数电实验指导书
数字电路 实验指导书

TPE-D型系列数字电路实验箱数字逻辑电路实验指导书实验一门电路逻辑功能及测试实验二组合逻辑电路(半加器、全加器及逻辑运算)实验三时序电路测试及研究实验四集成计数器及寄存器实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。
二、实验仪器及器件1、双踪示波器;2、实验用元器件74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片三、预习要求1、复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2、熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
3、了解双踪示波器使用方法。
四、实验内容实验前检查实验箱电源是否正常。
然后选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v,地线实验箱上备有)。
线接好后经实验指导教师检查无误可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源,接好后在通电实验。
1、测试门电路逻辑功能⑴选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。
⑵将电平开关按表1.1 置位,分别测出输出逻辑状态值及电压值填表。
表1.12、异或门逻辑功能测试⑴选二输入四异或门电路74LS86,按图1.5 接线,输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口,输出端A 、B 、Y 接电平显示发光二极管。
⑵ 将电平开关按表1.2 的状态转换,将结果填入表中。
表 1.23、逻辑电路的逻辑关系⑴ 用 74LS00 双输入四与非门电路,按图1.3、图1.4 接线,将输入输出逻辑关系 分别填入表1.2,表1.3 中。
1.3⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。
4、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器(非门)按图1.5 接线,输入80KHz 连续脉冲(实验箱脉冲源), 用双踪示波器测输入、输出相位差。
数字电子实验指导书

目录实验一集成门电路参数测试 (2)实验二集电极开路(OC)门及三态输出(TS)门 (6)实验三优先编码器译码器数据选择器 (9)实验四组合逻辑电路设计 (15)实验五触发器 (18)实验六寄存器 (22)实验七计数器 (25)实验八多谐振荡器和单稳态触发器设计 (29)实验九大规模集成电路设计(一) (31)实验十大规模集成电路设计(二) (35)实验十一数字电子综合设计 (38)附录一TH3-3模拟电路实验箱 (40)附录二THD-I型数字电路实验箱使用说明书 (42)附录三多组输出直流电源供应器 (44)附录四函数波发生器(GFG-82XX) (46)实验一集成门电路参数测试一.实验目的:1.熟悉数字集成元件的特点和使用方法,掌握集成芯片的外型和引脚号的查法。
2.熟悉TTL门电路静态参数,掌握测试方法。
3.掌握TTL、CMOS门电路的使用方法及注意事项。
二.实验设备及器件:数字电路实验板、稳压电源、四双输入端TTL与非门74LS00、四双输入端CMOS与非门CD4011、电位器一只、电阻两只。
(a) 74LS00管脚图(b) CD4011管脚图图2.1.1 74LS00 、CD4011管脚图三.实验内容及步骤:1、TTL与非门电路参数测试(1)输出高电平V OH测试V OH:输出高电平下限。
既当电源电压最低,输入低电平最高,输出电流最大时的输出电压值。
对74LS00取V CC=5V V IL=0.8V I OH=最大方法:如图2.1.2,一输入端接0.8V,其余输入端悬空,输出端通过电位器接地。
调节电位器使电流表读数最大,此时V O即为V OH 将其值填入表2.1.1实验记录中。
(2) 输出低电平V OL测试V OL:输出低电平上限。
即当电源电压最小,输入为高电平下限,输出低电平电流最大时输出电压值。
对74LS00取V CC=5V V IH=2V I OL=最大方法:如图2.1.3,输入端接2.0V,其它端悬空,输出端接入RL作为模拟负载。
