G652D光纤宏弯损耗测试方法(精)
G652D光纤宏弯损耗测试方法
摘要：实现了一种全集成可变带宽中频宽带低通滤波器，讨论分析了跨导放大器-电容(OTA—C)连续时间型滤波器的结构、设计和具体实现，使用外部可编程电路对所设计滤波器带宽进行控制，并利用ADS软件进行电路设计和仿真验证。
仿真结果表明，该滤波器带宽的可调范围为1～26 MHz，阻带抑制率大于35 dB，带内波纹小于0．5 dB，采用1．8 V电源，TSMC 0．18μm CMOS工艺库仿真，功耗小于21 mW，频响曲线接近理想状态。
关键词：Butte
光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。
而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。
大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。
因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。
Φ32mm*1宏弯测试更为简便
两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。
用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。
分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下，对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计，最后将全部数据汇总，得到图2。
从整体数据汇总图可看出，Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。
当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1 所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。
10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。
Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。
在测试过程中，Φ32mm*1宏弯测试方法易于操作，能减少测试误差，根据GB/T 9771.3-2008宏弯损耗的说明，Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。
Φ60mm*100作为标准明确规定一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良，如保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。
截止波长与宏弯损耗存在相关性
为更好地摸索宏弯损耗与截止波长的关系，随机抽取760个样品进行实验，实验数据如图3、图4所示。
由图3可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散，实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。
由图4可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm～1290nm，截止波长越小，宏弯损耗越大，且分布散乱无规律。
通过以上分析，可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响，当截止波长分布在1210nm～1290nm范围内时，1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中，数
据稳定，这为光纤厂商优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。
G652单模光纤衰减均匀性测试方法及精度浅析
G652单模光纤衰减均匀性测试方法及精度浅析摘要：G652单模光纤光纤衰减均匀性、衰减点不连续性、双向衰减系数端差等特性是光纤光缆制造厂家非常关心的问题，也是决定了终端用户使用的关键参数。
本文试图搞清光纤衰减均匀性测试的问题，谈点粗浅看法。
