光刻与刻蚀工艺流程
集成电路制造工艺之光刻与刻蚀工艺

任意粒子曝光的最高的分辨率
关于光束的线宽限制,对其他的粒子束同样适用。任何粒子束都具有波动性,即 德布罗意物质波,其波长λ与质量m、动能E的关系描述如下。粒子束的动能E为
其动量p 粒子束的波长
E 1 mV 2 2
phmV 2mE
由此,用粒子束可得到的 最 细线h 条为
、对比度
为了测量光刻胶的对比度,将一定厚度的光刻胶膜在不同的辐照剂量下曝光,然 后测量显影之后剩余光刻胶的膜厚,利用得到的光刻胶膜厚-曝光剂量响应曲线进行 计算就可以得到对比度。
光刻胶的对比度:不同的光刻胶膜厚-曝光剂量响应曲线的外推斜率。
Y2 Y1
X2 X1 光刻胶的对比度会直接影响到曝光后光刻胶膜的倾角和线宽。
根据对比度定义, Y2=0,Y1=1.0,X2=log10Dc,X1= log10Do。
正胶的对比度
p
1 log10 (Dc
Do )
Dc为完全除去正胶膜所需要的最小曝光剂量, Do为对正胶不产生曝光效果所允许的最大曝光剂量。
光刻胶的侧墙倾斜
在理想的曝光过程中,投到光刻胶上的辐照区域应该 等于掩模版上的透光区域,在其他区域应该没有辐照能 量。
显影方式与检测
目前广泛使用的显影的方式是喷洒方法。 可分为三个阶段: ①硅片被置于旋转台上,并且在硅片表面上喷洒显影液; ②然后硅片将在静止的状态下进行显影; ③显影完成之后,需要经过漂洗,之后再旋干。
喷洒方法的优点在于它可以满足工艺流水线的要求。
显影之后,一般要通过光学显微镜、扫描电镜(SEM)或者激光系统来检查图形的 尺寸是否满足要求。
8.3、光刻胶的基本属性
光学光刻胶通常包含有三种成份: ①聚合物材料(树脂):附着性和抗腐蚀性 ②感光材料:感光剂 ③溶剂:使光刻胶保持为液态
光刻与刻蚀工艺流程ppt

硅片准备
涂胶种类
根据光刻掩膜版的要求,选择合适的涂胶材料。
涂胶厚度
控制涂胶的厚度,一般要求均匀、无气泡、无杂质。
涂胶
曝光方式
根据光刻掩膜版图形设计要求,选择合适的曝光方式。
曝光时间
控制曝光时间,保证光刻胶充分反应且不过度曝光。
曝光
显影液选择
根据光刻胶的性质,选择合适的显影液。
控制显影时间
显影时间要适当,以充分溶解光刻胶,同时避免损伤硅片表面。
纳米科技领域需要借助光刻和刻蚀技术来制造纳米级结构,从而进一步探索纳米世界的奥秘。
在生物医学工程领域,光刻和刻蚀技术可以制造出复杂的微纳结构,用于药物输送、组织工程等应用。
纳米科技
生物医学工程
建议与展望
06
优化工艺参数
通过严格控制实验参数,如波长、功率、曝光时间等,以提高工艺稳定性和效率。
引入先进设备
xx年xx月xx日
光刻与刻蚀工艺流程ppt
CATALOGUE
目录
光刻和刻蚀工艺简介光刻工艺详细流程刻蚀工艺详细流程光刻和刻蚀工艺的控制因素光刻和刻蚀工艺的未来发展建议与展望
光刻和刻蚀工艺简介
01
1
光刻工艺发展历程
2
3
最早的光刻工艺,分辨率较低,制程技术限制较大。
接触式光刻工艺
改善了分辨率和制程技术限制的问题,但仍然存在接触式光刻工艺的一些缺点。
采用先进的自动控制系统和智能化设备,实现工艺过程的实时监控和精准调控。
改进工艺流程
简化工艺流程,减少重复步骤,降低工艺时间和成本。
提高工艺稳定性与效率的措施
技术交叉融合
加强光刻和刻蚀工艺与材料科学、物理学、化学等学科的交叉融合,引入新技术,如纳米压印、离子束刻蚀等,提高工艺水平和效率。
