II-3大型仪器鉴定之一电子探针XRFXRD
XRD、SEM、TEM、VSM、XPS、ICP等测试方法介绍
常用的xrd分析软件有4种：1.pcpdgwin我认为是最原始的了。
它是在衍射图谱标定以后，按照d值检索。
一般可以有限定元素、按照三强线、结合法等方法。
所检索出的卡片多时候不对。
一张复杂的衍射谱有时候一天也搞不定。
2.search match可以实现和原始实验数据的直接对接，可以自动或手动标定衍射峰的位置，对于一般的图都能很好的应付.而且有几个小工具使用很方便.如放大功能、十字定位线、坐标指示按钮、网格线条等。
最重要的是它有自动检索功能。
可以帮你很方便的检索出你要找的物相。
也可以进行各种限定以缩小检索范围。
如果你对于你的材料较为熟悉的话,对于一张含有4，5相的图谱，检索也就3分钟。
效率很高.而且它还有自动生成实验报告的功能!3.high score几乎search match中所有的功能,highscore都具备，而且它比searchmatch更实用。
（1）它可以调用的数据格式更多.(2）窗口设置更人性化，用户可以自己选择.（3)谱线位置的显示方式，可以让你更直接地看到检索的情况（4)手动加峰或减峰更加方便。
（5）可以对衍射图进行平滑等操作，是图更漂亮。
（6）可以更改原始数据的步长、起始角度等参数。
（7）可以进行0点的校正。
(8）可以对峰的外形进行校正。
(9）可以进行半定量分析。
（10)物相检索更加方便,检索方式更多.（11）可以编写批处理命令,对于同一系列的衍射图，一键搞定。
4.jade和highscore相比自动检索功能少差，但它有比之更多的功能.（1）它可以进行衍射峰的指标化。
（2）进行晶格参数的计算。
（3）根据标样对晶格参数进行校正。
（4）轻松计算峰的面积、质心。
（5)出图更加方便，你可以在图上进行更加随意的编辑。
xrd 即X—ray diffraction ，X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
X射线是一种波长很短(约为20～0.06┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
II-3-大型仪器鉴定之一电子探针、XRF、XRD
测定充填处理红宝石的结果显示充填物为
铅玻璃。
宝石鉴定常用大型仪器
电子探针
X荧光
X衍射
扫描电镜
透射电镜
红外
拉曼
X荧光原理
X射线照射到样品表面，产生特征X射线，根
据所得的特征X射线确定样品的元素组成。
X射线
原子
荧光(特征X射线)
定性分析与定量分析
X荧光定性分析
宝石鉴定方法
第三章 大型仪器鉴定
宝石鉴定大型仪器
对一般宝石品种的鉴定工作只需借助常规仪器即
可。
但随着人工生长与改善宝石技术的迅速提高，其
产品与天然相似物间的识别越来越难，有时为了
准确地鉴定，或者开展对宝石的研究工作，均需
动用大型仪器。
大型仪器不但购置和运转的成本高，而且常对样
品有损伤，应谨慎使用。
测量角度的重现性 ±0.001゜(θ)
扫描角度范围
-6～＋163゜（2θ）， -180～＋180゜（ θ ）
特点：
连锁安全结构
配备高速运转（10.00°/min）
高精度角度重现性（±0.0001°）
水平型测角仪，能够测定超大型样品、液体样品。
独立2轴驱动，可进行掠入射测量。
高温附件（25℃～1200℃）
料的成份会有一些不同。利用XRD,可进行陶
瓷、绘画考古,如产地及真伪的鉴别。
案例一：江苏新沂县花厅出土了两类陶器，一类属大汶口文
化，而另一类属良渚文化。刘方新等利用X射线衍射对这两
xrf 测试方法 标准
xrf 测试方法标准XRF 测试方法标准XRF（X射线荧光光谱仪）是一种常用的分析技术，可用于材料的成分分析、质量控制和环境监测等领域。
为了确保测试结果的准确性和可比性，需要依据标准化的测试方法进行操作。
本文将介绍XRF测试方法的标准，以及其应用于不同领域的重要性。
一、XRF测试方法概述XRF测试方法是一种基于材料对X射线的吸收和再辐射现象而建立的非破坏性分析技术。
通过测量样品在受激发射X射线的同时产生的荧光辐射，可以确定样品中元素的种类和相对含量。
XRF测试方法主要包括样品制备、仪器校准和数据分析三个步骤。
1. 样品制备样品制备是确保测试结果准确性的重要环节。
常用的样品制备方法包括固体样品研磨、溶液样品稀释和气体样品净化等。
合适的样品制备方法能够提高测试的精度和可靠性。
2. 仪器校准在进行XRF测试之前，需要对X射线荧光光谱仪进行校准。
仪器校准包括能量刻度、灵敏度调整和元素定量三个方面。
准确的仪器校准可以确保测试结果的可比性和准确性。
3. 数据分析XRF测试生成的数据需要经过分析和处理，以得出样品中元素的含量和配比。
