ATE测试系统
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍ATE自动化测试系统（Automated Test Equipment）是一种用于电子设备测试的自动化测试系统。
它能够通过各种测试仪器和设备对电子产品进行全面的功能测试和性能评估，以确保产品的质量和可靠性。
ATE自动化测试系统的基本组成部分包括测试仪器、测试夹具、计算机和测试软件。
测试仪器用于测量和检测电子产品的各项性能指标，如电压、电流、频率、信号传输速率等。
测试夹具用于将待测产品连接到测试系统，以便进行电气连接和信号传输。
计算机和测试软件负责控制测试仪器和夹具进行测试，并根据测试结果生成报告。
ATE自动化测试系统的主要优势是提高测试效率和准确性。
相比手工测试，ATE能够自动完成复杂的测试过程，并可以进行大规模的批量测试。
它能够在短时间内对大量产品进行测试，减少了测试周期和成本。
同时，ATE自动化测试系统能够减少测试误差，提高测试精度和重复性。
ATE自动化测试系统广泛应用于电子制造业各个环节。
在产品研发阶段，ATE可以帮助工程师对新产品进行功能验证和性能评估，以确保产品的设计满足要求。
在生产制造阶段，ATE可以自动对成品进行批量测试，大大提高了生产效率和产品质量。
在维修和售后服务阶段，ATE可以帮助技术人员快速定位故障，并进行修复和维护。
ATE自动化测试系统的功能和应用范围非常广泛。
它可以用于测试各种类型的电子产品，包括集成电路、电子器件、通讯设备、计算机硬件等。
测试内容可以包括产品的电性能测试、功能测试、可靠性测试、通信性能测试、功耗测试等。
同时，ATE还可以与其他生产设备和信息系统进行集成，实现整个生产过程的自动化控制和管理。
总之，ATE自动化测试系统是一种重要的电子设备测试工具，它通过自动化的测试过程和高效的测试方法，可以帮助企业提高产品质量、提高生产效率和降低成本。
在当前科技发展的背景下，ATE自动化测试系统对于电子制造业的发展至关重要。
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍ATE自动化测试系统是一种集成了自动化测试工具和测试管理工具的软件系统，旨在提高软件开发过程中的测试效率和质量。
ATE系统能够完成自动化测试的整个过程，包括测试用例设计、测试脚本开发、自动化执行、结果分析和报告生成等功能。
1.自动化测试工具集成：ATE系统集成了多种自动化测试工具，包括功能测试、性能测试、接口测试、安全测试等，能够满足不同类型的测试需求。
2.测试用例设计：ATE系统提供了多种用例设计方法，包括手工设计和自动生成，能够快速高效地设计测试用例。
3. 脚本编写：ATE系统支持多种脚本语言，包括Python、Java等，可以根据不同的需求选择合适的脚本语言进行开发。
4.自动化执行：ATE系统能够自动执行测试用例和脚本，节省了人工测试的时间和精力。
5.结果分析：ATE系统能够对测试结果进行分析和比对，快速找出问题所在，并生成详细的测试报告。
6.测试管理：ATE系统提供了测试项目管理、测试计划管理和测试进度管理等功能，能够对测试过程进行全面监控和管理。
7.集成开发环境：ATE系统能够与开发环境进行集成，支持代码版本管理和持续集成，方便开发人员进行协作和测试。
1.软件开发过程中的功能测试：ATE系统可以帮助开发人员自动执行功能测试，验证软件是否按照设计要求工作。
2.性能和负载测试：ATE系统能够模拟大量并发用户，测试系统的性能和负载情况，找出系统的瓶颈和性能问题。
3.接口测试：ATE系统可以测试不同模块或不同系统之间的接口功能和兼容性，确保系统的正常运行。
4.安全测试：ATE系统能够对系统进行安全性测试，包括漏洞扫描、黑盒测试和白盒测试等，提供保障软件安全的功能。
5.移动设备测试：ATE系统能够对手机应用和移动网页进行测试，验证在不同设备、不同网络环境下的兼容性和稳定性。
1.提高测试效率：ATE系统能够自动执行测试用例，大幅度减少人工测试的时间和精力。
ATE测试系统
8. Turn on & Seq. Test :
用以量測在開機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序 關係，過衝電壓值(Overshoot)，及穩定時間等特性。
測9. 試Ho中ld u朮p 語& S簡eq介. T3es/6t :
待測物關機時間須大於100ms，以利輸入電 壓由正半週到負半週零電位之偵測及關機延 遲時間之準確性。
開機時間(Ton)係自起始觸發點起至終了觸發 點止，最長等待觸發時間為16秒，若超過此 值，會顯示“No Start Trigger”或“No End Trigger”的訊息。
軟體設置注意事項 (OVER LOAD PROTECTION TEST)
19. OVP/UVP Test :
用以量測待測物的過電壓或低電壓保護點
