磁光调制实验报告
5实验五 晶体磁光调制实验
实验五 晶体的磁光调制实验一、实验目的：1、了解磁光效应的原理。
2、掌握磁光调制的调试方法并测量和计算磁光效应的旋光特性和调制特性参数。
二、实验仪器：CGT —1磁光调制实验仪，铽玻璃，重火石玻璃，半导体激光器，双踪示波器等。
三、实验原理：1、磁光效应当平面偏振光穿透某种介质时，若在沿平行于光的传播方向施加一磁场，光波的偏振面会发生旋转，实验表明其旋转角θ正比于外加的磁场强度B ，这种现象称为法拉第（Faraday ）效应，也称磁致旋光效应，简称磁光效应，即：vlB =θ (1)式中l 为光波在介质中的路径，ν为表征磁致旋光效应特征的比例系数，称为维尔德（Verdet ）常数。
由于磁致旋光的偏振方向会使反射光引起的旋角加倍，而与光的传播方向无关，利用这一特性在激光技术中可制成具有光调制、光开关、光隔离、光偏转等功能性磁光器件，其中磁光调制为其最典型的一种。
图1 磁光效应示意图如图1所示，在磁光介质的外围加一个励磁线圈就构成基本的磁光调制器件。
2 直流磁光调制当线偏振光平行于外磁场入射磁光介质的表面时，偏振光的光强I 可以分解成如图2所示的左旋圆偏振光I L 和右旋圆偏振光I R （两者旋转方向相反）。
由于介质对两者具有不同的折射率n L 和n R ，当它们穿过厚度为l 的介质后分别产生不同的相位差，体现在角位移上有：l n L L λπθ2=１l n R R λπθ2=式中λ为光波波长因θθθθ+=-R L ()()l n n R L R L ⨯-=-=λπθθθ221 ( 2 ) 如折射率差()R L n n -正比于磁场强度B ，即可得（1）式，并由θ值与测得的B 与l 求出维尔德常数υ。
图2 入射光偏振面的旋转运动3 交流磁光调制用一交流电信号对励磁线圈进行激励，使其对介质产生一交变磁场，就组成了交流（信号）磁光调制器（此时的励磁线圈称为调制线圈），在线圈未通电流并且不计光损耗的情况下，设起偏器P 的线偏振光振幅为A 0，则A 0可分解为A 0 cos α及A 0 sin α两垂直分量，其中只有平行于P 平面的A 0 cos α分量才能通过检偏器，故有输出光强αα2020cos )cos (I A I == （马吕斯定律）其中200A I =为其振幅。
磁光效应实验报告
磁光效应实验报告磁光效应是指当一束光穿过具有磁性的介质时，光的传播速度和偏振方向都会发生变化的现象。
磁光效应实验是研究光在磁场中的行为和性质的重要手段，通过实验可以验证磁光效应的存在，并测定磁光常数等参数。
本实验旨在通过测量光在磁场中的传播速度和偏振方向的变化，验证磁光效应的存在，并进一步探究其规律和特性。
实验仪器和材料：1. He-Ne 氦氖激光器。
2. 磁铁。
3. 偏振片。
4. 介质样品。
5. 光电探测器。
6. 数据采集系统。
实验步骤：1. 将氦氖激光器放置在实验台上，并调整使其发出稳定的激光。
2. 在激光器发出的光路上放置一个偏振片，调整偏振片使光通过后为线偏光。
3. 将磁铁放置在光路上，使光线通过磁场区域。
4. 在磁场区域内放置介质样品，调整磁场强度和方向。
5. 在光路的末端放置光电探测器，并连接数据采集系统，记录光的强度和偏振方向随时间的变化。
实验结果：通过实验测量和数据分析，我们发现在磁场作用下，光的传播速度和偏振方向发生了变化。
当介质样品处于磁场中时，光的传播速度随磁场强度和方向的变化而发生改变，同时光的偏振方向也发生了旋转。
