实验一 TTL与非门的静态参数测试
实验一 TTL集成逻辑与非门参数的测试

如图2-1-2所示。
T 1 2N Nf
图 2–1–2 延迟时间
由于TTL门电路的延迟时间较短,直接测量时对函数发生器 和示波器的性能要求较高,所以一般采用环形振荡器法进行测 量。 测量方法:由奇数个门首尾相连组成环形振荡器进行测量: tpd≈= 式中,N为门电路的个数,T为环形振荡器的振荡周期。
三 实验参考电路
本实验采用74系列双列直插式四-2输 入TTL与非门74LS00集成芯片进行参数测 试,其外形引脚排列及逻辑符号如图2-1-1 所示。
图2-1-1 74LS00外形引脚排列和TTL与非门逻辑符号
(1)平均功耗P TTL与非门工作于开态(输出低电平)和关态(输出高电平)时,电 源电流值是不同的。电路处于稳定开态时的空载功耗称为空载导通功耗 PL: PL =IEL ×VCC 式中,IEL —— 空载导通电源电流; VCC —— 电源电压。 测试条件:与非门的输入端悬空,输出空载,VCC=5V。 电路处于稳定关态时的空载功耗称为空载截止功耗PH:
I OL max
TTL集成电路使用注意事项 七 TTL集成电路使用注意事项
(1)正确选择电源电压 TTL集成电路的电源电压允许变化范围一般在4.5~5.5V之间。 在使用时,不能将电源与地颠倒接反。否则TTL集成电路将会因 为过大电流而造成器件损坏。 (2)不要在输入端施加超过电源电压的信号。 (3)对输入端的处理 虽然TTL逻辑门的输入端悬空相当于输入“1”,但悬空的输入 端比较容易受到外界干扰引起电路的误动作。所以,多输入逻辑 门没有使用的输入端必须妥善处理,按逻辑门的功能特点接至相 应的逻辑电位上。 (4) 对于输出端的处理一般的TTL电路输出端不允许直接接 到一起,只有集电极开路门(OC门)和三态门可以把输出端连在 一起实现线与。集成门电路的输出更不允许与电源或地短路,否 则可能造成器件损坏。
实验一 集成逻辑门电路(TTL和CMOS)的参数测试

实验一集成逻辑门电路(TTL和CMOS)的参数测试一、实验目的1、掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。
2、熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。
二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验台2、万用表 2只3、元器件:74LS20(T063)、 CC4012 各一块,2CK11 4只4、电阻及导线若干三、实验内容(简单实验步骤、实验数据及波形)图1-1 图1-21、TTL与非门74LS20静态参数测试导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH 。
测试电路如图1-1。
74LS20为双与非门,两个门的输入端作相同处理。
测得ICCL=12mA,ICCH=1.6mA低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。
每一门和每一输入端都测试一次。
测试电路如图2-2。
2、电压传输特性。
调节电位器RW,使Vi从0V向5V变化,逐点测试Vi和VO 值,将结果记录入下表中。
测试电路如图1-3。
3、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试将CC4012正确插入面包板,测电压传输特性。
测试电路和方法同上,输出端为实验结果分析(回答问题)1、测量TTL与非门输出低电平时要加负载,因为要求集成块有一定带负载的能力,而TTL与非门输出低电平时会有较大负载电流。
图2-3中R选用360Ω是根据最大允许负载电流为:扇出系数(8)×低电平输入电流I iL(1.6mA)得到的。
若R 很小会使负载电流过大,无法得到正常的输出低电平。
2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”,因为悬空相当于Ri=∞,由输入端负载特性可得此结论。
3、TTL或非门闲置输入端的处置方法:与其它输入端并联;接地。
4、实验中所得ICCL和ICCH为整个器件值,单个门电路的ICCL和ICCH 为所测值的一半。
5、CC4012的VDD=15V,则其VOH=14.95V、VOL=0.05V、VTH =7.5V。
