纳米材料的表征方法
纳米材料的光谱表征方法
纳米材料的光谱表征方法纳米材料是一种具有尺寸在纳米尺度范围内的物质，其具有独特的电子、光学、磁性等性质。
了解和掌握纳米材料的结构和性质对于研究和应用具有重要意义。
光谱表征方法是一种常用的手段，可以提供关于纳米材料的化学成分、晶体结构、光学性质等信息。
本文将重点介绍几种常见的纳米材料光谱表征方法。
一、紫外-可见吸收光谱（UV-Vis）紫外-可见吸收光谱是一种常用的方法，用于研究纳米材料在紫外-可见波段的吸收和反射特性。
利用UV-Vis光谱，可以推断纳米材料的能带结构、导电性、色散等信息。
此外，通过对比纳米材料样品的吸收光谱与标准物质的光谱进行比较，还可以定量分析纳米材料的成分。
二、拉曼光谱拉曼光谱是纳米材料表征中常用的非破坏性光谱技术之一。
拉曼散射现象产生的光谱可提供关于纳米材料的晶格振动、分子构型和化学键信息。
拉曼光谱的优点在于非常灵敏，能够检测到纳米材料的微小结构变化。
通过拉曼光谱分析，可以评估纳米材料的晶体质量、结晶度和应力等性质。
三、荧光光谱荧光光谱是通过激发纳米材料产生的荧光现象来研究其光学性质。
纳米材料荧光光谱的形状、位置和强度等信息能够揭示材料的发射能级、能带结构和激子自由性能。
同时，荧光光谱还可以用于检测纳米材料的缺陷及杂质。
四、X射线衍射（XRD）X射线衍射是一种常用的确定纳米材料晶体结构的方法。
通过测量纳米材料的衍射图样，可以推断晶体的晶格结构和晶格参数。
此外，X射线衍射还能提供纳米材料的物相、晶粒尺寸及其分布等信息。
对于纳米材料的结构研究来说，X射线衍射是一种重要的工具。
五、透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜是一种常用的纳米材料表征工具，能够提供高分辨率的显微图像。
通过TEM观察，可以获得纳米材料的形貌、尺寸、晶体结构等信息。
此外，TEM还可以进行选区电子衍射，从而获取纳米材料的晶格结构、晶格定向等信息。
总结起来，纳米材料的光谱表征方法包括紫外-可见吸收光谱、拉曼光谱、荧光光谱、X射线衍射和透射电子显微镜。
纳米材料的表征技术
纳米材料的表征技术纳米材料是指尺寸在1-100纳米范围内的物质，具有独特的物理、化学和生物学特性。
由于其特殊的性质，纳米材料在许多领域得到了广泛应用，如电子、医药、环保等。
然而，纳米材料的表征技术也成为了研究和应用中的重要问题。
本文将介绍几种常用的纳米材料表征技术。
1. 扫描电子显微镜(SEM)SEM是一种基于电子束与样品相互作用原理的表征技术。
SEM能够通过高能电子束扫描样品表面，得到高清晰度的表面形貌和微观结构信息。
这种技术在纳米材料表征中应用广泛，可以用于纳米材料形貌的观察和尺寸的测量等。
2. 透射电子显微镜(TEM)TEM是另一种基于电子束与样品相互作用原理的表征技术。
TEM能够通过高能电子束透射样品，得到高分辨率的内部结构信息。
在纳米材料表征中，TEM可以用于纳米结构和晶体结构的观察和分析等。
3. X射线衍射(XRD)XRD是一种基于X射线与样品相互作用原理的表征技术。
XRD可以通过对样品中晶体结构的衍射图案进行分析，得到样品的晶体结构信息。
在纳米材料表征中，XRD可以用于纳米晶体的尺寸、晶体结构和晶体缺陷等性质的研究。
4. 热重分析(TGA)TGA是一种基于样品质量随温度变化的表征技术。
通过对样品在不同温度下的质量变化情况进行分析，可以得到样品的热稳定性等信息。
在纳米材料表征中，TGA可以用于纳米材料的热稳定性和热分解过程等性质的研究。
综上所述，纳米材料的表征技术是纳米材料研究和应用中的重要问题。
扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射和热重分析是常用的纳米材料表征技术，可以用于纳米材料形貌、结构、尺寸、晶体结构、热稳定性等性质的研究。
纳米材料的表征方法
纳米材料的表征方法随着科技的快速发展，纳米材料逐渐成为各个领域的研究热点。
纳米材料的特殊性质和应用潜力使得其表征方法变得至关重要。
纳米材料的表征涉及到其形貌、尺寸、结构、成分以及物理和化学特性等方面的分析。
本文将介绍几种常用的纳米材料表征方法。
1. 扫描电子显微镜（SEM）SEM是一种基于电子束与材料相互作用的表征技术。
通过SEM可以获得纳米材料的形貌和表面特征。
它可以提供高分辨率的图像，从而使我们能够观察到纳米级别的细节。
同时，SEM还可以通过能谱分析技术（EDX）获得纳米材料的元素成分信息。
2. 透射电子显微镜（TEM）TEM是一种利用电子束通过纳米材料薄片进行投射和散射的方法来观察样品的结构和形貌的技术。
相比于SEM，TEM能够提供更高的分辨率，能够观察到更细微的细节。
利用TEM还可以确定纳米材料的晶体结构、晶格参数和晶面取向等信息。
3. X射线衍射（XRD）XRD是一种利用X射线与晶体相互作用的分析技术，对于纳米材料的晶体结构和成分分析十分重要。
通过测量样品散射的X射线的特征衍射图案，可以推断出纳米材料的晶体结构、晶格常数和相对晶体的定向度。
4. 傅里叶变换红外光谱（FTIR）FTIR是一种用来分析纳米材料的化学组成和结构的技术。
它基于红外辐射与材料吸收光谱的原理，通过测量纳米材料吸收不同波长的红外光线的强度变化，从而得到样品的化学信息。
利用FTIR还可以检测纳米材料中的官能团和键的类型。
5. 激光粒度仪激光粒度仪是一种常用的用于测量纳米材料粒径分布的仪器。
它通过测量光散射的强度来确定样品中颗粒的尺寸分布。
激光粒度仪不仅可以提供纳米材料的平均粒径，还可以分析其尺寸分布的均匀性，从而对纳米材料的制备工艺进行优化。
除了以上介绍的几种常用的纳米材料表征方法，还有许多其他的技术可供选择，如原子力显微镜（AFM）、拉曼光谱、热重分析（TGA）等。
选择适合的表征方法需要根据具体的研究目的和所要分析的属性来确定。
纳米材料的表征方法
STM的优点
它有原子量级的极高分辨率(横向可达0.1nm，纵向可达 0.01nm),即能直接观察到单原子层表面的局部结构 。 比如表 面缺陷、表面吸附体的形态和位置等. STM能够给出表面的三维图像 STM可在不同的环境条件下工作,包括真空、大气、低温,甚至 样品可浸在水中或电解液中,所以适用于研究环境因素对样品表 面的影响. 可研究纳米薄膜的分子结构.
原子力显微镜AFM
AFM的主要应用
纳米材料的 形貌测定 生物材料研 究 黏弹性材料 的表面加工
X射线衍射法（XRD）
XRD是鉴定物质晶相的有效手段。 利用XRD谱图可以推断出纳米材料的结晶度和 层状结构的有序度。 利用XRD图结合Debye-scherrer公式，又衍射 峰的半高宽计算对应晶面方向上的平均粒径 D=Rλ/βcosθ
பைடு நூலகம்
D为粒子直径，R为Scherrer常数（0.89）, λ为入射X光波长 （0.15406 nm），θ为衍射角（°），β为衍射峰的半高峰 宽（rad）。
XRD在纳米材料中的应用
物相结构的分析 介孔材料的分析 纳米薄膜的厚度以及界面结构的测定.
SEM的主要功能
三维形貌的观察和分析
观察分析纳米材料的形貌 直接观察大样品的原始表面
扫描隧道显微镜(STM)
扫描隧道显微 镜工作原理示 意图
STM针尖
STM在纳米材料中的应用
测量单分子、单个纳米颗粒、单根纳米线和纳米管 等的电学、力学以及化学特性.
对表面进行纳米加工,构建新一代的纳米电子器件.
