XRF分析技术原理
xrf原理
xrf原理
X射线荧光分析（X-ray Fluorescence Analysis，XRF）是一种常用的无损分析技术，可用于确定材料中元素的存在和浓度。
XRF原理基于激发样品产生的特征X射线和样品对X射线的荧光辐射进行测量。
XRF实验通常使用X射线管产生高能量的X射线束，这些X 射线穿过样品时与样品中的原子发生相互作用。
X射线与样品中的原子发生散射，其中部分能量被转化为样品中的电子能级的激发能量。
当这些激发态的电子回到基态时，将释放出特征的X射线。
这些特征的X射线可以被探测器捕获和测量。
探测器通常使用固态半导体，如硅探测器。
探测器将特征X射线转化为电荷信号，然后通过电子学系统进行放大和测量。
通过测量特定的X射线能谱，可以确定样品中存在的元素。
每个元素都有独特的特征X射线能量，因此可以通过比较特征X射线能谱来识别和定量样品中的元素。
XRF技术具有许多优点，包括非破坏性、快速、多元素分析能力和广泛的应用范围。
它广泛应用于矿物学、地质学、材料科学、环境科学等领域，用于分析和检测样品中的元素组成和浓度。
帕纳科xrf原理-概述说明以及解释
帕纳科xrf原理-概述说明以及解释1.引言1.1 概述帕纳科XRF原理（即帕纳科X射线荧光光谱仪原理）是一种非常重要的分析技术，它利用X射线荧光光谱仪进行物质的分析与检测。
X射线荧光光谱仪（XRF）是一种基于X射线的分析技术，能够快速、无损地分析样品的元素成分及其含量。
帕纳科XRF原理通过将样品暴露在高能量的X射线辐射下，激发样品中的原子发生内层电子跃迁，从而产生特定能量的特征X射线。
这些特征X射线与样品中元素的种类和含量密切相关。
X射线荧光分析原理基于这个原理，通过测量样品中发射出的特征X射线的能量和强度来确定样品的元素成分。
帕纳科XRF原理在许多领域都有广泛的应用。
在材料分析方面，它可以用于合金分析、陶瓷成分分析、矿石成分分析等。
在环境监测方面，它可以用于土壤中重金属含量的检测、水中有害物质的检测等。
在文物保护方面，它可以用于非破坏性地分析文物的元素成分，以了解其制作材料和年代等信息。
帕纳科XRF原理具有许多优点。
首先，它非常快速和高效，能够在几分钟内完成样品的分析。
其次，它是一种无损检测技术，不需要破坏样品，适用于各种形态的样品。
此外，它还具有高准确性和重复性，并且可以同时分析多个元素。
然而，帕纳科XRF原理也存在一些局限性。
首先，它对于低能量X射线不敏感，因此无法检测低原子序数元素。
其次，样品的尺寸和形态对分析结果可能产生影响。
最后，它对于元素的定量分析相对有限，通常只能得到元素的相对含量。
随着科学技术的不断发展，帕纳科XRF原理也在不断进步和完善。
未来，我们可以期待更加精确和灵敏的X射线荧光光谱仪的研发，以及更加全面和准确的元素分析方法的开发。
综上所述，帕纳科XRF原理是一种重要的分析技术，具有广泛的应用领域和许多优点。
随着技术的不断进步，帕纳科XRF原理将在各个领域发挥更大的作用。
文章结构部分的内容如下所示：1.2 文章结构本篇长文主要围绕帕纳科XRF原理展开，文章的主要部分分为引言、正文和结论三个部分。
xrf实验目的 原理 要求
xrf实验目的原理要求
XRF（X射线荧光光谱分析）是一种常用的无损分析技术，用于
确定材料的化学成分。
XRF实验的目的是通过测量材料中元素的特
征X射线荧光来确定样品的化学成分。
这种分析技术可以应用于多
种领域，包括地质学、环境科学、材料科学等。
XRF的原理是当样品受到X射线照射时，会激发样品中的原子
产生特征X射线荧光。
每种元素都有独特的X射线荧光特征，因此
可以通过测量这些特征X射线的强度来确定样品中元素的含量。
XRF
技术可以分为荧光X射线光谱和能谱X射线光谱两种，分别用于不
同类型的样品分析。
在进行XRF实验时，有一些要求需要注意。
首先，样品的制备
需要保证样品的均匀性和代表性，以确保分析结果的准确性。
其次，仪器的校准和标定也是非常重要的，需要定期进行以确保分析结果
的准确性和可靠性。
