干涉条纹的可见度
§1.4 干涉条纹的可见度
主要内容 • 干涉条纹的可见度 • 影响干涉条纹观测的因素
光源的非单色性
光源的线度
一 、干涉条纹的可见度
可见度(或对比度、反衬度) 定义 ：
I max I min V I max I min
当I
min
0
(暗条纹全黑)时，V Vmax 1
,
条纹的反差最大,清晰可见。 当 I min I max 时, V Vmin 0 条纹核糊不清，甚至不可辨认． ,
则光强公式又可写为：
2 1
2 2
2 cos 2 I 1 V (A10+ A2 ) - (A1 - A2 ) 2A1A2 于是 : V = = 2 2 2 2 这就是双光束干涉中强度分布的另一表达式 (A1 + A2 ) + (A1 - A2 ) A1 + A2
I A A 2 A1A 2c o s
即
一定， y j
j 提高，宽度增大，可见度下降
不同级次的条纹发生重叠，这时可见度为零。 当 λ + Δλ 第j级与 λ 的第(j + 1) 级重叠时
r0 y j d
明纹宽度
j 1 j
j
可见度 为零
此时的光程差为实现相干的最大光程差：
2 1 2 2
二、光源的非单色性对干涉条纹的影响
以杨氏干涉实验为例说明光源的非单色性对 干涉条纹的影响。 设光源的波长为 λ ，其波长范围为 Δλ
由双缝干涉亮纹位置：
r0 y j d
j=0级条纹是完全重合的，其他各条纹不再重合; 同级次内，干涉级大值位置范围：
y y
r0 r0 y j j d d
\ δ ? dα
2 ⅱ dd d + r0ⅱ 2r0
dd r0
d¢ α
d
S2
d¢ d λ 若δ = = 2 r0¢
（相消条件）
r0¢ 即 d¢ = λ 2d
则干涉条纹 可见度为零
S1
¢ 若杨氏实验中用的是扩展光源,它的宽度为 d 0
ⅱ 且d0 = 2d
则扩展光源可分成许多相距
为d ¢ 的线光源对,
2 2
(A1 + A2 ) - (A1 - A2 ) 2A1A2 于是:V = = 2 2 2 2 A + A (A1 + A2 ) + (A1 - A2 ) 1 2
即:
V=
2 (A 1 A 2 ) 1+ (A 1 A 2 )
2
可见：可见度与振幅比有关
若令I 0 = I 1 + I 2 = A + A
max
j
2
λ 式中 Δλ
2
相干长度
决定于光源本身的性质， 与干涉装置无关。
j
总的光强分布 各波长的干涉
四、光源的线度对干涉条纹的影响
Ｓ所产生的干涉图样以虚线表示，Ｓ`用实线，
如图则干涉条纹可见度为零。
s1 ¢ r s¢ 1 d d¢ s ¢ r2 s 2
r0 ¢
r2
p0
S¢ 到S1 , S2的光程差 :
r2 r1 d sin d
s1 ¢ r s¢ 1 d¢ α d s ¢ r2 s 2
r0 ¢
r2
Байду номын сангаас
p0
r2 r1 d sin d
而 tan d d r0 2
S1
S¢
影响干涉条纹可见度大小的因素很多,对于理想
的相干点光源发出的光来讲，主要因素是振幅比。
2 1 由 I A A A 2 A1A 2c o s
2 2 1 2 2
可知
2 j , I I max A1 A2
2 2
(2 j 1) , I I min A1 A2
S¢
d¢ α
d
S2
由于每对线光源在屏幕上的干涉花样的可见度为
零,故整个扩展光源在屏幕上的干涉花样的可见度
也为零,在屏幕上无法观察到干涉花样,
¢ 称为临界宽度。 这个扩展光源的宽度为 d 0
r0¢ ⅱ d0 = 2d = λ d
光源的线度大等于临界宽度
时,干涉条纹的可见度为零．
主要内容 • 干涉条纹的可见度 • 影响干涉条纹观测的因素
光源的非单色性
光源的线度
一 、干涉条纹的可见度
可见度(或对比度、反衬度) 定义 ：
I max I min V I max I min
当I
min
0
(暗条纹全黑)时，V Vmax 1
,
条纹的反差最大,清晰可见。 当 I min I max 时, V Vmin 0 条纹核糊不清，甚至不可辨认． ,
则光强公式又可写为：
2 1
2 2
2 cos 2 I 1 V (A10+ A2 ) - (A1 - A2 ) 2A1A2 于是 : V = = 2 2 2 2 这就是双光束干涉中强度分布的另一表达式 (A1 + A2 ) + (A1 - A2 ) A1 + A2