光刻与刻蚀工艺

光刻工艺的基本步骤
涂胶
将光刻胶涂敷在硅片表面,以形成 光刻胶层。
烘烤
通过烘烤使光刻胶层干燥并固化。
曝光
将掩膜版上的图形对准硅片上的光 刻胶层,并使用曝光设备将图形转 移到光刻胶上。
显影
使用显影液将曝光后的光刻胶进行 化学处理,使图形更加清晰地展现 出来。
光刻工艺的重要性
光刻工艺是半导体制造中的关键环节,直接影响芯片的制造 质量和性能。
非接触式光刻
投影式非接触
利用光学系统将掩膜板上的图像投影到光刻胶涂层上,优点是无需直接接触,缺点是难度较高,需要精确的控 制系统。
电子束光刻
利用电子束在光刻胶上直接曝光,优点是分辨率高、无需掩膜板,缺点是生产效率低。
投影式光刻
接触式投影
掩膜板与光刻胶涂层之间保持接触,通过投影系统将图像投影到光刻胶上,优点是操作简单、高效, 缺点是图像质量可能受到掩膜板损伤和光刻胶污染的影响。
涂胶/显影技术
01
02
03
涂胶
在晶圆表面涂上一层光敏 胶,以保护非曝光区域并 提高图像对比度。
显影
用适当的溶剂去除曝光区 域的光敏胶,以形成所需 的图案。
控制胶厚
保持胶厚均匀,以避免图 像的扭曲和失真。
烘烤与曝光技术
烘烤
通过加热去除晶圆表面的湿气,以提高光敏胶的灵敏度和图像质 量。
曝光
将掩模图像投影到光敏胶上,通过光化学反应将图像转移到晶圆 上。
扫描投影
利用扫描系统将掩膜板上的图像投影到光刻胶上,优点是分辨率高、生产效率高,缺点是需要精确的 控制系统和高质量的掩膜板。
03
光刻工艺中的关键技术
光学系统
紫外光源
产生短波长的光,以获得更好的分辨率和更来自的 特征尺寸。反射镜和透镜
第八章光刻与刻蚀工艺模板

第八章光刻与刻蚀工艺模板光刻与刻蚀工艺是现代集成电路制造中的重要工艺环节之一、光刻技术用于在硅片上制作电路图形,而刻蚀技术则用于去除不需要的材料,以形成所需的电路结构。
本章将介绍光刻与刻蚀工艺的基本原理及常见的工艺模板。
一、光刻工艺模板在光刻工艺中,需要使用光刻胶作为图形保护层,以及光罩作为图形的模板。
光刻模板通常由硅片或光刻胶制成,可以通过不同的工艺步骤来实现具体的图形需求。
1.硅片模板硅片模板是一种常见的光刻工艺模板,它的制作过程相对简单。
首先,将一块纯净的硅片进行氧化处理,形成硅的氧化层。
然后,在氧化层上通过光刻技术制作所需的图形。
最后,使用化学刻蚀方法去除不需要的硅的氧化层,就可以得到所需的硅片模板。
硅片模板具有较好的精度和可靠性,能够满足微纳加工的要求。
然而,硅片模板制作过程复杂,成本较高。
2.光刻胶模板光刻胶模板是利用光刻胶作为模板材料的一种工艺模板。
光刻胶是一种感光性的聚合物材料,可以在光照的作用下发生化学反应。
在光刻工艺中,首先将光刻胶涂覆在硅片上,然后通过光刻曝光将所需的图形转移到光刻胶上。
接下来,使用化学方法或溶剂去除不需要的光刻胶,就可以得到所需的光刻胶模板。
光刻胶模板制作过程简单,成本较低。
同时,光刻胶模板的精度较高,可以满足微纳加工的要求。
然而,光刻胶模板的使用寿命较短,通常只能使用几次。
在刻蚀工艺中,需要使用刻蚀胶作为图形保护层,以及刻蚀模板作为图形的模板。
刻蚀模板通常由硅片或光刻胶制成,可以通过不同的工艺步骤来实现具体的图形需求。
1.硅片模板硅片模板在刻蚀工艺中的制作方法与光刻工艺类似。
首先,在硅片上通过光刻技术制作所需的图形,然后使用化学刻蚀方法去除不需要的硅材料,就可以得到所需的刻蚀模板。