此外，还需要考虑样品的尺寸和形状对实验结
果的影响，以及实验环境中的干扰因素等。
总的来说，XRF实验的目的是确定样品的化学成分，其原理是
通过测量样品中元素产生的特征X射线荧光来实现的。
在进行实验
时，需要注意样品制备的均匀性和代表性，仪器的校准和标定，以及样品尺寸、形状和实验环境等因素。
这些要求都是为了确保XRF 分析结果的准确性和可靠性。
XRF原理
第一讲X射线荧光及其分析原理1、X 射线X 射线是一种电磁波，根据波粒二相性原理，X 射线也是一种粒子，其每个粒子根据下列公式可以找到其能量和波长的一一对应关系. E ＝hv=h c/式中h 为普朗克常数，v 为频率，c 为光速，为波长.可见其能量在0。
1 100（kev ）之间。
X 紫 可 红 微 短 长射 射 外 见线 线 线 光 外 波 波 波 波长X 射线的产生有几种1、高速电子轰击物质，产生韧致辐射和标识辐射。
其产生的韧致辐射的X 射线的能量取决于电子的能量，是一个连续的分布.而标识辐射是一种能量只与其靶材有关的X 射线。
E kev A o().()=123964λ常见的X射线光管就是采用的这种原理.其X射线能量分布如下：强度能量2、同位素X射线源。
同位素在衰变过程中,其原子核释放的能量,被原子的内层电子吸收,吸收后跳出内层轨道，形成内层轨道空位.但由于内层轨道的能级很低,外层电子前来补充，由于外层电子的能量较高，跳到内层后，会释放出光能来，这种能就是X射线.这就是我们常见的同位素X射线源。
由于电子的能级是量化的，故释放的射线的能量也是量化的,而不是连续的.强度能量3、同步辐射源。
电子在同步加速器中运动，作园周运动，有一个恒定的加速度,电子在加速运动时，会释放出X射线，所以用这种方法得到的X射线叫同步辐射X射线。
2、X射线荧光实际上，有很多办法能产生X射线，例如用质子、射线、射线等打在物质上,都可以产生X射线,而人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。
所以X射线荧光仍是X射线。
3、特征X射线有人会问，为什么可以用X射线来分析物质的成分呢？这些都归功于特征X射线。
早在用电子轰击阳极靶而产生X射线时,人们就发现，有几个强度很高的X射线，其能量并没有随加速电子用的高压变化，而且不同元素的靶材，其特殊的X射线的能量也不一样，人们把它称为特征X射线，它是每种元素所特有的。
X射线荧光光谱(XRF)分析
消除基体效应
基体效应会影响XRF的测 量结果，因此需要采取措 施消除基体效应，如稀释 样品或添加标准物质。
固体样品的制备
研磨
将固体样品研磨成细粉，以便进行XRF分析。
分选
将研磨后的样品进行分选，去除其中的杂质和粗 颗粒。
压片
将分选后的样品压制成型，以便进行XRF测量。
液体样品的制备
1 2
稀释
将液体样品进行稀释，以便进行XRF分析。
定性分析的方法
标样法
01
通过与已知标准样品的荧光光谱进行比较，确定样品中元素的
种类。
参考法
02
利用已知元素的标准光谱，通过匹配样品中释放的X射线荧光光
谱来识别元素。
特征谱线法
03
通过测量样品中特定元素的特征谱线，与标准谱线进行对比，
确定元素的存在。
定性分析的步骤
X射线照射
使用X射线源照射样品，激发 原子中的电子跃迁并释放出X 射线荧光光谱。
XRF和ICP-AES都是常用的元素分析方法，ICP-AES具有更高的灵敏度和更低 的检测限，适用于痕量元素分析，而XRF具有更广泛的应用范围和更简便的操 作。
XRF与EDS的比较
XRF和EDS都是用于表面元素分析的方法，EDS具有更高的空间分辨率，适用于 微区分析，而XRF具有更广泛的元素覆盖范围和更简便的操作。
XRF分析的局限性
01
元素检测限较高
对于某些低浓度元素，XRF的检 测限相对较高，可能无法满足某 些应用领域的精度要求。
02
定量分析准确性有 限
由于XRF分析基于相对强度测量， 因此对于不同样品基质中相同元 素的定量分析可能存在偏差。
03
对非金属元素分析 能力有限
xrf和火花直读光谱发的