20. Total Regulation Test :
用以量測在改變測待物輸入電源及負載大小，至最壞狀況時 之輸出特性
2測1. C試yc中le 朮Dro語po簡ut 介: 6/6
用以量測在中斷待測物輸入電源㆒段時間對輸出電壓的影響
測13試. E中xte朮rna語l W簡av介e T4e/s6t :
用以量測以外加信號變化負載大小時待測物的輸出特性。
14. Static Test :
用以量測在靜態負載條件下待測物的輸出特性。
15. Extra Timing Test :
以外加信號控制待測物的輸出Enable/Disable ，並量測待測 物各組輸出電壓的時序關係，過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間 等特性
軟體設置注意事項 (OVER POWER PROTECTION TEST)
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍ATE自动化测试系统是一种用于进行自动化测试的软件工具。
它能够模拟人工操作，实现对软件系统、硬件设备或网络服务等的自动化测试。
它主要通过自动化脚本或测试用例来执行一系列的测试步骤，以验证被测试系统的正确性、可靠性和稳定性。
1.可重复性：ATE自动化测试系统能够准确地执行相同的测试步骤，确保测试结果的一致性。
它可以在不同的环境中重复运行，检测软件或硬件的稳定性。
2.高效性：ATE自动化测试系统能够在短时间内完成大量的测试任务，提高测试效率。
它可以同时执行多个测试用例，减少了人工测试的工作量，节省了时间和成本。
3.精确性：ATE自动化测试系统能够准确地模拟人工操作，执行测试步骤。
它能够判断测试结果是否符合预期，并生成详细的测试报告。
它可以捕获并记录系统中的错误，帮助开发人员进行问题定位和修复。
4.可扩展性：ATE自动化测试系统具有良好的可扩展性，可以根据需要添加新的测试用例或测试脚本。
它支持多种编程语言和测试框架，可以与其他测试工具或软件集成，提供更全面的测试功能。
1.提高测试效率：ATE自动化测试系统能够快速执行大量的测试用例，减少了人工测试的工作量，提高了测试效率。
2.提高测试覆盖率：ATE自动化测试系统能够覆盖更多的测试场景，执行更多的测试用例，提高了测试覆盖率。
3.提高测试准确性：ATE自动化测试系统能够准确地模拟人工操作，执行测试步骤。
它能够判断测试结果是否符合预期，并生成详细的测试报告，提高了测试准确性。
4.减少测试成本：ATE自动化测试系统减少了人工测试的工作量，节省了时间和成本。
它可以在非工作时间进行测试，提高了资源利用率。
以上是ATE自动化测试系统的介绍，它是一种用于进行自动化测试的软件工具，能够提高测试效率、测试覆盖率和测试准确性，降低测试成本。
ATE基本原理
ATE基本原理ATE全称为Automated Test Equipment，即自动化测试设备。
它是一种用于执行电子元件和集成电路的自动化测试任务的设备。
ATE能够自动进行测试和诊断，从而提高测试效率和准确性，降低人力成本。
ATE在电子生产线上扮演着重要的角色，可以用于测试芯片、电路板、系统组件等，确保它们的质量和可靠性。
ATE的基本原理是通过将待测组件或设备连接到测试系统内的测试夹具中，用特定的方法进行测试和诊断。
一般来说，ATE主要由测试系统和测试夹具组成。
测试系统是ATE的核心部分，由测试仪器（如示波器、信号发生器和电源）和测试控制器（如计算机）组成。
测试仪器用于产生、测量和记录测试信号，测试控制器负责控制测试仪器的操作，并处理和分析测试数据。
测试系统能够执行各种测试任务，如功能测试、时序测试、电压测试、功耗测试等。
测试夹具是ATE中的辅助设备，用于将待测组件或设备连接到测试系统。
它通常包括接口卡和连接线，可以根据测试对象的不同进行调整和更换。
测试夹具具有良好的接触性能和稳定性，能够确保测试信号的准确传递和返回测试结果。
ATE的工作流程一般包括以下几个步骤：首先是初始化和校准，测试系统需要对测试仪器进行初始化和校准，以确保其正常工作和准确度。
接下来是测试计划的编写和加载，测试计划是测试任务的描述和指导，包括测试项目、参数设置和测试顺序等。
然后是测试执行，测试系统按照测试计划依次执行测试任务，并记录测试数据。
最后是测试结果的分析和报告，测试系统将测试数据进行分析和统计，并生成详细的测试报告，以供用户参考和分析。
ATE具有以下几个优点：首先，它能够实现自动化测试，减少了人工操作和干预，降低了测试成本和人力成本。
其次，ATE具有高度可扩展性和灵活性，可以适应不同测试需求和测试对象的变化。
再次，ATE具有高精度和高效率的特点，能够快速且准确地进行测试和诊断。
最后，ATE能够提供全面和可靠的测试结果，为生产线上的质量控制和故障排查提供重要参考。
ATE系统工作方法及原理
AT2500电话分析仪设置程序
分析仪设置程序：
1．开机前请先检察电源是220V或120V后再通电。
