基于verilog的边沿检测电路

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X450Verilog参考例程-逻辑分析仪DIY

X450Verilog参考例程-逻辑分析仪DIY

笔记19 DIY逻辑分析仪一、背景知识逻辑分析仪是一种类似于示波器的波形测试设备,它可以监测硬件电路工作时的逻辑电平(高或低),存储后用图形的方式直观地表达出来,主要是方便用户在数字电路的调试中观察输出的逻辑电平值。

逻辑分析仪是电路开发中不可缺少的设备,通过它,可以迅速地定位错误,解决问题,达到事半功倍的效果。

如图6.1所示,一个逻辑分析的基本功能架构主要包括数据采样、触发控制、数据存储和现实控制四大部分。

图6.1 逻辑分析仪功能框图逻辑分析仪是利用时钟从测试设备上采集和显示数字信号的仪器,主要作用是时序判定。

由于逻辑分析仪不像示波器那样有许多电压等级,通常只显示两个电压(逻辑0和1)。

因此,设定了参考电压后,逻辑分析仪将被测信号通过比较器进行判定,高于参考电压者逻辑为1,低于参考电压者为逻辑0,在逻辑1与逻辑0之间形成数字波形。

整体而言,逻辑分析仪测量被测信号时,并不会显示出电压值,只是简单的显示逻辑1或者逻辑0的差别。

如果要测量电压就一定需要使用示波器。

除了电压值的显示不同外,逻辑分析仪与示波器的另一个差别在于通道数量。

一般的示波器只有2个通道或4个通道,而逻辑分析仪可以拥有从16个通道、32个通道、64个通道和上百个通道数不等,因此逻辑分析仪具备同时进行多通道测试的优势,更适合于对总线式信号的调试。

根据硬件设备设计上的差异,目前市面上逻辑分析仪大致上可分为独立式(或单机型)逻辑分析仪和需结合电脑的卡式虚拟逻辑分析仪。

独立式逻辑分析仪是将所有的测试软件、运算管理元件以及整合在一台仪器之中;卡式虚拟逻辑分析仪则需要搭配电脑一起使用,显示屏也与主机分开。

就整体规格而言,独立式逻辑分析仪已发展到相当高标准的产品,例如采样率可达8GHz、通道数可扩充到300个通道以上,存储深度相对也高,独立式逻辑分析仪价格昂贵,一般用户很少用得起。

基于计算机接口的卡式虚拟逻辑分析仪,以较小的成本提供了相应的性能,但是卡式虚拟逻辑分析仪也有很大缺点,它需要配备电脑才能使用,尤其数字测试中,工程师往往会陷入一堆PCB板中,采用旋转按钮的仪器要比在屏幕上移动鼠标更加方便。

集成电路边界扫描测试中的电路网表结构分析

集成电路边界扫描测试中的电路网表结构分析

集成电路边界扫描测试中的电路网表结构分析集成电路边界扫描测试(Boundary Scan Testing,BST)是一种广泛应用于VLSI设计和制造中的测试技术。

BST是一种将测试功能集成到复杂的芯片设计中的方法,它可以诊断集成电路中的任何一个缺陷,从而提高产品的质量和性能。

BST采用的核心技术是边界扫描技术(Boundary Scan),用于测试芯片的连接性、可编程逻辑器件(Programmable Logic Devices,PLD)和电路的故障诊断。

在BST中,电路网表结构分析是非常关键的一个步骤。

电路网表结构指的是VLSI集成电路中各个模块相互连接的电路线路结构,也就是电路的物理连接方式。

电路网表结构分析的主要目的是找出部分设计错误和模块之间的错误连接,以确保VLSI集成电路在边界扫描测试过程中能够被正确地测试。

电路网表结构分析需要一些专门的工具和软件来实现。

首先,我们需要对VLSI集成电路进行仿真和验证,确定其运行正确。

然后,需要将电路分解成多个模块和其相应的边界扫描单元(Boundary Scan Cells)。

Boundary Scan Cells是一种可设置逻辑器件,可以被串联到某个端口上,常常与电路网表结构密切相关。

在电路网表结构分析的过程中,我们需要同时验证电路网表结构和单元测试。

我们可以通过检查边界扫描链上的信号线路和寄存器电路是否正确来检测电路网表结构错误。

如果有任何电路连接错误,那么边界扫描测试将无法在这些错误地连接的边界扫描单元上进行正确测试,从而导致电路测试失败。

电路网表结构分析在VLSI设计过程中非常重要,它可以帮助我们找出设计中的错误和潜在的问题,最终确保集成电路在真正的测试前可以顺利进行边界扫描测试,从而提高产品的质量和性能。