xrf和火花直读光谱发
XRF和火花直读光谱仪都是用于分析材料元素含量的仪器。
它们都使用光谱学原理，通过测量材料发射的光来确定其元素含量。
1.XRF是指X射线荧光，是一种非破坏性分析方法。
它使用X射线照射样品，
激发样品中的原子，使其发射出特征X射线。
这些X射线的波长与激发原子的类型有关，因此可以根据X射线的波长来确定样品中的元素含量。
2.火花直读光谱仪也是一种非破坏性分析方法。
它使用电弧或火花将样品中的
原子激发，使其发射出特征光谱线。
这些光谱线的波长与激发原子的类型有关，因此可以根据光谱线的波长来确定样品中的元素含量。
XRF和火花直读光谱仪的区别主要有以下几点：
●分析原理：XRF使用X射线激发原子，而火花直读光谱仪使用电弧或火花激
发原子。
●分析范围：XRF的分析范围较广，可以分析多种元素，包括轻元素和重元素。
火花直读光谱仪的分析范围较窄，主要用于分析重元素。
●精度：XRF的精度较高，可以达到微量级。
火花直读光谱仪的精度较低，通
常为百分比级。
●速度：XRF的分析速度较快，可以快速完成分析。
火花直读光谱仪的分析速
度较慢，通常需要几分钟或几小时才能完成分析。
XRF和火花直读光谱仪的应用范围非常广泛，包括：
1.材料分析：用于分析金属、合金、陶瓷、塑料等材料的元素含量。
2.环境监测：用于分析环境样品中的有害元素含量。
3.医学诊断：用于分析人体组织中的元素含量。
4.文物保护：用于分析文物中的元素含量。
xrf结果元素含量和氧化物含量换算
XRF技术，即X射线荧光光谱分析技术，是一种非破坏性的化学分析方法，可以用于快速测定各种材料的元素含量和氧化物含量。
在实际应用中，有时候需要将XRF测得的元素含量转换为氧化物含量，或者反过来。
本文将从基本原理、计算方法和实际操作等方面介绍如何进行XRF结果元素含量和氧化物含量的换算。
一、 XRF分析原理XRF技术是利用物质受激射线激发后的特征X射线谱线来测定样品中各种元素的分析方法。
当样品受到X射线激发后，样品中的原子会吸收能量并发射出特征X射线。
这些特征X射线的能量和强度与元素的种类和含量成正比，通过测量特征X射线的能谱，就可以确定样品中各种元素的含量。
二、元素含量和氧化物含量的关系在XRF分析中，通常测得的是各种氧化物形式的元素含量，如SiO2、Al2O3、Fe2O3等。
但在实际工作中，有时候需要将这些氧化物含量转换为元素含量，或者将元素含量转换为氧化物含量。
这是因为不同矿石或材料中的元素往往以不同的化学形式存在，而XRF测得的是总量，需要进行换算才能得到准确的结果。
三、元素含量和氧化物含量的换算方法1. 元素含量转换为氧化物含量假设测得样品中Si的含量为30，要将其转换为SiO2含量，可以使用下面的计算公式：SiO2 = (Si原子量 * Si含量) / (Si原子量 * Si含量 + O原子量 * O含量) * 100其中Si原子量为28，O原子量为16，O含量可根据化学成分得出。
2. 氧化物含量转换为元素含量假设测得样品中SiO2的含量为50，要将其转换为Si含量，可以使用下面的计算公式：Si = (SiO2含量 * Si原子量) / (Si原子量 * SiO2含量 + O原子量 * O 含量) * 100其中Si原子量为28，O原子量为16，O含量可根据化学成分得出。
四、实际操作1. 确定化学成分在进行XRF分析时，首先需要确定样品的化学成分，包括各种氧化物的含量。
这可以通过化学方法或其他分析方法得到。
XRF重要基础知识点
XRF重要基础知识点X射线荧光光谱分析（XRF）是一种常用的非破坏性分析技术，可用于确定样品中元素的种类和含量。
以下是XRF分析中的一些重要基础知识点：1. XRF原理：XRF基于样品受到高能X射线辐射后产生的特征X射线谱的原理。
当样品被激发后，内层电子被击出，形成空位，而这些空位会被外层电子填补，释放出特定波长的X射线能谱。
2. X射线能谱：X射线能谱是由样品中元素特定的电子能级跃迁所产生的一系列特征峰组成。