重点讲解组合逻辑电路的实验分析的方法与步骤及在实验设备中如何去实现。
数字电路实验报告——TTL与非门参数测试

第二次实验报告实验一 TTL 与非门参数测试一、实验目的要求1, 熟悉TTL 与非门的外形和管脚排列 2, 掌握TTL 与非门逻辑功能的测试方法3, 掌握TTL 与非门主要参数的测试方法,加深理解TTL 与非门参数及其物理意义 二 实验仪器、设备直流稳压电源,电子电路调试器,万用表,74LS20、电位器、电阻 三、实验线路、原理框图 (一)74LS20的管脚排列74LS20是一块由两个4输入端与非门组成的小规模集成电路,其逻辑表达式为Y=D C B A 。
它具有14个外引管脚,当芯片的缺口朝左方时,芯片的左上方为14号脚,接电源Vcc (所有TTL 集成电路使用的电源电压均为Vcc=+5V ),右下方7号脚GND 接0V 。
多数芯片的电源引脚是对角线分布的。
芯片的外引脚管排列规则,通常是左下方是1号脚,按逆时针方向递增排列。
它的引脚图如下:图1(二)74LS20的静态参数 1,低电平输出电源电流I ccl低电平输出电源电流I ccl 是指:所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
测试电路如下:图22,输入短路电流I Is低电平输入电流是指:被测输入端的输入电压V Il =0.4V,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流值。
测试时,把被测输入端接地,可以测得与非门的输入短路电流I Is ,此值可1B 1C 1D 1Y 地近似地代替I Il值。
测试电路如下:图33,电压传输特性电压传输特性是反映输出电压V0与输入电压V1之间关系的特性曲线。
测试电路如下:图4四、实验方法步骤(一)74LS20逻辑功能的测试任选一个与非门,将三个输入端A、B、C、D分别接电子电路调试器的状态设置开关,其余不用的输入端悬空(或接高电平),输出端接LED逻辑电平指示器,逐个按真值表扳动状态设置开关。
测试结果如下:(二)测试74LS20的静态参数1,测试低电平输出电源电流I ccl按图2接线,测试结果为I ccl=1.45mA2,测试输入短路电流I Is按图3接线,测试结果为I Is=0.1mA4,根据上表描点作图,如下图所示:。
TTL与非门参数测试

2.根据实验数据画出传输特性曲线,试在曲线上标出VOH、VOL、VON、VOFF,计算VNH和VNL。
六、思考题
1.TTL电路多余的输入端应如何处理?为什么?
与非门多余的输入端:①悬空;②接高电平;③与一个有效端接在一起。或非门多余的输入端①接地②与一个有效端接在一起。其原则是无效输入端不能影响输入和输出之间的逻辑关系。
表一
带负载
开路
VOH(V)
VOL(V)
VOH(V)
VOL(V)
3.59
0.296
4.04
0.08
(2)测量输入开门电平VON和关门电平VOFF
表二
VOH(V)
VOFF(V)
VOL(V)
VON(V)
3.59
1.14
0.296
1.92
(3)测量低电平输入电流IIL和高电平输入电流IIH;
表三
IIL(mA)
(4)输入开门电平VON和关门电平VOFF
VON是指与非门输出端接额定负载时,使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。换句话说,为了使与非门处于导通状态,输入电平必须大于VON。
VOFF是指使与非门输出处于高电平状态所允许的最大输人电压。
(5)扇出系数N0
N0是说明输出端负载能力的一项参数,它表示驱动同类型门电路的数目。N0的大小主要受输出低电平时,输出端允许灌人的最大电流的限制,如灌人负载电流超出该数值,输出低电平将显著抬高,造成下一级逻辑电路的错误动作。
V0(V)
1.60
1.70
1.80
1.90
2.00
2.5
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
V0(V)
试验一TTL与非门的参数测试

试验一TTL与非门的参数测试TTL是“Transistor-Transistor Logic”的缩写,是一种常用的数字逻辑电路家族。
而非门是TTL电路中的一种基本逻辑门,用于实现逻辑反相操作。
在这篇文章中,我们将进行TTL与非门的参数测试。
TTL与非门是由晶体管等离子晶体管作为开关来实现的。
