超声波探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1. 目的：确保UT 检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A 型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3. 引用标准3.1《A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999）3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82）3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999）3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063—1999）3.6《A 型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（J B/T92 1 4－1 999）4. 职责4.1 应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心UT川级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UT川级人员提出，并报中心主任批准。
校验人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）5.1 各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定）5.2 CSK—IA 标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）531 JB4730— 94规定的阶梯试块（DB —D i试块）5.3.2 Z20 —1 （80 225 G1. 25）Z20 —2（80 225 G2 25）Z20 —4 （80 225 G4 25 ）5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6. 校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备a .各种频率的常用直探头b对比试块：Z20 —2或Z20 —4c .探头压块6.1.2测试步骤a .连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20 —2试块上并对准①2孑L,调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100% （满刻度），且衰减器至少有30d B余量；b .调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B,然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d（+）与最大负偏差d （-）之绝对值的和为垂直线性误差，如△ d=| d（+）|+|d（-）| ;c .将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试;d .在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。
超声波探伤仪检定规程
超声波探伤仪检定规程引言超声波探伤仪是一种广泛应用于工业领域的检测设备，用于检测材料内部的缺陷或异物。
为了保证超声波探伤仪的准确性和可靠性，需要进行定期的检定。
本文将详细介绍超声波探伤仪检定的规程和步骤。
检定目的超声波探伤仪的检定旨在验证设备的测量准确性、敏感度以及其他性能指标，以确保其在实际使用中能够正常工作并正确地检测缺陷和异物。
检定方法选择超声波探伤仪的检定方法应选择符合国家标准或行业规范的方法，并根据设备的特点和用途进行合理的调整。
一般常用的检定方法有以下几种：1.回波幅值检定–使用标准试块进行测量，通过比对回波信号的幅值与试块设定值的差异，评估超声波探伤仪的测量准确性。
2.分辨力检定–采用不同直径的孔板进行检测，通过分析超声波探测到的信号的清晰度和分辨能力，评估设备的敏感度和分辨力。
3.脉冲重复频率检定–通过测量超声波探测仪器的脉冲重复频率，以判断设备的工作频率是否符合规定要求。
检定设备准备在进行超声波探伤仪的检定之前，需要做好以下准备工作：1.检定仪器和设备：–确保超声波探伤仪器的正常工作状态，包括电源供应、传感器的连接和校准等。
2.校准试块和标准器件：–准备一套标准试块，并根据规定的要求进行校准。
3.测试环境准备：–确保测试环境符合要求，包括温度、湿度和电磁干扰等。
检定步骤步骤一：回波幅值检定1.首先，选取一块符合要求的标准试块，并进行相关的校准工作。
2.将标准试块放置在检测台上，并调整超声波探测器的位置和角度，使其与试块表面垂直。
3.使用超声波探测仪器进行扫描，记录所得的回波信号的幅值。
4.将记录的回波信号与试块的设定值进行比对，计算出差异，并判断是否符合要求。
步骤二：分辨力检定1.准备一组具有不同直径的孔板，并确保其直径和深度的测量准确性。
2.将孔板放置在检测台上，并使用超声波探测仪器进行扫描。
3.观察和记录超声波探测到的信号，并评估其清晰度和分辨能力。
4.根据观察结果，判断设备的分辨力是否达到要求。
超声波探伤机校验方法
超声波探伤仪校验方法1概述本办法适用A型、脉冲反射式工业超声波探伤仪水平线性、垂直线性、动态范围等性能的测试。
2技术要求2.1超声波探伤仪的性能必须由无损检测Ⅱ级人员测试。
2.2校验使用参考标准为具有已知尺寸人工反射体试块。
3引用标准JB4730-2005 《承压设备无损检测》ZBY230-84 《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》4校验项目及方法4.1垂直线性测试4.1.1将探伤机“抑制”旋钮调至“0”或关，“深度补偿”旋钮置于“关”。
“深度粗调”和“细调”置于适当位置。
4.1.2将直探头通过藕合剂置于ⅡW（或其它试块）上，调节“增益”和“衰减器”，使平底孔反射波幅度恰为垂直刻度的100%，且使“衰减器”保留30dB衰减余量。
4.1.3调“衰减器”，依次记录每衰减2dB时孔反射波幅度的百分数，直至衰减26dB。
将测试结果填写在检验记录中。
4.1.5计算垂直线性误差D＝（∣d1∣+∣d2∣）（%）式中d1----实测值与理想值的最大正偏差；d2－实测值与理想值的最大负偏差；当D小于或等于5%时判为合格。
4.2水平线性测试4.2.1直探头通过藕合剂置于ⅡW（或其它试块）上，对准25mm底面。
4.2.2调“微调”“水平”或“脉冲移位”等旋纽，使示波屏上出现5次底波B1到B5，使B1对准2.0，B5对准10.0。
记录B2、B3、B4与水平刻度值4.0、6.0.、8.0的偏差值a 2、a3、a4。
4.2.3计算水平线性误差δ=-%1008.0||max ba ——a 2、a 3、a 4中最大者b ——示波屏水平满刻度值。
当δ小于或等于1%时判为合格。
4.5动态范围测试4.5.1“抑制”至“0”，“衰减器”保留30dB ，探头置于11W(或其它试块)上对准25mm 底面，调“增益”使底波B1达到满幅度100%。
4.5.2固定“增益”记录此时衰减余量N1，调“衰减器”使底波B1降至1mm,记录此时的衰减器余量N2。
超声波探伤仪校验规程
5.4.2.
