过测量激光束从发射到接收的时间差，可以计算出目标与激光器之间的距离。
同时，还可以通过测量激光束的强度变化，获取目标表面的反射率信息。
利用激光束的聚焦性和方向性，还可以测量目标的形状和表面特性。
激光测试技术具有许多优点。
首先，激光束具有高方向性和高亮度，可以实现远距离测量和高精度测量。
其次，激光束具有短脉冲宽度和窄光谱宽度，可以实现高速测量和高分辨率测量。
此外，激光测试技术还可以实现非接触式测量，避免了测量过程中的物理接触和干扰。
激光测试技术在工业领域有着广泛的应用。
例如，在制造业中，可以利用激光测试技术对产品进行尺寸测量、形状检测和缺陷分析等。
在航空航天领域，可以利用激光测试技术对飞机表面进行检测和维修。
在医学领域，可以利用激光测试技术进行眼科手术和皮肤治疗等。
此外，激光测试技术还可以应用于地质勘探、环境监测、军事侦察等领域。
激光测转速的原理
激光测转速的原理
使用激光测量转速的基本原理是:
一、激光的方向性
激光能量高度集中,射线路径非常直,可准确照射目标。
二、多普勒效应
当光源和接收器中的一个运动时,接收的光频率将发生多普勒位移。
三、测速系统构成
1. 激光发射装置:发出稳定的激光束。
2. 转动目标:反射激光的转动物体。
3. 接收装置:接收反射光并检测频移。
4. 信号处理:分析频移信息,计算转速。
四、工作原理
1. 激光照射在转动目标表面,被反射入接收器。
2. 当目标表面朝接近光源方向转动时,反射光频率增大。
3. 当目标表面朝远离光源方向转动时,反射光频率减小。
4. 通过分析反射光的多普勒频移变化,可以计算出转动速度。
五、测量时注意事项
1. 确保激光照射稳定,光束准直。
2. 接收装置要求足够灵敏度。
3. 增加重复测量次数,取平均值以提高准确度。
4. 标定测试装置,校准反射材料参数。
5. 计算时滤除环境噪声干扰。
综上所述,激光测转速利用了激光的方向性和多普勒效应原理,通过检测频移变化
测量旋转目标的转速。
这是一种高精度的非接触式测速方法。
激光投影仪测试灯珠的原理
激光投影仪测试灯珠的原理
激光投影仪是一种使用激光光源的投影设备，其测试灯珠（也称激光器二极管或激光二极管）是其中的核心组件。
激光器二极管是一种具有发光功能的半导体器件，主要由多个微米级的半导体芯片组成。
其发光原理是通过注入电流激发半导体芯片中的电子与空穴相结合，从而发生辐射性复合，产生光子（或称激光光子）的过程。
具体来说，激光器二极管内部有一个质子井区域，其中一个边缘是n型半导体，另一个边缘是p型半导体。
当正向电流通过二极管时，电子从n型区域向p型区域移动，而空穴则从p型区域向n型区域移动。
当电子与空穴相遇时，会发生复合过程，产生能量。
在特定的半导体材料中，复合过程产生的能量在材料中得到积累，并沿着激光器二极管中的正向结合界面积蓄。
当能量积累到一定程度时，就会激发产生激光光子。
这些激光光子会沿着半导体材料中的特定路径传播，最终从激光器二极管的输出窗口射出。
测试灯珠的主要任务是作为激光器二极管的光源，提供高亮度、高纯度、高稳定性的激光光束。
激光投影仪通过对测试灯珠的功率、波长等参数进行调节，可以实现对投影画面的亮度、清晰度等方面的调整和优化，从而提供更好的投影效果。
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摘要太赫兹成像技术的研究是目前太赫兹研究领域的热门课题，本论文主要针对太赫兹成像技术进行了系统的介绍与分析。