I A A 2 A1A 2c o s
即
一定， y j
j 提高，宽度增大，可见度下降
不同级次的条纹发生重叠，这时可见度为零。 当 λ + Δλ 第j级与 λ 的第(j + 1) 级重叠时
r0 y j d
明纹宽度
j 1 j
j
可见度 为零
此时的光程差为实现相干的最大光程差：
2 1 2 2
二、光源的非单色性对干涉条纹的影响
以杨氏干涉实验为例说明光源的非单色性对 干涉条纹的影响。 设光源的波长为 λ ，其波长范围为 Δλ
由双缝干涉亮纹位置：
r0 y j d
j=0级条纹是完全重合的，其他各条纹不再重合; 同级次内，干涉级大值位置范围：
y y
r0 r0 y j j d d
\ δ ? dα
2 ⅱ dd d + r0ⅱ 2r0
dd r0
d¢ α
d
S2
d¢ d λ 若δ = = 2 r0¢
（相消条件）
r0¢ 即 d¢ = λ 2d
则干涉条纹 可见度为零
S1
¢ 若杨氏实验中用的是扩展光源,它的宽度为 d 0
ⅱ 且d0 = 2d
则扩展光源可分成许多相距
为d ¢ 的线光源对,
2 2
(A1 + A2 ) - (A1 - A2 ) 2A1A2 于是:V = = 2 2 2 2 A + A (A1 + A2 ) + (A1 - A2 ) 1 2
即:
V=
2 (A 1 A 2 ) 1+ (A 1 A 2 )
2
可见：可见度与振幅比有关
若令I 0 = I 1 + I 2 = A + A
max
j
2
λ 式中 Δλ
2
相干长度
决定于光源本身的性质， 与干涉装置无关。
j
总的光强分布 各波长的干涉
四、光源的线度对干涉条纹的影响
Ｓ所产生的干涉图样以虚线表示，Ｓ`用实线，
如图则干涉条纹可见度为零。
s1 ¢ r s¢ 1 d d¢ s ¢ r2 s 2
r0 ¢
r2
p0
S¢ 到S1 , S2的光程差 :
r2 r1 d sin d
s1 ¢ r s¢ 1 d¢ α d s ¢ r2 s 2
r0 ¢
r2
Байду номын сангаас
p0
r2 r1 d sin d
而 tan d d r0 2
S1
S¢
影响干涉条纹可见度大小的因素很多,对于理想
的相干点光源发出的光来讲，主要因素是振幅比。
2 1 由 I A A A 2 A1A 2c o s
2 2 1 2 2
可知
2 j , I I max A1 A2
2 2
(2 j 1) , I I min A1 A2
S¢
d¢ α
d
S2
由于每对线光源在屏幕上的干涉花样的可见度为
零,故整个扩展光源在屏幕上的干涉花样的可见度
也为零,在屏幕上无法观察到干涉花样,
¢ 称为临界宽度。 这个扩展光源的宽度为 d 0
r0¢ ⅱ d0 = 2d = λ d
光源的线度大等于临界宽度
时,干涉条纹的可见度为零．
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干涉条纹的可见度(1)_图文_图文
4 增透膜和增反膜 增透膜----利用薄膜上、下表面反射光的光程差符合相消
干涉条件来减少反射，从而使透射增强。
为了减少反射引起的光能损失，常在许多光 学仪器(如照相机、摄像机等)的镜头上镀一层厚 度均匀的透明薄膜(常用氟化镁MgF2, n=1.38),用 以增加透射，这个薄膜,就是增透膜。
4 增透膜和增反膜
可见度与振幅比的关系： ●若
条纹最清楚 ●若
条纹可见度差 ●若
条纹模糊不清 ，不可分辨
I 4I1
-4 -2 0 2 4
可见度好 (V = 1)
I
Imax Imin
-4 -2 0 2 4
可见度差 (V < 1)
I
Imax= Imin
-4 -2 0 2 4
可见度最差 (V =0)
三、楔形平板干涉 （等厚干涉 Interference of equal thickness）
3）楔板的角度越小，定域面离板越远，当平 行时，定域面在无限远处； 4）在实际工作中，b不一定为0，干涉条纹不 只局限于定域面上，而是在定域面前后一定范 围内可以看到干涉条纹，这个区域称为定域深 度。
5）条纹观察：定域面随系统不同而不同，观 察不便，由于人眼有自动调焦功能，观察比仪 器方便。
解: 若工件表面是平的,等厚条
l
纹应为平行于棱边的直线条纹。 由于一条条纹对应一个厚度，由