关键词：光纤；衰减；测试；精度引言光纤衰减沿轴向均匀性的定义目前按照国标《GB∕T9771.3-2020通信用单模光纤第3部分：波长段扩展的非色散位移单模光纤》给出得定义为：在1310nm和1550nm波长上，光纤后向散射曲线任意2000m长度上，实测衰减系数与全段长平均衰减系数之差的最坏值应不大于0.05dB/km。
国内招标书上（中国电信、中国移动、中国联通）对光纤衰减均匀性要求：衰减谱应具有很好的线性,没有台阶：用OTDR测试任一光纤，任意500长度上的在1310nm和1550nm实测衰减值应不大于（αmean+0.10dB）,αmea n为全长光纤上平均衰减系数值。
现光纤厂使用衰减测试设备大部分OTDR，光纤衰减均匀性、衰减点不连续性、双向衰减系数端差等。
一、基本概念、术语和定义当用OTDR测试光纤衰减时,常会碰到以下几个方面的问题：用OTDR从一段光纤两端测得的衰减值并无差别,但有不连续点；用OTDR从一段光纤（一般为50km以内）两端测得的衰减值并无差别,但衰减系数在整个长度内能够局部改变,当把一长光纤分成若干短段时,短段光纤的衰减系数能够比全长光纤的平均衰减系数大或小；用OTDR从一段光纤两端测得的衰减值不一致。
不连续点、短段光纤衰减系数与长光纤衰减系数不一致、两端测得的衰减值不一致等情况,都可以认为属于光纤衰减均匀性方面的问题。
光纤衰减均匀性,仅说明了短段光纤衰减系数与长光纤衰减系数不一致的情况,为了与国际标准提法一致,本文对以上提到的三种情况给出以下术语和定义,将以上三种情况分别称为光纤衰减局部不连续性点、光纤衰减均匀性、双向光纤衰减不对称性双向衰减差。
g652d光纤标准
g652d光纤标准G652D光纤标准。
G652D光纤是一种常用的单模光纤，其标准是指ITU-T制定的国际标准。
G652D光纤的特性和应用广泛，对于光通信领域具有重要意义。
本文将对G652D光纤的标准进行介绍，包括其特性、应用和标准制定的背景等方面。
G652D光纤的特性。
G652D光纤是一种低损耗、低色散的单模光纤，其典型特性包括：1. 低损耗，G652D光纤在通信波长范围内的传输损耗非常低，能够有效地传输光信号。
2. 低色散，G652D光纤的色散特性良好，能够有效地减小信号在光纤中的传输扩散，提高信号传输的准确性和稳定性。
3. 宽带宽，G652D光纤的带宽较宽，能够支持高速数据传输和多信道传输。
G652D光纤的应用。
G652D光纤广泛应用于光通信系统中，包括长途传输、城域网、数据中心互连等领域。
其主要应用包括：1. 光纤通信网络，G652D光纤作为主干网和接入网的传输介质，能够支持高速、大容量的数据传输，满足不同场景下的通信需求。
2. 光纤传感，G652D光纤还可用于光纤传感领域，如温度、压力、应变等参数的监测和测量。
3. 其他领域，G652D光纤还可应用于医疗、军事、航空航天等领域，满足不同领域对光纤传输的需求。
G652D光纤标准的制定。
G652D光纤的标准制定是为了保证光纤的质量和性能，促进光通信技术的发展。
其标准制定的背景主要包括：1. 技术需求，随着光通信技术的发展，对光纤传输性能的要求越来越高，需要制定相应的标准来保证光纤的质量和性能。
2. 行业发展，光通信行业的快速发展，需要统一的标准来规范光纤产品的生产和应用，促进产业的健康发展。
3. 国际标准，G652D光纤的标准制定是基于国际标准化组织ITU-T的相关标准，以保证光纤产品在国际间的通用性和互操作性。
总结。
G652D光纤作为一种重要的单模光纤，其标准制定对于推动光通信技术的发展具有重要意义。
通过对G652D光纤的特性、应用和标准制定的介绍，可以更好地了解和应用G652D光纤，促进光通信技术的发展和应用。
光纤G.652
G.652G.652光纤是目前已广泛使用的单模光纤，称为1310nm性能最佳的单模光纤，又称为色散未移位的光纤。
按纤芯折射率剖面，又可分为匹配包层光纤和下陷包层光纤两类，两者的性能十分相近，前者制造简单，但在1550nm波长区的宏弯损耗和微弯损耗稍大；而后者连接损耗稍大。
主要指标:[1]1、衰减：ITU-T G.652建议规定光纤在1310nm窗口和1550nm窗口的衰减常数应分别小于0.5dB/km和0.4dB/km。
1310窗口目前一般在0.3~0.4dB/km，典型值0.35dB/km；1550窗口目前一般在0.17~0.25dB/km，典型值0.20dB/km。
2、色散：零色散波长的允许范围是1300~1324nm。
在1550nm窗口的色散系数是正的。
在波长1550nm处，色散系数D的典型值是17ps/(nm²km)，最大值一般不超过20ps/(nm²km)。