数字电路实验指导书

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Hale Waihona Puke “ 0 ”; 当 R≥ 4 . 7K Ω 时 , 输 入 端 相 当 于 逻 辑 “ 1”。 对 于 不同系列的器件,要求的阻值不同。 3.输 出 端 不 允 许 直 接 接 电 源 或 接 地 ,有 时 为 了 使 后 级 电 路 获 得 较 高 的 输 出 电 平 ,允 许 输 出 端 通 过 电 阻 R 接 至 Vcc,一 般 取 R= 3~5.1 K Ω ; 不 允 许 直 接 并 联 使 用 ( 集 电 极 开 路 门和三态门除外) 。 4. 应 考 虑 电 路 的 负 载 能 力 ( 即 扇 出 系 数 ) ,要留有余地,以 免 影 响 电 路 的 正 常 工 作 。扇 出 系 数 可 通 过 查 阅 器 件 手 册 或 计算获得。 5.在 高 频 工 作 时 ,应 通 过 缩 短 引 线 、屏 蔽 干 扰 源 等 措 施 , 抑 制电流的尖峰干扰。 CMOS 数 字 集 成 电 路 的 特 点 1.静 态 功 耗 低 :电 源 电 压 V DD =5V 的 中 规 模 电 路 的 静 态 功 耗 小 于 100 μ W, 从 而 有 利 于 提 高 集 成 度 和 封 装 密 度 , 降 低 成本,减小电源功耗。 2.电 源 电 压 范 围 宽 :4000 系 列 CMOS 电 路 的 电 源 电 压 范 围 为 3~ 18V ,从 而 使 选 择 电 源 的 余 地 大 ,电 源 设 计 要 求 低 。 3 . 输 入 阻 抗 高 : 正 常 工 作 的 CMOS 集 成 电 路 , 其 输 入 端 保 护 二 极 管 处 于 反 偏 状 态 , 直 流 输 入 阻 抗 可 大 于 100M Ω , 在工作频率较高时,应考虑输入电容的影响。 4. 扇 出 能 力 强 :在 低 频 工 作 时 ,一 个 输 出 端 可 驱 动 50 个 以 上 的 CMOS 器 件 的 输 入 端 , 这 主 要 因 为 CMOS 器 件 的 输 入电阻高的缘故。 5.抗 干 扰 能 力 强 :CMOS 集 成 电 路 的 电 压 噪 声 容 限 可 达 电 源 电 压 的 45% , 而 且 高 电 平 和 低 电 平 的 噪 声 容 限 值 基 本 相 等。 6.逻 辑 摆 幅 大 : 空 载 时 ,输 出 高 电 平 V O H >( V D D -0.05V ) , 输 出 低 电 平 V O L < ( V S S +0.05V ) 。 CMOS 集 成 电 路 还 有 较 好 的 温 度 稳 定 性 和 较 强 的 抗 辐 射 能 力 。不 足 之 处 是 ,一 般 CMOS 器 件 的 工 作 速 度 比 TTL 集 成
数字电路实验指导书

实验一门电路逻辑功能测试及组成其他门电路一、实验目的1.掌握基本门电路逻辑功能测试方法。
2.掌握用与非门组成其他逻辑门的方法。
3.掌握Multisim元器件库中查找常用元件的方法。
二、实验设备及元器件1. PC人计算机及仿真软件Multisim 10。
2. 虚拟元件:与非门7400N、74LS04N、异或门7486N、三态门74LS125N。
3. 虚拟仪器:万用表XMM1、信号发生器XFG1、测量元件中的指示灯X1等。
三、实验内容1.测试与非门的逻辑功能(1)单击电子仿真软件Multisim 10基本界面左侧左列真实元件工具条的“TTL”按钮,从弹出的对话框中选取一个与非门7400N,将它放置在工作平台上;单击真实元件工具条的“电源”(Source)按钮,将电源和底线调出放置在电子平台上;单击真实元件工具条的“基本”(Basic)按钮,调出单刀双掷开关“SPDT”两只并将它们的key设置成“A”和“B”;单击真实元件工具条的“指示器”按钮其中调出红色指示灯一盏并把它放置在工作区中作为输出指示。
搭建后的电路如图3.1.1所示。
输出表达式Y=A·B。
图3.1.1(2)点击电子仿真软件Multisim 10基本界面右侧虚拟仪器工具条“万用表”按钮,调出虚拟万用表“XMM1”放置在电子平台上,将“XMM1”仪器连成仿真电路。
