光电测试技术激光干涉测试技术/
光干涉检测技术

光干涉检测技术
光干涉检测技术是一种基于光的干涉原理进行测量和分析的技术,它可以用来测量物体的表面形貌、折射率、厚度、介电常数等参数。
光干涉检测技术具有高精度、高灵敏度、非接触等特点,因此在科学研究、工业生产和医疗诊断等领域得到了广泛应用。
光干涉检测技术的基本原理是,当两束或多束相干光波在空间某一点叠加时,它们的光程差会引起光强的变化,产生干涉现象。
干涉现象表现为光强的加强或减弱,取决于光程差是偶数倍还是奇数倍。
通过测量干涉条纹的移动和光强变化,可以计算出物体的形貌、折射率、厚度等参数。
在实际应用中,常见的光干涉检测技术包括干涉显微镜、干涉仪、激光干涉仪等。
这些技术可以用于测量表面粗糙度、晶格常数、薄膜厚度等参数,也可以用于研究光学现象和物理现象。
总之,光干涉检测技术是一种高精度、高灵敏度的光学测量技术,具有广泛的应用前景。
随着光学技术和计算机技术的不断发展,光干涉检测技术将会得到更广泛的应用和推广。
光电测试技术-激光外差干涉

反射光将产生的频移为 2v/。
➢ 如果圆偏振光通过一个旋转中的半波片,则透射光将产生两倍于 半波片旋转频率f 的频移,即 v2f 。
14.10.2020
hபைடு நூலகம்
14
声波的多普勒效应
一辆汽车在我们身旁急驰 而过,车上喇叭的音调有一个 从高到低的突然变化;站在铁 路旁边听列车的汽笛声也能够 发现,列车迅速迎面而来时音 调较静止时为高,而列车迅速 离去时则音调较静止时为低。 此外,若声源静止而观察者运 动,或者声源和观察者都运动, 也会发生收听频率和声源频率 不一致的现象。这种现象称为 多普勒效应。
平均功率
14.10.2020
h
7
光外差检测
fs为信号光波,fL为本机振荡(本振)光波,这两束平面平
行的相干光,经过分光镜和可变光阑入射到探测器表面
进行混频,形成相干光场。经探测器变换后,输出信号中 包含 fc= fs –fL 的差频信号.故又称相干探测.
14.10.2020
h
8
,入射到探测器上的总光场为
光外差探测与直接探测相比较有许多优点,在直 接探测中由于光的振动频率高达2×1013~7.5×1014Hz, 振动周期T为5×10-14 ~ 1.3×10 -15 s (可见光到中近红 外),而探测器响应时间最短10 -10 s, 它只能响应其平 均能量或平均功率。
14.10.2020
h
6
在直接探测中,设光波动的圆频率为ω, 振幅为A,则光波f(t)写成
光波的多普勒效应
光波的多普勒效应 具有波动性的光也会出现这种效应,它又
14.10.2020
h
10
光电计量与测试技术

提高光电计量与测试技术的精度和稳定性,满足高精度和 高可靠性的需求
光电计量与测试技术的发展趋势:高精度、高稳定性、高可靠性
提高精度和稳定性的方法:采用先进的传感器、信号处理算法、校准技术等
挑战:如何满足高精度和高可靠性的需求,同时降低成本和功耗
光电信号的放大:通过放大器将微弱的电信号放大
光电信号的滤波:通过滤波器去除噪声和干扰
光电信号的转换:通过ADC将模拟电信号转换为数字信号
光电信号的处理:通过DSP或FPGA对数字信号进行处理 和分析
光电信号的显示:通过显示器将处理后的信号显示出来
光电计量与测试的精度和误差分析
光电计量与测试技术的原理:利 用光电效应进行测量
应用领域:拓展 光电计量与测试 技术的应用领域, 如医疗、环保、 航天等
感谢观看
汇报人:
光电计量与测试技术是利用光电效应进行测量和测试的技术。
光电计量与测试技术包括光电转换、光电检测、光电信号处理等方 面。
光电计量与测试技术广泛应用于各种光电子器件、光电子系统、光电 子设备的性能测试和评价。
光电计量与测试技术是光电子技术领域的重要组成部分,对于光电 子技术的发展具有重要意义。
光电计量与测试技术的应用领域
红外成像等
红外光计量与 测试技术的发 展趋势:高精 度、小型化、
