X射线在金属材料检测中的应用
X射线荧光光谱在检验铝土矿石主成分中的应用
摘 要：本文 在借 鉴前 人 工作 的基础 上 ， 用 国产 高频熔 样 炉熔 融制样 ， Ａ Ｌ ９ ０ Ｐ型 ｘ射 线 荧 光光谱 仪 测 定铝 土矿 中主 成分 采 用 Ｒ ９０Ｘ Ａ２ ｉ Ｆ ＴＯ。 １ 、 Ｏ 、ｅ 、 ｉ 方法操 作 简单 、 速 ， ０Ｓ Ｏ 快 准确度 和精 密度 均达到 国家标 准方 法规定 的要 求。目前 该 法 已用 于 实际生产 ， 锻 取得 ㈨ 了良 ㈨㈣ 髓 好 的经 济效益 。 关键 词： Ｘ射 线荧光 光谱 法； 成 分：高频 熔样 ； 土矿 主 铝
—
骶 期稳 Ⅺ １０， 时 间 １０， ８ｓ 熔融 ８ｓ自冷 时 间 １０， 冷 时 间 析方 法 的精 密度 与长 期稳 定性 。长 定性 ∞ ２ｓ 风 １０， 融 完 毕成 片后 ， 出贴 上标 签放 入 培 是 一个 综 合考 核 指标 ， 主要 包 括 了分 析方 ８ｓ 熔 取 它 醚 璺瓣姗 养 肌 中备 用 。 法 考核 、 样 重 复性 考核 ， 包括 了仪 器 综合 制 还 稳定 性考 核及 分析 人员 考核 。本 实验 从 ２０ ０６ １ ． 量 与计算 ．４测 ２ 将标 准物 质玻 璃熔 片 的标 准值 输入 计算 年 ６月 至 ７ 共 ３名分 析 员进 行 了 １ １ 月 ０ 次测 机 ， 测量 条 件 逐一 测 量 ， 量完 毕 对数 据 进 定 分 析结 果 见表 ２ 按 测 统计 。从 表 ２ 见 ， 可 方法 行处 理， 算 回归方程 ， 校准 曲线 。 同样 的精 密度 及长 期稳 定性较 好 。 计 建立 按 方法 测定 待测 样 品， 算机 将 自动计 算结 果 。 计 表 ２ 长辎稳定性试验结粱统 汁 ２结果 与讨论 Ｔａ Ｓ ｉ ｃ 。 ｆｌ ｇ ｍ ｔｂｌ ， Ｍｅ２ ｍ ａｌ ☆ｅ ｎ － ｓ ， ｄ ｏ ｓ ｉｂ ａ ｉ ２１样 品制 备条件 的选 择 ． 测量缀什 一 ＲＤ ％ Ｓ ２１ ． １样 品制 备方 法 ． 醢 煎 鼗小 璧 平 均境 固体粉 未样 品 的制 备一 般有 压 片法 和熔 Ａ ） ３ ６ ４ ｑ９ ６ ９ ９２ ６ ６ ０ ｎ Ｉ ９ 融法 。压 片法 操作 简单 、 快速 、 经济 ， 由于物 但 Ｓ Ｏ： ４９ ６ ４ 酷 ４ ９ １ ４ ８ Ｆ ｊ 印 ＾Ｊ ５ ６“ ） ６ Ｉ ２ ｎｊ 相和 粒度 很 难 与标 准样 品相 一致 ， 以各 种 所 坠 ！ 婴 ！ 干 扰严 重 ， 测 量 精 度 和准 确 度较 差 ； 融 致使 熔 ２３准确 度 － 法操 作 复杂 ， 巧性 较强 ， 通 过熔 融 ， 得 技 但 物相 到统 一 ， 度效 应 得 以 消除 ， 加 之通 过 熔 剂 粒 再 采 用 本方法 与 国家标 准 分析 法 以及与 其 稀 释， 基体 效应 下 降 ， 因此 测量 精 度 和准 确 度 他 单 位 进行 了分 析 结果 对 比（ ３ 各组 分 析 表 ） ， 较好 。本文 采用 网产高 频熔 样炉 进行 熔融 制 结果 均 在 国家 标 准允 许 差 规 定 的 范 同 之 内 ， 样。 效 果 良好 。
x射线荧光光谱法测金属含量的标准
x射线荧光光谱法测金属含量的标准X射线荧光光谱法（X-ray fluorescence spectroscopy）是一种常用的方法，用于测量材料中金属元素的含量。
该技术通过测量材料受到X射线激发后发出的荧光光谱来分析样品中的金属成分。
该方法具有非常高的灵敏度、快速、无需样品预处理等优点，因此被广泛应用于材料科学、地球化学、环境科学等领域。
首先，使用X射线荧光光谱法测量金属含量的标准需要标准样品。
标准样品应该是纯度高、成分均匀的材料。
可以通过国际认可的方法获得一系列金属标准样品，这些样品的金属含量已经被准确测定。
在进行测量之前，需要根据标准样品建立标准曲线，使得测量结果能够与标准样品的金属含量进行比较。
其次，测量时需要使用X射线光源，常用的是X射线荧光光谱仪。