(3)双击虚拟万用表图标“XMM1”,将出现它的放大面板,按下放大面板上的“电压”和“直流”两个按钮,将它用来测量直流电压如图3.1.2所示。
(4)打开仿真开关,按照表 3.1.1,分别按动“A”和“B”键,使与非门的两个输入端为表中4种情况,从万用表的放大面板上读出各种情况的直流电位,将它们填入表内,并将电位转换成逻辑状态填入表3.1.1内。
图3.1.2(5)同样的步骤完成门电路7404N、7402N、7408N的功能测试,实验步骤自拟。
2. 用与非门组成其他功能门电路(1)用与非门组成或门:①根据摩根定律,或门的逻辑函数表达式Q=A+B可以写成:Q=A.B,因此,可以用三个与非门构成或门。
数字电路试验指导书

数字电路试验指导书第一篇数字电路实验指导书实验一集成逻辑门功能测试及数字盒的使用I.实验目的1、了解数字实验箱的原理,掌握其使用方法2、掌握基本门电路逻辑功能的测试方法3、了解ttl和cmos器件的使用特点二、实验一起及实验器件1、数字实验箱2.20MHz双道示波器3。
500万用表4。
实验装置:74ls001片cd40011片74ls861片cd40111片三、实验任务(一)数字实验箱的使用1、用500型万用表分别测出固定直流稳压源的出去电压值2.用500万用表分别测量16个高、低电平信号源和单脉冲信号源的高、低电平值,观察察单次脉冲前后沿的变化3.用示波器测量连续脉冲源的频率范围和振幅Vp-p值4、分别用十六路高低电平信号源:单次脉冲信号源检查十六路高低电平指示灯的好坏(二)集成逻辑门的功能测试1.分别写出74ls00、74LS86、CD4011和CD4011的逻辑表达式,列出它们的真表值,并对其逻辑功能进行静态测试2.使用74ls00完成以下逻辑功能,编写逻辑表达式,绘制逻辑图并测试其功能。
4、预览需求1、复习数字试验箱的组成和工作原理2.分别检查TTL和CMOS电路的命名和使用规则。
3.仔细参考实验装置的功能表和引脚图4、列出实验任务的记录数据表格,写出实验的方法、步骤,画出实验电路实验二集成逻辑门的参数测试I.实验目的1、熟悉集成逻辑门主要参数的意义2、掌握集成逻辑门主要参数的测试方法3、了解ttl器件和cmos器件的使用特点二、实验仪器与器件1、数字实验箱2.20MHz双道示波器3。
500万用表4。
实验装置:74ls201片cd40121片三、实验任务1.TTL与非门主要参数测试①测试74ls20的空载功耗(pccl、pcch),低电平输入电流iil,高电平输入电流iih。
②用图形法测试74ls20的电压传输特性,读出相应的uoh,uol,uon,uoff③ 根据参数定义,分别测量uoh、UOL、uon和UOF。
数字电子技术试验指导书

实验一 晶体管开关特性、限幅器与钳位器一、实验目的1、观察晶体二极管、三极管的开关特性,了解外电路参数变化对晶体管开关特性的影响。
2、掌握限幅器和钳位器的基本工作原理。
二、实验原理1、晶体二极管的开关特性由于晶体二极管具有单向导电性,故其开关特性表现在正向导通与反向截止两种不同状态的转换过程。
如图1-1电路,输入端施加一方波激励信号v i ,由于二极管结电容的存在,因而有充电、放电和存贮电荷的建立与消散的过程。
因此当加在二极管上的电压突然由正向偏置(+V 1)变为反向偏置(-V 2)时,二极管并不立即截止,而是出现一个较大的反向电流RV 2,并维持一段时间t s (称为存贮时间)后,电流才开始减小,再经t f (称为下降时间)后,反向电流才等于静态特性上的反向电流I 0,将t rr =t s +t f 叫做反向恢复时间,t rr 与二极管的结构有关,PN 结面积小,结电容小,存贮电荷就少,t s 就短,同时也与正向导通电流和反向电流有关。
当管子选定后,减小正向导通电流和增大反向驱动电流,可加速电路的转换过程。
2、晶体三极管的开关特性晶体三极管的开关特性是指它从截止到饱和导通,或从饱和导通到截止的转换过程,而且这种转换都需要一定的时间才能完成。
如图1-2电路的输入端,施加一个足够幅度(在-V 2和+V 1之间变化)的矩形脉冲电压v i 激励信号,就能使晶体管从截止状态进入饱和导通,再从饱和进入截止。