图的纹路弯曲情况可知，
a
工件表面的纹路是凹下去的。
标准平面
由图：H=asin
H
因 ：lsin =l/2,
所以纹路深度
工件
例5:波长l的光垂直入射折射率为n2的劈尖薄膜， n1> n2 ,n2 <n3 ,如图所示 。在反射光中观察，从尖顶 算起，第二条明纹对应的薄厚是多少？
1-5干涉条纹的可见度_光场的相干性_投影稿
minmax min max I I I I V +−=条纹可见度定义为：(3) 相干长度与光的单色性的关系单色光可表示为：E(t,z)=Acos(ωt-kz+ϕ) , 它在时间和空间上都是无限的。
next实际光源发出的光的相干长度L 都是有限的，因而都是非单色光，波长在λ附近，波长范围是∆λ。
L 、∆λ关系？分析光源的非单色性对干涉条纹的影响假设光源为非单色点光源，因为双缝干涉条纹的宽度、位置均随波长变化，因而在观察屏上将产生彩色光谱：nextλ-∆λ/2λ+∆λ/2中央极大白光的光谱？L 、∆λ关系？表明：对于谱线宽度为∆λ的非单色光源，当光程差 ≥时，条纹消失。
当(λ+∆λ/2)的第m 级与(λ-∆λ/2)的第m+1级条纹重合时，光程差满足：δ=m(λ+∆λ/2)=(m+1)(λ-∆λ/2)λ∆λ∆−λ=⇒2/m λ∆λ≈δ∴2λ∆λ2λ∆λ2相当于非单色光源的相干长度。
λ∆λ=∴2L next只与起始波长和∆λ有关s"杨氏干涉装置：next光源为单色扩展光源，光源线度为2d '，波列无限长。
s"00d'y d d r 'r δ=⋅+∴到达点P 的光程差为：极大条件：0j λ=δ000r r y j d'd r '=λ−next0d'd r '⋅S'发出的光入射到S 1、S 2时已有光程差:0y d r δ=⋅000r ry j d'd r '=λ−00rd'r '即S'处的点光源形成的极大值的位置下移:同理，S''处的点光源形成的极大值的位置上移:00r d'r '当移动距离达到半个条纹时，干涉条纹消失。
所以要看到干涉条纹，d'应满足：000r r 1d'()r '2d≤λ0r '2d'd≤λnext是光源直径的临界宽度。
【大学物理】第五讲 干涉条纹的可见度 光场的时间相干性和空间相干性
图1-12
S ' 到 P0 的光程差为 r2 'r1 ' d
S 到 P0 的光程差为 0
2
d ' d
tg
2 r0
d ' r0 '
2d
若杨氏实验中用的扩展光源，其宽度为 d0 ' ，且 d0 ' 2d
对应的双缝之间最大距离
d max
r0 '
d
0
若双缝之间的距离等于或大于 dmax 时，则观察不到干涉条纹
§1.5 光场的时间和空间相干性
一、干涉条纹的可见度
V I max I min I max I min
Imin 0 V 1 条纹清晰可见 I max I min V 0 条纹不可分辨
影响干涉条纹可见度大小的因素
20 10 2k
cos 1, I Imax I1 I2 2 I1I2 ;
max
k (
)
2
相干长度
三、光场的时间相干性
下面从波源的发光机制分析：
L
max
2
光源在同一时刻发的光分为两束后又先后到达某一观 察点，只有当这先后到达的时差小于某一值时才能在观察 点产生干涉。这一时差决定了光的时间相干性。
时间相干性的好坏，用一个波列延续的时间来衡量：
相干时间
0
L c
四、光源的线度对干涉条纹的影响和 光场的空间相干性
若双缝之间的距离小于 dmax 时，则能观察到干涉条纹 更普遍的角度来解释：
空间相干性是描述在光波的波前上多大的横向范围内提 取出来的两个次波源是相干的。
空间相干性与光源的线度有关，光束窄的空间相干性好； 实验中常通过限制光束的宽度，来提高光场的空间相干性。
物理光学 干涉条纹的可见度
3.4 干涉条纹的对比度
定义： K IM Im IM Im
I
1.0
IM 0.8
0.6
0.4
Im 0.2
x
0.0
-4
-2
0
2
4
I M , Im 分别所考察位置附近光强极大值和极小值。
K 的取值范围：0∼1
当 Im 0, K 1 条纹最清晰，称为“完全相干”
IM Im, K 0 称为“非相干” 0 < K < 1，称为“部分相干”
Dmax
2
即为波列的长度
光的单色性（即的宽度）决定了能产生清晰干涉条纹
的最大光程差——相干长度
波列长度就是相干长度!