通过电子的高能级跃迁释放出的X射线激发样品，并测量激发后样品发出的荧光光谱。
这些荧光光谱中包含了一系列特征峰，每个特征峰对应着一种金属元素。
X射线荧光光谱仪包括发射器、样品台、X射线荧光光谱探测器等部分。
使用时，样品被放置在样品台上，进行扫描或点测量。
探测器接收到荧光光子的能量，并测量其强度，然后转化为对应的信号。
这些信号经过放大和滤波处理后，可以得到样品中各种金属元素的荧光峰强度。
通过比对待测样品的荧光光谱和标准样品的光谱，可以得到待测样品中各种金属元素的含量。
通常使用一种简化的数学模型来处理数据，计算出样品中各元素的相对浓度或绝对浓度。
然而，X射线荧光光谱法也存在一些限制和注意事项。
首先，由于不同元素的荧光发射能谱区间有所重叠，可能会导致元素分析的误差。
此外，分析过程中还需要考虑一些干扰因素，如样品厚度、基体效应和样品的物理状态等。
因此，为了提高测量的准确性，需要进行样品的预处理和校正。
在实际应用中，X射线荧光光谱法广泛用于金属材料、矿石、岩石、土壤和水样等的元素分析。
例如，在金属材料中，可以通过该方法测量各种金属的含量，从而评估材料的质量和成分合格性。
xrd在现代材料中的应用
xrd在现代材料中的应用
X射线衍射（XRD）是一种非常重要的材料分析技术，它可以用于研究材料的结构、晶体学和物理性质。
在现代材料科学中，XRD已经成为了一种不可或缺的工具。
本文将从材料分类的角度，介绍XRD在现代材料中的应用。
1. 金属材料
金属材料是XRD应用的一个重要领域。
通过XRD技术，可以研究金属材料的结晶结构、晶体缺陷和晶体取向等。
例如，XRD可以用于研究金属材料的晶体取向，从而优化材料的力学性能。
此外，XRD还可以用于研究金属材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
2. 无机非金属材料
无机非金属材料是另一个重要的XRD应用领域。
例如，XRD可以用于研究陶瓷材料的结构和晶体缺陷，从而优化材料的性能。
此外，XRD还可以用于研究无机非金属材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
3. 有机材料
有机材料是XRD应用的另一个重要领域。
例如，XRD可以用于研究
有机晶体的结构和晶体缺陷，从而优化材料的性能。
此外，XRD还可以用于研究有机材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
4. 生物材料
生物材料是XRD应用的一个新兴领域。
例如，XRD可以用于研究生物材料的结构和晶体缺陷，从而优化材料的性能。
此外，XRD还可以用于研究生物材料的相变行为，从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
总之，XRD在现代材料中的应用非常广泛，涉及到金属材料、无机非金属材料、有机材料和生物材料等多个领域。
通过XRD技术，可以研究材料的结构、晶体学和物理性质，为材料的制备和加工提供重要的参考。
xrf检测的原理和应用
XRF检测的原理和应用1. 引言X射线荧光光谱仪（X-Ray Fluorescence Spectrometer，简称XRF）是一种用于元素分析的仪器。
它能够通过射入样品的X射线，激发样品中的原子产生特定的荧光辐射，并通过测量荧光辐射来确定样品中各种元素的含量。
本文将介绍XRF 检测的原理和应用。
2. 原理XRF检测的原理基于元素的特征X射线发射和吸收。
当样品受到高能X射线束的照射时，样品中的原子会发生内层电子的跃迁，从而产生特定的X射线发射。
每种元素都有特定的能量和强度的特征X射线发射谱。
通过测量样品荧光辐射的能谱，可以确定样品中各种元素的存在及其含量。
XRF检测可以分为荧光光谱测量和荧光辐射谱峰分析两个步骤。
在荧光光谱测量中，X射线荧光光谱仪测量样品放射出的荧光光谱，获得荧光峰。
然后，在荧光辐射谱峰分析中，根据荧光峰的能量和强度，通过谱峰拟合算法计算出样品中各种元素的含量。