可见晶体管T 的集电极电流 i c 和输出电压v o 的波形已不是一个理想的矩形波,其起始部分和平顶部分都延迟了一段时间,其上升沿和下降沿都变得缓慢了,如图1-2 波形所示,从v i 开始跃升到i C 上升到0.1I CS ,所需时间定义为延迟时间t d ,而i C 从0.1I C S 增长到0.9I C S 的时间为上升时间t r ,从v i 开始跃降到i C 下降到0.9I C S 的时间为存贮时间 t S ,而i C 从0.9I C S 下降到0.1I CS 的时间为下降时间t f ,通常称t on =t d +t r 为三极管开关的“接通时间”,t of f =t S +t f 称为“断开时间”,形成上述开关特性的主要原因乃是晶体管结电容之故。
数字电路系统实验任务指导书
“数字电路”系统实验任务指导书一、性质、目的“数字电路”系统实验是在学习“数字电路”课程以后,对该课程进行综合训练的一次实践过程,它是今后学习计算机硬件知识的主要基础。
学生运用理论教学的知识,通过选题,查阅资料、电路设计,安装调试和总结整理资料等环节。
既可以加深对基础知识的理解,提高分析问题和解决问题的能力,又能培养起实践技能和科技学风,为毕业设计和今后从事电子电路设计、研制电子产品打下良好的基础。
二、基本要求:通过对一个系统设计实验的全过程,使学生达到以下要求:1、巩固和加深数电课程理论知识的理解,运用课程中所学的电路分析和设计方法解决课程中的实际问题。
2、熟悉常用电子仪器,设备的使用方法。
3、熟悉常用电子元器件的种类、特性并合理选用。
4、根据课程需要,培养学生初具选学参考书籍和查阅资料手册的自学能力。
5、熟悉用常用EDA工具(EWB软件)设计、分析电路的方法。
6、具备搭建、调试简单数字电路的基本能力。
7、通过课题设计、制作的全过程,使学生树立严肃认真的工作作风和实事求是的科学态度。
三、设计课题及要求:1.用中小规模集成电路设计一个60进制计数器、24进制计数器。
2.用中小规模集成电路设计一个有“时”、“分”、“秒”(23小时59分59秒)显示功能的电子钟。
3.出框图和逻辑电路图、写出设计、实验总结报告。
四、实验内容及步骤1、数字电子钟基本原理数字电子钟的逻辑框如图所示:它由石英晶体振荡器、分频器、计数器、译码器、显示器和校时电路组成,石英晶体振荡器产生的信号经过分频器作为秒脉冲,秒脉冲送入计数器计数,计数结果通过“时”、“分”、“秒”译码器显示时间。
A、石英晶体振荡器的特点是振荡频率准确、电路结构简单、频率调整。
如果精度要求不高,可采用集成电路555定时器与RC组成的多谐振荡器。
B、分频电路的功能主要有两个:一是产生标准秒脉冲信号,二是可提供功能扩展电路所需要的信号。
C、显示“时”、“分”、“秒”需要6片中规模计数器。
数字电路实验指导书
目录实验一、TTL集成逻辑门的参数测试 (1)实验二、CMOS集成逻辑门的参数测试 (2)实验三、TTL集电极开路门与三态输出门的应用 (4)实验四、与门、或门、异或门逻辑电路测试 (6)实验五、半加器、全加器电路实验 (7)实验六、RS、D、JK触发器及JK与D触发器的转换电路 (8)实验七、计算器 (10)实验八、移位寄存器及其应用 (12)实验九、译码器及变换方式 (14)实验十、数据选择器 (14)实验十一、用集成与非门构成单稳态触发器和RC环形多谐振荡器 (16)实验十二、利用门电路构成编码器、分配器、选择器 (17)实验十三、组合电路的设计之一 (18)实验十四、组合电路的设计之二——显示电路 (20)实验十五、同步时序电路的设计 (22)实验十六、计算机时序电路的设计 (24)实验十七、集成定时器测试及应用 (25)实验十八、D/A、A/D转换器 (27)实验十九、二极管与门、或门电路 (30)实验二十、三极管“非门”电路 (30)实验二十一、三极管“与非门”电路 (31)实验二十二、三极管“或非门”电路 (31)实验二十三、异步十进制加法计数器 (31)实验二十四、异步十进制减法计数器 (32)实验二十五、电子秒表——大型综合实验一 (32)实验二十六、智力竞赛抢答装置——大型综合实验二 (36)实验一TTL集成逻辑门的参数测试一、实验目的掌握TTL集成与非门的主要参数、特性的意义及测试方法。
实验原理:TTL门电路是最简单、最基本的数字集成电路元件,利用其通过适当的组合连接便可以构成任何复杂的组合电路。
因此,掌握TTL门电路的工作原理,熟悉、灵活的使用它们是数字技术工作者必备的基本功之一.1.与非门的逻辑功能当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平。