2、光源非单色性 对条纹可见度的影响
设I
为光强的光谱分布（谱密度），
0
元光源dk在干涉场中的光强：dI 2I0dk[1 cos k]
所有谱线在干涉场中的光强分布：
k0 k 2
I 2I0[1 cos k]dk
2.4.1 光源大小的影响
实际光源不是理想的点光源，它总包含着众多不相干的点源。 每个点光源，在干涉装置中都形成一对相干点光源。各对相干点光源在干涉
场产生各自的一组条纹。各点光源有不同位置，各组条纹相互间产生一定的位移。 暗条纹的强度不再为零，条纹对比度降低。
多组条纹的强度相加 当光源大到一定程度时，对比度甚至可以下降到零，完全看不见干涉条纹。
2L ct 2 /
c
t 1
光波的频率带宽越小，相干时间越大，光的时间相干性越好。
度干 的涉 影条 响纹 因可 素见
光源非 单色性
相干 长度
最大光 程差
max
时间相 干性
t
定义： K IM Im IM Im
I
1.0
IM 0.8
0.6
0.4
Im 0.2
x
0.0
-4
-2
0
2
4
I M , Im 分别所考察位置附近光强极大值和极小值。
K 的取值范围：0∼1
当 Im 0, K 1 条纹最清晰，称为“完全相干”
IM Im, K 0 称为“非相干” 0 < K < 1，称为“部分相干”
Dmax
2
即为波列的长度
光的单色性（即的宽度）决定了能产生清晰干涉条纹
的最大光程差——相干长度
波列长度就是相干长度!
2、光源非单色性 对条纹可见度的影响
设I
为光强的光谱分布（谱密度），
0
元光源dk在干涉场中的光强：dI 2I0dk[1 cos k]
所有谱线在干涉场中的光强分布：
k0 k 2
I 2I0[1 cos k]dk
2.4.1 光源大小的影响
实际光源不是理想的点光源，它总包含着众多不相干的点源。 每个点光源，在干涉装置中都形成一对相干点光源。各对相干点光源在干涉
场产生各自的一组条纹。各点光源有不同位置，各组条纹相互间产生一定的位移。 暗条纹的强度不再为零，条纹对比度降低。
多组条纹的强度相加 当光源大到一定程度时，对比度甚至可以下降到零，完全看不见干涉条纹。
2L ct 2 /
c
t 1
光波的频率带宽越小，相干时间越大，光的时间相干性越好。
度干 的涉 影条 响纹 因可 素见
光源非 单色性
相干 长度
最大光 程差
max
时间相 干性
t
17-7干涉条纹的可见度
I
合光强
λ + λ / 2
x1 x2 x3 x4 x5 x6 x7
x
λ λ / 2
光的非单色性对条纹可见度的影响
2.1 相干长度δm 相干长度δ
对于非单色光， λ/2 对于非单色光，当波长为 λ-λ 的第 λ 的第(k+1) λ/2 级明纹和波长为 λ+λ 的第 级明纹正好重合 λ 的第k级明纹正好重合 条纹的可见度降低，从而看不到干涉条纹， 时，条纹的可见度降低，从而看不到干涉条纹， 此时的最大光程差称为相干长度。 此时的最大光程差称为相干长度。
2π
4π
6π
8π
V << 1
2. 光的非单色性对条纹可见度的影响
普通单色光源发出的光，是有一中心波长λ 普通单色光源发出的光，是有一中心波长λ及谱线 宽度λ的准单色光,其最终干涉条纹是各种波长成分的 λ的准单色光 宽度λ的准单色光 其最终干涉条纹是各种波长成分的 干涉条纹的非相干叠加。 干涉条纹的非相干叠加。设每一波长成分干涉条纹的 可见度都为1，最终干涉条纹的强度分布可示意于下： 可见度都为 ，最终干涉条纹的强度分布可示意于下：
a1 P 2
a2
S
S1 S2
b2
光程差小于波列长 度，同一波列相干叠加
光程差大于波列 长度， 长度，同一波列不能相遇
3.光源的宽度对条纹可见度的影响 3.光源的宽度对条纹可见度的影响