磁原子力显微镜或者专用的仪器纳米材料表征手段透射电子显微镜tem的主要功能研究纳米材料的结晶情况观察纳米材料的形貌分散情况评估纳米粒子的粒径
纳米材料的机械性能表征方法
纳米材料的机械性能表征方法纳米材料是以纳米尺度为特征尺度的新型材料，其在材料科学和工程领域中具有广泛的应用前景。
然而，由于其特殊的尺度效应和表面效应等因素，纳米材料的机械性能表征变得更加困难和重要。
本文将介绍一些常见的纳米材料的机械性能表征方法。
1. 纳米压痕测试纳米压痕测试是一种常见的纳米力学实验测试方法，可以用于测量纳米材料的硬度、弹性模量、塑性变形等机械性能。
在该测试中，一种称为压头的纳米尺度探针被压入样品表面，通过记录探针在样品表面上的位移和力的关系，可以计算出样品的力位移曲线，并由此得到材料的硬度和弹性模量等性能参数。
2. 纳米拉伸测试纳米拉伸测试是用于测量纳米材料的拉伸性能的一种方法。
在该测试中，纳米材料的一端固定，另一端受力施加，通过拉伸过程中的应力和应变的测量，可以得到纳米材料的拉伸强度、断裂应变等性能参数。
这种方法通常需要高分辨率的力学测试仪器和纳米尺度的夹持装置。
3. 纳米压缩测试纳米压缩测试是一种用于测量纳米材料在压缩加载下的性能的方法。
在该测试中，纳米材料被夹持在两个探头之间，并施加压缩力。
通过测量压缩过程中的力和位移，可以计算出纳米材料的压缩强度、压缩应变等性能参数。
该方法也需要高分辨率的力学测试仪器和精确的夹持装置。
4. 纳米划痕测试纳米划痕测试是一种用于测量纳米材料硬度和耐磨性的方法。
在该测试中，一种称为纳米划痕仪的仪器通过在样品表面上施加载荷并移动探针来进行测试。
通过测量探针表面的位移和力的关系，可以得到纳米材料的硬度和耐磨性等性能参数。
5. 纳米压痕显微镜纳米压痕显微镜是一种结合显微镜和压痕测试的技术，可以对纳米材料的机械性能进行实时观察和表征。
通过纳米压痕显微镜，可以实时观察纳米材料在压痕测试中的力位移曲线、位移分布等信息，以及材料的表面形貌变化，从而进一步分析材料的机械性能。
总的来说，纳米材料的机械性能表征是一个复杂而重要的课题，需要结合多种表征方法来进行。
纳米材料化学反应中的表征及其机理研究
纳米材料化学反应中的表征及其机理研究近年来，纳米材料化学反应已经成为了科学界研究的热门话题。
这种反应采用纳米级别的材料作为反应物，通过化学反应中的一系列机理，生成新型的纳米材料。
但是，这些纳米材料的性质在很大程度上取决于其制备过程中的化学反应机理。
因此，在纳米材料化学反应中，通过表征反应物和反应产物的性质以及反应机理的研究，可以进一步提高纳米材料在材料科学、生物医学、能源等领域的应用。
一、表征纳米材料的常用方法1. 电子显微镜（electron microscopy）电子显微镜是表征纳米材料的重要工具之一。
其原理是利用高能的电子束来照射样品表面，从而观察样品表面的形貌和结构。
通过电子显微镜，可以精确地观测到纳米材料的大小、形状、晶体结构等特征，从而确定其纳米级别的性质。
2. X射线衍射（X-ray diffraction）X射线衍射是一种非常有效的检测物质晶体结构的工具。
其原理是利用X射线束通过样品时，X射线与晶体原子之间的相互作用使得X射线发生衍射现象。
通过测量衍射图案，或者称为探测样品对X射线反射的结构，可以确定样品中晶体的类型、晶格常数、晶粒大小、晶体缺陷等。
3. 红外光谱（infrared spectroscopy）红外光谱是在不破坏样品的条件下，利用红外光与样品相互作用，通过测定不同波数下样品吸收红外光的量来描述样品化学成分及其分子结构。
纳米材料通常有较大的表面积，因此相比通常的材料更容易被分散，表面分子对催化活性的影响将更加明显。
红外光谱可以对反应物的表面分子结构变化、吸附情况等作出精确的表征。
二、纳米材料化学反应机理的研究纳米材料化学反应的机理对其反应产物的性质具有重要影响。
常用的纳米材料化学反应机理研究方法包括多种追踪反应过程的技术，如原位光谱学、电子显微学、质谱分析和热重-气相色谱-质谱联用技术等。
1. 原位光谱学原位光谱学是一种实验室研究化学反应动力学的重要工具。
原位光谱学技术通过对反应物或产物在反应过程中的吸收或发射光谱进行实时监测，研究反应物质在不同条件下转化的速率、产物的种类和结构以及反应的机理。
纳米材料的制备与表征方法详解
纳米材料的制备与表征方法详解纳米材料是指具有至少一维尺寸在1-100纳米范围内的材料。
由于其特殊的尺寸效应和表面效应，纳米材料具有许多独特的物理、化学和生物性质，广泛应用于能源、电子、生物医学等领域。
本文将详细介绍纳米材料的制备与表征方法，以帮助读者更好地了解和应用这些材料。
一、纳米材料的制备方法1. 物理法物理法是指利用物理原理和方法制备纳米材料。
常见的物理法包括磁控溅射、蒸发凝聚、惰性气氛法等。
磁控溅射是将靶材置于真空室中，然后通过气体离子轰击靶材表面，使靶材原子冲击脱离并堆积在基底上，从而获得纳米薄膜。
蒸发凝聚是将材料加热到显著高于其熔点的温度，使其蒸发并在冷凝器上再凝结为纳米颗粒。
惰性气氛法是在惰性气氛中利用高温反应或氧化物还原反应生成纳米材料。
2. 化学法化学法是指利用化学反应和溶液合成方法制备纳米材料，常见的化学法包括溶胶-凝胶法、聚合物溶胶法等。
溶胶-凝胶法是将溶胶（纳米颗粒的前体）悬浮在溶液中，通过控制温度、浓度和pH值等条件使其凝胶形成纳米材料。