2．首先调节馈电电压48V（摘机按METER 键，看仪器面板上 METER 功能项L.ma亮红灯。
）
3. 详细步骤参考下表:
AT2500设置程序:
测试机开机,为TONE拨号时,开始设置按”PROG”键进入设置菜单以下WDCT为例；
*
(1)仪器背面“Sound VR”可调拨号及PASS声音大小；
(2) 要测试电话线极性反转时，需打铃时按“POL.R”灯亮；
(3) 电话开机。
仪器“HOOK”灯亮；
(4) 打铃时，“BELL”灯亮；
(5)“ALINE”模似电话线1KM~7KM, “ALINE”灯指示。
(6) 按“PROG”键，“PRG”灯指示亮；
(7)“Loop Current”调试；将B/S开机，按“METER”键，选择“L1mA”灯亮,调整仪器背面，“Current VR”旋转:
(8)“SEQ。
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍随着生活水平的提高，人们对电子消费产品的品质，功能，要求也越来越高。
现在各大OEM，ODM厂家为了提高产品品质，优化生产线，降低人力成本，提高企业竟争力，纷纷购进ATE自动化测试系统。
ATE自动测试系统为各个领域的自动测试提供了一个统一通用的系统解决方案，该自动测试系统具有开放通用的特点。
本文首先介绍了ATE自动化测试系统发展线路，其次阐述了ATE自动化测试系统的作用及原理、特点、优势，最后介绍了ATE自动化测试系统的功能、功能平台及使用领域。
ATE自动化测试系统发展线路第一阶段规划：1994～1997.9；规划ATE开放体系结构，实现仪器可互换、提高仪器选择的灵活性第二阶段规划：1997～1999.3；规划ATS开放体系结构，实现TPS可移植与互操作第三阶段规划：1996～2000；增强UUT全寿命的支持，建立信息共享体系结构，实现ATS外部接口标准化，便于测试诊断信息、BIT信息、维护信息的共享和重用，便于产品设计信息在测试阶段的重用。
第四阶段规划：1998～2002.6；与综合诊断支持系统、健康管理系统相结合形成产品长期维护支持体系结构。
ATE自动化测试系统的作用及原理ATE自动化测试系统作用：主要是检测电子产品的功能是否达到设计标准。
ATE自动化测试系统的原理：根据电子产品的测试要求，配置相应的仪器仪表，数据采集卡，通过开发测试软件，整合仪器仪表的功能，实现产品功能指标的测试，并且把测试数据荐储在电脑，上传到数据库，或者服务器，方便随时调用。
ATE自动化测试系统的特点1、开放性ATE自动测试系统支持目前流行的所有仪器控制总线PXI、VXI、Serial、FPIB，用户可根。
ATE测试系统
軟體設置注意事項 (OVER POWER PROTECTION TEST)
本項測試不得做為第一個測試程序。 在UUT OFF TIME之後，要再加載“I/R
測試中朮語簡介6/6
21. Cycle Dropout :
用以量測在中斷待測物輸入電源㆒段時間對輸出電壓的影響
22. Voltage Ramp Up/Down :
用以量測在待測物輸入電源電壓逐步增加或減少時對其輸出電壓的影響
23. Frequency Ramp Up/Down :
用以量測在待測物輸入電源頻率逐步增加或減少時對輸出電壓的影響
待測物關機時間須大於100ms，以利輸 入電壓由正半週到負半週零電位之偵測 及關機延遲時間之準確性。
開機時間(Ton)係自起始觸發點起至終了 觸發點止，最長等待觸發時間為16秒， 若超過此值，會顯示“No Start Trigger” 或“No End Trigger”的訊息。
軟體設置注意事項
以外加信號控制待測物的輸出Enable/Disable ，並量測待測 物各組輸出電壓的時序關係，過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間 等特性
16. Set Up Function :
用以設定自動測試系統各模組的硬體初始狀態或測試條件
測試中朮語簡介5/6
17. Extended Measurement Test :
軟體設置注意事項(EXTRA TIMING TEST)
在測試流程中“REAPPLY LOADING WITH Von CONTROL”的意義,係指若輸出電壓低於Von時 Switcher Analyzer會停止拉載，當輸出電壓回升到 Von時Switcher Analyzer會自動依測試檔案設定的 “RISE”值拉載。
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用以量測在負載改變時對於待測物該組輸出電壓所產生的影響
资料仅供参考
測試中朮語簡介2/6
5. Cross Regulation Test :
用以量測在他組輸出電源之負載改變時，對於某組輸出電壓所 產生的影響
6. Line Regulation Test :
測試按"F11"鍵.