通过分析这些特征峰的能量和强度，可以确定样品中存在的元素及其相对含量。
3. 样品制备：在进行XRF分析之前，样品的制备非常重要。
通常需要将样品研磨成粉末，并注意避免样品受到空气中的污染。
对于不易粉化的样品，可以考虑进行溶解或压片等制备方法。
4. 标样与校准：为了准确测定样品中元素的含量，常常需要使用标准样品进行校准。
标准样品应具有已知元素含量，并与待测样品具有相似的基体特性。
通过进行一系列的校准曲线建立，可以实现对待测样品进行准确的定量分析。
5. 光谱仪器：XRF分析需要使用X射线光谱仪，常见的有能量色散型（EDXRF）和波长色散型（WDXRF）两种。
EDXRF便于操作且适用于快速分析，而WDXRF具有更高的分辨率和更广的元素分析范围。
6. 数据解析与结果处理：XRF分析的结果包括元素的定性与定量信息。
对于定性分析，可通过比对特征峰的能量与标准参考值来确定样品中存在的元素。
对于定量分析，采用校准曲线或基于理论原理的各类定量算法来获得元素的含量。
XRF作为一种灵敏、快速、准确的分析方法，广泛应用于材料科学、环境监测、地质学、考古学等领域。
掌握这些基础知识点能够帮助研究人员在XRF分析中获得准确可靠的结果。
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第一讲X 射线荧光及其分析原理1、X 射线X 射线是一种电磁波，根据波粒二相性原理，X 射线也是一种粒子，其每个粒子根据下列公式可以找到其能量和波长的一一对应关系。
E ＝hv=h c/λ式中h 为普朗克常数，v 为频率，c 为光速，λ为波长。
可见其能量在0.1 ~100（kev ）之间。
γ X 紫 可 红 微 短 长 射 射 外 见线 线 线 光 外 波 波 波 波长X 射线的产生有几种1、高速电子轰击物质，产生韧致辐射和标识辐射。
其产生的韧致辐射的X 射线的能量取决于电子的能量，是一个连续的分布。
而标识辐射是一种能量只与其靶材有关的X 射线。
E kev A o().()=123964λ常见的X射线光管就是采用的这种原理。
其X射线能量分布如下：强度能量2、同位素X射线源。
同位素在衰变过程中，其原子核释放的能量，被原子的内层电子吸收，吸收后跳出内层轨道，形成内层轨道空位。
但由于内层轨道的能级很低,外层电子前来补充，由于外层电子的能量较高，跳到内层后，会释放出光能来，这种能就是X射线。
这就是我们常见的同位素X射线源。
由于电子的能级是量化的，故释放的射线的能量也是量化的,而不是连续的。
强度能量3、同步辐射源。
电子在同步加速器中运动，作园周运动，有一个恒定的加速度，电子在加速运动时，会释放出X射线，所以用这种方法得到的X射线叫同步辐射X射线。
2、X射线荧光实际上，有很多办法能产生X射线，例如用质子、α射线、λ射线等打在物质上，都可以产生X射线，而人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。
所以X射线荧光仍是X射线。
3、特征X射线有人会问，为什么可以用X射线来分析物质的成分呢？这些都归功于特征X射线。
早在用电子轰击阳极靶而产生X射线时，人们就发现，有几个强度很高的X射线，其能量并没有随加速电子用的高压变化，而且不同元素的靶材，其特殊的X射线的能量也不一样，人们把它称为特征X射线，它是每种元素所特有的。
莫塞莱（Moseley）发现了X射线能量与原子序数的关系。
E∝（z-σ）E是特征X射线能量，Z是原子序数，σ是修正因子。
这就是著名的莫塞莱定律，它开辟了X射线分析在元素分析中的应用。
为什么会有特征X射线的出现呢？这可以从玻尔的原子结构理论找到答案。
原子中的电子都在一个个电子轨道上运行，而每个轨道的能量都是一定的，叫能级。
内层轨道能级较低，外层轨道能级较高，当内层的电子受到激发（激发源可以是电子、质子、α粒子、λ射线、X射线等），有足够的能量跳出内层轨道，那么，较外层的电子跃迁到内层的轨道进行补充，由于是从高能级上跳往低能级上，所以会释放出能量，其能量以光的形式放出，这就是特征X射线。