聚合物溶胶法是将聚合物与金属盐或金属前体形成配合物，然后通过控制溶液组成和pH值等条件制备纳米材料。
3. 生物法生物法是指利用生物体、生物分子和生物反应合成纳米材料。
常见的生物法有生物还原法、生物矿化法等。
生物还原法是利用微生物、酶或植物等生物体将金属离子还原为金属纳米材料。
生物矿化法是利用生物体或生物分子作为催化剂，在无机物晶体表面上沉积金属纳米颗粒。
二、纳米材料的表征方法1. 透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜是用来观察纳米材料形貌和晶体结构的重要工具。
它通过透射电子束穿透样品，产生透射电镜像，并从中获得样品纳米颗粒的尺寸、形状和分布情况以及晶体结构信息。
2. 扫描电子显微镜（SEM）扫描电子显微镜可用于观察纳米材料的表面形貌和拓扑结构。
它通过聚焦电子束扫描样品表面，形成二次电子、反射电子和荧光X射线等信号，并通过探测二次电子图像来获得样品的表面形貌和微观结构。
纳米材料的表征方法和工具介绍
纳米材料的表征方法和工具介绍随着纳米科技的迅速发展，纳米材料的研究和应用越来越重要。
然而，纳米材料的特殊性质决定了常规材料表征方法的局限性，因此需要采用专门的方法和工具来对纳米材料进行表征。
本文将介绍几种常用的纳米材料表征方法和工具，帮助读者更好地了解纳米材料的特性。
在纳米材料的表征中，最常用的方法之一是透射电子显微镜（TEM）。
TEM利用电子束替代了可见光，可以提供比光学显微镜更高的分辨率。
通过将样品置于电子束中，可以观察纳米材料的形貌、尺寸和结构等。
此外，TEM还常常结合能量散射谱（EDS）分析，用于确定纳米材料的元素成分和组成。
TEM是一种非常强大的工具，可以提供关于纳米材料的详细微观结构信息。
扫描电子显微镜（SEM）是另一种常用的纳米材料表征工具。
不同于TEM，SEM可以提供更大的视野，并且可以用于观察表面形貌和表面组成。
SEM使用电子束扫描样品表面，通过测量电子的反射和散射来生成显微图像。
此外，SEM还可以通过探针激发技术（EDS）分析表面的元素成分。
与TEM相比，SEM更适用于纳米材料的表面形貌和排列的研究。
除了电子显微镜，纳米材料的结构表征也可以借助X射线衍射（XRD）来实现。
XRD是一种基于材料对X射线的散射规律进行分析的技术。
通过测量样品对X射线的散射强度和角度，可以确定纳米材料的结晶结构、晶粒大小和晶格参数等信息。
XRD常用于研究纳米材料的晶体结构和相变行为，对于纳米化材料的结构调控非常有价值。
此外，拉曼光谱也是一种常用的纳米材料表征方法。
拉曼光谱通过测量光的散射来获得样品的振动信息，可以得到纳米材料的分子结构、纳米颗粒的大小以及纳米结构的应变等信息。
相较于其他表征方法，拉曼光谱具有非侵入性、无需样品处理等优点，适用于对纳米材料进行原位、非破坏性的表征。
特别是在研究碳纳米管、纳米颗粒和纳米二维材料时，拉曼光谱被广泛应用。
另外，热重分析（TGA）也是表征纳米材料性质的重要方法之一。
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纳米材料的表征及其催化效果评价方式纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、等电点、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。
纳米材料催化效果评价方式主要是在光照（紫外、可见光、红外光或者太阳光）条件下纳米材料对一些污染物质（甲基橙、罗丹明B、亚甲基蓝和Cr6+等）的降解或者对一些物质的转化（用于选择性的合成过程）。
评价指标为污染物质的去除效率、物质的转化效率以及反应的一级动力学常数k的大小。
1 、结构表征XRD，ED，FT-IR, Raman，DLS2 、成份分析AAS，ICP-AES，XPS，EDS3 、形貌表征TEM，SEM，AFM4 、性质表征-光、电、磁、热、力等…UV-Vis，PL，Photocurrent1. TEMTEM为透射电子显微镜，分辨率为～，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于微米、光学显微镜下无法看清的结构。
TEM是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。
The morphologies of the samples were studied by a Shimadzu SSX-550 field-emission scanning electron microscopy (SEM) system, and a JEOL JEM-2010 transmission electron microscopy (TEM)[1].一般情况下，TEM还会装配High-Resolution TEM（高分辨率透射电子显微镜）、EDX（能量弥散X射线谱）和SAED（选区电子衍射）。
High-Resolution TEM用于观察纳米材料的晶面参数，推断出纳米材料的晶型；EDX一般用于分析样品里面含有的元素，以及元素所占的比率；SAED用于实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。