数据分析方法包括标准样品校正、基质效应校正和内标法校正等。
合理的数据分析方法能够提高测试的准确性和可靠性。
二、XRF测试方法在材料分析中的应用XRF测试方法在材料分析中具有广泛的应用，可用于金属、矿石、陶瓷、涂层等多种材料的成分分析和质量控制。
1. 金属材料XRF测试方法可以对金属材料进行快速和准确的成分分析。
在金属生产和加工过程中，使用XRF进行质量控制可以有效地检测材料中的杂质和元素含量，保证产品质量。
2. 矿石分析矿石中的元素含量对于矿石的开采和选矿具有重要意义。
XRF测试方法可以在无需破坏矿石样品的情况下，快速、准确地分析矿石中的元素含量，为矿石资源的开发提供技术支持。
3. 陶瓷材料陶瓷材料的成分对其性能和质量具有重要影响。
通过XRF测试方法可以确定陶瓷材料中的主要元素含量，从而进行配方控制和产品质量监测。
【doc】电子探针X射线能谱法测定黄金饰品的成色
电子探针X射线能谱法测定黄金饰品的成色分析;量I试第l5卷第4期i996.7.25FENXICESHIXUEBAO(]our~10fInstruraentalAnalysis)甄强②《研究简报}I/-0\.,/电子探针X射线能谱法测定黄金饰品的成色陈唏(福建省;量I试技术研究所福州350003),,馥,摘要本文介绍电子探针能谱法测定舍金量5D～99黄金饰品的成色.该法无损,快速,准确.对柬汽稳定性要求不高且操作简便.关键词:电子探针,馓束分析.黄金饰品,x射线能谱倥.文献报遭的黄金饰品成色测定法"中,电子幂针测定法未见报道.本法主要特点是引入"杂质等效质量吸收系数"描述相屑含金量不同杂质组成对金元素特征谱线强度的影响,从而获得与样品杂质组成相似标样的金元素特征谱线强度,故分析准确度较高1测定原理与方法1.1常规电子探针定量理论要求标样与样品的组成相近才能达到较高的准确度.黄金饰品的杂质组成通常是铜,银和锌元素.由台阶状模型理论模拟计算结果(略)和实测样品结果(略)可证实,该体系样品中同一含金量固杂质组成不同而对金La谱线造成基体吸收效应差异明显,基体原子序数效应可忽略.现引入"杂质等效质量吸收系数"u描述该影响:U=(131.3×C^l+238.9×Ccu+261×C踟)/(C^l+Cc+C)(1)式中数字分别是银,铜和锌元素对金谱线的质量吸收系数;c^l,C和C分别是银,铜和锌含量.由定量修正理论,考虑到样品常呈凸形,则:C./c=g?L?(k./k.)/(1+D)(2)式中g=(zAF)/(zA);k,(ZAF)分别为经归一的金La谱线强度比值和相应的ZAF修正系数,下标0和1分别表示标样和样品}L为形状修正因子}D为与k./k.,U及C.有关的系数.(2)式即为本法测定含金量之依据.1.2用一组含金量为C.不同杂质组成的金首饰标样测定各标样的ko值并对相应的u值绘图得ko-U工作瞌线.在本实验精密度条件下k.与u均是一一相对应的关系.测算得样品的u即可在相应工作曲线上寻找到杂质组成相近的标样的k值.1.3对台阶状模型理论公式作数学近似处理可知含金量与u成线性关系,样品含金量可用有相同k/k值的Au—Ag体系样品含金量和Au—Cu体系样品含金量合成得方程式如下:CI—C.?LCg2?(238.9一U)十g3?(U一131.3))?(kI/k0)/(1+D)/107.6(3)式中u,D和(kl/k.)均对应于样品;g和g分别为与样品的(k,/k.)值相同的Au—Ag体系和Au—Cu体系的g.'36分析测试第15卷第4期(1996)1.4杂质比例相葡,含金量在c.附近变动时,ZAF反迭代计算结果表明Au—Ag或Au—cu体系的g均可表达为;g—a?(k/k0)/(1+D)+b(4)式中系数a,b与u和c.有关.1+5根据ZAF反迭代计算结果并经推导得; ......................................._-_-●●..______................一D一[1+s+√(1一s).一4+8(kl/ko一1)]/2(5)式中假设s与u成线性关系:s—d--e?U(6)(6)式中系数d,e与Co有关.1,6电子束从凸形样品弧顶垂直入射,利用归一化的金La谱线强度比值几乎消除了形状效应对测定值的影响.实测了成分相同的平面和弧面样品的含量其差别均在精密度范围内,故L取值l.2实验部分一2.1仪器与实验条件EPM一810Q电子探针(日本岛津公司);EDAX一9100/70能谱仪(日本菲力浦公司);加速电压25KV,取出角52.5.,总计数率约4500cps,束径100um,收集时间300s,点分析模式,使用AuLa,AgLa,CuKa及Znka谱线}背景位置3.7keV和17.5keV;电子束由弧形样品的弧顶垂直入射}标样为国家级金首饰标样.2.2能量标尺与镀窗厚度校正实验前校正能量标尺并测定等效铍窗厚度.2.3精密度测定与样品潮定在上述实验条件下绘制含金量2zK,l8K和14K三条Ku工作曲线}测定了本法的精密度(结果见表1)}测定了某公司提供的平面金样品和市售的金首饰并与ICP及XRF测定值相比对(结果分别见表2和表3)}测定了成分已知的对金牌(平面样品)(结果见表4).3讨论3.1分析准确度较高借助杂质等效质量吸收系数,在工作曲线上寻找接近样品杂质组成的标样.