这些结果表明了磁光效应的存在，并且为进一步研究磁光效应的规律和特性提供了重要的实验数据。
实验讨论：磁光效应的存在和特性对于光学和材料科学具有重要意义。
通过实验我们可以进一步研究磁光常数和材料的磁光性质，为开发新型光学器件和材料提供理论和实验基础。
在实际应用中，磁光效应也被广泛应用于光学通信、光存储和光传感等领域，具有重要的科学和技术价值。
结论：通过本次实验，我们验证了磁光效应的存在，并测定了光在磁场中的传播速度和偏振方向的变化。
磁光效应是光学和材料科学中的重要现象，具有重要的理论和实际应用价值。
我们将继续深入研究磁光效应的规律和特性，为光学和材料科学的发展做出更多的贡献。
通过本次实验，我们对磁光效应有了更深入的了解，也为相关领域的研究和应用提供了实验数据支持。
实验四 磁光调制实验
实验四、磁光调制实验[实验目的]1.了解法拉第效应的工作原理；2.掌握磁光调制器件性能参数的测量方法；[实验原理]原来没有旋光性的透明介质，如水、铅玻璃等，放在强磁场中，可产生旋光性，这种现象称为法拉第效应。
具体的现象是，把磁光介质放到磁场中，使光线平行于磁场方向通过介质时，入射的平面偏振光的振动方向就会发生旋转，转移角度的大小与磁光介质的性质、光程和磁场强度等因素有关。
对于不同的介质其振动面的旋转方向不同，顺着磁场方向看，使振动面向右旋的，称为右旋或正旋介质，反之，则称为左旋或负旋介质。
ψ＝VlBcosα式中，ψ为振动面旋转的角度， l为光程，B为磁感应强度，α为光线与磁场的夹角，V为比例常数，称费尔德常数，单位rad/Tm，它与磁光介质和入射光的波长有关，是一个表征介质磁光特性强弱的参量。
对于给定的磁光介质，振动面的旋转方向只决定于磁场方向，与光线的传播方向无关。
这点是磁光介质和天然旋光介质之间的重要区别。
就是说，天然旋光性物质，它的振动面旋转方向不只是与磁场方向有关，而且还与光的传播方向有关。
例如，光线两次通过天然性的旋光物质，一次是沿着某个方向，另一次是与这个方向相反，观察结果，振动面并没旋转。
可是磁光物质则不同，光线以相反的两个方向两次通过磁光物质时，其振动面的旋转角是叠加的。
因此，在磁致旋光的情况下，使光线多次通过磁光物质可得到旋转角累加。
图1 磁光调制器结构简图磁光调制器就是根据法拉第效应制成的，其结构见图67-1。
将磁光介质（铁钇石榴石Y3Fe5O12或三溴化铬CrBr3）置于激磁线圈中。
在它的左右两边，各加一个偏振片。
安装时，使它们的光轴彼此垂直。
没有磁场时，自然光通过起偏振片变为平面偏振光通过磁光介质。
达到检偏振片时，因振动面没有发生旋转，光因其振动方向与检偏振片的光轴垂直而被阻挡，检偏振片无光输出。
有磁场时，入射于检偏振片的偏振光，因振动面发生了旋转，检偏振片则有光输出。
光输出的强弱与磁致的旋转角ψ有关。
法拉第效应磁光调制实验
法拉第效应
1845年，迈克尔·法拉第（M.Faraday）
发现:在穿过介质时，偏振光波会因为外
磁场的作用，转变偏振的方向，这一现
象称为
法拉第效应。
法拉第效应第一次 显示了光和电磁现 象之间的联系，促 进了对光本性的研 究，是光学过程与 电磁学过程有密切 联系的最早证据 。
2.多次拟合结果，累计的系统误差较大
疑问： λ-Θ曲线一定是线性的么
λ-Θ二次拟合
B=498.2mT U=12V
可以做这样的近似
V e dn
2mc d
e 0 ( b c ) mc 2 4
e 0 mc
b
2
总结
4.测量出波长与折射率关系进一步求出电子 的荷质比（误差较大）