SEM 表示扫描电子显微镜，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构和电子结构等等。
SEM 也是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。
The morphologies of the samples were studied by a Shimadzu SSX-550 field-emission scanning electron microscopy (SEM ) system, and a JEOL JEM-2010 transmission electron microscopy (TEM )[1]..SEM 一般会装配EDX ，用于分析材料的元素成分及所占比率。
(a) SEM image of TiO2nanofibersAFM是指原子力显微镜，原子力显微镜的优点是在大气条件下，以高倍率观察样品表面，可用于几乎所有样品（对表面光洁度有一定要求），而不需要进行其他制样处理，就可以得到样品表面的三维形貌图象。
The anatase (101) surface and the rutile (001), (100), and (110) surfaces have been characterized by X-ray diffraction (XRD) and by atomic force microscopy (AFM)[2].《XRD是X射线衍射的缩写，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料的晶型结构、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
基本上对于纳米材料的文献都会用到。
The phases of the samples were characterized by X-ray diffraction (XRD), employing a scanning rate of ° per second in a 2θ rang ing from 10°to 80°, using a Bruker D8 Advance X-ray diffractometer (Cu Kα radiation, λ = Å)[1].DRS是漫反射谱，是通过光在检验物质表面反射测其反射光线的光谱。
主要用于测定纳米材料的吸光特性，并据此估算出纳米材料的禁带宽度。
可以看出材料在可见光下是否有吸收，一般合成催化材料的文献都会用到该仪器。
The UV−vis DRS was performed at room temperature on VARIAN Cary-5000 from 200 nm to 800 nm, using BaSO4 as the reflectance standard[1].图片来自[3]6. PL—PL是光致发光的缩写，主要可以用来估计纳米材料的电荷分离效率，实验之前要先确定材料的激发波长。
一般情况下，弱的荧光强度表示更高的电荷分离效率，所以催化效果也会相应的提高。
The photoluminscence (PL) emission mainly resulted from the recombination of excited electrons and holes, and a lower PL intensity indicated a higher separation efficiency[1].The photoluminescence (PL) spectra were recorded by F-4600 fluorescence spectrophotometer (Hitachi, Japan) under ambient conditions. The excitation wavelength was 315 nm, the scanning speed was 1200 nm/min, and the slot widths of the excitation slit and the emission slit were both nm[1].7. XPSXPS是X射线光电子能谱分析的缩写，XPS可以用来测量：元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He 以外的所有元素；元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度；固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面电子的电子云分布和能级结构等；化合物的结构，可以对内层电子结合能的化学位移精确测量，提供化学键和电荷分布方面的信息。
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) measurements were performed on a PHI 5000C ESCA system with Mg KR source operated at kVand 25 mA. All the binding energies were referenced to the C1s peak at eV from the surface adventitious carbon[4].[8. Raman通过对拉曼光谱的分析可以知道物质的振动转动能级情况，从而可以鉴别物质，分析物质的性质。