3. 应用3.1 金属材料分析XRF检测在金属材料分析中有广泛的应用。
它可以用于检测金属材料中的成分和杂质元素，以确定其质量和合格性。
通过XRF检测，可以快速准确地确定金属材料中各种元素的含量，并对材料进行分类和鉴定。
3.2 地质和矿石分析XRF检测在地质和矿石分析中也具有重要的应用价值。
地质样品中的元素含量是研究地壳构造和地质过程的重要依据。
XRF检测可以用于测量岩石、矿石、矿物和土壤中各种元素的含量，用于地质勘探、矿产资源评价和环境监测等领域。
3.3 环境监测XRF检测在环境监测中起着重要的作用。
它可以检测土壤、水和空气中的有毒元素和污染物，如重金属、有机污染物等。
通过对环境样品的XRF检测，可以快速获得样品中各种元素的含量，评估环境污染程度，并为环境保护提供科学依据。
3.4 文物保护XRF检测在文物保护中也有广泛应用。
文物材料中的元素含量可以提供文物起源、制作工艺和保存状态等信息。
通过对文物样品的XRF检测，可以非破坏地分析元素的含量，判定文物的真伪和年代，并为文物的保护修复提供科学指导。
x射线荧光 用途
x射线荧光用途x射线荧光是一种重要的分析技术，被广泛应用于不同领域。
本文将就x射线荧光的用途进行详细介绍。
一、材料分析领域x射线荧光技术在材料分析领域有着广泛的应用。
通过测量材料中元素的成分和含量，可以用于材料的质量控制和研发过程中的分析。
例如，在金属行业中，x射线荧光可以用于分析和检测金属材料中的各种元素，包括有害元素的含量，以确保产品的质量和合规性。
此外，x射线荧光还可以用于分析和鉴定宝石、陶瓷、玻璃等材料中的元素成分，以帮助鉴定和鉴别宝贵的材料。
二、环境监测领域x射线荧光技术在环境监测领域也发挥着重要的作用。
通过测量大气、水体和土壤中的元素含量，可以进行环境污染的监测和评估。
例如，在大气污染监测中，x射线荧光可以用于测量空气中的重金属元素含量，以评估空气质量和污染程度。
同样地，x射线荧光也可以用于水体和土壤中有害元素的检测，以保护环境和人民的健康。
三、文物保护与考古研究x射线荧光技术在文物保护和考古研究中具有重要的地位。
通过对文物中的元素成分进行分析，可以帮助鉴定文物的真伪和年代，以及研究文物的制作工艺和历史背景。
例如，在古代陶瓷研究中，x射线荧光可以用于分析陶瓷中的釉料和颜料的成分，以帮助鉴别不同时期和地区的陶瓷作品。
此外，x射线荧光还可以用于对考古遗址中的遗物进行分析，以了解古代文明的演变和发展。
四、医学诊断与治疗x射线荧光技术在医学领域有着广泛的应用。
通过测量人体组织中的元素含量，可以进行疾病的诊断和治疗。
例如，在骨密度测量中，x射线荧光可以用于测量骨骼中的钙含量，以评估骨质疏松的程度和风险。
另外，x射线荧光还可以用于分析人体中的其他元素，如铁、铜等，以帮助诊断和治疗相关疾病。
五、食品安全与质量检测x射线荧光技术在食品安全和质量检测中也发挥着重要的作用。
通过测量食品中的元素含量，可以进行食品的成分分析和质量评估。
例如，在食品安全监测中，x射线荧光可以用于检测食品中的有害元素，如重金属和农药残留物，以保障人们的健康和安全。
x射线测厚原理
x射线测厚原理X射线测厚原理引言：X射线测厚是一种常用的无损检测技术，广泛应用于工业生产中的金属材料厚度测量。
本文将介绍X射线测厚的原理及其应用。
一、原理介绍X射线是一种高能电磁辐射，具有穿透力强的特点。
当X射线照射到被测物体上时，会发生散射和吸收现象。
被测物体的厚度越大，其对X射线的吸收量就越大。
二、X射线的发射和探测在X射线测厚中，首先需要一台X射线发射装置。
该装置通过一个高压电源产生高能电子束，经过加速器加速后，电子束撞击靶材产生X射线。
这些X射线经过滤波器后，进入被测物体。
在被测物体的另一侧，放置一个X射线探测器。
当X射线穿过被测物体后，探测器会接收到X射线，并将其转换为电信号。
这个信号会经过放大和处理后，通过计算机进行分析和显示。
三、厚度计算原理通过测量X射线的吸收量，可以推算出被测物体的厚度。
在X射线测厚中，一般会使用半衰厚度的概念来进行计算。
