应变测量方法
电阻应变测量原理及方法

电阻应变测量原理及方法一、引言二、原理电阻应变测量的基本原理是通过电阻的电阻值随应变变化的特性来测量物体的应变。
当物体受到应变作用时,其几何尺寸发生变化,从而导致电阻值发生变化。
电阻应变测量利用电阻的电阻-温度特性来实现对应变的测量。
具体原理如下:1.电阻温度特性电阻的电阻值与温度呈线性关系,即随温度的升高,电阻值增大;随温度的降低,电阻值减小。
这是因为当温度升高时,导体的电阻率会随之增加,从而导致电阻值的增加。
2.应变-温度关系物体的应变与其温度变化是呈线性关系的,即随应变的增大,温度也相应增大,反之亦然。
这是因为物体在受到应变作用后,其内部会产生应变能,从而导致温度的升高。
基于以上两个关系,可以得出如下结论:当物体受到应变作用时,其温度变化会引起电阻值的变化。
通过测量电阻值的变化,可以估算物体受到的应变。
三、方法1.谐振法谐振法是一种常用的电阻应变测量方法,它基于电阻的电阻值与温度的线性关系。
具体步骤如下:(1)将测量物体固定在一个适当的位置上,使其受到应变作用。
(2)在物体上安装一个电阻应变片,电阻应变片的电阻值随着物体受到应变作用发生变化。
(3)将电阻应变片连接到一个恒频振荡器上,使其获得一个特定频率的激励信号。
(4)通过调节激励信号的频率,使得振荡器与电阻应变片共振。
(5)测量电阻应变片上的共振频率,并根据电阻的温度特性,计算出物体受到的应变。
2.电桥法电桥法是另一种常用的电阻应变测量方法,它基于电阻应变片的电阻值与温度的线性关系。
具体步骤如下:(1)将测量物体固定在一个适当的位置上,使其受到应变作用。
(2)在物体上安装一个电阻应变片,电阻应变片的电阻值随着物体受到应变作用发生变化。
(3)将电阻应变片与一个标准电阻相连接,组成一个电桥电路。
(4)通过调节电桥电路中的电阻,使电桥达到平衡状态。
(5)测量电桥电路中电阻值的变化,并根据电阻的温度特性,计算出物体受到的应变。
3.数字化方法随着科技的进步,电阻应变测量逐渐向数字化和自动化方向发展。
高应变检测方法

高应变检测方法1. 光纤布拉格光栅传感器:利用光纤布拉格光栅传感器可以测量结构中的应变变化。
该传感器的原理是通过测量布拉格光栅中反射光束的波长变化来确定应变情况。
2. 电阻应变片:电阻应变片是一种通过测量电阻值变化来确定材料应变的传感器。
通过将电阻应变片粘贴在结构物上,当结构物发生应变时,电阻应变片的电阻值也会随之改变。
3. 压力传感器:虽然压力传感器主要用于测量压力,但它们也可以用于测量应变。
通过将压力传感器放置在结构物表面,并测量传感器受到的力的变化,可以确定应变情况。
4. 声波传感器:声波传感器可以用于测量结构物的应变变化。
通过发送声波信号并测量信号的反射时间来确定结构物的应变情况。
5. 共振频率方法:共振频率方法是一种通过测量结构物的共振频率变化来确定应变情况的方法。
通过对结构物施加激励,并测量结构物在共振频率上的响应,可以推断出应变情况。
6. 电容式传感器:电容式传感器可以用于测量结构物的应变变化。
通过将电容式传感器放置在结构物上,并测量电容值的变化,可以确定结构物的应变情况。
7. 磁性弹性体传感器:磁性弹性体传感器通过利用磁性材料的特性来测量结构物的应变变化。
当结构物发生应变时,磁性弹性体传感器的磁性特性也会随之改变。
8. 位移传感器:位移传感器可以用于测量结构物表面的位移变化,在某些情况下,位移变化可以与应变相关联。
9. 超声波检测方法:超声波检测方法可以用于测量结构物的应变变化。
通过发送超声波信号并测量信号的回波时间来确定结构物的应变情况。