智能化等
紫外光计量与测试技术
紫外光计量与测试技术的定义和原理 紫外光计量与测试技术的应用领域 紫外光计量与测试技术的优缺点 紫外光计量与测试技术的发展趋势和挑战
X射线计量与测试技术
X射线计量与测试技术的 定义和原理
X射线计量与测试技术的 应用领域
物理实验技术中的位移测量使用方法

物理实验技术中的位移测量使用方法引言物理实验中,位移测量是非常重要的一项技术,它可以帮助我们准确地测量物体在空间中的位置变化。
不同的实验需要不同的位移测量方法,本文将为大家介绍一些常见的物理实验中的位移测量使用方法。
一、光电法光电法是一种常见的位移测量方法,它利用光束的投射和接收来测量物体的位移。
该方法基于光电效应,通过光电传感器接收光束反射回来的光信号,进而计算物体的位移。
光电法测量位移快速准确,广泛应用于各种实验中,例如光栅移位传感器用于测量光栅条纹的位移。
二、激光干涉法激光干涉法是一种高精度的位移测量方法。
它利用激光光束的干涉现象来测量物体的位移。
将一束激光光束分成两束,分别照射到被测物体上,通过干涉效应,可以测量出物体的微小位移。
激光干涉法在实验室中广泛应用,例如在微纳尺度测量和光学仪器校准中。
三、位移传感器位移传感器是物理实验中最常用的位移测量设备之一。
位移传感器可以通过测量物体的伸缩变化、电容变化、电感变化等来获得位移信息。
它们通常由传感器头和信号处理部分组成。
常见的位移传感器有电容传感器、电感传感器和线性变阻传感器等。
根据实验需求,可以选择不同类型的位移传感器来实现高精度的位移测量。
四、高速相机法高速相机法是一种用于测量物体运动位移的方法。
它通过使用高帧率的相机来捕捉物体连续的图像。
通过分析这些图像中物体的移动情况,可以推算出物体的位移。
高速相机法在物理实验中广泛用于研究快速运动的物体,例如高速冲击试验和流体动力学研究。
五、声波测距法声波测距法是一种基于声音传播速度的位移测量方法。
它通过发射声波并接收反射回来的声波来测量物体的位移。
声波的传播速度是已知的,通过计算声波发射时刻与接收时刻的时间差,可以准确测量出物体的位移。
声波测距法广泛应用于工业领域和物理实验中的位移测量。
结论位移测量是物理实验中不可或缺的一项技术,通过光电法、激光干涉法、位移传感器、高速相机法和声波测距法等不同的测量方法,我们可以获得准确的位移数据。
光电测试技术-第0章_绪论

x U x
21
其中,扩展不确定度U应取最多两位有效数字。
2014-8-30
第0章 绪论
3.5 间接测量的数据处理步骤 间接测量值为直接测量值的函数
V f ( x1, x2 ,xn )
当各个测量值及其误差为已知时,按下列步骤处理数据。 1) 计算间接测量值 V 。将各直接测量值的算术平均值代入函 数式求 V 。 2) 根据各误差传递系数和标准偏差估计值的大小可以判知哪个 (几个)直接测量值对测量结果影响较大,则尽量减小或消 除该项(几项)量值的系统误差。
ISO1000-1981规定的 七个基本量:
量的名称 长 质 时 电 度 量 间 流 单位名称 米 千克(公斤) 秒 安 [培 ] 开[尔文] 单位符号 m kg s A K
热力学温度
物质的量
发光强度
2014-8-30
摩[尔]
坎[德拉]
mol
cd
8
第0章 绪论
2.3 测量中应遵循的原则 阿贝原则——长度测量时,标准量应安放在被测件测量中 心线的延长线上。做到这一点可以避免产生一阶误差。 封闭原则——圆周分度首尾相接的间距误差的总和为零, 表示为 ∑fi = 0 式中,fi 为分划间距(用角度表示)误差。这也就是分度误 差的闭合条件。 测量时,满足封闭性可以实现自检,因而可以提高测量的 精度。
2 2 2
合成标准不确定度为
V 2 V 2 V 2 uc V x u ( x1 ) x u ( x2 ) x u ( xn ) 1 2 n
2014-8-30
22
第0章 绪论
3)计算间接测量结果的合成标准不确定度。 标准偏差的估计值为