在今后的VLSI设计工作中,电路网表结构分析将继续发挥重要作用,帮助人们设计出更加合理、优秀的电路设计。

verilog计数器设计原理

verilog计数器设计原理

Verilog计数器设计原理1. 介绍计数器是一种常见的数字电路,用于计算和记录事件的数量。

在数字系统中,计数器通常用于生成时钟信号、控制状态机、实现频率分频等应用。

Verilog是一种硬件描述语言,可以用于设计和仿真数字电路。

本文将详细介绍与Verilog计数器设计相关的基本原理。

2. 计数器的基本概念计数器是一种能够在输入脉冲信号的作用下进行累加或递减操作的数字电路。

它通常由触发器和逻辑门组成,触发器用于存储和传递数据,逻辑门用于控制触发器的工作状态。

2.1 同步计数器同步计数器是通过时钟信号来同步各个触发器的状态转换,以实现数据的累加或递减操作。

它包含一个时钟输入端(CLK)和一个复位输入端(RST)。

2.1.1 同步正向计数器同步正向计数器是最简单的同步计数器之一,它能够在每个上升沿时钟信号到达时进行累加操作。

2.1.1.1 原理同步正向计数器由多个触发器和逻辑门组成,其中每个触发器都有一个时钟输入端和一个复位输入端。

当时钟信号的上升沿到达时,触发器的状态将根据输入信号进行更新。

具体的原理如下:1.初始化:将计数器的初始值设置为0。

2.时钟边沿检测:当时钟信号的上升沿到达时,进入下一步操作。

3.累加操作:根据触发器的当前状态进行累加操作。

如果触发器为0,则变为1;如果触发器为1,则变为0。

4.检测溢出:如果最高位触发器由1变为0,则表示计数溢出,需要将其他低位触发器进行进位操作。

2.1.1.2 Verilog代码示例以下是一个4位同步正向计数器的Verilog代码示例:module synchronous_counter(input wire clk,input wire rst,output wire [3:0] count);reg [3:0] count;always @(posedge clk or posedge rst)beginif (rst)count <= 4'b0000;elsecount <= count + 1;endendmodule2.1.2 同步递减计数器同步递减计数器是同步正向计数器的一种扩展,它能够在每个上升沿时钟信号到达时进行递减操作。

《数字电子技术与接口技术试验教程》课件第5章

《数字电子技术与接口技术试验教程》课件第5章
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第5章 基于HDL的时序逻辑电路实验
图5-2 边沿D触发器的仿真结果
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第5章 基于HDL的时序逻辑电路实验 (2) 边沿D触发器的VHDL源代码如下:
--Behavioral D Flip-Flop with Clock Enable and Asynchronous Reset
entity Dflipflop is Port (D,clk,rst,ce : in STD_LOGIC; Q : out STD_LOGIC);
architecture Behavioral of DFF is begin
process(clk, rst,D) begin
if (CLK'event and CLK='1') then if rst ='1' then Q <= '0'; else Q<=D; end if;
end if; end process; end Behavioral;
end if; end process; end Behavioral;
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第5章 基于HDL的时序逻辑电路实验
(3) 带有置位和清零端的边沿D触发器的约束文件规定
如下:
#Basys2约束文件: NET "clk" LOC ="B8"; //时钟
#Basys2约束文件: NET "clk" LOC ="B8"; //时钟
end Dflipflop;
architecture Behavioral of Dflipflop is begin
process(clk, rst,D,ce)