双缝干涉实验的光源是面光源时， 双缝干涉实验的光源是面光源时，可把面 光源看做是许多与缝平行的线光源组成， 光源看做是许多与缝平行的线光源组成，每个 线光源的光都在屏上产生一套干涉条纹， 线光源的光都在屏上产生一套干涉条纹，总的 条纹强度是各套条纹的非相干叠加。 条纹强度是各套条纹的非相干叠加。 如图： 如图： 光源C、A、 B的中央明纹分 别位于O点、OA 点和OB点
干涉条纹的可见度 光波的时间相干性
r0 y j ( ) j d
合成光强
- (/2) + (/2)
0 0 11 2 2 3 3 4 45 56
j 1 j
j
干涉条纹的可见度Ｖ→０
x
与此干涉级 j 对应的光程差是实现相干叠加的最大光程差：
2 max j , 定义：由光的单色性所决定的能产生干涉条纹的最大光程差
z
Ap 2
Ap 2
2 sin i2 cos i1 Ap1 sin( i1 i2 ) cos(i1 i2 )
二. 半波损失的解释
1. 劳埃德镜实验中 的半波损失
As1 sin( i1 i2 ) As1 sin( i1 i2 )
2. 维纳驻波实验中的半波I A12 A2 2 A1 A2 cos
2 A1 A2 ( A1 A2 ) ,V 2 2 A1 A2
2
I1 I 2 ( I1 I 2 )V cos
令I1 I 2 I 0
I 0 (1 V cos ) ——双光束干 涉光强分布表达式
§1-4 干涉条纹的可见度 *时间相干性和空间 相干性
一、干涉条纹的可见度(对比度或反衬度)
1. 定义： 2. 讨论：
I max I min V I max I min
当Imin=0时（暗纹全黑），V=1，最清晰；
当Imax=Imin时，V=0，不可辨认；
两列光相干叠加时， I max ( A1 A2 ) , I min
As1
As1
Ap1
i1 i1
A 1 p
n1
x
n2
i2 A s2
干涉条纹的可见度
x
0.0
-4
-2
0
2
4
§3 干涉条纹的可见度
对于双光束干涉： IM＝I1＋I2＋2 I1I2，
Im I1 I2 2 I1I2
K 2 I1I2 (I1 I2 )
I I1 I2 2 I1I2 cos
(I1
I2 )(1
2 I1
I1I 2 I2
cos )
(I1 I2 )(1 K cos )
▲ 决定可见度的因素：
振幅比， 光源的单色性， 光源的宽度
§3 干涉条纹的可见度
一、振幅比 对条纹可见度的影响
K 2
I1I 2
(I1
I
2
)＝
2 A1 A2 A12＋A22
2 A1 A2 1 A1 A2 2
当A1 A2时 ，K＝1， 对 比 度 最 好 。 当A1 A2时 ，K 1， 对 比 度 变 差 。 当A1和A2相 差 越 多 时 ，K值 越 小 。
§3 干涉条纹的可见度 干涉条纹的可见度（对比度，反衬度）
I Imax
Imax Imin
X
§3 干涉条纹的可见度
可见度(Visibility, Contrast)定义：
K (IM Im) (IM Im)
I
1.0
K表征了干涉场中某处
IM 0.8 0.6
干涉条纹亮暗反差的 程度。
0.4
Im 0.2
2）光源的允许宽度：能够清晰地观察到干涉条纹 时，允许的光源宽度
允 许 宽 度bp
4
临界宽度bc
当光源宽度b增大到某个宽度bc时，干涉条纹刚好消I 失：
干涉条纹的可见度
（相消条件）
r 0¢ 即 d ¢= λ 2d
则干涉条纹 可见度为零
0
若杨氏实验中用的是扩展光源,它的宽度为 d
¢
S
1
ⅱ 且d0 = 2d
则扩展光源可分成许多相距
为d ¢ 的线光源对,
S ¢
d ¢ α
d
S
2
由于每对线光源在屏幕上的干涉花样的可见度为
零,故整个扩展光源在屏幕上的干涉花样的可见度
也为零,在屏幕上无法观察到干涉花样, 这个扩展光源的宽度为 d
¢0
称为临界宽度。
r0¢ ⅱ d0 = 2d = λ d