计算电子的荷质比
V2m ecddn
dn 2104
d
e dn0.03758
2mc d
算 得 e1.12741011Ckg1 m
实 际 e1.75881011Ckg1 m
实验得到的电子荷 质比比理论值偏小 35%！
误差分析
1.使用特斯拉计测电磁铁中心位置磁场，手 持特斯拉计可能不稳定，造成误差。
(mm)
U-B拟合（线性拟合）
U-B拟合（二次拟合）
B-Θ拟合
λ=580nm
证明Θ与B呈线性关系
对所有的λ进行B-Θ拟合 求出V Θ=VBL
λ/
nm 460 480 500 520 540 560 580 600
斜率
1.075 0.860 0.793 0.689 0.672 0.490 0.522 0.486
（ 1 0 -4）
r2
0.996
0.991Leabharlann 0.9940.996
磁光效应实验报告
磁光效应实验报告磁光效应实验报告引言：磁光效应是指材料在磁场作用下产生的光学效应。
这一效应在物理学领域中具有重要的研究价值和应用前景。
本次实验旨在通过磁光效应实验，探究磁场对光学性质的影响，并进一步了解磁光效应的机理。
实验材料与仪器：本次实验所用的材料为磁光材料，其中磁光晶体是最常见的一种。
实验仪器包括磁场发生器、光源、光电探测器、光学元件等。
实验步骤：1. 准备工作：根据实验要求，调整光源的亮度和波长，确保实验环境的稳定性。
2. 设置实验装置：将光源、光电探测器和磁场发生器依次连接起来，确保信号的传输和接收正常。
3. 施加磁场：通过磁场发生器产生稳定的磁场，调整磁场的强度和方向，并记录相关数据。
4. 测量光学性质：将磁光材料放置在磁场中，利用光电探测器测量光的强度变化，并记录相关数据。
5. 数据分析：根据实验数据，进行曲线拟合和统计分析，得出实验结果。
实验结果与讨论：通过实验，我们观察到在磁场的作用下，光的强度发生了变化。
进一步分析数据，我们发现光的强度随着磁场的增加而呈现出线性变化的趋势。
这一结果表明了磁光效应的存在，并证实了磁场对光学性质的影响。
磁光效应的机理可以通过磁光晶体的结构来解释。
磁光晶体中的电子受到磁场的作用，会发生能级的分裂。
当光通过磁光晶体时，受到电子能级的影响，光的传播速度和振动方向会发生变化，从而导致光的强度发生改变。
这种现象被称为磁光效应。
磁光效应在光通信、光存储等领域具有广泛的应用前景。
通过研究磁光效应，可以进一步提高光学器件的性能，实现更高效的光传输和信息存储。
此外，磁光效应还可以用于磁光显示器等领域，为显示技术的发展提供新的可能性。
结论：通过本次实验，我们成功地观察到了磁光效应，并通过数据分析得出了实验结果。
磁光效应的存在证实了磁场对光学性质的影响。
磁光效应的机理可以通过磁光晶体的结构来解释。
磁光效应在光通信、光存储等领域具有广泛的应用前景，为光学器件的性能提升和显示技术的发展提供了新的可能性。
磁光调制实验报告 -回复
磁光调制实验报告-回复通过建立磁光调制实验系统，掌握磁光效应的原理和应用，并实现对载波的二进制调制、解调和调频过程的观测。
实验原理：磁光效应是指介质中的光在磁场作用下偏振状态的旋转或偏振面的移动。
在磁光效应中，光的振动方向和介质中的磁场方向垂直且相邻两个振动方向的偏转角之间存在比例关系。
在实验中，我们采用了单频光源结合锁相放大器的方式对载波进行调制。
首先，将激光光源通过分束器分为两束，分别经过两个图像旋转器使两束光分别旋转α和−α角，接着将这两束光的振动方向合成一束，指向振荡器的P极板，进而进入样品。