半衰厚度是指X射线穿过物质后，其强度减少到原始强度的一半所需要穿过的距离。
当X射线通过被测物体时，其强度会随着厚度的增加而减小。
通过测量不同位置处的X射线强度，可以得到一组数据。
根据这些数据，可以绘制出X射线强度与被测物体厚度的关系曲线。
通过分析曲线，可以确定被测物体的厚度。
四、应用领域X射线测厚广泛应用于金属材料的生产和加工过程中。
它可以用于测量金属板、金属管及容器等的厚度。
以下是一些常见的应用领域：1. 建筑工程：在建筑工程中，X射线测厚可用于测量钢结构的厚度，确保工程质量。
2. 石油化工：在石油化工领域，X射线测厚可用于测量管道和容器的厚度，以确保其安全运行。
3. 航空航天：在航空航天领域，X射线测厚可用于测量飞机零部件的厚度，以确保飞机的安全飞行。
4. 汽车制造：在汽车制造中，X射线测厚可用于测量汽车车身的厚度，以确保安全性和耐久性。
总结：X射线测厚是一种非常重要的无损检测技术，通过测量X射线的吸收量来确定被测物体的厚度。
它在工业生产中有着广泛的应用，可以确保产品的质量和安全性。
X射线衍射在材料分析测试中的应用
X射线衍射技术在材料分析测试中的应用摘要：X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法, 在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
介绍了X 射线衍射的基本原理, 从物相鉴定、点阵参数测定、微观应力测定等几方面概述了X 射线衍射技术在材料分析中的应用进展。
1 X射线基本原理由于X 射线是波长在1000Å~0. 01Å之间的一种电磁辐射, 常用的X 射线波长约在2. 5Å~ 0. 5Å之间, 与晶体中的原子间距( 1Å )数量级相同, 因此可以用晶体作为X 射线的天然衍射光栅, 这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。
当X射线沿某方向入射某一晶体的时候, 晶体中每个原子的核外电子产生的相干波彼此发生干涉.当每两个相邻波源在某一方向的光程差(Δ)等于波长λ的整数倍时, 它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大限度的加强, 这种波的加强叫做衍射, 相应的方向叫做衍射方向, 在衍射方向前进的波叫做衍射波。
Δ= 0的衍射叫零级衍射, Δ = λ的衍射叫一级衍射, Δ = nλ的衍射叫n级衍射. n不同, 衍射方向也不同。
在晶体的点阵结构中, 具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果, 决定了X射线在晶体中衍射的方向, 所以通过对衍射方向的测定, 可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。
晶体结构= 点阵+ 结构基元, 点阵又包括直线点阵, 平面点阵和空间点阵. 空间点阵可以看成是互不平行的三组直线点阵的组合, 也可以看作是由互相平行且间距相等的一系列平面点阵所组成. 劳厄和布拉格就是分别从这两个角度出发, 研究衍射方向与晶胞参数之间的关系。
伦琴发现X射线之后, 1912年德国物理学家劳厄首先根据X 射线的波长和晶体空间点阵的各共振体间距的量级, 理论预见到X 射线与晶体相遇会产生衍射现象, 并且他成功地验证了这一预见, 并由此推出了著名的劳厄定律。
x射线荧光光谱应用领域
X射线荧光光谱在许多科学和工程领域都有广泛应用。
下面是一些主要的应用领域：
材料分析：X射线荧光光谱可以用来分析材料的组成和成分。
它可以用于质量控制、合金分析、矿石分析等。
例如，将样品暴露在X射线下，根据不同元素的发射光谱能够确定材料中元素的类型和含量。
地质学：X射线荧光光谱在地质学中用于分析岩石、土壤和矿物的成分。
这对于研究地质样品的形成过程和地质历史很重要。
环境科学：X射线荧光光谱可以用于环境监测、污染物研究和土壤分析。
通过分析样品中的元素含量，可以评估环境中的污染程度以及其潜在影响。