光源的线度大等于临界宽度
时,干涉条纹的可见度为零．
s
α
1
s r ¢ 2
d
s
r
2
2
p
0
r 0¢
r r d s i n d
2 1
而
dd 2 ta n r 0
S ¢
S
1
2 ⅱ d dd dd \ δ ?d α + ? ⅱ ? r 2 r r 0 0 0
d ¢ α
d
S
2
d¢ d λ 若δ = = 2 r0¢
的相干点光源发出的光来讲，主要因素是振幅比。
2 2 1 2 2
由 I A A A 2 A c A o s 1 2 2 1
可知
2 22 2 Nhomakorabea 2, j I I A A m a x 1
( 2 j1 ) ,I I A m i n 1A
j 1 j
j
可见度 为零
此时的光程差为实现相干的最大光程差：
1.4干涉条纹的可见度--相干性
M2 M3
S1
S2 M4
迈克耳孙巧妙地用四块反射镜增
大了双缝的缝间距。（为什么？）
屏上条纹消失时
M之1M间4 的距离
屏 就是
。dm（ax 为什么？）
迈克耳孙测星干涉仪 猎户座 星 nm（橙色）
1920年12月测得：dmax 3.07 m
1.22 570109 2103 rad 0.047
x
设能分辨的干涉明纹最大级次为jM ，则应有：
第 j 级条纹和
的第j+1 级条纹重合时， 条纹的可见度 降为零V→0, 条纹不
可分辨。
max jM ( ) ( jM 1)
jM 级的条纹可见度为零.
jM
当波长为（λ+△λ）的第j 级与波长为λ 的第（j+1）级条纹重合时，条纹的可见 度降为零,V→ 0。(如下图所示)
超过△t，光程差不得大于L 。原子持续发光时间
△t越长，光源时间相干性越好。
1.4.4 光源线度对干涉条纹的影响
1、光源宽度为b
L• b/2M • 光源宽 N•
度为b
r
S1 d /2
S2 r0
I
I
合成光强
b
I +1L 非
0N 相
0M 0L
干 叠 加
1N
合成光强
y
y
结论 b ，条纹可见度下降
2、临界宽度bc 当光源宽度 b 增大到某个宽度bc时，干涉条纹刚好消失
1.4.1 干涉条纹的可见度（对比度，反衬度）(contrast)
定义
V Imax Imin I max I min
描述干涉花样的强弱对比
Imax ( A1 A2 )2
现代光学基础课件：光的干涉1_4干涉条纹的可见度
0N 相
0S 0L
干 叠 加
先看一下光源的上边界M点条纹的位移大小。
22
自M点发出的光波，经S1、S2到达P点，其光程差为
r2' r2 r1' r1 r2' r1' r2 r1
设r'0>>d， r '0>>b， r0>>d ， r0>>y
由前面的推导可知：
d r2 r1 r0 y,
29
1.4.6 光源的空间相干性
前面是关于光源的极限宽度问题。上式说明光源的临 界宽度取决于双缝间距d和双缝到光源的距离r0′
上式可写为：
dc
r0 b
dc为光场中的相干范围的横向尺度，称为相干距离。
S1
b
d
r0 S2
b r0
4d
30
空间相干性：对宽度为b的面光源提取S1、S2两次波 源的极限距离dc，当ddc时， S1和S2是相干的；当 ddc时， S1和S2是不相干的。
(r2 r1 L)
r1
S1
X
干涉条纹
消失了！
P
d
r2
O
结论：S产2 生光的干涉还须加一附加条件：
r0
L
L ct
原因： 波列不能在P点叠加产生干涉。
此乃高干涉级条纹看不清或消失的原因之一
1.4.5 光源的线度对干涉条纹的影响
光源总是有一定的线度的，当光源线度不大时：
X
S1
S’
a
d
S
S2
O
I
r0
也就是说，只有当普通光源的宽度b<bc时，在干涉 场中才能观察到干涉条纹，b越小，可见度越高。 这也就是分波面法干涉一类的双光长干涉装置必须 采用点、缝光源的原因。