硅片模板具有较高的精度和可靠性,可以满足微纳加工的要求。
然而,硅片模板制作过程复杂,成本较高。
2.光刻胶模板光刻胶模板在刻蚀工艺中的制作方法与光刻工艺类似。
首先,将光刻胶涂覆在硅片上,然后通过光刻曝光将所需的图形转移到光刻胶上。
第八章光刻与刻蚀工艺

8.1 光刻工艺流程
2.涂胶Spin Coating ①对涂胶的要求:粘附良好,均匀,薄厚适当 胶膜太薄-针孔多,抗蚀性差; 胶膜太厚-分辨率低(分辨率是膜厚的5-8倍) ②涂胶方法:浸涂,喷涂,旋涂√
Photoresist Spin Coater
EBR: Edge bead removal边缘修复
8.6.6 投影式曝光
利用光学系统,将光刻版的图形投影在硅片上。
8.6.6 投影式曝光
优点:光刻版不受损伤, 对准精度高。 缺点:光学系统复杂, 对物镜成像要求高。 用于3μm以下光刻。
分步重复投影光刻机--Stepper
采用折射式光学系统和4X~5X的缩小透镜。 光刻版: 4X~5X; 曝光场:一次曝光只有硅片的一部分; 采用了分步对准聚焦技术。
h 2 2m E
a. E给定:m↑→ΔL↓→R↑,即R离子 > R电子 b. m给定:E↑→ΔL↓→R↑
8.3 光刻胶的 基本属性
1)光刻胶类型:正胶和负胶 ①正胶:显影时,感光部分 溶解,未感光部分不溶解; ②负胶:显影时,感光部分 不溶解,不感光部分溶解。
正胶(重氮萘醌)的光分解机理
负胶(聚乙烯醇肉桂酸脂)的光聚合机理
8.1 光刻工艺流程
③影响显影效果的主要因素: ⅰ)曝光时间; ⅱ)前烘的温度与时间; ⅲ)胶膜的厚度; ⅳ)显影液的浓度; ⅴ)显影液的温度; ④显影时间适当 t太短:可能留下光刻胶薄层→阻挡腐蚀SiO2(金属) →氧化层“小岛”。 t太长:光刻胶软化、膨胀、钻溶、浮胶 →图形边缘破坏。
第八章 光刻与刻蚀工艺
掩模版
掩膜版的质量要求 若每块掩膜版上图形成品率=90%,则 6块光刻版,其管芯图形成品率=(90%)6=53%; 10块光刻版,其管芯图形成品率=(90%)10=35%; 15块光刻版,其管芯图形成品率=(90%)15=21%; 最后的管芯成品率当然比其图形成品率还要低。 掩膜版尺寸:①接触式和接近式曝光机:1∶1 ②分步重复投影光刻机(Stepper): 4∶1;5∶1;10∶1
光刻及刻蚀讲解

1.光刻胶的分辨率(Resolution)
• 在光刻胶层能够产生的最小图形通常被作为 对光刻胶的分辨率。
• 产生的线条越小,分辨率越高。分辨率不仅 与光刻胶本身的结构、性质有关,还与特定 的工艺有关,比如:曝光光源、显影工艺等。
• 正胶的分辨率较负胶好,一般2μm以下工艺 用正胶
2.灵敏度S(Sensitivity)
光刻的要求
• 对光刻的要求
(1)高分辨率 (2)高灵敏度 (3)精密的套刻对准 (4)大尺寸硅片上的加工 (5)低缺陷
• 1.高分辨率
• 分辨率是将硅片上两个邻近的特征图形 区分开来的能力,即对光刻工艺中可以 达到的最小光刻图形尺寸的一种描述, 是光刻精度和清晰度的标志之一。随着 集成电路的集成度提高,加工的线条越 来越细,对分辨率的要求也越来越高。
与硅片表面接触不平整而产生的光散射现象。 • 为了提高分辨率,减少图形畸变,一次曝光的象场较小,采用扫描
式曝光。 • Fraunhofer diffraction 夫琅禾费衍射 • 投影式曝光虽有很多优点,但由于光刻设备中许多镜头需要特制设