10. 振动传感器:振动传感器可以用于测量结构物的振动变化,而结构物的振动变化可以与其应变相关联。
通过测量振动传感器的输出信号,可以确定结构物的应变情况。
应变测试方法

应变测试方法电阻应变测试1.电阻应变测量技术是用电阻应变片测量构件的表面应变,再根据应力—应变关系确定构件表面应力状态的一种实验应力分析方法。
用电阻应变片测量应变的过程:2.分类:(1)静态测量:对永远恒定的载荷或短时间稳定的载荷的测量。
(2)动态测量:对载荷在2~1200HZ范围内变化的测量。
3.电阻应变测量方法的优点(1)测量灵敏度和精度高。
其最小应变读数为1με(微应变,1με=10-6 ε)在常温测量时精度可达1~2%。
(2)测量范围广。
可测1με~20000με。
(3)频率响应好。
可以测量从静态到数十万赫的动态应变。
(4)应变片尺寸小,重量轻。
最小的应变片栅长可短到0.178毫米,安装方便,不会影响构件的应力状态。
(5)测量过程中输出电信号,可制成各种传感器。
(6)可在各种复杂环境下测量。
如高、低温、高速旋转、强磁场等环境测量。
4.电阻应变测量方法的缺点(1)只能测量构件的表面应变,而不能测构件的内部应变。
(2)一个应变片只能测构件表面一个点沿某个方向的应变,而不能进行全域性测量。
电阻应变片1.电阻应变片的工作原理由物理学可知:金属导线的电阻率为当金属导线沿其轴线方向受力变形时(伸长或缩短),电阻值会随之发生变化(增大或减小),这种现象就称为电阻应变效应。
将上式取对数并微分,得:2.电阻应变片的构造电阻应变片由敏感栅、引线、基底、盖层、粘结剂组成。
其构造如图所示L R=A ρdR d dL dA R L A ρρ=+-dR d (12)R ρμερ=++3.电阻应变片的分类电阻应变片按敏感栅材料不同可分为金属电阻应变片和半导体应变片。
其中金属电阻应变片分为:(1)丝绕式应变片:敏感栅是用直径为0.01~0.05毫米的铜镍合金或镍铬绕制而成。
优点:基底、盖层均为纸做成,价格便宜,易安装。
缺点:其横向效应大,测量精度较差,应变片性能分散。
(2)短接式应变片:将金属丝平行排成栅状,端部用粗丝焊接而成。
应变测试方法及标准

应变测试方法及标准一、概述应变测试是产品开发过程中一项重要的质量控制手段,用于检测产品在受到不同程度的外力或应力作用下,其性能和功能是否符合预期。
本篇文章将介绍应变测试的方法及标准,包括测试前的准备工作、测试步骤、数据收集与分析、测试结果的评价与总结等。
二、测试对象应变测试的对象是各种类型的产品,如电子设备、机械部件、建筑材料等。
在进行应变测试时,需要根据产品的类型和特点选择合适的测试样品,以确保测试的准确性和有效性。
三、测试环境测试环境对应变测试的结果影响很大,因此需要选择适宜的环境条件来进行测试。
一般而言,测试环境需要满足温度、湿度、应力方向和加载速度等要求。
具体的环境条件应根据产品的特点和测试要求来确定。
四、测试前的准备工作1. 确定测试样品:根据产品的类型和特点,选择合适的测试样品。
2. 制定测试方案:根据产品的特点和测试要求,制定相应的测试方案,包括测试方法、测试步骤、数据收集与分析等。
3. 准备测试设备:根据测试方案,准备相应的测试设备,如应力加载设备、测量仪器等。
4. 确认测试环境:确保测试环境满足测试要求,并做好记录。
五、测试步骤1. 将测试样品放置在适宜的环境条件下。
2. 使用应力加载设备对测试样品进行加载,模拟不同程度的外力或应力作用。
3. 观察并记录测试样品在加载过程中的性能和变化,如尺寸、形状、颜色、硬度、弹性等。
4. 定期对测试样品进行重复加载,以评估其稳定性和可靠性。