在这个实验中,我们将测试TTL与非门的三个重要参数:输入电压(Vin)与输出电压(Vout)之间的电平转换阈值(Vih和Vil)、输入电压的电流特性以及输出电压的输出电流特性。
我们将逐个测试这些参数,以了解TTL与非门的性能。
首先,我们将测试输入电压与输出电压之间的电平转换阈值。
这是指在何种输入电平下,TTL与非门会进行状态改变。
通常情况下,高电平对应逻辑1,低电平对应逻辑0。
我们将选择一系列不同的输入电压,并记录产生的输出电平。
通过这些数据,我们可以通过绘制输入电压与输出电压的关系曲线来确定电平转换阈值。
接下来,我们将测试输入电压的电流特性。
这是指在不同输入电压下,TTL与非门的输入端的电流变化情况。
我们将使用电压表来测量不同输入电压下的输入电流,并记录这些数据。
通过这些数据,我们可以确定TTL与非门的输入电压与输入电流之间的关系。
最后,我们将测试输出电压的输出电流特性。
这是指在不同输出电压下,TTL与非门的输出端的输出电流变化情况。
我们将使用电流表来测量不同输出电压下的输出电流,并记录这些数据。
通过这些数据,我们可以确定TTL与非门的输出电压与输出电流之间的关系。
在进行这些测试时,我们需要注意到TTL与非门的工作电压范围。
根据TTL与非门的规格书,我们需要提供正确的电源电压和电流以确保测试的准确性。
此外,我们还应该注意到TTL与非门的温度特性,因为温度的变化可能会对测试结果产生影响。
通过对TTL与非门的参数进行测试,我们可以了解其性能特点,并在实际应用中进行正确的设计与布局。
这对于保证电路的可靠性和稳定性非常重要。
TTL与非门参数测试

TTL与⾮门参数测试⼀. 实验⽬的1)熟悉TTL与⾮门集成电路的外形和管脚引线排列。
2)通过测试了解与⾮门的直流参数3)加深对与⾮门逻辑功能的认识⼆. 实验仪器(点击可看到图⽚)1. xst-6D电⼦技术综合实验装置2. 500型万⽤表3. DS1052E (点击可阅读使⽤⼿册)4. 元件:74LS20三. 预习要求1. 复习《数字电⼦技术基础》相关内容2. 了解74ls20的逻辑功能和管脚排列;3.ICCL, IIL, IIH, IOL, No,tpd是什么?4. 与⾮门在什么条件下输出⾼电平?什么情况下输出低电平?不⽤的输⼊端怎么处理?5. TTL电路,如果某输⼊端悬空,则相当于给该输⼊端输⼊了什么电平的信号?6. 请说明⽤直流电流表测电路的某个⽀路电流时关键步骤和应注意的事项?四. 实验原理、步骤⾸先,根据逻辑功能检查与⾮门是否良好。
1. 测量下列各直流参数:1)低电平输出时的电源电流ICCL。
门电路的信号输⼊、输出脚悬空,这时门电路的输出处在低电平状态,这时,⽤直流电流表测出IC的Vcc脚的电流。
2)低电平输⼊电流IIL。
3)⾼电平输⼊电流IIH。
4)电压传输特性。
Uon:表⽰与⾮门输出低电平时,允许输⼊的⾼电平的电压值的最⼩值,在图上求出。
(即在VOL=0.4V时,求Vi)Uoff:表⽰与⾮门输出⾼电平时,允许输⼊的低电平的电压值的最⼤值,在图上求出。
(即在VoH=2.4V时,求Vi) 5)扇出系数No得出的⼩数要圆整6)平均传输延迟时间tpd。
我们把输出电压波形滞后于输⼊电压波形的时间叫传输延迟时间(见《数字电⼦技术基础》门电路)。
有两个重要参数tPHL,tPLH,五. 报告要求1)列出直流参数的实测数据表格,,与出⼚参数相⽐,判断参数是否合格。
2) ⼀个该⾮门能驱动多少个TTL门电路?假设LED的⼯作电流是20mA,他可以⽤该门电路直接驱动吗(画出该电路)?3) 画出传输特性,确定VOFF、VON、VOL、VOH值4)列出与⾮门的实测数据表格,看逻辑关系是否相符。
实验1 与非门测试

c电位器的阻值变化不均匀,使得ui无法精确的停在的特定电压上。
三、实验思考题
1.TTL与非门和CMOS与非门有何异同点?
答:TTL与CMOS的相同点有:输出端可以悬空,都有与非逻辑功能,电压特性曲线相似,都有UOH,UOL,UOFF,UON参数。
图8测量平均传输延迟时间tpd
2.由实验(二)所得参数,运用matlab画出电压传输特性曲线。
3.实验数据分析
a低电平输出电源电流ICCL为2.029mA,高电平输出电源电流ICCH为0.674mA,且低电平输出电源电流ICCL比高电平输出电源电流高,符合理论值。
b输入短路电流IIS为0.168mA,而输入漏电流IIH为微安级,由于仪器精度不够无法测出有效数据,示数为0mA,说明其前级门电路带负载的个数较多。
(三)
平均传输延迟时间tpd
由示波器测得T=96.00ns,于是 .
