正畸投影测量

X线头影测量
a
2
X线头影测量是测量X线头颅侧位 定位片所得的影象，对牙颌、颅面各 标志点描绘出一定的线角进行测量分 析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的 结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 由表面形态深入到内部的骨骼结构中 去
aLeabharlann 3X线头影测量的主要应用
• 1、研究颅面生长发育 • 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 3、确定错合畸形的矫治设计 • 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
结构变化
• 5、外科正畸的诊断和矫治设计
a
4
描图
软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后 部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼 上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、 眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒 磨牙
a
5
a
6
•常用的x线头影测量标志点
a
7
8
a
8
9
a
9
a
10
常用的基准平面
1前颅底平面 2眼耳平面 3Bolton平面
a
12
常用的测量平面
1颅底平面 2腭平面 3合平面
a
14
1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn)
2通过颏下点与下颌下缘相切的线条
3下颌下缘最低部的切线
a
15
1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面
a
16
常用的硬组织测量项目
SNA角
a
18
SNB角
a
19
ANB角
a
20
面角
a
21
22
Y轴角
a
22
下颌平面角
a
23
颌凸角
a
24
上颌长
a
25
翼上颌裂-蝶鞍点
a
26
下颌长
a
27
髁突后切线_蝶鞍点
a
28
上中切牙角
a
29
下中切牙角
a
30
上中切牙凸距
a
31
上中切牙凸距
a
32
下中切牙凸距
a
33
下中切牙凸距
a
34
1全面高 2上面高 3下面高
a
35
• Downs分析法
a
36
谢
谢!
a
37