使标样与样品金La谱线的母(pz)形状相似,使相应的ZAF系数比值误差大大减少,是本法分析准确度较高的主要原因.3.2市售黄金饰品成分分析实验结果显示,每条工作曲线适用的含金量范围是一22K为83～99I18K为68～82;14K为50～67.在100um大束斑条件下可近似认为市售金饰品的成分是均匀的.3.3简化分析程序能谱无标样定量分析程序在修正计算时采用归一化使测定样品的束漉无需一致于标样,测定过程中无需稳定的束流.工作曲线一旦建立在相当一段时间内无需重测.3+4假设合理实测结果显示本法使用的一些假设较合适,当然还需实测更多的样品来验证.第l5卷第4期(1996)分析测试37衰1本所XRF和ICP实验室分别为本实验提供了有关分析数据,特此致谢.1橱德辉.福建分析溯试,1993,2(z)一12罗立强.岩矿溯试,1993,12(3)一2343刘毅生.分析溯试通报,1991,10(4)一534张人佶.物理.1981,30(2)t208参考文献(收稿日期:1995.5.25)ARapidNon-destructiveQuantitativeAnalyticalMethod0fGold inJewelrybyEMPA—EDSChertXi(FujianInsthuteofTestingTechnology,Fuzhou,350003)AbstracIAnEMPA/EDS(electrgnmicroprobeandenergydispersiveX—rayspectroscopy)quanti—tativemethodforthedeterminMion0fso~～99goldinjewelryisdeseribed.Themeth0dis characterizedbyitsNOII—destructiveness,rapidity,accuracy,simplicityandun—necessity0fprobecurrentstability.Keywords:EMPA,EDS,Gold.Jewelrv.。
仪器分析XRF
伦琴 —— X射线
• 1895年9月8日，伦琴正在做阴极射线实验。当他接通阴极射线管的电路 时，他惊奇地发现在附近一条长凳上的一个荧光屏（镀有一种荧光物质 氰亚铂酸钡）上开始发光，恰好象受一盏灯的感应激发出来似的。他断 开阴极射线管的电流，荧光屏即停止发光。由于阴极射线管完全被覆盖 ，伦琴很快就认识到当电流接通时，一定有某种不可见的辐射线自阴极 发出。由于这种辐射线的神密性质，他称之为“X射线”
INFRARED
UV
GAMMA
VISIBLE
X-RAYS
The Electromagnetic Spectrum
24
X射线性质
对大多数材料来说是无损的 (除了DNA)
对大数材料来说可以穿透1-50微米 穿透深度取决于X射线的能量 穿透深度取决于材料的性质 对样品的表面处理很敏感 每一个元素发射的X射线能量都是唯一的
22
X射线荧光
IONIZATION
EMISSION 高能量的X射线光子照射到内层电 子… 使得该电子摆脱原子核的束缚，逃出 原子并处于“激发”态 外层电子填充了该电离电子的空穴， 并…将多余的能量以X射线光子形 式释放出来
23
X射线是…
Electromagnetic Radiation
RADIO MICROWAVE
11
普朗克 —— 量子理论
• 1918年诺贝尔物理学奖的获得者 • 普朗克的伟大成就，就是创立了量子理论 • 普朗克公式：
E ( KeV ) h
hc
12.4
( A)
1.24
(nm )
12
X射线荧光: 两种方式-EDXRF和WDXRF
X射线荧光光谱仪介绍
X-射线荧光光谱仪(XRF)1、仪器介绍X-射线荧光光谱仪(XRF)，现有日本Rigaku公司生产的ZSX primus波长色散型XRF一台，及配套所必须的电源设备、冷循环水设备和前处理熔样机等。
X射线荧光光谱分析技术制样简单、分析快速方便、应用广泛，可用于测定包括岩石、土壤、沉积物等在内的各种地质样品的化学组成。
分析元素范围从Be(4)到U(92)，最常见的是用于主量元素分析，如SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3T、K2O、MgO、MnO、Na2O、P2O5、TiO2、LOI等元素。
