通用电子元件进料检验规范

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电子料进料通用检验规范

小锡炉
将物料引脚浸入松香內 1 秒后,立即浸入温度为 250℃±5℃ 的锡炉內 3～5 秒，上锡面积应不小于浸锡面积；
V
每批只取其中1-2片作检验
材料名称:电阻器
检验
检验仪器
检验方法及规格要求
判定缺点类别
备注
项目
设备工具
CRI
MAJ
MIN
1.包装
目视
每一包装箱外及内盒上是否有相应之品名、规格、料号、供货商、出厂日期,物料标示单上月份标签颜色是否正确；
V
METER
5.DF值
LCRMETER
测试其DF值是否与规格承认书相符(记录数据5PCS)；
V
6.防爆
直流电源
施加反向电压使其爆裂,检查是否从防爆孔处爆裂.(5Φ以上电解电容)；
V
7.E.S.R
LCR
针对特殊要求之低内阻电解电容,测试其内阻必须小于，等于其标准值；
V
8.绝缘阻抗(适用时)
高压机
不得低于标准值(参照承认书)；
V
2.外观
目视
目视检查外观是否不洁、变形、氧化.引脚是否有压伤或压痕；
V
目视检查外观是否破损、字体、正负极标示是否正确清楚,OEM兴安规报备物料须检查来料供货商是否为LIST中指之供货商,与样品是否相符；
V
3.尺寸
卡尺
本体长，宽、厚，孔径、脚径、脚距、编带宽、封装形式是否与承认相符；
V
4.电功能测试
1.包装
目视
每一包装箱外及内盒上是否有相应之品名、规格、料号、供货商、出厂日期,物料标示单上月份标签颜色是否正确；
V
有无混料(包括系列、规格、尺寸、颜色、日期)印字须清晰、包装箱变形、破损等情形；

电子料进料检验规范

1．目的及适用范围
本检验规范的目的是保证本公司所购电子类物料的质量符合要求。

本检验规范适用于滨濠电子有限公司的电子类物料检验及相关活动。

如果客人有特殊要求，以客人要求为准。

2．参照文件、依据：
2.1 《检验控制程序》
2.2 《数值抽样计划使用规范》
2.3 可靠性试验和相关技术、工程设计参数资料及相关的工程文件。

3．规范内容：
3．1检验方式及工具仪器：采用目视或万用表，游标卡尺,电桥,耐压测试仪等测量工具.
3．2缺陷分类及定义
致命缺陷(CR)：有安全之隐患会对制造者，使用者造成人身伤害或不符合安规要求之缺陷。

严重缺陷(MA)：无法满足制造期望，功能丧失或部分功能丧失，严重影响外观之缺陷。

轻微缺陷(MI)：不影响产品正常使用之功能之缺陷。

3．3判定依据：抽样检验依《MIL-STD-105E（II-A）》正常检验单次抽样计划标准 IQC来料抽样检验所采用之AQL值：CR=0 MA=0.25 MI=1.5
3．4 所有物料需符合RHOS的相关要求
3. 5检验项目、标准、缺陷分类:附一览表
4．相关记录与表格
4.1 《进货检验报告》
4.2 《生产品质异常单》
4.3 《纠正预防措施单》
4.4 《送检单》
4.5 《采购订单合同》。

电子元器件来料检验标准指导书(新版)

电子元器件来料检验标准指导书目的：对IQC品检人员的作业方法及流程进行规范,提高IQC检验作业水平，控制来料不良，提高品质。

1、实用范围：来料进料检验2、质检步骤（1）来料暂收（2）来料检查（3）物料入库3、质检要点及规范（1）来料暂收：仓管收到供应商的送货单后根据送货单核对来料：数量，种类及标签内容等无误后送交IQC 检验，予以暂收，并签回货单给来料厂商。

（2）来料检查：IQC品检人员收到进料验收单后，依验收单和采购单核对来料与标签内容是否相符，来料规格，种类；是否相符，如不符拒检验，并通知仓管、采购及生管，如符合，则进行下一步检验。