资料仅供参考
ATE測試步驟2/2
5) 正在測試的項目會顯示為黃色﹐測試通 過顯示為綠色, 不良顯示紅色
6) 當測試結果且通過所有測試項目﹐顯示 器上顯示"PASS"
7) 當測試過程中有項目不良時, 顯示器上 會顯示"FAIL“
8) 按下 “F3”鍵,可查看測試結果﹐并記 錄在檢驗報告中
用以於測試種中調整待測物的內部電路以達到正確的電壓輸 出和電流輸出。
资料仅供参考
測試中朮語簡介4/6
13. External Wave Test :
用以量測以外加信號變化負載大小時待測物的輸出特性。
14. Static Test :
用以量測在靜態負載條件下待測物的輸出特性。
15. Extra Timing Test :
用以量測在待測物輸入電源頻率逐步增加或減少時對輸出電壓的影響
24. Noise Carry Through :
用以量測在待測物輸入電源外加雜訊時對其輸出電壓的影響
25. Sync Dynamic :
在和Sync Dynamic Test 相同測試過程中量測輸出電壓因負載變動 產生的spike 值
本項測試係專為有些待測物的某些輸出只有外加遙控 信號才能控制其送出輸出而設計的。
對那些不受遙控信號控制的輸出組，雖然並不需要這 些輸出組的相關讀值，也必須指定起始觸發準位及終 了觸發準位，以使Switcher Analyzer可以完成時序的 量測。
本項測試不可作為第一個程序。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SET UP FUNCTION) 1
當檢測自動恢復功能時，系統將重置Von的控 制線路以移除過載條件。當待測物的輸出電壓 恢復到Von值時，負載會再次加上，所以Von 必須大於Volp。
軟體設置注资料仅供意参考 事項 (OVER POWER PROTECTION TEST)
本項測試不得做為第一個測試程序。 在UUT OFF TIME之後，要再加載“I/R
资料仅供参考
ATE (Auto test equipment)
自動測試設備
资料仅供参考
ATE的組成(架構)1/4
AC SOURCE (ATE最底層﹐提供 測試用之各種形態 交流電壓)
资料仅供参考
ATE的組成(架構)2/4
Power analyzer(功率分析儀)
Model:6632
Model:6630
待測物關機時間須大於100ms，以利輸 入電壓由正半週到負半週零電位之偵測 及關機延遲時間之準確性。
開機時間(Ton)係自起始觸發點起至終了 觸發點止，最長等待觸發時間為16秒， 若超過此值，會顯示“No Start Trigger” 或“No End Trigger”的訊息。
軟體設置资料仅供注参考 意事項
在圖示位 置設置3秒
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test3)
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von，系統將 停止本項測試,並輸出 “Von not reached”訊息。
EMU延遲時間係自本項測試開始起即計算，而 Switcher Analyzer係自待測物電壓達到Von時開始 計算。所以若待測物有Soft Start的功能時,建議要 設定較長的Delay time，以確保EMU可以得到精確 的量測值。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SYNC DYNAMIC TEST)
當系統安裝Extended Measurement Unit時本 項測試不得放在第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von， 系統將停止本項測試，並輸出“Von not reached”訊息。
第一組Switcher Analyzer背板25Pin D-Type接 頭的Pin 1要接到所有其他Switcher Analyzer 背板同一接點的Pin 14，以達到各部Switcher Analyzer的負載同步變化的效果。
測試之“PERIOD-1(mS)”及“PERIOD-2(mS) ” 係用Switcher Analyzer內的振盪器產生的，其誤 差為100 ppm，所以任何兩部Switcher Analyzer 間的偏差有可能到200ppm，因此對多組輸出的 電源供應器若需要負載同步變化時，須使用同步 動態特性測試(Sync Dynamic Test)。
當系統未安裝EMU時所有輸入端的讀值為 “-----”。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(DYNAMIC TEST )
當系統安裝Extended Measurement Unit時本項 測試不得放在第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von，系統 將停止本項測試，並輸出“Von not reached”的 訊息。