艺术和文化遗产研究：X射线荧光光谱可以用于研究艺术品和文化遗产中使用的材料，例如绘画、陶瓷和古代文物。
通过分析样品中的元素组成，可以了解它们的起源、制作工艺和修复历史。
金属材料检测：X射线荧光光谱被广泛应用于金属材料的质量控制和检测。
它可以用来检测金属中的杂质、合金成分和其他关键参数，确保金属材料符合规格要求。
这些只是X射线荧光光谱应用的一些例子，实际上，它在许多其他领域也有广泛应用，包括医学、矿业、电子、能源等等。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
X射线在金属材料检测中的应用
摘要：本文介绍X射线及其检测技术在金属材料检测中的应用，特别是针对于材料内部缺陷的无损检测方面做了简要的阐述。
X射线检测技术的发展可以有效的降低材料加工中的生产成本，改善金属材料的性能。
关键词：X射线; 层析成像法; 微焦点; 实时成像
1. 引言
金属材料的检测技术伴随着物理及化学学科的发展，为了满足不断提高的生产要求，在近几十年来有了长足的发展，尤其在近年来已经成了生产过程中一种必不可少的手段。
在实际的生产中，金属材料的检测方法要符合检测过程方便性和结论数据可靠性的原则，这也是工业界保证产品质量，降低生产及检测成本，提高生产效率的必要条件之一。
检测技术在生产中的应用其意义在于，利用对金属的检测结果指导生产工艺和工序和进行必要的调整，从而保证生产中人员和设备的安全[1]。
现有且常见的材料检测技术已经能够将金属的微观结构到与之相关的性能建立较好的关联性，但是，我们还认识到大部分的现有检测技术需要经过样品的提取，特别是常见金属材料的检测，对构件或零件取样常常要破坏其使用性能甚至直接报废。
在实际生产中，特别是大型构件的生产，要确保较低的成本下较准确地预判定材料中可能出现的缺陷，“破坏”式的检测技术显然不能满足生产的要求。
为此，无损检测技术应运而生。
无损检测是在不破坏产品原来的形状并且不改变其使用性能,对产品进行检测(或抽检)的前提下，以确保其可靠性和安全性的检测技术。
其检测过的样品只要满足技术要求，即可正常服役。
该技术的基本原理是在不损伤被检测对象的条件下，利用材料内部结构异常或缺陷存在所引起的对热、声、光、电、磁等反应的变化，来探测各种工程材料、零部件和结构件等内部和表面缺陷，并能对缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化做出判断和评价[2]。
无损检测技术主要有：X射线层析成像、红外热成像、超声Ａ扫描及Ｃ扫描、声发射、微焦点Ｘ射线、超声显微镜、激光检测法、中子照相法、敲击法以及声-超声检测法等。
近年来，这些方法已在自动化技术、探测器技术、信息处理和资料存储等方面取得很大的进展，特别是用于航天航空领域的陶瓷基复合材料构件的制造中发挥着极为重要的作用[3]。
在这些检测中，与X射线相关的检测技术在金属材料为原材料的机械产品检测中[4]，如压力容器，已经显示出巨大的优势，并且众多生产企业已经配备了类似的检测设备。
2. X 射线[5]
X射线与放射线以及电子并列为19世纪末20世纪初物理学的三大发现。
X
射线的发现标志着现代物理学的产生，其波长范围在0.01纳米到10纳米之间（对应频率范围30PHz到30EHz）的电磁波，具波粒二象性。
电磁波的能量以光子(波)的形式传递。
当X射线光子与原子撞击，原子可以吸收其能量，原子中电子可跃迁至更高电子轨态，单一光子能量足够高(大于其电子之电离能)时可以电离出原子。
2.1 X射线特征[6]
1. 特征频率值高
X射线的特征是波长非常短，频率很高，其波长约为（20～0.06）×10-10米之间。
因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的。
所以X射线光谱是原子中最靠内层的电子跃迁时发出来的，而光学光谱则是外层的电子跃迁时发射出来的。
X射线在电场磁场中不偏转。
这说明X射线是不带电的粒子流，因此能产生干涉、衍射现象。
2. 辐射同步