一般先抽查来料的一定比例（以仓库来料质检标准），查看品质情况，再决定入库全检，还是退料。

（3）检查内容：（1）外观：自然光或日光灯下，距离样品30CM目视；（2）尺寸规格：用卡尺/钢尺测量，厚度用卡尺/外径千分尺测量；（3）粘性分别按：GB/T4852-2002、GB/T4851-1998、GB/T2792-1998中方法执行，结果记录于《可靠度测试报告》中；（4）包装完好、标识正确、完整、清晰，环保材料查看是否贴有相应的环保标签，第一批进料时要附SGS报告及物质安全表及客户要求的其它有害物质检测报告；（5）检验合格后贴上合格标签，填写《物料检验表》并通知仓库入库，仓库要按材料类型（环保与实用型）及种类分开放置标示清楚，成品料由IQC人员包装放于待出货区。

以仓库物料质检标准。

（6）物料入库：检查完毕，要提交《原材料进库验货》交上级处理，并对合格暂收物料进行入库登记。

异常物料特《原材料进库验货》批示后，按批示处理。

4、注意事项（1）要保持物料的整洁。

（2）贵重物品及特殊要求物料要逐一检查。

（3）新的物料需给技术开发部确认。

5、异常处理办法物料在检验过程中发现异常，即时向采购及品管主管反映，录求解决方法，尽快处理。

6、不合格品的处理：（1）IQC判定为不合格时，在产品包装外贴上退货/拒收标签，把产品转移到不合格/退货区域，并报品质主管确认签字后，送采购/生管签名后发到供应商，供应商未在2个工作日内回复的报仓库直接作退货处理；如为急料，经品质主管与采购，生管，业务协商后，呈经理审批，按评审意见办理；（2）跟据供应商提供的改善方案，IQC品管员对下批来料改善效果进行确认，并记录结果。

电子元件、原材料进厂检验

1、范围本标准规定了公司智能控制器的外协、外购件进厂的检验实施细则。

本细则适用于非本公司生产的所有元器件、零部件，其中包括如电子元器件类、线路板类、金属件类、塑料件类、弹簧类。

2、进厂通用检验程序2.1原材料进厂后按公司《统计抽样规定》抽取样本，检验样本，并保存检验记录，检验记录至少保存2个日历年。

2.2经检验或试验确认采购产品不能满足规定要求时，应判定为不合格品。

2.3所有数据的检测环境温度均应在23±3℃为最佳。

一般为17~28℃，相对湿度：45~70%RH2.4所有来料规格型号标识应与物料和订单相对应。

3外购物品检验标准3.1电阻器类（报检）3.1.1外观和工艺要求：外观完好，标识清晰；色环印刷应清晰，绝缘层或Ni/Cr薄膜无脱落;引脚光亮，无锈迹、可焊性好；包装完好，应有合格证明。

3.1.2电器性能要求：阻值、功率、精度等参数与标识相符；实际测量值应在允许偏差范围内±1%；引脚排列顺序、尺寸符合要求。

3.1.3检验方法首先按标识读出电阻的标称值，然后选择数字万用表或数字电桥电阻档的合适量程，对电阻进行检验。

色环电阻标识四色环金色代表允许偏差±5%，银色代表允许偏差±10%；五色环棕色代表允许偏差±1%。

电位器：旋柄转动应平滑、灵活；首先按数字标识读出电位器的标称值，然后选择数字万用表电阻档的合适的量程，测量电位器的1、3脚对电位器进行阻值检验。

用钟表专用小一字螺丝刀转动电位器的旋柄，检验旋柄转动是否平滑、灵活。

压敏电阻：绝缘电阻应为无穷大。

将指针万用表的量程开关拨至R×10KΩ或R×100KΩ测出压敏电阻的阻值，然后交换表笔再测量一次，若两次测得的阻值均为无穷大，则该压敏电阻合格，否则说明其漏电严重不可使用。

多脚排阻：首先按印刷标识读出电阻的标称值，然后选择数字万用表电阻档的合适的量程，对多脚阻排进行检验，阻排的第一脚与其他任意脚之间的阻值应与标称值相近误差范围在允许范围内。