3、PMD：ITU-T 建议规定，G.652光纤的PMD系数小于0.5ps/(km)^1/2，即400km 光纤的PMD是10ps。
但是，早期铺设的光纤由于受当时的工艺条件限制，PMD 系数有可能较大。
4、模场直径：1310nm处的模场直径是8.6~9.5μm，最大偏差不能超过±10%。
在1550nm处，ITU-T 建议没有规定模场直径，但一般大于0.3μm。
主要特性：G.652单模光纤特性光学特性典型衰减，@1310nm≤0.34 dB/km典型衰减，@1550nm≤0.20 dB/km零色散波长1300-1324nm零色散斜率≤0.092ps/（nm²km）模场直径（MFD） @1310nm9.2±0.4μm偏振模色散（PMD）单根光纤最大值≤0.2ps/√km链路最大值≤0.12ps/√km截止波长λcc≤1260nm有效群折射率（Neff） @1310nm1.4675有效群折射率（Neff） @1550nm1.4680宏弯损耗（60mm直径，100圈）@1550nm≤0.1dB背向散射特性（在1310nm和1550nm处）衰减局部不连续点≤0.05dB衰减均匀性≤0.05dB背向散射衰减系数差异（双向测量）≤0.05dB/km几何特性包层直径125±1μm包层不圆度≤1%芯层/包层同心度误差≤0.5μm涂覆层直径(未着色)245±5μm包层/涂覆层同心度误差≤12.0μm光纤翘曲半径≥4m交货长度（公里/盘）24.7km；25.2km机械性能筛选应力最小值0.69Gpa(100kpsi)涂层剥离力（典型值）1.4N动态疲劳参数Nd≥20环境特性（在1310nm和1550nm）温度特性（-60°C ~+85°C）≤0.05dB/km热老化特性（85°C±2°C，30天）≤0.05dB/km浸水性能（23°C±2°C，30天）≤0.05dB/km湿热性能（85°C±2°C， RH85%，30天）≤0.05dB/kmG.653色散位移光纤针对衰减和零色散不在同一工作波长上的特点，20世纪80年代中期，人们开发成功了一种把零色散波长从 1.3μm移到 1.55μm的色散位移光纤（DSF，Dispersion－ShiftedFiber）。
ITU-T G.652单模光纤和光缆的特性
缩小了最大宏弯损耗。
修改了表3和表4对水峰要求的措词，以反映将整个范围内的规范与1310nm 一点上的规范进行对比的内容。
ITU-T G. 652 建议书（06/2005）
i
前言
国际电信联盟（ITU）是从事电信领域工作的联合国专门机构。ITU-T（国际电信联盟电信标准化 部门）是国际电信联盟的常设机构，负责研究技术、操作和资费问题，并且为在世界范围内实现电信 标准化，发表有关上述研究项目的建议书。.......................................................................................................................................
4
5.8 折射率分布 ........................................................................................................................
4
5.9 色散的纵向均匀性 ............................................................................................................
概述 对称电缆线对 陆上同轴电缆线对 海底电缆 光导纤维缆 光部件和子系统的特性 数字终端设备 数字网 数字段和数字线路系统 服务质量和性能－一般和与用户相关的概况 传输媒质的特性 经传送网的数据－一般概况 经传送网的以太网概况 接入网
欲了解更详细信息，请查阅 ITU-T 建议书目录。
光纤的弯曲损耗、抗弯曲光纤标准G.657及试验
一、光纤弯曲损耗的理论和计算
1、宏弯损耗的计算： 对折射率突变型单模光纤，设曲率半径为R，则每单位长度的弯 曲损耗由下式给出[1]： 1
c AC R 2 exp(UR)
3 2
(dB / m)
..............(1)
近似公式
当1≤λ/λcf≤2时 准确率
（2）
（3）
(n) 3 U 0.705 (2.748 0.996 ) cf 1 1 3 cf 2 AC 30( n ) 4 2 ( )
二、光纤弯曲与截止波长的关系