此时，当样品中存在磁场时，光的偏振方向会发生改变。
最后，通过锁相放大器对输出信号进行检测和解调，得到载波的调制信息。
实验装置:实验的主要装置包括激光光源、分束器、图像旋转器、P极板、样品室、锁相放大器等。
实验步骤：1、首先将实验中使用的磁光介质（GdIG）放入样品室中，设置样品温度。
2、打开激光光源和分束器。
将激光光源通过分束器分为两束，分别经过两个图像旋转器使两束光分别旋转α和−α角，合成一束射向P极板的偏振光。
3、打开样品室，并将振荡器调至合适频率并置于样品室中间。
4、给样品加上磁场，调节样品室压强，控制样品温度，使样品处于稳定的工作状态。
5、开启锁相放大器，调节放大器的增益，将输出信号进行检测和解调，得到载波的调制信息，观测得到的曲线图像。
实验结果：实验中得到了不同频率射到GdIG中的激光光的偏振角度，以及载波的调制信息。
调制信息的幅度和相位与磁场的存在和强度有关，从实验结果中可以得到磁场的强度大小和方向对载波调制效果的影响。
实验结论：本实验通过建立磁光调制实验系统，掌握了磁光效应的原理和应用，实现了对载波的二进制调制、解调和调频过程的观测。
实验结果表明，磁场强度的大小和方向对载波调制效果具有明显的影响，为后续磁光效应在通讯和信息处理领域的应用提供了实验基础和方法。
光信息专业实验报告：光调制与光通信模拟系统实验 (2)
光信息专业实验报告：光调制与光通信模拟系统实验一、实验目的1. 学习电光调制、声光调制、磁光调制的机制及运用。
2. 了解光通信系统的结构。
二、光调制基本原理常用的光调制方式主要有电光调制、声光调制和磁光调制，分别是利用电光效应、声光效应和磁光效应来实现对光的调制的。
1. 电光调制器件工作原理光学介质的电光效应是指，当介质受到外电场作用时，其折射率将随外电场变化，介电系数和折射率都与方向有关，介质的光学特性由原来的各向同性变为各向异性。
目前已发现两种电光效应，一种是泡克耳斯（Pockels ）效应，即折射率的变化量与外电场强度的一次方成比例；另一种是克尔（Kerr ）效应，即折射率的变化量与外电场强度的二次方成比例。
利用泡克耳斯效应制成的调制器成为泡克耳斯盒，其中的光学介质为非中心对称的压电晶体。
利用克尔效应制成的调制器称为克尔盒，其中的光学介质为具有电光效应的液体有机化合物。
泡克耳斯盒有纵向调制器和横向调制器两种。
我们实验中使用的是电光晶体为DKDP （磷酸二氘钾）的纵向调制泡克耳斯盒。
不给泡克尔斯盒加电压时，盒中的介质是透明的，各向同性的非偏振光经过起偏器P 后变为振动方向平行于P 光轴的平面偏振光。
通过泡克耳斯盒时，其偏振方向不变，到达检偏器Q 时，因光的振动方向垂直于Q 光轴而被阻挡，所以Q 没有光输出；给泡克耳斯盒加电压时，由于电光效应，盒中介质将具有单轴晶体的光学特性，光轴与电场方向平行。
此时，通过泡克耳斯盒的平面偏振光的振动方向将被改变，从而产生了与Q 光轴方向平行的分量，即Q 有光输出。
Q 输出光的强弱与盒中介质的性质、几何尺寸、外加电压大小有关。
对于结构已确定的泡耳克斯盒来说，若外加电压是周期性变化的，则Q 的光输出也是周期性变化的，由此实现对光的调制。
图1 各个量的方位关系图图1表示的是几个偏振量之间的方位关系，光的传播方向平行于z 轴，M 和N 分别为起偏器P 和检偏器Q 的光轴方向，彼此垂直；α为M 与y 轴的夹角，β为N 与y 轴的夹角，2/πβα=+；外电场使克尔盒中电光介质产生的光轴方向平行于x 轴；o 光垂直于xz 平面，e 光在xz 平面内。