M层Lα较高能级K层低能级特征X射线依跃迁的不同而分别称为Kα、Kβ、Lα、Lβ……4、X射线对物质的作用物质特征X射线散射X结果光电子其它作用光电子效应是我们探测X射线的基础。
散射则会导致本底的出现，而特征X射线则是我们作为元素分析的基础。
5、X射线荧光分析X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域的新的分析技术。
每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关，用下式表示I i =f（C1,C2…C i…)i=1,2…Ii是样品中第i个元素的特征X射线的强度,C1,C2,……是样品中各个元素的含量.。
反过来，根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。
这就是X射线荧光分析的基本原理。
有人会问，又为什么要用X 荧光分析呢？为什么不用原级的X射线呢，因为X光管的阳极物质也会发出特征X射线呀？不错，早年曾使用过这种方法。
但这种方法的弊病也是显而易见的。
因为X光管中是要抽真空的，放样品不方便。
其次，由于有很强的连续谱作为背景，所以测量的灵敏度很有限。
如果采用荧光方法，由于特征X射线的发射是各向同性的，而散射则是有方向性的，所以可以选择探测角度，尽量避开散射本底，从而大大提高了测量灵敏度，其次，放样品也变得很简单了。
所以，目前都采用了X荧光方法。
6、X射线荧光分析法与其它分析方法的比较对样品进行成份分析有很多方法，例如，中子活化、原子发射光谱、原子吸收光谱、质谱、极谱以及传统的化学分析方法。
那么，X射线荧光分析法有哪些特点呢？优点：（a）分析速度高。
测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
（b）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。
（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。
波长变化用于化学位的测定。
（c）非破坏分析。
在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。
同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
（d）X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
可分析的元素范围从Na到U。
WTH2000型的元素分析范围是Na到U，含量范围为10PPm～100％。
因此该法已用于铜合金、镍合金中高含量Cu、Ni的分析.（e）分析精密度高。
WTH－2000型的分析精度达0.1％，检出限可达10ppm。
（f）制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
缺点：（a）难以做绝对分析，因此定量分析需要标样。
（b）对轻元素的灵敏度要低一些。
习题1、具体叙述莫塞莱定理的重大意义。
2、什么叫X射线荧光？它有什么性质？3、X射线荧光分析有些什么特点？第二讲X射线荧光分析仪的原理及其构造1、X荧光分析仪的分类如前章所述，不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。
同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。
从前章公式：E＝h·c/λ，表示了射线能量E与波长λ的关系。
其中h为普朗克常数、c为光速，因此E和λ可以反映同一特征X射线，因此，有两大类X荧光分析方法，即波长色散法和能量色散法。
以下就按这两类方法构成的仪器，分别讲述他们的原理及构造。
2、波长色散型这类仪器的基本方法是使用一分光晶体，先将不同波长的X射线按不同的衍射角色散，然后用探测器测量X射线的强度，这样从测角器的指示便能知道被测X射线的波长，从X射线的强度测量便能知道发射此种X射线的元素的含量。