X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成，标识谱重叠在连续谱背景上，连续谱是由于高速电子受靶材阻挡而产生的轫致辐射，其短波极限λ0由加速电压V决定：λ 0 = hc /( ev ) （h为普朗克常数，e为电子电量，c为真空中的光速）。
标识谱是由一系列线状谱组成，它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生，每种元素各有一套特定的标识谱，反映了原子壳层结构。
同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线，现已成为重要的X射线源。
3. 穿透力强
X射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。
这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。
根据能量的大小，而且射线又可分区二种，即由于波长越短的X射线具备的能量越大，这种叫做硬X射线，而把波长长的X射线因其能量较低，被称为软X射线。
当在真空中，高速运动的电子轰击金属靶时，金属靶就放出X射线。
2.2 X射线检测技术
在工业上有关X射线的检测技术有如下几种：
2.2.1 X射线层析成像法（X-CT）[7,8]
所谓CT (Computed Tomography)是根据物体外部获取的某种物理量的测试值, 去重建物体内某一特定断面上的某种物理量的无重迭二维图象, 用依次相继
获取的一系列断面图可构成三维内部立体图象[9]。
X射线层析成像的特点是：
（1）高的空间分辨率和密度分辨率（通常＜0.5％）；（2）高检测范围（1 mm~106 mm）；（3）成像的尺寸精度高，可实现直观的三维图像；（4）在有足够的穿透能量下，可不受试件几何结构的限制等。
在这种方法仍旧具有局限性，大体上表现为检测效率低、检测成本高、双侧透射成像，不适于平板薄件的检测以及大型构件的现场检测。
在实际生产中，X射线层析成像的用途主要归结为：（1）非微观缺陷的检测；（2）密度分布的测量；（3）内部结构尺寸的精确测量；（4）装配结构和多余物检测；（5）三维成像与CAD/CAM 等制造技术结合而形成的所谓反馈工程。
2.2.2 微焦点X射线[8,10]
微焦点X射线检测有3 种方法：（1）接触显微射线照相，即按常规几何射线照相，然后以光学或高倍放大射线照片；（2）使用很小焦点的X射线设备，在射线照相过程中进行几何放大；（3）非对称衍射，实际上是X射线透镜，放大低能X射线图像。
陶瓷显微X射线照相检验可以揭示表面和内部的小尺寸缺陷，可以检测的缺陷尺寸决定于在样品厚度上出现的对比度和由检测器的不清晰度及系统几何结构决定的系统的空间分辨率特征。
2.2.3 X射线实时成像检测技术[11]
X射线成像检测原理如图1所示。
X射线穿过复合材料时，由于缺陷处和完好处对射线的吸收情况不同，将形成不同的不可见X光图像；再经图像增强器转换为可见光图像；可见光图像通过摄像机摄取，经接收放大，即可输送到监视器进行实时观察；摄像机的图像信号也可输入计算机，经A/D转换后形成数字图像，数字图像提供复合材料内部缺陷的各种信息，运用专用软件可对数字图像进行技术评定。
当采用小焦点X射线源、高清晰度图像增强器、高分辨率数字采集卡、计算机数字化程序处理技术和高分辨率图像显示技术时，X射线数字化实时成像的图像质量可满足X射线胶片照相的要求。
X射线实时成像检测技术可代替X射线胶片照相探伤方法，具有实时、动态以及可以连续地从各个角度对试件进行检测的优点。
与普通射线照相法相比，X射线实时成像系统一般可对复合材料进行100%检查，有效避免漏检；成像速度快，可及时得出检测结果，检测工作基本在数秒至几分钟内完成，检测效率高，同时可实时监视曝光情况，方便随时调整射线能量或曝光时间；检测结果影像可通过系统控制主机方便地保存、查询和复制，既有利于保存原始数据，又便于用户对原始数据的检索；检测人员可远离X射线源，有效地解决了防护问题，减轻了操作人员的劳动强度。