即有“0”得“1”,全“1得“0”.其逻辑表达式为Y=AB.2.本实验采用4输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端。
数电实验指导书(无删减版)
目录第1章数字逻辑电路实验基础知识 (1)1.1 实验的基本过程 (1)1.1.1 实验预习 (1)1.1.2 实验数据记录 (1)1.2.3 实验报告 (2)1.2 实验操作规范和常见故障检查方法 (3)1.2.1 实验基本操作规程 (3)1.2.2 电路连接操作 (4)1.2.3 故障检查方法 (5)1.3 常用数字集成芯片的参数与主要性能 (6)1.3.1 集成电路的型号命名法 (6)1.3.2 数字集成电路的分类 (6)1.3.3 数字集成电路特点及使用须知 (9)1.4 数字逻辑电路的测试方法 (11)1.4.1组合逻辑电路的测试 (11)1.4.2时序逻辑电路的测试 (11)第2章数字逻辑实验基本技能 (12)2.1 实验基本目标要求 (12)2.2 实验技能基本要求 (12)2.3 实验内容基本要求 (14)第3章数字逻辑电路基本实验 (16)实验一:EDA软件QuartusII的使用 (16)实验二:实验仪器的使用及元器件测试 (16)实验三:组合电路险象观察与排除 (17)实验四:简单逻辑电路功能分析与变换 (18)实验五:运算器电路分析与设计 (18)实验六:状态监测电路设计 (19)i实验七:符合判别电路设计 (20)实验八:多数表决器设计 (22)实验九:译码器测试实验 (22)实验十:数据选择器测试实验 (24)实验十一:逻辑函数发生器设计 (25)实验十二:二进制码∕BCD码变换器设计 (26)实验十三:格雷码变换器设计 (27)实验十四:BCD码加法器设计 (27)实验十五:触发器功能测试 (28)实验十六:四相时钟分配器设计 (29)实验十七:四位二进制计数器功能测试 (31)实验十八:异步十进制计数器设计 (32)实验十九:集成计数器测试实验 (33)实验二十:集成计数器应用设计 (34)实验二十一:数码显示电路实验 (35)第4章数字逻辑综合设计实验 (37)设计项目一:数字时钟设计 (37)设计项目二:出租车计价器设计 (40)设计项目三:交通灯控制器设计 (50)设计项目四:电子密码锁设计 (55)设计项目五:智力竞赛抢答器设计 (59)其他参考选择题目 (64)ii第1章数字逻辑电路实验基础知识随着科学技术的发展,数字逻辑电路技术在各个科学领域中都得到了广泛的应用。
数电实验指导书
数字电子技术实验指导书江苏科技大学电子信息学院1目录实验一基本逻辑门器件功能与参数测试 (1)实验二组合逻辑电路的分析与设计 (6)实验三基于CPLD/FPGA的组合逻辑电路设计 (10)实验四基于CPLD/FPGA的时序逻辑电路设计 (17)实验五状态机初步 (22)实验六音乐播放电路 (28)实验七电子秒表设计 (33)附录(一)常用电路的Verilog实现范例 (35)附录(二)QuartusII 使用简明教程 (43)附录(三)部分集成电路引脚排列 (53)2实验一基本逻辑门器件功能与参数测试一、实验目的1.掌握集成逻辑门基本的功能。
2.掌握数字器件主要参数的测试方法。
二、实验设备及器件1.EEEC-010B实验箱2.74LS00 四二输入与非门3.74HC00四二输入与非门4.74LS02 四二输入或非门5.74LS86 四二输入异或门6.74LS125 三态缓冲器(三态门)三、实验内容及步骤为了测试们电路的逻辑功能,门电路的输入端应接相应的电平信号(利用实验箱上的拨动开关,输入高/低电平),输出接LED发光管显示输出电平状态(利用实验箱提供红、黄、绿三种色彩的LED发光管,做输出显示,注意该实验箱LED显示部分,高电平驱动LED点亮,低电平驱动LED熄灭)。
1.与非门逻辑功能测试用74LS00(四二输入与非门)进行实验,引脚图如图1-1所示,按照图1-2所示接线图1-1 图1-2根据表1-1,改变输入端A、B的电平状态,观测输出显示并将结果填入表中,将实验实测结果与理论结果对比给出结论。
122. 用74LS02(四二输入或非门)进行实验,引脚图如图1-3所示,按照图1-4所示接线图1-3图1-4根据表1-2,改变输入端A 、B 的电平状态,观测输出显示并将结果填入表中,将实验实测结果与理论结果对比给出结论。