Raman spectroscopic measurements were performed on a Renishaw inVia Raman System 1000 with a 532 nm Nd:YAG excitation source at room temperature[3].9. FT-IR红外光谱，在有机物分子中，组成化学键或官能团的原子处于不断振动的状态，其振动频率与红外光的振动频率相当。
所以，用红外光照射有机物分子时，分子中的化学键或官能团可发生震动吸收，不同的化学键或官能团吸收频率不同，在红外光谱上将处于不同位置，从而可获得分子中含有何种化学键或官能团的信息。
一般材料中含有机物的纳米材料会用到FTIR分析（如石墨烯）。
The Fourier transformed infrared spectroscopy (FTIR) was performed on a Nicolet Nexus 670 FTIR spectrophotometer at a resolution of 4 cm-1[3].~10. DLS动态光散射，DLS技术测量粒子粒径，具有准确、快速、可重复性好等优点，已经成为纳米科技中比较常规的一种表征方法。
随着仪器的更新和数据处理技术的发展，现在的动态光散射仪器不仅具备测量粒径的功能，还具有测量Zeta电位、大分子的分子量等的能力。
Investigate the interaction of EPS with QDs at the two photic conditions (light and dark, described above) by sizing microgels formation measured using dynamic light scattering (DLS; Brookhaven Instruments, Holtsville, NY USA)[5].11. BET测试法—氮气吸附/解吸分析BET测试法是BET比表面积测试法的简称，主要可以看出纳米材料的氮气吸附曲线和孔径分布图。
（Specific surface areas of the catalysts were measured at 77 K by Brunauer Emmett Teller (BET) nitrogen adsorption desorption (Micromeritics ASAP 2010 Instrument)[6].N2Adsorption/Desorption Analysis. The N2adsorption −desorption isotherms and Barrett−Joyner−Halenda (BJH) pore size distributions of all the samples are shown in Figure 5[7].12. 光电流的测定光生空穴和电子产生之后，空穴被电解液捕获，而电子转移到后接触点，因而产生光电流。
因此对光电流的测定可以估计电荷的分离效率以及空穴电子对的复合效率，光电流的增强说明空穴电子对分离效率高并且存在更少的复合。
The photocurrent developed by irradiating the photoanode (TiO2) with either UV or visible light was recorded with an electrochemical workstation (Model CHI660A, CH Instruments Co.). The photoelectrochemical cell was a three-electrode system: a TiO2film located in the middle of the cell as a working electrode, a saturated calomel electrode as reference, and a platinum wire parallel to the working electrode as a counter electrode. All measurements were conducted at room temperature and ion a N2atmosphere to obtain highly reproducible data. The electrolyte was mol/L Na2SO4aqueous solution. The working electrode was activated in the electrolyte for 2 h before measurement[1].13. ESRESR是电子自旋共振的缩写，电子顺磁共振谱仪的主要应用：一是研究矿物中顺磁性杂质离子(浓度低于1%)，如过度元素离子和稀土元素离子的类质同像置换、有序-无序、化学键及晶格参量和局域对称；二是研究于点缺陷有关的电子-空穴中心的类型、浓度、性质等。