a)仪器[增益]至最大，[抑制]至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
1.
本规适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2.
2.1.
2.2.
2.3.
3.
3.1.
3.2.
3.3.
4.
4.1.
4.2.
5.
5.1.
5.1.1.
5.1.2.
表1
衰减量△dB
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
26
理论相对波高%
100
79.4
63.1
50.1
39.8
31.6
25.1
20.0
15.8
12.5
10.0
7.9
6.3
5.0
实测波高Hi
实测相对波高%
偏差%
上表中：理论相对波高%=Hi（衰减△dB后波高）/H0（衰减0dB时波高）×100%；
实测相对波高%=10（-△i/20）×100%。
6.1.3计算垂直线性误差
D=（|d(+)|+|d(-)|）×100%
式中d(+)——最大正偏差；
b)左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
c)调节[衰减器],使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
超声波探伤检测规范
超声波探伤检测规范一．目的对回转支承产品配套使用的毛坯内部质量进行超声波探伤检测，以确保产品质量。
二．范围所有进厂回转支承毛坯（包括50Mn和42CrMo材料）三．检测标准检验方法依据GB/T 6402-2008≤钢锻件超声检测方法≥的规定进行检验，标准GB/T 6402-2008适用于脉冲反射式超声波检验法对厚度或直径大于100mm 的碳钢及低合金钢一般锻件的超声波检测。
四．检测条件及探伤方法（1）环形毛坯锻件接触法检验时，一般在粗加工完成后，锻件表面粗糙度Ra 值应小于3.2um，表面应平整，无影响声耦合的氧化皮，赃物等附着物，并满足检验要求；（2）在探头与检测面之间，应使用合适的耦合剂；（3）根据锻件加工工艺，环形毛坯主要探测面为外圆百分之百检测，辅助探测为上下端面；（4）扫查方式为手工扫查，探头在检测面的扫查间距，应保证有15％的声束覆盖；（5）扫查速度即探头相对锻件的移动速度，应在150mm/s以下；（6）在毛坯粗加工到要求的表面粗糙度时，从毛坯外圆面及上下端面进行100％的扫查，同时为了避免耦合层厚度的影响，也进行变换探头频率探测，以便检测出缺陷。
a)探头频率选择频率选择：对于毛坯厚度较小时，应选择较大的探头频率以提高其检测分辨力，毛坯厚度较大时，应选择较小的探头频率以提高其穿透能力。
b)检验方案1、对于客户明确要求的毛坯，进行全检。
2、对于三个车间直径较大的毛坯，都进行一定数量的抽检探测，其满足的比例为：3、在实际操作过程中，对发现内部有质量缺陷的毛坯提供的毛坯进行加严检验。
五、合格判定（1）在探伤过程中，对发现有缺陷的毛坯，及时将其缺陷孔当量和缺陷实际位置计算出来，并记录备案，及时将其反馈于部门领导及车间与供应部门。
（2）当缺陷孔当量小于Φ2mm时，按照国标GB/T 6402-2008其毛坯不做废品处理，仍按正常工序加工，但及时对其进行追踪，观察其加工过程中的情况，将其型号、编号，及有关缺陷情况进行记录，以备案。
超声波探伤仪校准规程
数字式超声探伤仪校准规程1.范围本操作规程适用于A型脉冲反射式手动超声探伤仪的校准和检定；以此来确定超声波设备的有效性，2.检定周期与内容2.1每三个月对仪器的盲区（仅限直探头）、灵敏度余量和分辨力进行一次核查并记录。
2.2每六个月对仪器和探头组合性能中的水平线性和垂直线性进行一次运行核查并记录。
2.3每年至少对超声仪器和探头组合性能中的水平线性、垂直线性、组合频率、盲区（仅限直探头）、灵敏度余量、分辨力以及仪器的衰减器精度，进行一次校准并记录。
3.参考标准3.1JB/T10062-1999《超声检测用探头性能测试方法》3.2JB/T9214-2010A型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法3.3NB/T47013.3-2015承压设备无损检测4.人员职责4.1仪器检定应由超声Ⅱ级及以上人员负责组织实施。
4.2应由至少为超声Ⅱ级人员负责实施自检并出具自检报告，由超声III级负责自检报告的审核。
4.3校准与核查人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程引用的相关标准，能正确按本规程方法进行检定工作并填写检定记录。
5.设备与器材超声波探伤仪，2.5PΦ1400纵波直探探头（日常使用纵波直探头），2.5P13×13K2横波斜探头，DB-P型试块，CSK-ⅠA型标准试块，耦合剂。
6.测试内容垂直线性，水平线性，动态范围，灵敏度余量，仪器噪声电平，分辨力，组合频率，盲区。
7.测试方法7.1垂直线性误差测试7.1.1JB/T9214-2010《A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法》规定垂直线性误差≤5%。
7.1.2垂直线性定义：仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度，它取决于仪器放大器的性能。
垂直线性用垂直线性误差表示。
垂直线性影响缺陷的检出和定量。