磁光调制实验
实验七 磁光调制实验一、 实验背景介绍（一）概述磁光调制是利用某些晶体的磁光效应，对光信号进行调制，使光信号的幅度随着调制信号的变化而变化，实现把调制信号加载到光信号上。
磁光调制在光电检测，光通讯，光显示等领域有着广泛的应用。
（二）磁光效应原理 磁光效应置于外磁场中的物体，在光与外磁场作用下，其光学特性（如吸光特性，折射率等）发生变化的现象。
法拉第效应 1845年由M.法拉第发现。
当线偏振光（见光的偏振）在介质中传播时，若在平行于光的传播方向上加一强磁场，则光振动方向将发生偏转，偏转角度θ与磁感应强度B 和光穿越介质的长度l 的乘积成正比，即V B L θ=⋅⋅，比例系数V 称为费尔德常数，与介质性质及光波频率有关。
偏转方向取决于介质性质和磁场方向。
2 直流磁光调制当线偏振光平行于外磁场入射磁光介质的表面时，偏振光的光强I 可以分解成如图2所示的左旋圆偏振光I L 和右旋圆偏振光I R ，对应的电矢量为E L 和E R ，两者旋转方向相反。
在磁场作用下，处于磁场中的介质呈现各向异性，由于介质对两者具有不同的折射率n L 和n R ，E L 的传播速度与E R 不同，当它们穿过厚度为L 的介质后会产生相位差，E L 与E R 旋转角度为θL 与θR ，合成电矢量则旋转一个角度θ。
2L L n L πθλ= y=Acos(wt+θ) 初相位的改变 2R R n L πθλ=因θθθθ+=-R L1()()()22L R L R R L Ln n L n n cπωθθθλ=-=-=- （2）其中n R 为在磁场作用下，右旋圆偏振光通过介质的折射率，n L 为左旋圆偏振光通过介质的折射率，c 为真空中的光速。
如折射率差()R L n n -正比于磁场强度B ，即可得（1）式，并由θ值与测得的B 与L 求出维尔德常数V图2 入射光偏振面的旋转运动3 交流磁光调制二、磁光调制实验（一）实验要求1、了解磁光调制实验的原理和方法2、了解磁光调制器用于光通讯的基本原理3、掌握磁光调制器的主要参数的测试方法 （二）实验内容1、测定旋光角与激励电流的关系2、出来晶体的半波电压和工作电压3、观察输出光强极小时，产生的倍频信号4、电光调制实现光通讯演示5、测试电光晶体的消光比和透射率 （三）实验步骤1、实验前的准备（1）按图组成实验系统，首先在光具座上放置好激光器和电接受器（2）设置实验仪（3）光路校准（4）插入起偏器，调节起偏器的高度和转角，使激光束垂直入射镜面，旋转起偏器，使透射光强最大。
磁光效应物理实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 理解磁光效应的原理及其在光学领域中的应用；2. 掌握磁光效应实验的基本操作；3. 通过实验，测定磁光效应中的一些关键参数，如磁光克尔效应和法拉第效应；4. 分析实验数据，得出磁光效应的相关规律。
二、实验原理磁光效应是指电磁波在磁场中传播时，其电磁场分布发生变化的现象。
主要包括磁光克尔效应和法拉第效应。
1. 磁光克尔效应：当线偏振光通过具有磁光性质的介质时，其偏振面会旋转一个角度，称为克尔角。
克尔效应的大小与磁场的强度和介质的磁光常数有关。
2. 法拉第效应：当线偏振光通过具有法拉第效应的介质时，其偏振面会旋转一个角度，称为法拉第角。
法拉第效应的大小与磁场的强度、介质的法拉第常数以及光在介质中的传播速度有关。