2、仪器功能和技术参数：(1) 功能：定性分析、半定量分析和定量分析；(2) X射线管：4KW超薄端窗型(30μm)、铑靶X射线管；(3) 分光晶体：LiF(200)、Ge(111)、PET、RX25、LiF(220)；(4) 进样器：48位自动样品交换器；(5) 测角仪：SC：5-118度(2θ)；PC：13-148度(2θ)；(6) 分析元素范围：Be4-U92；(7) 线性范围：10-2 - 10-6；(8) 仪器稳定度：≤0.05%；(9) 测量误差：<5%。
3、应用和优势：XRF应用广泛，可用于岩石、矿物、土壤、植物、沉积物、冶金、矿业、钢铁、化工产品等样品中常量和痕量的定量分析。
具有快速方便、制样简单、无损测量、分析元素宽、灵敏度高等优点。
X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF)1、I nstrument Introducation:The wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometer (XRF) is ZSX primus, made by Rigaku, Japan, with a set of instruments of electrical power unit, cold circulating water equipment and automatic fusion machine. XRF is widely used for geological element analysis, including rocks, soils, sediments, etc, which is simplicity and convenience of operation. Its analyzable elements range is from Be (4) to U (92). XRF is most common for the analysis of major elements, such as SiO2, Al2O3, CaO, Fe2O3T, K2O, MgO, MnO, Na2O, P2O5, TiO2 and LOI.2、Instrument Technical Parameters:(1) Fucation: qualitative analysis, semi-quantitative analysis and quantitative analysis;(2) X-ray tube: 4KW ultrathin end-window (30μm) Rh target X-ray tube;(3) Analyzing crystals: LiF(200), Ge(111), PET, RX25, LiF(220)；(4) Sample injector: 48-bit automatic sample changement;(5) Angular instrument: SC: 5-118°(2θ); PC: 13-148°(2θ).(6) Analyzable elements range: Be4-U92;(7) Linear range: 10-2 - 10-6;(8) Stability: ≤0.05%;(9) Analysis error: <5%.3、Application and advantageXRF is widely used to analy major elements and trace elements in geological rocks, minerals, soils, plants, sediments, metallurgy, mining industry, steel, chemical products, etc. It is fast, convenient, simple, nondestructive, widely used and high sensitivity.。
分析仪器简介(埃文斯公司)
GD-MS构成：离子源、质量分析器、检测系统
SICC
GD-MS原理示意图
SICC