7.1.3测试设备与器材(1)2.5PΦ1400纵波直探探头（日常使用纵波直探头）(2)耦合剂(3)超声波探伤仪(4)DB-P型试块7.1.4测试步骤(1)将仪器与探头连接，将探头用恒定压力压在试块上，参见图1,中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，并将平底孔的回波调至屏幕上时基线的适当位置，使用衰减器使孔的回波高度恰为100%满刻度，此时衰减作为“0”Db,且衰减器至少还应有30dB的衰减余量。
10 超声波探伤仪检定规程
10 超声波探伤仪检定规程超声波探伤仪检定规程1 目的为规范超声波探伤仪的检定工作，保证检定质量，确保检测数据的正确性，特制定本规程。
2 范围本规程适用于各类型号的超声波探伤仪的首次和后续检定。
3 职责检定人员应熟悉有关规程及相应说明书等有关技术资料，熟悉仪器的操作程序，对检定结果的正确性负责。
4 要求4.1术语和计量单位 4.1.1术语 4.1.1.1超声波频率高于20000Hz 的机械波称为超声波。
4.1.1.2标准试块由权威机构制定的试块，试块的材质、形状、及表面状态都由权威部门统一规定。
4.1.1.3动态范围仪器示波屏容纳信号大小的能力。
4.1.1.4波速超声波在单位时间内所传播的距离。
4.1.1.5探头与工件接触，用于发射和接收超声波并进行电声信号能量转换的装置。
4.1.1.6耦合剂在探头与工件表面之间施加的一层透声介质。
4.1.1.7水平线性仪器示波屏上时基线显示的水平刻度值与实际声程之间成正比的程度。
4.1.1.8垂直线性仪器示波屏上的波高与探头接收的信号之间成正比的程度。
4.1.1.9分辨力示波屏上区分相邻两缺陷的能力。
4.1.1.10盲区从探测面到能够发现缺陷的最小距离。
4.1.2计量单位4.1.2.1厚度H-------mm 4.1.2.2声速C--------- m/s 4.1.2.3温度t-----------℃ 4.1.2.4频率f---------Hz 4.2概述超声波探伤仪是利用电声转换原理和超声波在介质中的传播特性对工件进行检测，通过分析示波屏上回波的位置和高度来判断缺陷有无和大小的一种装置。
4.3计量性能要求4.3.1主要技术参数4.3.1.1工作频率：1～5MHz （钢） 4.3.1.2总衰减量：≥80dB 4.3.1.3衰减误差：≤ 1 dB 4.3.1.4垂直线性误差：≤5% 4.3.1.5水平线性误差：≤ 1% 4.3.1.6动态范围：≥30 dB。
UT超声探伤仪校验规程
超声探伤仪校验规程1.目的：确保UT检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。
2.范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。
3.引用标准3.1《A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999）3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82）3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999）3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063－1999）3.6《A型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（JB/T9214－1999）4.职责4.1应由总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由UTⅢ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由UTⅢ级人员提出，并报站长批准。
校验人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5.校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）5.1各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定）5.2CSK－IA标准试块。
5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）5.3.1JB4730－94规定的阶梯试块（DB－D1试块）φ）5.3.2Z20－1（251⨯⨯22580Φφ）Z20－2（25⨯⨯22580Φ2φ）Z20－4（25⨯⨯80Φ22545.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg6.校验6.1垂直线性误差测试：6.1.1测试设备ａ.各种频率的常用直探头ｂ.对比试块：Z20－2或Z20－4ｃ.探头压块6.1.2测试步骤ａ.连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20－2试块上并对准Φ2孔，调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），且衰减器至少有30d B余量；ｂ.调节衰减器，依次记下每衰减2d B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d B，然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d(+)与最大负偏差ｄ.在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b 、c 方法进行测试。
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5.2.