与光学相干层析成像技术相结合，我们提出了一种太赫兹相干层析技术。
该技术的纵向分辨率可达100μm以下，这一实验结果高于太赫兹飞行时间成像技术和合成孔径成像技术。
此外，该技术具有系统结构简单、紧凑等特点，在高精度的材料无损探伤领域具有及其巨大的应用前景。
关键词：太赫兹成像技术相干层析成像材料无损探伤分辨率引言由于太赫兹对大部分非金属材料和非极性物质具有极强的穿透能力，并且对单光子能量低，不会对生物组织产生有害的电离作用，因此太赫兹技术被广泛的应用于材料无损探测、安检机生物组织病变检测等成像领域。
1995年，Hu等人首次在太赫兹时域光谱系统中加入一二维扫描的载物台，待测样品被放置在太赫兹聚焦点上，并在与太赫兹垂直方向进行二维扫描，通过记录下每个扫描点透过的太赫兹时域波形，形成样品的太赫兹图像。
他们使用这种方法完成了对微电子芯片内部结构的成像。
此后，太赫兹成像引起了研究人员的极大关注，并逐渐发展起来了一些新的太赫兹成像技术，主要包括以下几种：(1) 连续太赫兹波二维成像技术(2) 合成孔径成像技术(3) 太赫兹近场成像技术(4) 脉冲太赫兹波飞行时间成像技术(5) 太赫兹波计算机辅助层析成像技术研究一种系统结构及扫描方式简单、成像精度高的太赫兹三维层析成像技术在材料高精度无损探测领域具有及其重要的意义。
学相干层析成像技术是基于宽带光源的弱相干特性对待测物体内部结构进行高分辨率层析成像的技术，它依靠光源的时间相干性，对物体进行三维结构重构。
太赫兹对非金属材料很强的穿透能力，其穿透深度很高，将太赫兹技术与光学相干层析技术结合起来，我们提出了太赫兹相干层析技术。
一太赫兹相干层析技术相对红外和微波，由于太赫兹波较低的单光子能量和对大部分非金属材料具有较高的穿透性能等特点，近几十年来逐渐引起了人们的研究热潮。
自1995年Hu 等人[10]首次利用太赫兹辐射进行二维成像实验以来，太赫兹成像技术受到世界许多研究人员的关注。
2002年，B. Ferguson等人将X射线波段的层析成像技术移植到太赫兹波段，提出太赫兹三维层析成像的概念[47]。
该技术原理是一束太赫兹波穿透被成像物体后，然后通过平移和转动，使太赫兹以不同位置和不同角度穿透被成像物体，通过Radon变换计算物体吸收率的空间分布，实现对物体三维重构。
但是，在某些场合，待成像物体无法绕轴旋转，应用受到极大的限制。
2009年，德国Synview公司报道了一种基于连续太赫兹波的三维成像技术。
该技术使用一个中心频率为300GHz的返波管作为太赫兹源，利用电学调制的方法测量不同反射波到达探测器所需的时间，计算待测物体离探测器的相对距离，实现对待测物体的三维重构。
由于所使用的是单频长波长的太赫兹源，考虑到衍射极限的限制，该技术的最佳纵向分辨率为0.5mm，对于某些需要高精度测量的应用领域是不够的。
光学相干层析成像技术（Optical Coherent Tomography, OCT）是一种高分辨率光学无损成像技术，可以无损伤地探测样品结构及成分，可以实现二维或三维成像，在基础与临床医学研究和应用领域有着巨大的应用潜力。
从探测深度、分辨率、简单实用等角度综合考虑，光学相干层析术被认为是很有发展前途的一种新型光学成像技术。
D. Huang等人在1991年首次提出OCT的概念，并成功对人类视网膜和冠状动脉壁进行了活体成像。
这一研究使用波长为830nm的SLD光源的光纤迈克尔逊干涉仪，达到精度为10微米的纵向分辨率。