脉冲边沿检测电路原理

脉冲边沿检测电路原理

优点
具有记忆功能,能够保持输出状态;对输入脉冲的幅度和 宽度要求较低。
应用场景
适用于需要记忆脉冲边沿状态的场合,如电机控制、遥控 开关等。
集成电路型
工作原理 优点 缺点
应用场景
集成电路型脉冲边沿检测电路采用专门的集成电路芯片实现脉 冲边沿检测功能,具有高度的集成化和智能化。
功能强大,性能稳定;易于实现复杂逻辑功能;体积小,重量 轻。
电源和偏置电路
为各级电路提供稳定的工作电压和偏置电流,确保电路 正常工作。
03 常见脉冲边沿检测电路类 型
单稳态触发器型
工作原理
单稳态触发器型脉冲边沿检测电路利用单稳态触发器的特性,在输入 脉冲的上升沿或下降沿触发时产生一定宽度的输出脉冲。
优点
电路结构简单,易于实现;输出脉冲宽度可调,适应性强。
可靠性
衡量电路在长时间工作过程中的稳定性和可靠性,包括温漂、时漂等参数的变化情况,应足够高 以保证长期稳定的性能表现。
06 脉冲边沿检测电路应用实 例分析
在数字系统中的应用
时钟同步
在数字系统中,脉冲边沿检测电路可用于实 现精确的时钟同步,确保各个数字模块在统 一的时钟信号下正常工作。
数据传输
通过检测脉冲信号的边沿变化,可以实现数字信号 的高速、准确传输,提高数据传输的效率和可靠性 。
可靠性。
智能化阶段
近年来,随着人工智能和机器学 习技术的发展,脉冲边沿检测电 路开始向智能化方向发展,通过 算法优化和自适应调整来提高检
测精度和响应速度。
02 脉冲边沿检测电路基本原 理
脉冲信号特性
01
02
03
脉冲幅度表示脉冲信号电压或来自流 的最大值,决定了信号的 强度。

基于FPGA的抖动及消抖的方法

基于FPGA的抖动及消抖的方法

基于FPGA的抖动及消抖的方法抖动的产生通常的按键所用开关为机械弹性开关,当机械触点断开、闭合时,由于机械触点的弹性作用,一个按键开关在闭合时不会马上稳定地接通,在断开时也不会一下子断开。

因而在闭合及断开的瞬间均伴随有一连串的抖动,为了不产生这种现象而作的措施就是按键消抖。

抖动时间抖动时间的长短由按键的机械特性决定,一般为5ms~10ms。

这是一个很重要的时间参数,在很多场合都要用到按键稳定闭合时间的长短则是由操作人员的按键动作决定的,一般为零点几秒至数秒。

键抖动会引起一次按键被误读多次。

为确保FPGA对键的一次闭合仅作一次处理,必须去除键抖动。

在键闭合稳定时读取键的状态,并且必须判别到键释放稳定后再作处理。

FPGA内实现消抖的方法在FPGA内实现按键消抖的方法多种多样,但是最简单的是采用移位寄存器的方法进行消抖。

因为移位寄存器的方法不需要对时钟进行分频,也不需要进行延时等复杂操作,即可实现对按键边沿的检测。

假设未按下时键值=1.1、在无键按下时,移位寄存器samp[7:0]始终采集到高电平,即samp[7:0]=8b1111_1111;2、当键按下时,samp[7:0]将采集到低电平,数据的变化方式为samp[7:0]=8b1111_1110--8b1111_1100--8b1111_1000-- ........8b0000_0000;samp[7:0]=8b1111_ 1110即为按键下降沿。

3、当松开按键时,samp[7:0]将重新采集到高电平,数据变化方式为samp[7:0]=8b0000_0001--8b0000_0011-- ........--8b1111_1111;当samp[7:0]=8b0111_1111时,即为按键上升沿。

参考Verilog代码//模块名:EdgeDetect,边沿检测//button:按键,无键按下时为高电平//clk:10M时钟//rst:复位按钮,低电平有效//rise:检测到上升沿,高电平有效,宽度为1个clk//fall:检测到下降沿,高电平有效,宽度为1个clkmodule EdgeDetect(input clk,input rst,input button,output reg rise,output reg fall);。

verilog基本电路设计(包括:时钟域同步、无缝切换、异步fifo、去抖滤波))

verilog基本电路设计(包括:时钟域同步、无缝切换、异步fifo、去抖滤波))