光纤的截止波长受诸多因素的影响 （甚至包括测量条 件）。同样，弯曲直径和光纤长度也影响单模光纤的截止波 长，可表达为[2]：
L2 1 1 c 2 c1 C log S ( ) …………………….(6) L1 D2 D1
式中，λ c2和λ c1分别是在弯曲直径D2和长度L2与弯曲直 径D1和长度L1时的截止波长，C是长度相关常数，S是弯曲相关 常数。 研究证明，对于匹配包层光纤，其截止波长对弯曲的依 赖性更大。由（6）式可以看出，弯曲半径减小，截止波长也 将减小。
再取R=10mm，计算得到弯曲损耗α c=6.13dB/m，折合每弯曲 10圈宏弯损耗为3.8dB，这比前者上升了75倍，这种非常急剧的 增加明显是由于（1）式中的指数项引起的。此计算结果与实测 值相比有比较好的近似程度。
一、光纤弯曲损耗的理论和计算
针对给定的折射率差、工作波长和截止波长，可以定义一个临界曲 率半径Rc，当实际曲率半径接近Rc时，弯曲损耗从可以忽略的程度急 剧增加到不可容忍的数值。在通常波段(1000nm附近)，Rc近似公式为：
在33dBm的实验之后，光纤跳线的损耗恢复不到其初始损耗值。这是因为温 度增加导致光纤跳线前几圈的严重损坏。
单模光纤检验规范
≦0.03
在1310nm、1550nm和1625nm波长下，85℃和85%相对湿度老化附加衰减
dB/km
≦0.03
在1310nm、1550nm和1625nm波长下，光纤浸入23℃的水中老化附加衰减
db/km
≦0.03
在1310nm、1550nm和1625nm波长下，光纤在85℃的温度下加速老化附加衰减
dB
≦0.05
60mm直径100圈在1625nm的宏弯附加衰减
dB
≦0.05
零色散波长
nm
1302－1322
零色散波长处最大色散斜率
ps/(nm2.km)
≦0.091
1288到1339nm范围内的色散
ps/(nm.km)
-3.5--3.5
1271到1360nm范围内的色散
ps/(nm.km)
-5.3--5.3
dB/km
≦0.35
1550nmOTDR衰减
dB/km
≦0.21
1625nm衰减
dB/km
≦0.24
1383nm衰减
dB/km
≦0.31
1285－1330nm范围内最大衰减与1310nm相比
dB/km
≦0.05
1480－1580nm范围内最大衰减与1550nm相比
dB/km
≦0.05
1310nm衰减不连续性（台阶）
光纤的截止波长
nm
1150—1330
光缆的截止波长
nm
≦1260
3.机械特性
参数
单位
产品规范
光纤筛选强度
％
≧1.02％
涂层机械剥离力峰值
N
1.3—8.9
光纤弯曲损耗的研究与测试
对于折射率突变型单模光纤，设曲率半径为 R，则每单
位 长 度 的 弯 曲 损 耗 可 由 式 （1）给 出 [1]。
αc=AC
-
R
1 2
exp(-UR)
（1）
近似公式：
3
λ λ U≈0.705 Δ 2 λ
2.748-0.996 λ λcf
3
（2）
3
λ λ 1 - 1
AC≈30Δ 4 λ 2
λcf λ
弯曲不敏感光纤在此背景下应运而生， 并迅速成为众 多国际标准化组织的热点研究课题。ITU-T SG15 在 2006 年 12 月发布了新的光纤门类标准 G.657 《适用于接入网的弯 曲不敏感光纤》，目的是推荐相对于 G.652 光纤而言弯曲性 能得到极大改善的 G.657 光纤。 G.657 光纤改进了宏弯损 耗，在极小的弯曲半径下能够保证极低的宏弯损耗，因此可 用于小体积的容纤盒以及电信机房、 用户驻地或公寓内的
芯－包层相对折射率差，E 是涂料层的杨 氏 模 量 ，Ef 是 光 纤
的杨氏模量。 式（5）、式（6）表明，对于给定的截止波长和工
作波长，微弯损耗与折射率差有很强的相依关系。
3 光纤弯曲损耗与截止波长的关系
光纤的截止波长受诸多因素的影响 （甚至包括测量条
件）。 弯曲直径和光纤长度也影响单模光纤的截止波长，它
研究与开发
电信科学 2009 年第 7 期
光纤弯曲损耗的研究与测试
摘要
薛梦驰 （电信科学技术第五研究所 成都 611731）
本文从光纤弯曲损耗的理论入手，重点介绍了光纤弯曲损耗的计算以及弯曲损耗与截止波长、高功 率 激 光 注 入 、光 纤 寿 命 等 因 素 的 关 系 ， 针 对 弯 曲 不 敏 感 光 纤 （G.657） 和 其 他 普 通 单 模 光 纤 （G.65x） 进 行了弯曲损耗的对比测试，以期为光纤接入网的设计和工程技术人员提供参考。
宏弯测试方法
宏弯测试操作简要说明如下：
1.取合适长度的待测光纤样品，制备光纤端面，分别放置于输入和输出端。