此后，OCT技术得到了快速发展，其分辨率和性能有了很大的提高，并同时开发出多种成像模式，如多普勒OCT、光谱OCT、差分吸收型OCT和偏振敏感OCT等。
由于具有极高的纵向分辨率，OCT技术逐渐引起人们极大的研究兴趣。
但光学相干层析技术一般采用工作在近红外区波段的发光二极管(SLD)或超快激光作为光源，该波段穿透能力不强，探测深度只有2~3毫米，很大程度上限制了光学相干层析技术的应用。
本章基于OCT技术，利用太赫兹辐射具有良好穿透能力的特点，提出一种全新的太赫兹相干层析技术(Terahertz Coherent Tomography, TCT)方案。
该方案使用中压汞灯作为辐射源，成像系统的纵向分辨率由辐射源的相干长度决定，最小可以达到100μm以下。
该技术具有纵向分辨率高、探测深度深等特点，在高精度的材料三维无损探测和生物组织层析成像等领域具有非常广阔的应用前景。
二相干层析原理相干层析系统由低相干宽频辐射源，迈克尔逊干涉仪以及数据采集处理系统构成。
宽频光源辐射出的低相干光经过光分束器（50:50）被分为强度相同的两束，称为参考光和样品光。
参考光束经过参考臂，被参考臂上的反射镜反射回分束镜，参考臂是一个精密电控平移台以及固定在上面的反射镜组成的，平移台可以沿光束传播方向一维移动来改变参考臂的长度。
样品光经过透镜聚集后入射到待测样品上，散射回来的光再经过透镜收集后入射到分束镜。
参考臂反射回来的光从分束镜透射，样品光经过分束镜被反射，这两束光就耦合在一条直线上传播，然后经过抛物面镜聚焦，最后被探测器接收。
当参考臂长度与样品臂长度相当时，反射回来的参考光和样品光的光程差相匹配（在干涉系统的相干长度之内）时就会产生干涉。
样品光经过样品反射其信号相位与强度被样品调制，包含了样品内部的结构信息，反射信号的强度直接反应了样品的内部不同层的反射率的大小。
改变参考臂的长度即调节参考臂反射镜的位置，就可以获得样品不同深度的信息；控制载物台使样品移动，这样光就可以对样品进行横向扫描，获得的一系列干涉信号被探测器接收，经过光电转换，被数据采集系统采集。
采集的数据经过计算机进行相关处理并分析，形成不同深度的二维横截面图像，根据信号的强弱可以获得样品的三维灰度图。
由于辐射光源是宽频光，其相干长度很短，根据干涉理论只有当样品光与参考光的光程差小于相干长度时，两束光才能发生干涉，因此只有垂直反射的散射光能参与干涉，而其他方向的杂散光以及经过待测样品多次散射回来的光程较长的光被极大的抑制。
图1.1脉冲太赫兹三维成像技术原理示意图。
PCA表示光电导天线；OAP1和OAP2表示镀金离轴抛物面镜；M1-M4表示镀金高反镜；HRS表示高阻硅；TA是一个太赫兹吸收器；L表示高密度聚乙烯透镜；载物台由一个镀保护铝的太赫兹反射镜固定在可二维扫描的步进电机上组成；ITO玻璃起到使泵浦激光与太赫兹共线传播的作用；BD表示平衡探测器假设光源线型为高斯型，则其光强频谱分布为：（1.1）其中，为光场中心频率的振幅，光频率，为中心频率，为光场振幅频分布的均方差。
相干部分的光强可以表示为：（1.2）式中，和分别为参考光和样品光的强度，为频谱的半高宽度，和分别为参考光和样品光的光程，为光速。
由式(3.3)可见，干涉信号是频率为的交流信号，强度包络曲线是光程差的高斯函数。
当，即参考臂与样品臂等光程时，干涉信号强度极强；当二者不等时，干涉信号强度迅速减小。