上图为一个简单的辉光放电装置。放电池中通入压力约 10~1000pa的惰性 气体（氩气），阴极和阳极之间施加一个电场。当达到足够高的电压时， 惰性气体被击穿电离。电离产生的大量电子和正离子在电场作用下分别向 相反方向加速，大量电子与气体原子的碰撞过程辐射出特征的辉光在放电 池中形成“负辉区”。正离子则撞击阴极（样品）表面通过动能传递使阴 极发生溅射。阴极溅射的产物为阴极材料的原子、原子团，也会产生二次 离子和二次电子。阴极的溅射过程正是样品原子的产生途径，也是样品可 进行深度分析的理论基础。在辉光放电形成的众多区域中，有两个对样品 分析重要的区域，分别是“负辉区”和“阴极暗区”。阴极暗区为一靠近 阴极表面的薄层区域，有较高的正离子密度，整个辉光放电的电压降几乎 全部加在这个区域。负辉区一般占有辉光放电的大部分容积，几乎是一个 无场的区域，电子承担着传导电流的作用。因此溅射产生的二次离子一般 会被拉回到电极表面形成沉积而很难通过阴极暗区，而中性的原子则会通 过扩散进入负辉区被激发或离子化，当然也可能在频繁的碰撞过程中返回， 这是辉光放电的一个明显的特点。辉光放电源具有能产生固体样品中具有 代表性组成的原子，同时具有产生这些原子的激发态和离子态的能力。因 此辉光放电既可作为光源也可作为离子源被应用到固态样品的含量和深度 分析中。
SICC
XPS技术原理
一束具有特定波长的X射线束照射样品表面，测量从样品 表面发射的光电子： 1、根据光电子的能量，确定样品表面存在的元素； 2、根据光电子的数量，确定元素在表面的含量； 3、X射线束在表面扫描，可以测得元素在表面的分布； 4、采用离子枪溅射及变角技术，可以得到元素在深度方 向的分布； 5、根据不同化学环境下光电子峰位移动、峰型、峰间距 变化，获得化学信息；
xrf是什么_xrf测试
XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容，并做了整体的讲解分析。
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。
所以X射线荧光仍是X射线。
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。
然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光.利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。
在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（Na）到92号元素（U）。
2.X射线荧光的物理原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。
X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。
一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。
其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应当电子空位。
这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。
由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。
这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。
X射线的波长元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X 射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z− s) −2式中K和S是常数。
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X荧光原理
? X射线照射到样品表面，产生特征X射线，根
据所得的特征X射线确定样品的元素组成。
X射线
原子
荧光 (特征 X射线 )来自定性分析与定量分析? X荧光定性分析 莫斯莱（moseley)定律 ? = k（Z-s）-2 特征波长? 与原子序数Z关系是定性分析的 基础。
? X荧光定量分析 在指定波长下，X射线荧光强度与被测元素 的含量成正比，是定量分析的依据。
宝石学应用
? 鉴定宝石种属
? 红宝石Al2O3、红色尖晶石MgAl2O4
? 合成宝石鉴别
? 早期的合成欧泊中有时含有天然欧泊中不存在的 Zr ? 合成蓝色尖晶石中存在Co ? 合成钻石中有时存在Fe、Ni等触媒剂成分 。
合成钻石中的金属包体
? 适用范围：液体、粉末、固体、金属、氧化物等，不受试样形状 和大小的限制，不破坏试样，要求试样应成分均匀。
? 用途：除了H，He，Li，Be，B，C，N外，可对周期表中从8~O到 92~U作元素的常量、微量的定性和定量分析。
? 特点:操作快速方便，谱线简单：在短时间内可同时完成多种元 素的分析。
? 缺点：灵敏度偏低，一般只能分析含量大于0.01％的元素
北京科技大学