5. 使用测量仪器对测试样品的相关参数进行测量,如应力、应变、强度等。
6. 将测试过程中的数据记录下来,以便后续的数据分析和结果评价。
六、数据收集与分析1. 对测试过程中的各项数据进行分类整理,确保数据的准确性和完整性。
2. 使用图表和表格等形式将数据呈现出来,以便于数据的分析和比较。
3. 分析数据的变化趋势,找出规律和异常点,为后续的测试结果评价提供依据。
4. 将数据分析和比较的结果以报告的形式呈现出来,以便于管理和使用。
应力与应变测量方法及应用

应力与应变测量方法及应用应力与应变测量是工程学中非常重要的分析方法,能够帮助工程师评估材料和结构在外部力作用下的性能表现。
本文将介绍一些常用的应力与应变测量方法及其应用。
一、应力与应变测量方法1. 电阻应变计法电阻应变计是最常用的应变测量方法之一。
应变计的基本原理是应变导致电阻变化,通过测量电阻变化来间接测量应变。
常见的电阻应变计有金属应变计和半导体应变计。
金属应变计主要适用于动态应变测量,而半导体应变计适用于静态及高温应变测量。
电阻应变计的优点是精度高、灵敏度高,但也有一些限制,比如灵敏度容易受到温度的影响。
2. 光弹性法光弹性法是一种通过利用光的干涉原理来测量应力和应变的方法。
光弹性法常用的设备有两种,一种是维尔贝克(Disc-more)干涉条纹法,另一种是技巧干涉条纹法。
这两种方法都是基于光束的干涉现象,通过观察并记录干涉条纹的变化来推算出应力和应变的分布情况。
光弹性法的优点是非接触性,适用于复杂形状和高温等特殊条件下的应变测量。
3. 应变片法应变片是利用压电效应材料制成的一种应变测量器件,常用的应变片有金属应变片和陶瓷应变片。
应变片通过自身形变来实现应变的测量,通过测量应变片的电荷输出或形变量的变化来推算应变。
应变片法的优点是响应速度快、测量范围广,适用于各种应变测量场景。
二、应力与应变测量的应用1. 材料性能评估与选择应力与应变测量可以帮助工程师评估材料的力学性能,并为材料的选择提供依据。
通过测量应力和应变,可以计算出弹性模量、屈服强度、断裂韧性等重要参数,从而判断材料是否满足工程设计要求。
2. 结构设计与优化在结构设计中,应力与应变测量可以帮助工程师评估结构的稳定性和安全性。
通过测量结构内部的应力分布和应变变化,可以发现潜在的结构问题,并进行必要的优化和改进,从而提高结构的可靠性和性能。
3. 动态加载分析应力与应变测量在动态加载分析中也有广泛的应用,可以用于研究冲击、爆炸、振动等动力载荷下的材料和结构响应。
测量应变、应力的方法详解

测量应变、应力的方法详解一、测量应变、应力谱图1. 衡量应力集中的区域,布置应变片可以通过模拟(有限元)或试验(原型上涂上一层油漆,待油漆干后施加载荷,油漆剥落的地方应力集中),确定应力集中的区域,然后按左下图在应力集中区域布置三个应变片:因为材料是各向同性,所以x、y方向并不一定是水平和竖直方向,但两者一定要垂直,中间一个一定要和x、y方向成45°角。
2. 根据测的应变和材料性能,计算应力测得的三个应变,分别记为εx、εy、εxy。
两个主应力(假设只有弹性变形):其中,E为材料的弹性模量,µ为泊松比。
根据这两个主应力,可以计算出有些方法可能需要的等效应力(主要目的是将多分量的应力状态转化为一个数值,以方便应用材料的疲劳数据),如米塞斯等效应力:或最大剪应力:实际测量的是应变-时间谱图,应力(或等效应力)-时间谱图可由上述公式计算。
3. 分解谱图就是对上面测得的应力(应变)-时间谱图进行分解统计,计算出不同应力(包括幅度和平均值)循环下的次数,以便计算累积的损伤。