光谱的半高宽度可以表示为(1.3)定义半高宽为光源的相干长度，由于光信号是往返的，所以将相干长度除以2，得到相干层析成像技术的纵向分辨率为(1.4)式中，和分别为光源的中心波长和频谱宽度。
相干层析成像技术的纵向分辨率受限于光源的相干长度，只有当参考光与样品光的光程差小于相干长度，才有足够强的干涉信号。
因此，在相干层析成像技术中，辐射源的选择直接决定了系统的纵向分辨率。
系统的横向分辨率由瑞丽判据决定，即艾里斑半径，则横向分辨率为：（1.5）三太赫兹相干层析实验光路图1-2 太赫兹相干层析成像技术方案光路图。
OAP1至OAP5为镀金的离轴抛物面镜；分束器为在Mylar薄膜上制作的金属光栅的偏振分光片；Ge片起到滤波作用。
本技术的实验光路如图2所示。
75W的汞灯作为辐射源辐射发散的太赫兹波，太赫兹波被两个抛物面镜0AP1及OAP2准直之后成为平行光，经过孔径光阑约束光源尺寸，然后经过斩波器进行周期调制以方便探测器探测。
干涉仪的分光片是一个在Mylar薄膜上制作的金属光栅，它的投射反射比例接近4:1。
参考臂由一个一维电控平移台精确控制，进行一维扫描；样品臂光束经过抛物面镜聚焦后入射到载物台上。
载物台为一片镀铝的高反射镜，放置在二维电控平移台上，实现对样品的二维扫描。
参考光和样品光经过分光片后，被一个抛物面镜收集，入射到探测器进行探测。
需要注意的是，为了便于探测干涉信号，实验中在探测器前放置一Ge 片，作用是滤除一部分频率，减小光谱宽度，以增加相干长度。
实验中所使用的探测器是由俄罗斯tydex公司生产的Golay cell。
探测器探测到的信号输入到锁相放大器，经锁相放大处理后被计算机所记录。
通过对样品XY平面的二维扫描和Z 轴方向的相干层析扫描，经过一定的数据处理后即可对样品的三维图像进行重构。
三系统控制及数据采集分析的软件编译相干层析成像系统的控制及数据采集与分析软件主要起到对三轴电机运动方式的控制，对锁相放大器的数据进行采集以及后期数据的处理、分析及显示等作用。
本节基于Labview系统编译软件，针对北光世纪生产的SC103步进电机控制器和美国斯坦福公司生产的SR810锁相放大器，编译完成了相干层析系统的控制及数据采集与分析处理软件。
图1.3为软件编译的流程图。
图1-3 相干层析系统控制及数据采集于分析处理软件编译流程图Labview程序通过visa端口对步进电机控制器和锁相放大器进行命令的发送和数据的读出等操作。
在确定控制程序与步进电机控制器及锁相放大器通信成功后，完成对硬件的初始化工作，为接收运动指令及数据采集指令做好准备。
接下来，对参考臂Z轴进行连续扫描，同时记录锁相放大器输出的太赫兹功率值，记录并显示出此处的时域干涉信号。
将记录的干涉信号保存在一个二维数组中后，以初始设置的像素分辨率移动X轴至样品的下一个像素点，再次执行时域干涉信号的测量操作。
当X轴运动像素点个数达到初始设置值后，以初始设置的Y轴分辨率移动Y轴至下一个像素点，然后继续执行Z轴扫描时域信号及X轴的步进扫描操作，直至X、Y轴扫描完成初始设置的像素点大小。
图1-4 相干层析成像系统控制及数据处理与分析软件前面板。
循环次数设置表示对样品某一个像素点的时域干涉信号进行指定次数的测量，最后对测量结果进行求平均值；X/Y轴扫描精度表示对X/Y轴成像分辨率的设置；Z轴扫描距离表示时域扫描范围；右边二维强度图分别表示测量的样品在XY界面和XZ界面的显示结果最后，对所得到的数据进行相应的矩阵变换及降噪处理等操作，将结果显示出来，并关闭串口，程序结束。
程序的前面板如图1-4所示。