电子元器件来料检验标准精选全文

丝印清晰，轻微模糊但能识别规格可接受，用酒精擦拭不脱落
外观
插脚应无严重氧化、断裂现象
插件电容引脚带轻微氧化不直接影响其焊接
电容本体不得有破损、变形、电解电容介质外溢、电解漏液等现象
包装
包装方式为袋装或盘装
外包装需贴有明显物料标识且与实物相符
盘装或盒装排列方向一致，盘装料不允许有中断少数等现象
电气
量测其容值必须与标识及对应之产品送检单、外贴标识相符
包装
外包装需贴有明显物品标示且应与实物相符
芯片必须有防静盘隔层放置且须密封
电气
对用拷贝机检读其存读功能应与对型号相符且能拷贝内容或刷新重拷为OK
对IC直接与对应之产品插装进行电脑测试，整体功能OK（参照测试标准）
浸锡
焊端/引脚可焊锡度不低于90%
晶振
尺寸
高度/脚距尺寸不允许超出图面公差范围
表体丝印需清晰可辨且型号、方向标示无误，且经超声波清洗后无掉落，模无法辨别其规格
外观
本体无残缺、生锈、变形，底座与外壳焊接应牢固无缝隙
引脚应无氧化、断裂、松动
包装
必须用胶带密封包装
外包装需贴有明显物品标示且应与实物相符
电气
量测其各引脚间无开路、断路
与对应之产品插装进行上网测试整体功能OK（参照测试标准）
浸锡
焊端/引脚可焊锡度不低于90%
包装
包装无破损，方式为盒装或盘装
外包装需贴有明显物料标识且与实物相符
盘装或盒装排列方向一致，盘装料不允许有中断少数等现象
电气
量测其阻值必须与标识及对应之产品送检单、外贴标识相符
浸锡
焊端/引脚可焊锡度不低于90%
电容
尺寸
贴片类电容长、宽、高允许公差范围为±0.2mm

电子元器件来料检验要求规范

电子元器件来料检验要求规范一、检验流程及要求：1.检验员应按照检验规程进行工作，保证检验流程的正确性和标准化。

2.对于每一个元器件批次，必须进行检验记录和保存，包括来料检验报告、检验数据记录等，以备随时查阅。

二、检验项目及要求：1.外观检验：-检查元器件外观是否完整，无明显破损、划痕等。

-检查元器件标识是否清晰，无模糊、歪斜等问题。

-检查元器件引脚是否正常，无变形或损坏。

2.尺寸和封装检验：-检查元器件尺寸是否符合标准规定。

-检查元器件封装是否完整，无明显变形或焊接不良。

3.引脚电性参数检验：-检查元器件引脚电性参数是否符合规范，如电压、电流、频率等。

-使用适当的测试仪器进行测试，并记录测试数据。

4.功能性能检验：-检查元器件的功能是否正常，如开关、放大、传输等特性。

-使用适当的测试仪器进行测试，并记录测试数据。

5.环境适应性检验：-检查元器件在不同温度、湿度等环境条件下是否能正常工作。

-使用适当的测试设备进行测试，并记录测试数据。

6.可靠性检验：-检查元器件的可靠性，包括耐压、耐久性等要求。

-使用适当的测试设备进行测试，并记录测试数据。

三、检验设备及环境要求：1.检验员应熟悉所用的检验设备，确保其可靠性和准确性。

2.检验设备和环境应处于良好状态，保证检验结果的可靠性。

3.检验设备应定期校验和维护，确保其工作正常。

四、来料检验文件要求：1.对每一批次的来料元器件，应填写并保存来料检验报告。

2.来料检验报告应包括如下内容：元器件型号、批次号、检验日期、检验结果等。

3.检验报告应妥善保存，并能随时提供给需要方查阅。

五、不合格品处理要求：1.对于不合格的元器件，检验员应立即报告相关负责人，并进行适当的记录和处理。

2.不合格品应加以标识，并妥善保存，以便在后续环节进行追踪和处理。

3.不合格品的处理应符合相关规范和制度，包括报废、退货、返修等等。

六、检验周期及频次：1.来料检验的周期和频次应根据元器件的重要性和质量稳定性要求来确定。

电子元器件来料检验规范

电子元器件来料检验规范在电子制造业中，来料检验是确保产品质量的重要环节。

电子元器件作为电路中不可或缺的组成部分，其质量对整个电子产品的性能指标和寿命产生重要影响。

因此，来料检验对于保证电子产品可靠性、提高产品质量具有举足轻重的作用。

一、检验流程1、检验计划制定制定电子元器件来料检验规范前，需明确该元器件的类型、技术规格、封装形式、器件等级、包装方式、生产厂家、批次信息等，建立相应的计划和标准。