最常用的是雨流法(rainflow countingmethod)。
二、获取材料数据如果载荷频率不高,可以做一组简单的疲劳测试(正弦应力、拉压或弯曲均可,有国家标准):得到一条应力-寿命(即循环次数)曲线,即所谓的S-N曲线:如果载荷频率较高或温度变化较大,还要测量不同平均应力和不同温度下的S-N载荷,以便进行插值计算,因为此时平均应力对寿命有影响。
也可以根据不同的经验公式(如Goodman准则,Gerber准则等),以及其他材料性能(如拉伸强度,破坏强度等),由普通的S-N曲线(即平均应力为0)来计算平均应力不为零时对应的疲劳寿命。
如果材料数据极为有限,或者公司很穷很懒不愿做疲劳试验,也可以由材料的强度估算疲劳性能。
如果出现塑性应变,累计损伤一般基于应变-寿命曲线(即E-N曲线),所以需要施加应变载荷。
三、损伤计算到目前为止,疲劳分析基本上是基于经验公式,还没有完全统一的理论。
电阻应变测量原理及方法

电阻应变测量原理及方法目录电阻应变测量原理及方法 (4)1. 概述 (4)2. 电阻应变片的工作原理、构造和分类62.1电阻应变片的工作原理 (6)2.2电阻应变片的构造 (8)2.3电阻应变片的分类 (10)3. 电阻应变片的工作特性及标定 (15)3.1电阻应变片的工作特性 (15)3.2电阻应变片工作特性的标定 (23)4. 电阻应变片的选择、安装和防护 (29)4.1电阻应变片的选择 (29)4.2电阻应变片的安装 (31)4.3电阻应变片的防护 (34)5. 电阻应变片的测量电路 (34)5.1直流电桥 (35)5.2电桥的平衡 (40)5.3测量电桥的基本特性 (42)5.4测量电桥的连接与测量灵敏度.. 436. 电阻应变仪 (53)6.1静态电阻应变仪 (54)6.2测量通道的切换 (57)6.3公共补偿接线方法 (61)7. 应变-应力换算关系 (63)7.1单向应力状态 (64)7.2已知主应力方向的二向应力状态 (64)7.3未知主应力方向的二向应力状态 (65)8. 测量电桥的应用 (67)8.1拉压应变的测定 (68)8.2弯曲应变的测定 (72)8.3弯曲切应力的测定 (74)8.4扭转切应力的测定 (76)8.5内力分量的测定 (77)电阻应变测量原理及方法1. 概述电阻应变测量方法是实验应力分析方法中应用最为广泛的一种方法。
该方法是用应变敏感元件——电阻应变片测量构件的表面应变,再根据应变—应力关系得到构件表面的应力状态,从而对构件进行应力分析。
电阻应变片(简称应变片)测量应变的大致过程如下:将应变片粘贴或安装在被测构件表面,然后接入测量电路(电桥或电位计式线路),图1 用电阻应变片测量应变的过程随着构件受力变形,应变片的敏感栅也随之变形,致使其电阻值发生变化,此电阻值的变化与构件表面应变成比例,测量电路输出应变片电阻变化产生的信号,经放大电路放大后,由指示仪表或记录仪器指示或记录。
应变测量文档

应变测量1. 简介应变测量是一种用于测量物体形变或变形的技术。
通过测量物体的应变,可以了解材料的力学性质、结构的变形情况等。
应变测量广泛应用于工程实践中,例如材料测试、结构分析、机械设计等领域。
本文将介绍应变测量的基本原理、常用的测量方法以及应变测量技术的应用。
2. 应变测量的原理应变是在外力或内力作用下,物体发生形变或变形时产生的相对尺寸变化。
常用的应变测量方法包括应变片法、光弹法和光栅法等。
以下将对这些方法进行简要介绍。
2.1 应变片法应变片是一种材料,其电阻随应变而变化。
通过在被测物体表面粘贴应变片,可以将物体的应变转化为电阻的变化。
测量应变片电阻变化可以得到物体的应变信息。