其基本结构为：激发源、分光系统、探测器和记录分析器，如下图所示。
1、激发源2、样品3、分光系统4、探测器5、记录分析器操作台2、1.波长色散的分光方法分光系统的结构及性能的优劣是这类仪器的关键。
典型的分光方法是平行射束法和聚焦法。
因为都是利用晶体来分光，所以称为晶体分光法，这两种方法分别图示于下页。
平行射束分光系统由索拉狭缝和平面晶体组成，索拉狭缝的作用就是使从试样产生的X射线经入射狭缝变成平行光束。
然后在平面晶体上按不同波长进行分光，最后由探测器测定。
A1次X射线 CB DA 激发源B 样品C 狭缝D 单晶(弯晶)E 计数器E(b) 聚焦法反射式聚焦分光系统是使用弯晶和狭缝系统，分A、约翰型B、约翰逊型及C、对数螺线型三种。
对波长色散系统性能进行描述的重要指标是分辨率，它的定义为对Mn的k 线的可分辨角度（半高宽）与它的色散角之比。
3、能量色散法能量色散法就是直接利用探测器的能量分辨本领和正比工作特性区分不同能量的X射线。
其仪器的基本构成是：激发源、样品、探测器和多道谱及运算处理器。
如图所示。
与波长色散法一样，能量系统中最重要的是探测器，它的性能的好坏是至关重要的，作为这类探测，它的基本原理就是利用了X射线与物质作用会有光电子效应这一点。
对探测器的基本要求有以下几点：1〕良好的能量分辨率和能量线性。
A A 样品操作台B B 激发源2〕探测能量范围宽。
3〕死时间短，有优良的高计数率特性。
4〕良好的能谱特性。
5〕使用方便、可靠、坚固随着科技发展，新探测器不断出现，常用的有以下几种：正比计数器：其外形有园筒型和鼓形，结构上又分密封式和流气式。
进气正高压荷敏放大器出气结构是一金属外壳内有一根中心丝极，管内充气体，中心丝极与外壳之间被加上高电压后，约500～1500V，则当有X射线进入侧面的窗口后，会产生气体电离，这样，每接收一个X光子后，就输出一个幅度与X光子能量成正比的电脉冲，它有很好的能量线性，但能量分辨率较差，约为15％～18％，即900ev，能量色散系统的能量分辨率定义为：对Mn kα峰，它的半高宽与Mn kα峰能量之比。
闪烁计数：常用的闪烁计数器主要由一块薄的铊激活碘化钠晶体NaI（Tl）和一只跟它紧挨的光电倍增管组成，当NaI晶体接收一个X光子后，相应X光子的能量便产生一定数量的可见光子。
然后，在光电倍增管的光阴极上轰击出一些光电子，经过加速与倍增，最后，在阳极上形成很大的电脉冲，通过对这个讯号的测量可以判断入射X光子的能量，一般能量分辨率很差，对Fek 分辨率为60％，通常达不到能散的目的。
锂漂移型半导体探测器，其组成是将高浓度的金属锂扩散到P型半导体材料硅或锗，形成P－N结，在加上反向偏压后，在X光子打击下，就会产生与X光子能量对应的电脉冲，这类探测器能量分辨率很高，但需加低温，常常工作在液氮罐中，很不方便。
最新的硅PIN探测器，用半导体制冷，在常温下保存，分辨率已达到165EV。
西清华仪器研究所生产的WTH2000型X 荧光分析仪，就是采用的这种国际上最先进的探测器。
体积很小，使用非常方便。
其它探测器还有G－M计数管，高纯锗半导体探测器和化合物半探测器等。
WTH－2000型使用的是美国AMPTEK公司生产的硅PIN探测器，在探测器后面的多道谱仪，对探测器出来的脉冲信号进行线性放大，对其峰值进行A/D转换，并计数，从而把一个个特征X光子携带的信息转换成了不同道（幅度）的计数，再对这个结果进行分析、运算，最后，得到了分析结果。
4、波长色散与能量色散仪器的比较1〕波散系统结构复杂，能散系统相对简单。
2〕波散对低能X射线分析结果好，而能散方法正相反。
5、其他为了使X荧光分析的结果更令人满意，并且适用于不同的样品，在分析仪的结构上人们作了许多工作，对波长色散仪器就有扫描型，它是对各元素逐一进行角度扫描，同时进行测定，另一种是每个元素都单独配备一个测角仪同时分析多个元素的多元素同时分析式。
另外，样品的放置结构又有旋转式，且样品自身还能自旋。