三、实验仪器与材料1. 磁光克尔效应实验装置：包括线偏振光源、磁光克尔效应样品、检偏器、光电池等；2. 法拉第效应实验装置：包括线偏振光源、法拉第效应样品、检偏器、光电池等；3. 直流稳压电源、磁铁、光具座、光电池读数仪等。
四、实验步骤1. 磁光克尔效应实验：（1）将线偏振光源发出的光通过检偏器，得到线偏振光；（2）将线偏振光照射到磁光克尔效应样品上，调节磁铁的位置，使样品处于磁场中；（3）通过检偏器观察光电池的输出信号，记录克尔角；（4）改变磁场强度，重复上述步骤，得到一系列克尔角数据。
2. 法拉第效应实验：（1）将线偏振光源发出的光通过检偏器，得到线偏振光；（2）将线偏振光照射到法拉第效应样品上，调节磁铁的位置，使样品处于磁场中；（3）通过检偏器观察光电池的输出信号，记录法拉第角；（4）改变磁场强度，重复上述步骤，得到一系列法拉第角数据。
五、实验数据整理与归纳1. 对磁光克尔效应实验数据进行处理，得到克尔角与磁场强度的关系曲线；2. 对法拉第效应实验数据进行处理，得到法拉第角与磁场强度的关系曲线；3. 根据实验数据，分析磁光克尔效应和法拉第效应的规律。
六、实验结果与分析1. 磁光克尔效应实验结果表明，克尔角与磁场强度呈线性关系，符合磁光克尔效应的规律；2. 法拉第效应实验结果表明，法拉第角与磁场强度呈线性关系，符合法拉第效应的规律；3. 通过实验，验证了磁光效应在光学领域中的应用，如光学隔离器、光开关等。
磁光调制实验报告误差分析
磁光调制实验报告误差分析
首先，实验条件可能对实验结果产生影响。
例如，温度变化会影响材
料的光学性质，从而影响磁光效应的大小。
为了减小这种误差，可以在实
验过程中保持恒定的温度，并进行温度补偿。
其次，测量设备的误差也会对实验结果产生影响。
例如，显示器、光
源和光电探测器可能存在非线性响应和系统噪声。
为了减小这些误差，可
以使用校正标准品对测量设备进行校准，并使用高精度的测量设备进行实验。
此外，实验操作中的误差也是需要考虑的因素。
例如，调节磁光调制
器的极化方向、光源的位置和方向以及光束的聚焦度等操作不准确都会导
致实验结果的误差。
为了减小这些误差，可以进行多次实验并取平均值，
或是进行微小调整来找到最佳实验条件。
最后，数据处理中的误差也需要注意。
例如，如果采用了一些函数或
公式来计算、拟合或插值实验数据，这些函数或公式本身可能存在误差，
从而引入额外的误差。
为了减小这些误差，可以选择更精确的函数或公式，或者使用其他方法进行数据处理。
综上所述，磁光调制实验结果可能受到实验条件、测量设备、实验操
作和数据处理等多种因素的影响，从而引入误差。
通过对这些误差进行分
析和评估，并采取相应的纠正措施，可以减小误差，提高实验结果的准确
性和可靠性。
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磁光调制实验报告
课程：_____光电子实验_____
学号：
姓名：
专业：信息工程
南京大学工程管理学院
磁光调制实验报告
一、实验目的
1 观察磁光调制现象
2 测量调制深度与调制角幅度
3测定旋光角与外加磁场的关系
4 测量直流磁场对磁光介质的影响
5 磁光调制与光通讯实验演示
二、实验原理
1 磁光效应
当平面偏振光穿透某种介质时，若在沿平行于光的传播方向施加一磁场，光波的偏振面会发生旋转，实验表明其旋转角θ正比于外加的磁场强度B，这种现象称为法拉第（Faraday）效应，也称磁致旋光效应，简称磁光效应，即：
θ (1)
=
vlB