2.2 光弹法光弹法是一种利用光的散射特性来测量物体应变的方法。
通过在物体表面涂覆一层光敏材料,当物体受到外力或内力作用时,材料表面的散射光强度会发生变化。
通过测量光强度的变化,可以确定物体的应变情况。
2.3 光栅法光栅法是一种利用光的干涉原理来测量物体应变的方法。
通过在物体表面粘贴光栅,当物体受到应变时,光栅上的干涉条纹会发生位移。
通过测量位移的大小,可以得到物体的应变信息。
3. 常见的应变测量方法3.1 应变片法的测量步骤1.准备应变片:选择适当的应变片材料,根据被测物体的应变范围和精度要求选择合适的应变片型号。
2.粘贴应变片:将应变片粘贴在被测物体的表面,确保应变片与物体表面完全紧密接触,并排除气泡。
3.连接电缆:将应变片两端的电缆连接到测量仪器上。
4.测量应变:使用测量仪器对应变片的电阻进行测量,得到物体的应变值。
3.2 光弹法的测量步骤1.准备光弹材料:选择适合的光弹材料,涂覆在被测物体的表面。
2.光弹装置设置:将光源、散射体和光电探测器设置在适当的位置,以保证散射光信号可以被准确检测到。
3.发射光线:通过光源发射光线,照射在光弹材料表面。
4.测量信号:使用光电探测器检测散射光的强度变化,将其转化为对应的应变信息。
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R 3 两端压降: R3 U AD U AC R3 R4
电桥输出电压:
U0 =UAB U AD
R1R 4 R 2 R 3 U AC (R1 R 2 )(R 3 R 4 )
电桥输出电压:
U0 =UAB U AD
R1R 4 R 2 R 3 U AC (R1 R 2 )(R 3 R 4 )
敏感栅型式 用于测量单向应变。 单轴应变片—敏感栅只有一根轴线。 应变花: 双轴—二轴 90 三轴—三轴 45
用于测量平面应力状态。
六、电阻应变片的常规使用技术 (一)电阻应变片的选择 1、测试环境:温度、湿度、磁场 2、应变性质 静态应变—选择H小的应变片 动态应变—选择疲劳寿命好的应变片。 3、应变梯度 应变场均匀—对应变片栅长没要求,可 选栅长大的应变片,容易贴。 应变梯度变化大—选栅长小的应变片。 4、测试精度
由上式知,当R1R 4 =R 2 R 3 时,则电桥输出电压 U0 0 则称电桥处于平衡状态。 设处于平衡状态的电桥各桥臂由电阻增量为 R1 , R 2 , R3 , R 4 则电桥的输出电压为:
(1)单向应力状态 ——故采用纯弯梁; (2)应变片轴线应平行单向应力——注意贴片方向; (3)标定材料为钢梁——标定梁泊松比为 。
标定思路:
(1)由三点挠度仪测 f
(2)由惠斯顿电桥测 R R
K
根据材料力学公式和几何关系,求出纯弯曲上下表 面的轴向应变为:
hf
a 2 2 ( ) f hf 2
(三)横向效应系数(H) 应变片的敏感栅除有纵栅外,还有圆弧或直线形的横 栅。横栅主要对垂直于应变片轴线方向的横向应变敏 感,因而应变片指示应变中包含有横向应变的影响, 这就是应变片的横向效应。 将应变片置于平面应变场中,沿应变片轴线方向的应 变为 x,垂直于轴线方向的横向应变 y,应变片敏感 栅电阻相对变化为:
5、电阻应变测量方法的缺点
(1)只能测量构件的表面应变,而不能测构件的内 部应变。
(2)一个应变片只能测构件表面一个点沿某个方向的 应变,而不能进行全域性测量。
§ 2.2 电阻应变片
一、电阻应变片的工作原理 由物理学可知:金属导线的电阻率为
L R= A
其中: 导线材料电阻率
L 导线长度 A 导线横截面积