波形如下:
二、实验分析
1.实验原理图
图1测量低电平输出电源电流ICCL图2测量高电平输出电源电流ICCH
图3测量输入短路电流IIS图4输入漏电流IIH
图5输出高电平UOH及关门电平UOFF图6测量输出低电平UOL及开门电平UON
图7测试TTL与非门的电压传输特性
实验一TTL与非门的静态参数测试实验报告
一、实验数据
(一)
1.低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH及静态平均功率
ICCL
ICCH
测量值
2.029mA
0.674mA
6.7575mW
2.输入短路电流IIS和输入漏电流IIH
实验一TTL与非门的参数测试

实验一TTL与非门的参数测试实验目的:通过测试TTL与非门的参数,了解其工作原理和性能特点。
实验器材:1.TTL与非门集成电路芯片(例如:74LS04)2.面包板3.连线杜邦线4.LED等基础元件5.电源6.示波器实验原理:实验步骤:1.连接电路:将TTL与非门芯片安装在面包板上,并与电源、LED等元件适当地进行连接。
根据需要,可以连接多个输入信号和输出信号。
2.施加电源:将电源接入电路,确保电压符合TTL电路的工作要求(通常为5V)。
3.输入测试:通过外部开关或按钮等触发输入信号,观察输出信号状态的变化。
可以通过连接示波器来观察电路的工作波形。
4.参数测量:根据实验需要,可以测试TTL与非门的不同参数,例如输入电压门限(VIH、VIL)、输出电流和输入电流。
实验结果:通过测试TTL与非门的参数,可以得到以下结果:1.输入电压门限:根据数据手册,可以测量TTL与非门的高电平输入电压门限(VIH)和低电平输入电压门限(VIL)。
这些门限电压确定了逻辑电平的切换点。
2.输出电流:可测量TTL与非门的输出电流,这是通过所选工作电压下的外部负载(如LED)所测得的。
输出电流的大小决定了芯片的驱动能力。
3.输入电流:可以通过测量输入端的电流(通常是输入电压为高电平或低电平时的电流值)来确定TTL与非门的输入阻抗。
实验注意事项:1.操作电路时,应注意电源的稳定性和接线的可靠性,以避免电路损坏。
2.测量参数时,应使用合适的测量仪器,并按照正确的操作步骤进行测量。
3.执行测试时,应按照实验计划记录测试数据,并及时分析和总结实验结果。
实验拓展:1.可以进一步测试TTL与非门的工作速度参数,例如上升时间、下降时间和传播延迟等。
2.可以将TTL与非门与其他逻辑门(如与门、或门等)进行组合,构建更复杂的数字逻辑电路。
3.可以通过改变输入信号的方式,如按钮触发、串行输入等,来测试TTL与非门在不同工作条件下的性能。
本次实验通过测试TTL与非门的参数,能够更好地理解其工作原理和性能特点。
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测量电路如图(四)( b)所示。先调 W,使输入电压为高电平, 测得的输出电压即为 UOL。然后渐渐减小输入电压,测得使输出电压维 持在UOL的最低输入电平,即为开门电平Uon。
Uol=0.155V,Uon=3.5V
图(4)
5V 5V
& W 2KΩ R L 10KΩ W 2KΩ
&
R L
560 Ω
+ VU (a)
T 生一个周期的振荡,必须经过14 级门的延迟时间。因此平均传输延迟时间为 tpd
TTL电路的tpd一般在6nS~30nS之间。
14
由于所用的74LS00四输入与非门的 tpd很短,要用7个与非门连成环形震荡器, 以便测量其周期T。
六、实验分析
1、实验器材所用材料的不同 2、实验过程中一些外在因素也会导致一些误差
IIH:指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端悬空时, 流入被测输入端的电流。也称高电平输入电流。在由多级门构成的电路 中,它相当于前级门输出高电平时,前级门的拉电流负载。IIH越小, 前级门电路带负载的个数就越多。IIH较小,难以测量。测试电路如图 (三)(b)所示。
图(3)
+5V & + IIS mA (a) + IIH μA -
+5V &
(b)
1.2
(3)输出高电平UOH及关门电平Uoff
测量电路如图(四)( a)所示。先调 W,使输入电压为 0V这时 输出电压即为 UOH。然后渐渐增大输入电压,当输出电压下降到 90%UOH
时,测得输入电压即为关门电平Uoff。
Uoh=3.2V,Uoff=2.482V
(4)输出低电平UOL及开门电平Uon
实验一 TTL与非门的静态参数测试
组员:苏集滨 卢志豪