5.2.1.
5.2.2.
5.2.3.
δ
式中αmax——α2、α3、α4、α5最大者；
b———示波屏水平满刻度值。
5.3.
5.3.1.
将满幅度100%某波高用[衰减器]衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围。
5.4.
5.4.1.
a)仪器[增益]至最大，[抑制]至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
d)测出探头前端到试块端面距离L0。
e)K=（L+ L0-35）/30
5.8.3.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块大平面处，对准试块棱边，移动并转动探头，找到棱边最高波，其探头侧面平行线与棱边夹角就是主声束偏离角。
b)斜探块的横孔，移动探头，看是否有双峰。
25.1
20.0
15.8
12.5
10.0
7.9
6.3
5.0
实测波高Hi
实测相对波高%
偏差%
上表中：理论相对波高%=Hi（衰减△dB后波高）/H0（衰减0dB时波高）×100%；
实测相对波高%=10（-△i/20）×100%。
6.1.3计算垂直线性误差
D=（|d(+)|+|d(-)|）×100%
式中d(+)——最大正偏差；
b)左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
c)调节[衰减器],使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.7.2.
a)斜探头置于CSK-ⅠA试块上，对准Ф50、Ф44、Ф40三阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。
b)左右移动探头,使Ф50、Ф44两处回波幅度相等并以为20%～30%满刻度.
c)调节[衰减器],使Ф50、Ф44两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时[衰减器]所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力.
5.8.
5.8.1.
a)将探头放在CSK-ⅠA试块上，使R100圆弧面回波达最高时斜楔底面与试块圆心的重合点就是该探头的入射点。
b)探头前沿L就是R100减去探头前端到圆弧面距离。
5.8.2.
a)当折射角为34°～66°时，探头放在距Ф50远面处，使用Ф50mm孔进行测定。
b)当折射角为60°～75°时，探头放在距Ф50近面处，使用Ф50mm孔进行测定。
c)当折射角为74°～80°时，探头放在距Ф1.5近面处，使用Ф1.5mm孔进行测定。
1.
本规适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2.
2.1.
2.2.
2.3.
3.
3.1.
3.2.
3.3.
4.
4.1.
4.2.
5.
5.1.
5.1.1.
5.1.2.
表1
衰减量△dB
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
26
理论相对波高%
100
79.4
63.1
50.1
39.8
31.6
5.9.
5.9.1.
5.9.2.
5.9.3.
5.9.4.
5.9.5.
5.9.6.
5.9.7.
5.9.8.
5.9.9.
5.9.10.
6.
校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按超声波校验报告（见附录A）内容对测试数据认真记录并评价结论。
7.
将探头对准200/Ф2平底孔。调[衰减器]使Ф2平底孔回波高达50%，记下此时[衰减器]读数N2dB。则仪器与探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。
5.4.2.
a)仪器[增益]至最大，[抑制]至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。
b)将探头置于CSK-ⅠA试块上，记下使R100圆弧面的第一次反射波最高达50%时的衰减量N2。则仪器与斜探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。
5.5.
5.5.1.
5.5.2.
5.5.3.
5.5.4.
5.6.
直探头置于CSK-ⅠA试块Ф50孔的两侧面，
5.7.
5.7.1.
a)[抑制]至"0"，探头置于CSK-ⅠA试块阶梯的另一面，使示波屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、C。