备复杂
光学曝光的各种曝光方式及其利弊
接 优点:设备简单,分辨率高。 触 式 缺点:掩膜版与晶片易损伤,成品率低。
• 由于光刻胶顶层平面不平,所以该曝光方式中间隔并不严格为0
接近式曝光- proximity printing
• 最小宽带:Wm=(dλ)½ • d:间隔; λ:光源波长 • 分辨率取决于间隙的大小,一般分辨率较差,
为2-4μm,d=10μm,I-line(365nm)
→W≈2μm • 优点:接近式曝光是以牺牲分辨率来延长了掩
正胶和负胶的比较
• 正胶 a)分辨率高 小于1μm b)抗干法刻蚀能力强 c)较好的热稳定性
光刻与刻蚀工艺流程教材

+PR & -PR
Negative Photo-resist 负性光刻胶-负胶 曝光后不可溶解 显影时未曝光的被溶解 便宜 Positive Photo-resist 正性光刻胶-正胶 曝光后可溶解 显影时曝光的被溶解 高分辨率
ห้องสมุดไป่ตู้
光刻胶涂布-丝网印刷法
丝网印刷的基本原理是:利用丝网印版图文部分的网孔渗透油墨,非图文部分的 网孔不渗透油墨的基本原理进行印刷。印刷时在丝网印版一端上倒入油墨,用刮 印刮板在丝网印版上的油墨部位施加一定压力,同时朝丝网印版另一端移动,油 墨在移动中被刮板从图文部分的网孔中挤压到承印物上,如图所示。印刷过程中 刮板始终与丝网印版和基片呈线接触,一般接触角为30-60度。这种制作方法操 作简单、成本低、易实现大面积制作等优点。
140 120 100
T/℃
80 60 40 20 0 0 20 40 60 t/min 80 100 120
退 胶
氢氧化钠溶液
正胶工艺
基板处理
负胶工艺
涂胶 + 烘烤
曝光 显影、光刻
光刻胶涂布-旋转涂布法
滴胶 基片
旋转
旋涂结果
旋转涂布也称为甩胶,用转速和旋转时间可自由设定的甩胶机来进行,是利用高 速旋转的离心力作用,将光刻胶在基片表面均匀地展开,多余的光刻胶被甩掉, 最终获得一定厚度的光刻胶膜,光刻胶的膜厚是由光刻胶的粘度和甩胶的转速来 控制,通常这种方法可以获得优于±2%的涂布均匀性(边缘除外)。光刻胶涂 布的厚度与转速、时间、胶的特性有关系,此外旋转时产生的气流也会有一定的 影响。同时也存在一定的缺陷:气泡、彗星(胶层上存在的一些颗粒)、条纹、边 缘效应等,其中边缘效应对于小片和不规则片尤为明显。
(完整版)光刻与刻蚀工艺

光刻工艺过程
❖涂胶 coating ❖前烘 prebaking ❖曝光 exposure ❖显影 development ❖坚膜 postbake ❖刻蚀 etch ❖去胶 strip ❖检验 inspection
1、涂胶
SiO2
Si (1)氧化、清洗
光刻胶 SiO2
Si (2)涂胶、前烘
1、涂胶
❖ 在图形曝光的工 作区域,则需要等级 10或1的洁净室。
lithography
❖Introduction
❖ 光刻 ▪ 洁净室 ▪ 工艺流程 ▪ 光刻机 ▪ 光刻胶 ▪ 掩膜版
光刻原理(1)
❖ 掩膜版图形转移到光刻胶
▪ 在光刻过程中,光刻胶受到光辐射之后发生光 化学反应,其内部分子结构发生变化,在显影 液中光刻胶感光部分与未感光部分的溶解速度 相差非常大。
❖涂胶目的
▪ 在硅片表面形成厚度均匀、附着性强、并且没 有缺陷的光刻胶薄膜。
❖怎样才能让光刻胶粘的牢一些?