Verilog基本电路设计(包括:时钟域同步、无缝切换、异步FIFO、去抖滤波))Verilog基本电路设计共包括四部分:单bit跨时钟域同步时钟无缝切换异步FIFO去抖滤波Verilog基本电路设计之一: 单bit跨时钟域同步(帖子链接:/thread-605419-1-1.html)看到坛子里不少朋友,对于基本数字电路存在这样那样的疑惑,本人决定开贴,介绍数字电路最常见的模块单元,希望给初学者带来帮助,也欢迎大佬们前来拍砖。

如果想要做数字设计,下面这些电路是一定会碰到的,也是所有大型IP,SOC设计必不可少的基础,主要包括异步信号的同步处理,同步FIFO,异步FIFO,时钟无缝切换,信号滤波debounce等等,后面会根据大家反馈情况再介绍新电路。

首先介绍异步信号的跨时钟域同步问题。

一般分为单bit的控制信号同步,以及多bit的数据信号同步。

多bit的信号同步会使用异步FIFO完成,而单bit的信号同步,又是时钟无缝切换电路以及异步FIFO电路的设计基础,这里先介绍单bit信号同步处理。

clka域下的信号signal_a,向异步的clkb域传递时,会产生亚稳态问题。

所有的亚稳态,归根结底就是setup/hold时间不满足导致。

在同一个时钟域下的信号,综合以及布线工具可以在data路径或者clock路径上插入buffer使得每一个DFF的setup/hold时间都满足;但是当signal_a在clkb域下使用时,由于clka与clkb异步,它们的相位关系不确定,那么在clkb的时钟沿到来时,无法确定signal_a此时是否处于稳定无变化状态,也即setup/hold时间无法确定,从而产生亚稳态。

这种异步信号在前后端流程里面是无法做时序分析的,也就是静态时序分析里常说的false_path。

消除亚稳态,就是采用多级DFF来采样来自另一个时钟域的信号,级数越多,同步过来的信号越稳定。

对于频率很高的设计,建议至少用三级DFF,而两级DFF同步则是所有异步信号处理的最基本要求。

verilog判断上升沿的方法

verilog判断上升沿的方法

verilog判断上升沿的方法在 Verilog 中判断上升沿的方法有多种。

以下是其中两种常用方法的介绍:方法一:使用边沿检测器要判断信号的上升沿,可以使用边沿检测器模块。

边沿检测器将输入信号与其之前的状态进行比较,当输入信号从低电平变为高电平时,输出产生一个上升沿脉冲。

以下是一个示例代码片段:```module EdgeDetector (input wire clk,input wire sig,output wire posedge);reg sig_prev = 0;always @(posedge clk) beginsig_prev <= sig;posedge <= (sig && !sig_prev);endendmodule```在上述示例中,输入信号 `sig` 和时钟信号 `clk` 都采用 `wire` 类型声明。

`sig_prev` 为上一个时刻的信号值,使用 `reg` 类型存储,并在时钟上升沿触发时进行更新。

`posedge` 为输出信号,当边沿检测到输入信号 `sig` 由低电平变为高电平时,输出一个脉冲。

方法二:使用组合逻辑Verilog 中也可以使用组合逻辑来判断上升沿。

以下是一个使用组合逻辑实现的示例代码片段:```module RisingEdgeDetector (input wire clk,input wire sig,output wire posedge);wire sig_prev = ~sig;assign posedge = (sig && sig_prev);endmodule```在上述示例中,`sig_prev` 通过对输入信号 `sig` 取反得到,用于表示上一个时刻的信号状态。

`posedge` 是一个输出信号,使用 `assign` 语句通过逻辑运算判断输入信号 `sig` 是否为高电平,并且上一个时刻的信号 `sig_prev` 为低电平。

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在时序逻辑电路中,少不了“沿”。

always块敏感信号中可以通过关键字posedge和negedge来提取信号的上升沿和下降沿。

但是如果在程序块内部需要某个信号的上升沿或者下降沿、或者对于按钮触发的模块,由于按钮按下的持续时间很长,相当于一个电平信号,而不是脉冲信号,这时就需要边沿检测电路将其处理成单时钟周期宽度的脉冲信号。