式中l为光波在介质中的路径，ν为表征磁致旋光效应特征的比例系数，称为维尔德（Verdet）常数。
由于磁致旋光的偏振方向会使反射光引起的旋角加倍，而与光的传播方向无关，利用这一特性在激光技术中可制成具有光调制、光开关、光隔离、光偏转等功能性磁光器件，其中磁光调制为其最典型的一种。
图1 磁光效应示意图
如图1所示，在磁光介质的外围加一个励磁线圈就构成基本的磁光调制器件。
2 直流磁光调制
当线偏振光平行于外磁场入射磁光介质的表面时，偏振光的光强I可以分解成如图2所示的左旋圆偏振光I L和右旋圆偏振光I R（两者旋转方向相反）。
由于介质对两者具有不同的折射率n L和n R，当它们穿过厚度为l的介质后分别产生不同的相位差，体现在角位移上有：
l n L L λπ
θ2=
l n R R λ
πθ2=
式中λ为光波波长 因θθθθ+=-R L
()()l n n R L R L ⨯-=-=
λ
πθθθ221
( 2 ) 如折射率差()R L n n -正比于磁场强度B ，即可得（1）式，并由θ值与测得的B 与l 求出威德尔常数υ。
图2 入射光偏振面的旋转运动
3 交流磁光调制
用一交流电信号对励磁线圈进行激励，使其对介质产生一交变磁场，就组成了交流（信号）磁光调制器（此时的励磁线圈称为调制线圈），在线圈未通电流并且不计光损耗的情况下，设起偏器P 的线偏振光振幅为A 0，则A 0可分解为
A 0 cos α及A 0 sin α两垂直分量，其中只有平行于P 平面的A 0 cos α分量才能通过检偏器，故有输出光强
αα2020cos )cos (I A I == （马吕斯定律）
其中200A I =为其振幅。
式中α为起偏器P 与检偏器A 主截面之间的夹角，I 0为光强的幅值，当线圈通以交流电信号i=i 0 sin ωt 时，设调制线圈产生的磁场为B=B 0 sin ωt ，则介质相应地会产生旋转角θ=θ0 sin ωt ，则从检偏器输出的光强为：
[][])sin (2cos 12
)(2cos 12)(cos 000
20t I I I I ωθαθαθα++=++=
+= （3）
由此可知光输出可以是调制波的倍频信号。
以上就是电信号致使入射光旋光角变化从而完成对输出光强调制的基本原理。
4 磁光调制的基本参量
磁光调制的性能主要由以下两个基本参量来描述。
（1）调制深度η
min
max min
max I I I I +-=
η （4）
式中I max 和I min 分别为调制输出光强的最大值和最小值，在2
0π
θα≤
+≤
的条件下，参照图3应用倍角公式，由（3）式得到在θμ时的输出光强分别为：
[])(2cos 120max θα-+=I
I
[])(2cos 12
0min θα++=I
I （5）
如图3所示：
（2）调制角幅度θ0
令min max I I I A -=为光强调制幅度 将（5）式代入化简得
θα2sin 2sin 0I I A =
由此可见，若起偏器P 与检偏器A 主截面间夹角︒=45α时，调制幅度可达最大值θ2sin 0max I I A =
此时调制输出的极值光强为：
)2sin 1(2
max θ+=
I I
)2sin 1(
2
min θ-=
I I （6） 将此式代入（4）式得︒=45α时的调制深度和调制角幅度：
θηsin2=
⎪⎪⎭
⎫ ⎝⎛+-=
=-min max min max 10sin 21I I I I θθ （7） 三、实验内容
1 观察磁光调制现象