? 名称：电子探针显微分析仪（EPMA） ? 型号：JEOL JXA-8100 ? 性能指标：日本电子生产，由四道谱仪、八块分光晶体组成，
专门购置了针对Be和B分析的分光晶体。 主要进行微区化学成分的定性定量分析，特别是轻元素的
定量分析。 二次电子分辨率：6nm（工作距离11mm） 束流范围：10-5 ~ 10-12A 束流稳定度：±0.5×10-3/h；±3×10-3/12h 放大倍数：×40 ~ ×300,000 元素探测范围：4Be ~ 92U 最大分析样品尺寸：100mm×100mm×50mm
? 技术指标： 功率：3KW X光管：超尖锐陶瓷X射线管 分析浓度范围：ppm-100％ 仪器稳定性: RMS≤0.5%
? 用 途: 适用于各种样品中元素的定性定量测定，分析元素范围 为C、O到U之间的元素， 并可进行镀层厚度及组成分析， 是一种快速、准确的无损检测方法。
北京工业大学材料学院
? 型 号： XRF-1800 ? 生产厂家：日本SHIMADZU(岛津) ? 启用日期：2009年10月
? 用途：用以研究微区的化学成份、表面形貌和结构特征等 。 ? 特点：微区分析，非破坏性。
EPMA 的原理
? 电子探针有一套完整的 X射线波长和能量探测装置（波 谱仪WDS和能谱仪 EDS），用来探测电子束轰击样品所 激发的特征 X射线。
? 由于特征 X射线的能量或波长随着原子序数的不同而不 同，只要探测入射电子在样品中激发出的特征 X射线波 长或能量，就可获得样品中所含的元素种类和含量， 以此对样品微区成分进行定量分析 。
北京大学
? 名称：X射线荧光光谱仪 ? 型号：S4-Explorer ? 厂家：德国 Bruker( 布鲁克)公司 ? 性能指标：采用多层膜分光晶体，优化准直器，
超薄75 mｍ铍窗， 1000 W端窗陶瓷 X光管 。1KW端 窗/75μm铍窗 1000W/多层膜分光晶体 /优化准直 器。1 KW端窗，超薄75μm铍窗，多层膜分光晶体， 优化准直器。 分析浓度范围 ppm至100%。
? 目前常用的宝石鉴定大型仪器有：
宝石鉴定常用大型仪器
? 电子探针 ? X荧光 ? X衍射
? 扫描电镜 ? 透射电镜 ? 红外 ? 拉曼
电子探针
Electron probe micro analyzer
? 电子探针分析（EMPA）的基本原理：用直径小于1μm的电 子束来激发样品，然后借助于相应的探测系统和信息处理 系统收集和处理被激发微区所产生的各种信息。 如特征Ｘ射线、二次电子、俄歇电子、透射电子及阴极荧 光等。
宝石鉴定方法
第三章 大型仪器鉴定
宝石鉴定大型仪器
? 对一般宝石品种的鉴定工作只需借助常规仪器即 可。
? 但随着人工生长与改善宝石技术的迅速提高，其 产品与天然相似物间的识别越来越难，有时为了 准确地鉴定，或者开展对宝石的研究工作，均需 动用大型仪器。
? 大型仪器不但购置和运转的成本高，而且常对样 品有损伤，应谨慎使用。
中国科学院地质与物理研究所
? 名称：JXA-8100型电子探针 型号：JXA-8100 性能指标： 日本JEOL公司生产 2006年7 月安装使用 配备4道波谱仪（WDS） 、 OXFORD公司INCA能谱仪（EDS） 以及GATAN公司MonoCL具展谱 功能的阴极发光分析仪（CL）。 空间分辨率7nm； 8块分光晶体，可分析F-U间的 元素。
? X射线荧光用途：成分的定性、定量分析。 可测定原子序数5~92的元素，可多元素同 时检测。其检测限达10-5~10-9 g·g-1（或 g·cm-3）。
? 优点：谱线简单；方法特征性强；不破坏 试样；分析含量范围广。
北京工业大学固体所
? 型 号： Magix(PW2403) ? 生产厂家：荷兰PANalytical公司 ? 启用日期：2003年11月
? 电子探针的优缺点： ? ?? 分析区小、准确度高、灵敏度高、 B-U 无损分析 ? ?? 低原子序数的误差较大，不能做大面积的成分平
均分析 ? ?? 仪器比较复杂，价格昂贵
制样的设备
制样
日本电子株式会社
中国科学院地质与物理研究所
? 名称：SX51型电子探针 型号：SX51 性能指标：法国CAMRCA公司生 产 1994年10月安装使用 配备3道波谱仪（WDS） 、 OXFORD公司LINK ISIS能谱仪 （EDS）以及阴极发光（CL） 探头。 空间分辨率7nm； 8块分光晶体，可分析NaU间的元素。
EPMA的其他应用
? 对宝石表面或露出宝石表面的晶体包体选 定微区作定点的成分分析和形貌扫描，得 出晶体包体的定性或者定量的化学成分， 图形，确定包体的种类。
? 测定充填处理红宝石的结果显示充填物为 铅玻璃。
宝石鉴定常用大型仪器
? 电子探针 ? X荧光 ? X衍射
? 扫描电镜 ? 透射电镜 ? 红外 ? 拉曼