调整端面对中，检查端面质量。
2.将工装及限位开关打开，把样品纤放置于工装20mm或30mm直径圆柱组的中间（以下以30mm宏弯测试为例，
见红色线段标识所示），关闭限位开关，剩余光纤以尽可能大的弯曲弧度放置于测试台上。
限位开关打开30mm
20mm
3.按F1，程序检测无宏弯状态的功率损耗。
4.当屏幕上再次出现对中画面时，轻推工装，使光纤弯曲，检查光纤打圈质量，如有松脱或拉扯的情况，松开工装，
重新打圈：
限位开关关闭
5.按F1，程序开始测试弯曲状态下光功率损耗（注意所有圆柱都参与打圈时：30mm为10圈，20mm为5圈）。
6.测试完成后，屏幕上会给出测试结果。
G652.D光纤在长波段的传输损耗研究
一 秦钰 ，吴椿烽 ，陶伟 ，沈一春 ，钱 宜刚 （ 中 天科技精密 材料有限 公司，江苏南通２ ２ ６ ０ ０ ９ ） 摘 要： 通过 对光纤损耗机理进 行了深入分析 ，并采用Ｖ Ａ Ｄ Ｔ ＿ ＿ 艺 调整Ｇ ｅ Ｏ ２ 含量和芯层直径 ，分析７制备过程 ￣Ｇｅ Ｃ Ｉ ４ 流量和 芯层直
＝Ｏ． ０１ ２ ｄ Ｂ／ ｋ ｍ ，故表示为 ，
＝
讨论 了Ｇ６ ５ ２ ． Ｄ 光纤 的瑞 利散射损耗 机理 ，ｌ ￣ ｐ Ｇｅ Ｏ 掺 量及
芯层 直径 与瑞 利散 射的关系。
０ ． Ｏ１ ２ ｄ Ｂ／ ｋ ｍ ＋
（ ３）
２ 理 论研究
普 通Ｇ６ ５ ２ ． Ｄ 光 纤预制棒 ，其 瑞利散射 与相对 折射率
ｌ ８ Ｏ １ ９ ５ ２ １ ０ ２ ２ ５
的主要途径之一【 。 ： 豫 ＋ Ｒ （ １）
其 中，ｃ 表示光纤 的红外 吸收 ， Ｒ表示瑞利散射损 耗 ，而红外 吸收损耗 可以用表达式（ ２ ） 表示 铷
ｘ ｐ
（ 一
表 达 式（ ２ ） 中系 数 Ｂ 、 为 光纤 材 料 本 身 的特 性 ，
６ ０ ｌ 现代传输
Ｃ ａ ｂ ｌ ｅ ｓ＆ Ｏｐ ｔ ｉ ｃ ａ ｌ Ｃａ ｂ ｌ ｅｓ
［ 通信 电缆及 光缆 ］
玻璃假想温度 成正 比 ，因此降低 拉丝温度将有效降低瑞 调 整Ｇｅ Ｃｌ ４ 流量 以改变芯层 中Ｇｅ Ｏ２ 量 ，对 ｌ ： ｋ ＿ ， Ｇｅ Ｃｌ 流量与
光纤 的损耗 主要来 自光纤材 料对光 的吸收与散射 。吸 Ａｎ的 关 系 为表 达 式 （ ４） 收损耗 包括红 外吸收 、紫外吸收 以及 ＯＨ一 等 杂质 对光 的吸
光纤损耗测试方法
光纤损耗测试方法及其注意事项1 引言由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。
无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。
2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。
该标准建议了两级测试，分别为：Tier 1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性；Tier 2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。
根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。
事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。
为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。
TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。
那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。
另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。
2 如何测试光纤链路损耗光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。
下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。
2.1 测试方法A方法A设置参考值时，采用两条光纤跳线和一个连接器（考虑一个方向，如下图上半部分）。
设置参考值后，将被测链路接进来（如下图下半部分），进行测试。
我们不难发现，每个方向的测试结果中包括光纤和一端的连接器的损耗。
因此，方法A 是用来测试这种光缆链路：光纤链路一端有连接器，另一端没有。