CSY10L型激光多功能光电测试系统概要

CSY10L型激光多功能光电测试系统在激光光电教学实验仪器中,CSY10L为全国首创,它将激光在近代测试技术中成功应用的范例,结合光电方法以教学实验的方法进行演示,实验内容新颖科学,使实验者能充分了解和掌握现代激光光电测试技术得主要原理和方法。
系统配置:激光系统;复用光学系统;CCD图像系统;A/D卡;视频卡;光纤传感系统;计算机实验软件主要实验内容:一、光散斑测试实验1、光散斑的性质及测量方法2、面内位移及离面位移的散斑测量3、速度及振动的散斑测量4、散斑编码及图像处理方法二、激光干涉测量1、三维面型的全场干涉测量及计算2、精密位移两的干涉测量方法3、数字干涉测量方法及其他干涉方法三、激光衍射计量技术1、精密狭缝缝宽的衍射测量2、巴俾特原理及细丝直径测量3、变形的全场衍射测量四、激光共焦三维测量1、三维型貌的共焦测量2、共焦显微镜的测量原理及相关技术实验五、纳米测量系统及演示实验1、利用笔束激光的干涉实现纳米测量的原理演示2、位移的纳米级测量方法3、微弱振动的纳米测量六、光学傅立叶变换及图像处理方法1、常用函数及图形的傅立叶变换2、图形的滤波、增强及像质改善七、光纤传感技术1、光纤单元技术:光源(LD)、耦合器、分束器、光纤接头2、SM光纤、PM光纤的原理和性能演示3、光纤传感—光线干涉传感系统实验4、光纤格林-台曼干涉系统实验5、光纤马赫-任德系统或光纤FP系统6、光纤传感-精密温度测试7、光线传感-压力标定温度8、仪器尺寸720×600×300mm,重量70kgCSY-10L激光多功能光电测试系统实验仪(Laser Universal Opto-Eletro Testing Systems)是在系列传感器实验系统的基础上发展的新型光电测试实验系统,用于仪器科学,计量测试专业,自动控制专业以及物理专业等课程教学。
其特点是实验内容新颖,技术先进,功能多样。
通过实验指导书提供的数十种实验,能完成包括激光、散斑、衍射、光电、共焦、光纤、纳米、图像等多种先进测试技术的实验,给学习者了解和掌握现代光学测试技术中的一些主要原理及方法建立基础,达到实验者今后在应用中做到举一反三的目的。
基于激光干涉测试技术的表面形貌分析研究

基于激光干涉测试技术的表面形貌分析研究近年来,随着科学技术的不断发展,人们对于表面形貌分析的研究不断深入。
而基于激光干涉测试技术的表面形貌分析技术,因其高精度、高分辨率、高稳定性等特点,已经逐渐成为表面形貌分析方面的一种重要手段。
本文主要讨论如何基于激光干涉测试技术进行表面形貌分析研究。
一、激光干涉测试技术的基本原理激光干涉测试是通过利用激光光学的干涉原理,来对物体表面形貌进行高精度的测量。
首先,将激光光源经过分光器进行分光,形成两束平行的光线。
其中一束经过反射镜反射到物体表面上,另一束则照射到参考镜上。
由于两束光线路径长度差异的存在,使得两束光线到达干涉面时会发生干涉现象。
通过干涉光的强度分布,可以获得物体表面的形貌信息。
一般采用相位移转换技术来提高测量精度。
二、激光干涉测试技术在表面形貌分析中的应用1. 光学元件的表面形貌测量激光干涉测试技术可用于光学元件的表面形貌测量,包括镜片、棱镜、透镜等。
通过不同的反射镜和透镜的组合,可获得物体表面的不同形貌信息,进而用于提高光学元件的制作精度和光学性能。
2. 电子芯片的表面形貌测量激光干涉测试技术可用于电子芯片的表面形貌测量。
电子芯片表面的形貌及粗糙度对芯片性能影响很大,而干涉测量技术可实现对芯片表面的三维测量,包括芯片尺寸、平整度、平坦度等参数。
这些参数的测量结果对于芯片制造和质量控制非常重要。
3. 材料薄膜的表面形貌测量针对材料薄膜的表面形貌测量而言,激光干涉测试技术也有着广泛的应用。
通过测量薄膜表面的波前高度分布和厚度分布,可以得到薄膜材料的质量、粗糙度等重要参数。
4. 机械零件的表面形貌测量除此之外,激光干涉测试技术还可以用于机械零件的表面形貌测量。