（1）按图4所示，参照图8“系统连接”方法准备就绪（用铽玻璃调制器线缆插入主控单元后面板的“调制输出”两插座中）。
（2）打开调制加载开关，调制幅度开关最大，此时直流磁场为零，转动检偏器，在示波器上同时观察到调制波形与解调输出波形；再细调检偏器的转角，即可明显地看到解调波与调制波的倍频关系，此时光强指示为最小值，检偏器透光轴与起偏器透光轴垂直， ︒=90α。
2 测量调制深度与调制角幅度
在示波器中显示出解调波形时，调节检偏器偏角，读出波形曲线上相应的光强信号的最大值I max 和最小值I min ，代入（6）式和（7）式，计算出调制深度η和调制角幅度θ0。
实验测得：I max=4.56 I min =0.24
调制角幅度⎪⎪⎭
⎫ ⎝⎛+-=
=-min max min max 10sin 21I I I I θθ=32.08 调制深度：θηsin2==0.9
3、测定旋光角与外加磁场的关系
数据表格：
0.0760.1350.2030.2810.3420.4150.4820.5450.612磁感应
强度
旋转角0.68 1.02 1.48 2.12 2.56 3.13 3.58 4.45 4.87磁感强度与旋光角的图像：
分析:
由上图可以看出两者基本上呈线性关系。
实验中线偏振光的偏振方向和产生磁场的电流的旋转方向一致，根据上面原理定义为右旋。
误差分析：
实验过程中，励磁电流计读数有一定的误差；读数有一定误差将角度转化位弧度制4舍5入导致一定的误差；光路不够满足实验要求，精度不够导致测量不准确；消光法测量时光电流反应不够灵敏，最小值不够准确，导致对于的检偏器角度读取有误差。
4 、测量直流磁场对磁光介质的影响
（1）按实验内容1中（2）步骤，调出调制波的倍频信号。
（2）将励磁电磁铁（M）插入可调滑座上置于接收器前，电磁铁中间放入磁光介质重火石，（先将重火石插在两磁轭之间，磁轭平面与两磁极相吻合）如图10所示。
将电磁铁引出线缆插入后面板的“励磁输出”两插座中（注意：红对红，黑对黑）。
图10
（3）调节可调滑座高低左右，使激光能准确穿过重火石中心。
调节接收器滑座，使激光能精确进入接收孔。
此时，示波器可见倍频信号。
（4）开启直流励磁，使励磁线圈通以直流电流I DC，转动励磁强度旋钮，使励磁指示表达到1.5A，示波器无倍频信号显示，此时记下接受器上测角器的读数（建议做此实验前将测角器刻度0对0），旋转测角器微调，使示波器重显倍频信号，再记下此时测角器读数，其差值为重火石磁致旋光角。
（5）将测角器刻度0对0，改变直流电流（由励磁电流表读出），每隔0.3A
)的关系曲线。
测量一次，记下旋光角度与相应的偏转角，画出θ~ B(I
DC
•注：调制线圈中部顶端开有小孔，用以插入特斯拉（场强）计测量线圈的磁感应强度B（由于测试探头处于线圈边缘，其中部的B应为2倍测试值）。
•根据B与偏角Ө值，即可由（1）式计算出磁光介质的维尔德常数。
)的关系曲线：
θ~ B(I
DC
分析：由上图可知，MR3玻璃的~B关系基本是线性关系。
根据上面原理定义，MR3玻璃的法拉第旋光性为左旋。
倍频：
四、实验总结
1、在设计倍频时，开始过程中遇到很大困难，主要是实验方法的错误，后来经过请教他人得以解决。
2、如果不使用倍频法做直流磁光调制实验，则偏振面的磁致旋转角通过消光法测得，由检偏器在平面偏振光振动方向变化前后的消光位置来确定。
由于消光位置附近光强变化率较
小，检偏器的精度不够，确定精度消光位置较困难，这样就影响了磁致旋转角的精确测量。