设温度变化为 T ,且应变片的灵敏系数K随温度变 化可略去,则应变片的热输出为
1 t T +( e g )T K
式中:
T 敏感栅材料的电阻温度系数; g 敏感栅材料的线膨胀系数; e 被测材料的线膨胀系数。
需要说明的是:我们希望应变片的指示应变反映的是 构件因受力所产生的应变,而不是环境温度变化所引 起的 t ,否则会带来很大误差。因此在测量中必须设 法消除温度变化的影响。
其中:f为由三点挠度仪上千分表测出的挠度值; 若电阻应变仪灵敏系数和读数应变分别为K 0和 d 表示, 则:
R R K0 d
得应变片的灵敏系数为: K= 标定K值时,取 K 0 2.0。
R R
K 0 d
(二)横向效应系数的标定
R K x x K y y 由于 R
100 ~ 30C 工作温度 ; 工作温度 100C以下。
4、电阻应变测量方法的优点
(1)测量灵敏度和精度高。其最小应变读数为 1(微 6 1 1 10 )在常温测量时精度可达 1 ~ 2% 。 应变,
(2)测量范围广。可测1 ~ 20000。 (3)频率响应好。可以测量从静态到数十万赫的动态 应变。 (4)应变片尺寸小,重量轻。最小的应变片栅长可短 到0.178毫米,安装方便,不会影响构件的应力状态。 (5)测量过程中输出电信号,可制成各种传感器。 (6)可在各种复杂环境下测量。如高、低温、高速旋 转、强磁场等环境测量
一、直流电桥 (一)电桥的输出电压
设电桥中四个桥臂电阻为R1、R 2、R 3、R (其中 4 任一个电阻可以是应变片)。 AC两端为输入—接直流电源,用UAC表示
从ABC半个桥看,流经 R1的电流
U AC I1 R1 R 2
R1 两端压降:
U AB R1 I1R1 U AC R1 R 2
(九)疲劳寿命(N)
在幅值恒定的交变应力作用下,应变片连续工作, 直至产生疲劳损坏时的循环次数,称为应变片的疲 劳寿命。 疲劳损坏: (1)敏感栅或引线发生断路;
(2)应变片输出幅值变化达到10%;
(3)应变片输出波形上出现尖峰。
四、电阻应变片工作特性的标定 (一)灵敏系数的标定
K=
注意:
R R
Kx、K y
分别为应变片轴向和横向灵敏系数。
Kx
(R R) x
x
Ky
(R R) y
y
横向灵敏系数与轴向灵敏系数的比值称为横向效应系数H。
Kx H 100% Ky
(四)热输出( t)
将应变片安装在自由膨胀的构件上,无外力作用,当 环境温度变化时,则输出一定的指示应变,称为热输 出,用 t 表示。 产生原因: (1)由于温度变化,敏感栅材料的电阻率发生变 化(温度效应); (2)敏感栅材料与被测构件材料之间的线膨胀系 数不同。
2、电阻应变测试技术分类 (1)静态测量:对永远恒定的载荷或短时间稳定 的载荷的测量。 (2)动态测量:对载荷在2~1200HZ范围内变 化的测量。 3、应变测量工作温度可分为五个区段: (1)常温应变测量: (2)中温应变测量: (3)高温应变测量: (4)低温应变测量: (5)超低温应变测量: 工作温度 30 ~ 60C; 工作温度 60 ~ 300C; 工作温度在 300C以上;
栅宽B:敏感栅外侧之间的距离。
应变片轴线:敏感栅纵栅的中心线。 引线:用来由敏感栅引出电信号的金属导线。用镀锡铜 线(通常)制成 基底:用来保持敏感栅的几何形状和相对位置。 盖层:用来保护敏感栅,常用材料有纸、胶膜、玻璃纤 维等。 粘结剂:将敏感栅固定在基底上,常用环氧树脂类和酚 醛树脂类粘结剂。
三、电阻应变片的主要性能 (一)应变片电阻(R) 指应变片在未经安装、不受力的情况下,于室温 时测定的电阻值。 常用的应变电阻值 R 120 (二)灵敏系数(K) 在单向应力作用下,应变片的电阻相对变化 R R 与试件表面沿应变片轴线方向的应变 之比值, 称为应变片的灵敏系数,即:
(七)应变极限( lim) 在恒定温度下,对安装有应变片的试件逐渐加载,直至 应变片的指示应变与试件的机械应变的相对误差达到 10%。 此时,机械应变即作为该应变片的应变极限。 一般情况下, lim 800
(八)绝缘电阻( R m)
应变片的绝缘电阻时指应变片的引线与被测试件之间 的电阻值。 一般情况下, R m 500 兆欧。 为使R m 提高,可选用绝缘性能好的粘结剂和基底材料。
K=
R R
(二)灵敏系数(K) 在单向应力作用下,应变片的电阻相对变化R R 与试件表面沿应变片轴线方向的应变 之比值, 称为应变片的灵敏系数,即:
K=
R R
注意:K值是应变片的主要参数,它取决于敏感栅 的材料、型式、几何尺寸、基底、粘结剂等多种 因素。通常由制造厂在专用设备上标定给出K值。 常用的K=2.0~2.4
1片
#
x 电阻变化量:(R R) K K 1 x x x y 0
x 0 电阻变化量:(R R) K K 2片 2 y y y y
#
将两个应变片分别组成两个半臂半桥接入电阻应变仪, 则两应变片电阻变化量的比值:
Ky ( R R )2 H= 100% 100% ( R R )1 Kx
五、电阻应变片的分类 电阻应变片按敏感栅材料不同可分为金属电阻应变片 和半导体应变片。本课仅介绍金属电阻应变片。
(一)丝绕式应变片
敏感栅是用直径为0.01~0.05毫 米的铜镍合金或镍铬绕制而成。 缺点:其横向效应大,测量精度较差,应变片性能分 散。 优点:基底、盖层均为纸做成,价格便宜,易安装。
第二章 电阻应变测量及方法
§ 2.1 概述
§ 2.2 电阻应变计
§ 2.3 应变片测量电路 § 2.4 直流式电阻应变仪 § 2.5 应变片在构件上的布置和组桥 § 2.6 静态应变测量
§ 2.1 概述
电阻应变测量技术是用电阻应变片测量构件的表 面应变,再根据应力—应变关系确定构件表面应 力状态的一种实验应力分析方法。 1、用电阻应变片测量应变的过程
(五)稳定性 它是反映应变片长期静态工作能力的重要性能,常用 电阻漂移值和蠕变大小来表示。 (1)应变片的电阻值漂移 指在工作温度恒定,安装在未受外力作用的构件上, 其应变片电阻值随时间的变化。 产生漂移原因:由于敏感栅、基底、粘结剂等材料 在应变片的制造或安装过程中,内部形成的应力缓 慢释放所致。 (2)应变片的蠕变 指在工作温度恒定,安装在承受外力,但变形恒定的 构件上的应变片电阻值随时间的变化。 产生原因:粘结剂与基底在传递应变时出现滑动所致。
式中: 为导线材料泊松比。
dR d (1 2 ) R
二、电阻应变片的构造 电阻应变片由敏感栅、引线、基底、盖层、粘结剂组 成。其构造如图所示:
敏感栅:用合金丝或合金箔制成的栅。 作用:将 R R 栅长L:指两端圆弧内侧或两端横栅内侧之间的 距离,一般为0.2~100mm。
设想造成一种单向应变场。设计 专用装置,其顶部工作区试件很 薄(6mm),两边尺寸较大。 使试件仅沿x方向产生应变, 1000 y方向应变很小,接近于零。 在试件上贴有一个电阻应变片,其中:
1片
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x 电阻变化量:(R R) K K 1 x x x y 0
(六)机械滞后(Z j) 在恒定温度下,对安装有应变片的试件加载—卸载。 j 以试件的机械应变 为横坐标,应变片的指示应变 i 为纵坐标绘成曲线,加载与卸载曲线不重合,这种 现象称为机械滞后。