这些零件的表面形貌信息直接关系到所使用的机械设备的性能。
因此对于机械零件的形貌信息的快速、准确测量,也成为激光干涉测试技术得以广泛应用的原因之一。
三、激光干涉测试技术的发展与未来趋势随着计算机技术和光电技术的快速发展,激光干涉测试技术的精度、稳定性和测量速度不断提升。
第五讲激光外差干涉测长与测振

主要内容 一、双频激光外差干涉 二、双频激光外差干涉的应用 三、条纹小数重合法原理 四、红外双线氦氖激光绝对干涉测长系统
一、双频激光外差干涉仪
光源: 双频He-Ne激光器
由于
t
0
fdt=
t
2v
0
所以 L N f dt 在全内腔单频He—Ne激光器上加上约 300 ×10-4T 2 的轴向磁场 2 0
dt=
0
t
2
t
2 vdt= L
由于塞曼效应 1/4波片 和频率牵引效 应,使该激光 双频激光器 f2 器输出一束有 f1 两个不同频率 检偏器 的左旋和右旋 圆偏振光 ,它 f2-f1 们的频率差△V 约为1.5MHz
准直系统 f2
偏振分光镜 v f1 可动角 隅棱镜
f1±Δf
f2 探测器 前置 放大器
1 2 干涉场中某点(x, 1 y) 2 Er 1 cos 2( )t Et 1 cos 2t φ( x,y) 2 2 处光强以低频Δω随 Er Et cos(时间呈余弦变化 2 )t φ( x,y) Er Et cost-φ( x,y)
f1±Δf
数 据 处 理
f2-(f1±Δf)
双频激光器外差干涉测长原理图
工作原理
双频激光器1发出双频激光束
通过1/4波片2变成两束振动方向互相垂直的线偏振 光(v1垂直于纸面,v2平行于纸面) ,
经光束扩束器3适当扩束准直后,光束被分束镜4分为两部分
根据马吕斯定律, 两个互相垂直的 线偏振光在450方 向上的投影,形 成新的同向线偏 振光并产生 “拍”,其拍频 就等于两个光频 之差,即△v= v1—v2=1.5MHz
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
2020/6/30
11
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术
▪ 全息干涉测试技术是全息术应用于实际最早也是最成熟 的技术,它把普通的干涉测试技术同全息术结合起来, 具有许多独特的优势:
▪ 1)全息干涉技术则能够对任意形状和粗糙表面的三维表面进行测 量,测量不确定度可达光波波长数量级。
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术
▪ ②实时法全息干涉
▪ 原理:将对物体曝光一次的全息图经显影和定影处理后 在原来摄影装置中精确复位,再现全息图时,再现像就 重叠在原来的物体上。若物体稍有位移或变形,就可以 看到干涉条纹。
▪ 设物光波和参考光波在全息底片上形成的光场分布分
别为: A (x,y)A 0(x,y)ej0(x,y) R(x,y)R0ejR(x,y)
O
z
全息底片
O
z
2020/6/30
物光波的再现图示
物光波的再现图示 9
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ③全息术对光源的要求
▪ 由全息术的原理知道,全息图的记录和再现依赖于光的 干涉和衍射效应。因此,全息术对所用光源的要求不仅 同普通照相一样具有能使底片得以曝光的光能输出,而 且应具有为满足光束的干涉和衍射所必须的时间相干性 和空间相干性——一般选择激光器。
2020/6/30 A r2 A 0 2x ,y A rA 0x ,yejy 0x,y A rA 0x ,ye jy 0x 6,y
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ②物光波的再现 ▪ 如果处理过的全息干版的透过率和曝光光强成线性关系,