可以开始涂胶了……
❖ 怎么涂?
▪ 旋转涂胶法:把胶滴在硅片,然后使硅片高速旋转, 液态胶在旋转中因离心力作用由轴心沿径向(移动) 飞溅出去,但粘附在硅表面的胶受粘附力的作用而留 下。在旋转过程中胶所含的溶剂不断挥发,故可得到 一层均匀的胶膜
▪ (2)等级为M3.5的洁净室(公制),直径大 于或等于0.5um的尘埃粒子总数不超过103.5 (约3500个/m3)
❖ 100个/ft3= 3500个/m3
▪ 一个英制等级100的洁净室相当于公制等级 M3.5的洁净室。
洁净室(4)
❖ 对一般的IC制造 区域,需要等级100 的洁净室,约比一般 室内空气低4个数量 级。
Resist coat (wafer track)
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光刻与刻蚀工艺流程
光刻和刻蚀是半导体工艺中重要的步骤,用于制备芯片中的电路。
光
刻是一种通过使用光敏剂和光刻胶来转移图案到硅片上的技术。
刻蚀则是
指使用化学物质或物理能量来去除或改变表面的材料。
光刻工艺流程分为四个主要步骤:准备硅片、涂敷光刻胶、曝光和开发。
首先,准备硅片。
这包括清洗硅片表面以去除杂质和污染物,然后通
过浸泡于化学溶液中或使用化学气相沉积等方法在硅片上形成一层光刻胶
的基础层。
第二步是涂敷光刻胶。
将光刻胶倒入旋转涂胶机的旋转碟中,然后将
硅片放置在碟上。
通过旋转碟和光刻胶的黏度控制,使光刻胶均匀地铺在
硅片上。
光刻胶的厚度取决于所需的图案尺寸和深度。
第三步是曝光。
在光刻机中,将掩膜对准硅片,然后使用紫外线照射
光刻胶。
掩膜是一个透明的玻璃或石英板,上面有所需的电路图案。
曝光
过程中,光刻胶中的光敏剂会发生化学反应,使得光刻胶在被曝光的区域
变得溶解性,而未被曝光的区域仍保持完整。
最后一步是开发。
在开发过程中,使用盐酸、溶液或者有机溶剂等化
学溶液将未曝光的光刻胶从硅片上溶解掉。
溶解后就会出现光刻胶的图案,这相当于将掩膜中的图案转移到硅片上。
在完成开发后,再对硅片进行清
洗和干燥的处理。
刻蚀工艺流程通常根据需要的深度和形状来选择不同的刻蚀技术。
常
见的刻蚀技术有湿刻蚀和干刻蚀。
湿刻蚀是将硅片浸泡在一个含有化学溶液的反应槽中,溶液会去除不需要的材料。
刻蚀速度取决于化学溶液中的浓度和温度以及刻蚀时间。
湿刻蚀通常用于较浅的刻蚀深度和简单的结构。
干刻蚀是使用物理能量如等离子体来去除材料。
等离子体刻蚀分为反应离子束刻蚀(RIE)和电感耦合等离子体刻蚀(ICP)。
在等离子体刻蚀中,通过加热到高温的氩气等离子体释放离子,离子会以高速束流撞击竖立在硅片表面的物质,去除不需要的材料。
干刻蚀通常用于深刻蚀和复杂的纳米级结构。
在刻蚀过程中,为了保护不需要刻蚀的区域,通常会将硅片用光刻胶进行覆盖。
在刻蚀结束后,光刻胶可以去除,暴露出所需要的图案。
综上所述,光刻和刻蚀是半导体工艺中重要的步骤,用于制备芯片中的电路结构。
光刻通过使用光敏剂和光刻胶将图案转移到硅片上,而刻蚀则用于去除或改变硅片表面的材料。
这两个工艺步骤通常需要密切配合,以实现精确的电路结构制备。