當測試程序結束時，系統將會把所有的Relay及TTL狀 態歸零。
若使用AC Source的auto-range 功能時，當其在自動 切換時，由於其暫態反應可能造成待測物損壞或輸出 關閉。在切換檔位時，插入本項功能可以消除此類問 題。
资料仅供参考
測試中朮語簡介6/6
21. Cycle Dropout :
用以量測在中斷待測物輸入電源㆒段時間對輸出電壓的影響
22. Voltage Ramp Up/Down :
用以量測在待測物輸入電源電壓逐步增加或減少時對其輸出電壓的影響
23. Frequency Ramp Up/Down :
用以量測在改變輸入電源電壓時，對於輸出電壓所產生的影響
7. Combine Regulation :
用以量測在負載大小及輸入電源之電壓同時改變時對於待測物 輸出電壓所產生的影響
8. Turn on & Seq. Test :
用以量測在開機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序 關係，過衝電壓值(Overshoot)，及穩定時間等特性。
资料仅供参考
ATE的組成(架構)3/4
Extended Measurement Unit (EMU擴展測試單元)
资料仅供参考
ATE的組成(架構)4/4
Switch Analyzer(開關分析儀)相當于精密負載機
開/關機
资料仅供参考
為減低開機瞬間湧浪電流(Inrush Current) 對ATS產生的衝擊效應，開機的先後順序 建議為交流或直流輸入電源供應器 (AC/DC Source),Power Analyzer, EMU, 各Switcher Analyzer，最後再開啟個人電 腦及其週邊設備。
以外加信號控制待測物的輸出Enable/Disable ，並量測待測 物各組輸出電壓的時序關係，過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間 等特性
16. Set Up Function :
用以設定自動測試系統各模組的硬體初始狀態或測試條件
资料仅供参考
測試中朮語簡介5/6
17. Extended Measurement Test :
资料仅供参考
測試朮語簡介3/6
9. Hold up & Seq. Test :
用以量測在關機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序關係，及穩 定時間等特性。
10. OLP Test :
用以量測在過載保護點瞬間待測物的輸出特性。
11. OPP Test :
用以量測在過功率保護點瞬間待測物的輸出特性
12. Hold on Adjust :
關機則反之.
资料仅供参考
待測物連接方式
先將待測物輸出端連接到測試治具﹐再連 接測試電源線.
资料仅供参考
ATE測試步驟1/2
1) 選擇檢驗機種對應的預設測試程式. 2) 先按下GO/NOGO TEST鍵, 進入測試
操作介面. 3) 把待測物輸出端連接到測試治具﹐再連
接測試電源線. 4) 按下“F10”鍵,幵始測試;如機台為再次
(OVER LOAD PROTECTION TEST)
本項測試一次只能量測一組輸出的過載保護跳 脫點(OLP Trip Point)及跳脫時間(Trip Time Tolp)。
由於過載保護測試加載量係一個差量向上遞增 的所以量測到的跳脫點會比實際值略高，若要 提昇其解析度，可以降低每次增加的值。
用以量測自選的特定點的直流電壓，或交流電壓(Vrms)
18. Short Circuit Test :
用以量測待測物的一組輸出短路到地的整體輸出入反應特性
19. OVP/UVP Test :
用以量測待測物的過電壓或低電壓保護點
20. Total Regulation Test :
用以量測在改變測待物輸入電源及負載大小，至最壞狀況時 之輸出特性
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test1)
Input/ Output測 試必須使 用Power Analyzer (PA)﹐圖 示選擇為 2
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test2)
Power Saving測 試時間必 須在2秒以 上﹐建議 設置為3秒
资料仅供参考
軟體設置注意事項(LOAD REGULATION TEST )
當系統安裝E M U時本項測試不得放在 第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到 Von，系統將停止本項測試，並輸出 “Von not reached” 的訊息。
在本項測試時只針對待測物某一特定的 輸出給予三種不同的負載量，其他各組 輸出的負載保持固定