基于最低限度可接受品质水平（AQL）等级，确定受检数量、抽样方式、检查水平等检验统计学参数。

2、来料检验项目包括外观检查、合格标志、引脚间距、引脚绕线、焊盘、安装位、器件型号规格等。

根据情况，还可以进行与器件外观、尺寸、结构、性能参数等相关项目的检验。

3、检验判定对检验结果进行判定并处理。

如有不合格品，按照相应的处理方法进行处理，如返工、报废、换货等。

4、入库管理对已检验并合格的电子元器件进行标记、打码和封装，并及时归档入库，确保下一车间或批次装配时的顺利运行。

二、检验标准1、封装标准除了一些极少数应用特殊场合、特殊要求的封装外，大多数电子元器件都使用标准封装。

应按照标准封装规范对电子元器件进行检验。

2、外观标准外观一般分为两类检验标准：第一类：用于一般元器件外观检查，包括引脚的位置、焊盘、引脚绕线、安装位等重要特征。

相关标准：IPC-A-610D （电子元器件外观标准质量标准）。

第二类：用于细微缺陷的检查，包括表面者划痕、表面污点等，相关标准：MIL-STD-883E（微电子装置和材料的可靠性试验程序）。

3、性能标准对于器件的性能检验，可以按照通用标准将器件分为不同的等级，然后按照等级对其性能进行检验，逐级升高才能使用。

4、环境标准元器件的使用环境与使用寿命有直接关系。

电子元器件应在经过各种测试、评估、可靠性验证后，才能向客户交付。

针对这一点，可采用温度、湿度等各类环境适应性测试。

5、供应链管理标准来料检验规范除了对元器件本身进行检查外，还涉及到电子元器件供应链的管理，此外也应遵循GB/T 3098.1的相关规定。

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管不合格。
注：有标记的一端为负极。
其它二极管
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。
注：有颜色标记的一端为负极。
备注
抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每
盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂数字万用表操作指
检验时，必须佩带静电带。
(五)排针&插槽(座)类检验规范
1. 目的
作为IQC人员检验排针&插槽(座)类物料之依据。
2. 适用范围
适用于本公司所有排针&插槽(座)之检验。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR): 0;
引＂。
（二）插件用电解电容.
1. 目的
作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2. 适用范围
适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR):0;
主要缺点(MA): ;
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受；
b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；
c.本体变形，破损等不可接受；
生锈氧化，均不可接受。
目检
可焊性检验
MA
上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收)
MA
a.PIN上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；(将零件脚插入
现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒钟
左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收)
实际操作
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
安装检验
MA
a.针脚不能与标准PCB顺利安装;
b
5. 参考文件
《LCR数字电桥操作指引》、
《数字电容表操作指引》。
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
通用电子元件进料检验规范
通用电子元件进料检验规范
（一）贴片元件检验规范(电容,电阻,电感)
1. 目的
便于IQC人员检验贴片元件类物料。
2. 适用范围
适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
实际操作
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
尺寸规格检验
MA
a.外形尺寸不符合规格要求不可接受。
卡尺
若用于新的Model，需在PCB上对应的位置进行试插
电性检验
MA
a.电容值超出规格要求则不可接受。
用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测
（三）晶体类检验规范
1. 目的
作为IQC人员检验晶体类物料之依据。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR):0;
主要缺点(MA): ;
次要缺点(MI):;
5. 参考文件
《LCR数字电桥操作指引》
《数字万用表操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；
c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；
d.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.晶体不能起振不可接受；
b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位
和数字频率计
电性检测方法
晶体
检测方法
2. 适用范围
适用于本公司所用晶体之检验。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR):0;
主要缺点(MA): ;
次要缺点(MI):;
5. 参考文件
《数字频率计操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；
主要缺点(MA): ;
次要缺点(MI): ;
5. 参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
电性检验
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR测试仪
数字万用表
检验时，必须佩带静电带。
二极管类型
检测方法
LED
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极
次要缺点(MI):;
5. 参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超
过0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；
氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。
目检
10倍以上的放大镜
在好的样板的相应位置插上待测晶体, 再接通电源开机; 在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机
显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都
正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.字体模糊不清，难以辨认不可接受；
格范围内，则该晶体不合格。
（四）三极管检验规范
1. 目的
作为IQC人员检验三极管类物料之依据。
2. 适用范围
适用于本公司所有三极管之检验。
3. 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点(CR):0;
主要缺点(MA): ;
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不能辩认；
b.塑料与针脚不能紧固连接；
c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；
d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;
e.针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少；
f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;
g.针脚端部成蘑菇状影响安装.
目检
焊锡性检验
卡尺
针脚露出机板长度的标准为~2.0mm范围内。
（六）CABLE类检验规范