则其透过率为
P
则振幅恒定,位相随y值变,
以O点为参考,任一点 P(x, y) 的位相将比入射到
参考光波 θ
z
全息底片
O点光波的位相延迟了
全息图的记录过程图示
r 22ysin
令
2020/6/30
2则sin有
Er Arejy
5
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术 该式表明,全息底片上的光强分布按 4.1 全正息弦术规及律其分基布本,原而理且干涉条纹的亮度 ①全和息形图状的主记要录由物光波决定,因此物体 ▪ 对相光在全均于波全息为物的息底(体x底片振,光y片经幅)波的上过和函,。显相数由影位,于和以故入定光P射影强(x到,处的y全)理形点息后式物底,记体片就录光上波各电点场的分振布幅为和位
两次曝光时两个物光波 相2020干/6/3叠0 加的合成波—— 产生干涉
合成波的共轭波——也 产生干涉
17
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术 ①静态二次曝光全息干涉法 ▪ 现在将两物光波的复振幅分布代入第二项,则有:
W 2 ( x , y ) R 2 A 0 e i 0 A 0 e j ( 0 ) R 2 A 0 ( 1 e j) e j 0
tx,ym x,Iy
t 线性部分
O t-H曲线 H
2020/6/30
7
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术 该项也含有物体光波的振幅和位相信
在整个全息图息上,但A近r2是似它为和常物数光,波则前该进项方正向虚像好不是同一,个常数乘上
一个察射4②➢.个光就光1物如物波会波全光果体具看是息波用光有到原术的和波原一始及再参这它z,始个物其0轴现考可所它光和体基x的, 光以表y表波原波本光一从示示所来前原束前样位的一具一的理波的的相光个有模再前负光项波与的一现。号波中是物一样。预再看比体切的示现出照光性“着全。明波质物再息光相,体现图波同如”光,更的 果。波则偏透迎所对得离射着以到O光该,的y全波光这息透,波个底射片这观透 z
▪ 设第二次曝光时物光波为: A 2 ( x ,y ) A 0 ( x ,y ) e j 0 ( x ,y ) ( x ,y )
▪ 设参考光仍为:
R(x,y)R0ejR(x,y)
▪ 则第二次曝光在底片上的曝光量为:
2020/6/30
I2(x,y)A 2(x,y)R (x,y)2
15
第5章 激光干涉测试技术
▪ 若把曝光时间取为1,并假设底片工作在线性区,比例 系数取为1,则底片经过显影、定影处理后得到全息图 的振幅透射比分布为
2020/6/30
H (x ,y ) 2 R 2 A 1 (x ,y )2 A 2 (x ,y )2
R * A 1 (x ,y ) A 2 (x ,y ) R A 1 * (x ,y ) A 2 * (x ,y )
仅成像的亮度降低、分辨力下降,而且全息图不怕油 污和擦伤。 ➢ 信息容量大。 ➢ 光学系统简单,原则上无须透镜成像。
2020/6/30
4
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ①全息图的记录
▪ 设参考光波为 Er Arejr ▪ 因为参考光波是平面波,
物光波 y
2020/6/30
13
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术 ①静态二次曝光全息干涉法 ▪ 原理:二次曝光全息干涉法是将两个具有一定位相差的
光波分别与同一参考光波相干涉,分两次曝光记录在同 一张全息底片上。当用与参考光完全相同的再现光照射 该全息图时,就可以再现出两个互相重叠的具有一定位 相差的物光波。当迎着物光波观察时,就可以观察到在 再现物体上产生的干涉条纹。
2020/6/30
12