下面介绍几种基于verilog的边沿检测电路。

(软件平台为quartus11.1,ModelSim-Altera 10.0)
方法1:
①Verilog源码
module detecEdge (clk,rst_n,din,pos_clk,neg_clk,doub_clk);
input clk,rst_n,din;
output pos_clk,neg_clk,doub_clk;
reg ctl_this, ctl_last;
always @(posedge clk or negedge rst_n) //同步复位(注意与异步复位的区别)
begin
if(!rst_n) //低有效
begin
ctl_this <= 0;
ctl_last <= 0;
end
else begin //注意非阻塞赋值的作用
ctl_this <= din; //din的当前时钟值
ctl_last <= ctl_this; //din的前一个时钟值
end
end
//assign pos_clk = (ctl_last == 0 && ctl_this == 1)? 1:0; //上升沿检测
//assign neg_clk = (ctl_last == 1 && ctl_this == 0)? 1:0; //下降沿检测
assign pos_clk = ctl_this & (!ctl_last); //上升沿检测
assign neg_clk = ctl_last & (!ctl_this); //下降沿检测
assign doub_clk = ctl_last ^ ctl_this; //双边沿检测
endmodule
②RTL综合图
③消耗资源
④Modelsim仿真
testbench源码:
`timescale 1ns/1ps
module testbench;
reg clk, rst_n, din;
wire pos_clk, neg_clk, doub_clk;
//调用detecEdge模块
detecEdge inst(
.clk(clk),
.rst_n(rst_n),
.din(din),
.pos_clk(pos_clk),
.neg_clk(neg_clk),
.doub_clk(doub_clk)
);
initial //输入信号初始化
begin
rst_n = 0;
clk = 0;
din = 0;
#50;
rst_n = 1;
end
always #100 din = ~din; //输入激励
always #5 clk = ~clk; //系统时钟endmodule
仿真波形:
由仿真结果知,当din上升沿到来时,pos_clk输出一个脉冲信号(宽度为1个clk),同理,当din下降沿到来时,neg_clk输出一个脉冲信号,doub_clk在din的上升沿和下降沿都输出脉冲信号。

方法2:
①Verilog源码
module detecEdge(clk,rst_n,din,pos_clk,neg_clk,doub_clk);
input clk;
input rst_n;
input din;
output pos_clk;
output neg_clk;
output doub_clk;
reg [2:0] ctl_r; //din状态寄存器
always @(posedge clk or negedge rst_n) //注意异步复位与同步复位
if(!rst_n) //低有效
begin
ctl_r <= 3'b000;
end
else begin
ctl_r <= {ctl_r[1:0], din};
end
assign pos_clk = (!ctl_r[2]) & ctl_r[1]; //上升沿检测
assign neg_clk = (!ctl_r[1]) & ctl_r[2]; //下降沿检测
assign doub_clk = ctl_r[2] ^ ctl_r[1]; //双边沿检测
endmodule
或者:
module detecEdge(clk,rst_n,din,pos_clk,neg_clk,doub_clk);
input clk;
input rst_n;
input din;
output pos_clk;
output neg_clk;
output doub_clk;
reg ctl_r0, ctl_r1, ctl_r2;
always @(posedge clk or negedge rst_n)
if(!rst_n) //低有效
begin
ctl_r0 <= 1'b0;
ctl_r1 <= 1'b0;
ctl_r2 <= 1'b0;
end
else
begin
ctl_r0 <= din;
ctl_r1 <= ctl_r0;
ctl_r2 <= ctl_r1;
end
assign pos_ clk = (!ctl_r2) & ctl _r1;
assign neg_ clk = (!ctl_r1) & ctl_r2;
assign doub_clk = ctl_r1 ^ ctl_r2;
②RTL综合图
③消耗资源
④modelsim仿真
testbench源码:
`timescale 1ns/1ps
module testbench;
reg clk, rst_n, din;
wire pos_clk, neg_clk, doub_clk;
//调用detecEdge模块
detecEdge inst(
.clk(clk),
.rst_n(rst_n),
.din(din),
.pos_clk(pos_clk),
.neg_clk(neg_clk),
.doub_clk(doub_clk)
);
initial //输入信号初始化
begin
rst_n = 0;
clk = 0;
din = 0;
#50;
rst_n = 1;
end
always #100 din = ~din; //输入激励
always #5 clk = ~clk; //系统时钟
endmodule
仿真波形:
注意与方法1的仿真波形的区别。

(方法2延迟了1个时钟周期)。

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