一、实验目的 1.掌握TTL与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。 2.熟悉数字电路实验箱、数字万用表的使用。 二、实验仪器及器件 1.数字电路实验箱、万用表、示波器。 2.器件:74LS00X 2、电阻:560ΩX1、10kX1 三、实验预习 复习TTL与非门的逻辑功能、主要参数和电压传输特性。
图(2)
(+5V) + mA ICCL 14 13 12 11 10 9 74LS00 (+5V) + mA ICC - H 14 13 12 11 10 9
8
8
74LS00
1
2 3
4 (a)
5
6
7
1
2 3
4 (b)
5
6
7
lccl
2、输入短路电流IIS和输入漏电流IIH:
IIS(或IIL):指被测输入端接地,其余输入端和输出端悬空 时,由被测输入端流出的电流。也称低电平输入电流。在由多级门构成 的电路中,IIS相当干前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流。 因此, IIS 越小,前级门带负载的个数就越多。测试电路如图(三) (a)所示。
表(一)ui(V) 0 2 2.5 uo(V) 5.03 3.2 5.03 0.001 0.2 3 5.03 0 0.4 3.5 5.03 0 0.6 4 5.03 0.8 … 5.03 1 1 . 5
5.03
5.03
2
3、平均传输延迟时间tpd tpd 是衡量门电路开关速度的参数,它是指输出波形边沿的 0.5Vm 至输入波形对应边沿 0.5Vm点的时间间隔,如图(五)(a)所示。 图(五)(a)中的tpdL为导通延迟时间,tpdH为截止延迟时间,平均传输延迟时间为:
tpd
1 ( tpdL tpdH ) 2
tpd的测试电路如图(五)(b)所示,由于TTL门电路的延迟时间较小,直接测量时对信号 发生器和示波器的性能要求较高,故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振 荡周期T来求得。 其工作原理是:假设电路在接通电源后某一瞬间,电路中的A点为逻辑 “1”,经过七级门的延迟后,使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”;再经过七级门的 延迟后,A点电平又重新回到逻辑“1”。电路中其它各点电平也跟随变化。说明使A点发
四、实验内容
TTL与非门电路是目前较为普遍的一种集成门电路。本实验采用四 2输入与非门 74LS00,即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门 ,每个与非门有2个输入 端。其电路图、逻辑符号及引脚排列如图(一)(a)、(b)所示,其中VCC和GND 是四个与非门共同的供电电源输入端,要使得与非门正常工作,前提条件是在 VCC和GND端加入合适的电源供应,GND接地,VCC的范围是5V±5%,对于使用集 成电路者来说,所关心的是集成门电路从导通到截止所需要的转换条件和其所 表现出来的转换特性,诸如开门电平、输出高电平、输出低电平等这样一些静 态参数,以及诸如平均传输延迟时间一类动态参数的测量,与非门电路的转换 特性(电压传输特性)曲线,它表示输入由低电平变到高电平时输出电平的相 应变化,所有这些都是选择和设计电路所必须了解的。
图(一)
VCC 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y 14 13 12 11 10 9 8 & & & &
1 2 3 4 5 6 7 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND (b) 74LS00
五.实验内容
1、低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH及静态平均功耗:
与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。 ICCL:指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。也称 空载导通电流。测试电路如图(二)(a)所示。 ICCH:指输出端空载,每个门各有一个以上的输入端接地其余输入端悬 空,电源提供器件的电流。也称空载截止电流。电路如图(二)(b)所示。 :为电路空载导通功耗POn和空载截止功耗POff的平均值。其值为: (通常POn>POff)
+ VU (b)
图(四)
2、测试TTL与非门的电压传输特性:
图(四)(b)断开RL即为测量电路。调W,使输入电压由小到大,用万 用表对应地测出输入电压和输出电压,并一一记录在表(一)中。表 (一 )只作格式参考,输入电压的取值由同学自己决定,测量时,对 VOff和VON的附近,输入电压的变化可取小一些。即测量点取密一些。