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术 ▪ 全息干涉测试技术的不足是其测试范围较小,变形量仅
几十微米左右。 ▪ 全息干涉方法包括:
➢ 单次曝光法(实时法); ➢ 二次曝光法; ➢ 多次曝光法; ➢ 连续曝光法(时间平均法); ➢ 非线性记录; ➢ 多波长干涉; ➢ 剪切干涉等多种形式。
成为全息图(又E 称o全 息A 干o(板x,)y 。)ejo(x,y)
➢ 全息底片仅对光强起反应,而光强可表示为光波振幅的 平方,即
I x ,y E 2 E 注 E 意E r 与 参E 考o 光E r 波 的E 比o 较
jy
EAe Ix ,yA rejy A 0x ,yej0x,y A re jy A 0rx ,ye rj0x,y
mrA Ar2A02x,yejymr2A0x,yej0x,y
m0A x,yej0x,yAr2ej2y
该项是在照明光束方向 传播的光波,它经过全
2020/6/30
息图后不偏转,但是振
幅会发生变化。
8
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ②物光波的重录再要的现性是质物:体光由波图和明参显考看光出波,产由生于的全干息涉图条记
A 1(x,y)RA (x,y)2R2A (x,y)R*(x,y)A*(x,y)R(x,y)
R 0(R 0 2A 0 2)ejRA 0R 0 2ej0A 0R 0 2ej(02R) A 0(R 0 2A 0 2)ej1A 0 2R 0ej(01R)A 0 2R 0ej(01R)
2020/6/30
光强和位相; ➢ 再现,即用光衍射原理来重现被记录物体的三维形状。
2020/6/30
3
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.1 全息术及其基本原理 ▪ 全息术与普通照相相比具有以下特点:
➢ 三维性。全息术能获得物体的三维信息,成立体像。 ➢ 抗破坏性。全息图的一部分就可以再现出物体的全貌,
▪ ②实时法全息干涉
全息图
Ⅴ 全息图
▪ 把经过处理后获得的全息参图考a光复)记R录位过,程 并用原再参现光考bR)再光现过波程R和
变形后的物光波A1同时照射全实时息法图全,息设图变的记形录后与的波物面光再现波
A 1 (x,y)A 0(x,y)ej1(x,y)
▪ 透过全息图的光场复振幅分布是
W (x,y)A 1(x,y)RH(x,y)
▪ 如果再纹现,过它程分中布用于另整外个方全向息的图光上束,作因为此照,明如光果波,再现
像会随全之息变图化缺。损一部分,仅减少了干涉条纹所
占的面积,降低了再现象的亮度和分辨力,
实像(共轭而像)对再现y 像的虚位像(置原始和像)形状是毫虚像 无影响的。y
实像
这就是说,全息图对缺损、划伤、油污、 灰尘等没有严格照明要光波求,这照一明光点波 在应用中具 有重要意义。
20
第5章 激光干涉测试技术
16
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术
4.2 全息干涉测试技术
①静态二次曝光全息干涉法
▪ 用与参考光完全相同的光波再现全息图,则透射全息
图的光波复振幅分布为
背景光
W (x,y)RH(x,y)
R2R2A 1(x,y)2A 2(x,y)2
R2A 1(x,y)A 2(x,y)R2A 1*(x,y)A 2*(x,y)
▪ 2)全息图的再现像具有三维性质,因此全息干涉技术可以从不同 视角观察一个形状复杂的物体,一个干涉全息图相当于用一般干 涉进行多次观察。
▪ 3)全息干涉技术是比较同一物体在不同时刻的状态,因此,可以 测试该段时间内物体的位置和形状的变化。
▪ 4)全息干涉图是同一被测物体变化前后的状态的记录,不需要比 较基准件,对任意形状和粗糙表面的测试比较有利。
2020/6/30
10
第5章 激光干涉测试技术
§5-4 激光全息干涉测试技术