3. 用74LS86(四二输入异或门)进行实验,引脚图如图1-5所示,按照图1-6所示接线,图1-5 图1-6 根据表1-3,改变输入端A 、B 的电平状态,观测输出显示并将结果填入表中,将实验实测结果与理论结果对比给出结论。
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<<数字电子技术课程>> 实验教学指导书山东协和职业技术学院计算机系二00七年十二月前言一、实验总体目标建设具有符合职业岗位能力和学校办学定位的课程目标的,充分体现职业标准要求和适时吸纳新知识、新技术、新工艺、新标准的课程内容的,具备以职业岗位作业流程为导向的教学模块的《数字电子技术》精品课程。
课程拥有合理而先进的课程教学方法与手段,具备立体化教学资源库、先进的实验、实践设施和体现职业能力为核心的课程考核方式与标准。
二、适用专业年级电子信息工程、通信工程、计算机专业、生物医电专业三、先修课程电路分析基础、模拟电子技术四、实验项目及课时分配实验项目实验要求实验类型每组人数实验学时实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试必修验证性 2 2实验二集成逻辑门电路的参数测试必修验证性 2 2实验三组合逻辑电路的实验分析必修验证性 2 2 实验四变量译码器必修验证性 2 2 实验五数据选择器必修验证性 2 2 实验六触发器必修验证性 2 2 实验七计数器必修验证性 2 2 实验八计数、译码、显示综合实验必修设计性 2 2实验九利用TTL集成逻辑门构成脉冲电路必修验证性 2 2实验十555定时器电路必修验证性 2 2 五、实验环境基础电子实验平台使用面积240,实验组数40组,配套仪器40套。
六、实验总体要求为加强学生基本技能的训练,安排了20学时的实验。
实验时每组人数一般不应超过两人。
实验指导书应包括实验目的、要求、仪器设备、实验步骤等。
较注意尽量多开设学生自拟实验,由教师指定实验内容和要求,并提供实验器材,学生自行拟定方案,独立完成。
七、本课程实验的重点、难点及教学方法建议《数字电子技术》本身具有很强的实践性和应用性,因此在介绍一些重要章节前,列举一个设计实例或工程实际问题,通过分析、设计、引入相关知识和理论。
例如:在学习中规模集成组合逻辑电路一节时,先让学生用已学过的SSI组合电路的设计方法“设计一个交通灯故障报警电路。
交通灯有红、黄绿三色。
只有当其中一只灯亮时为正常,其余状态为故障,要求用与非门实现。
”3然后提出问题,“用SSI组合电路进行设计时,是以门作为电路的基本单元,我们能否用其它逻辑部件来实现这个电路的设计呢?”在给予学生一定的思考时间后,教师可以直接给出总是的答案:“本节将要学习的内容中,译码器、数据选择器这两种中规模逻辑器件都可以完成上述电路的逻辑功能”。
同时画出相应的设计电路。
这样学生的兴趣马上被调动起来,并产生疑问:什么是译码器、数据选择器?为什么它们也能实现上述电路设计?等等。
在学习了译码器、数据选择器的原理及逻辑功能和用它们实现组合逻辑电路的方法后,学生的疑问终于得到解决。
同时也使学生学会了采用多种方案实现同一逻辑要求的方法。
提高了学生学习兴趣,调动了学生学习的主动性和创造性。
实验一:集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的1、了解数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。
2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。
二、实验原理和实验内容提要1、测试74LS04六非门的逻辑功能2、测试74LS00四2输入端与非门逻辑功能3、测试74LS55 二路四输入与或非门逻辑功能4、测试74LS86四异或门逻辑功能三、实验器材1、数字逻辑实验箱DSB-31台2、万用表1只3、元器件:74LS00(T065) 74LS04 74LS55 74LS86 各一块,导线若干四、实验要求1、数字逻辑实验箱提供5 V + 0.2 V的直流电源供用户使用。
2、连接导线时,为了便于区别,最好用不同颜色导线区分电源和地线,一般用红色导线接电源,用黑色导线接地。
3、实验箱操作板部分K0~K7提供8位逻辑电平开关,由8个钮子开关组成,开关往上拨时,对应的输出插孔输出高电平“1”,开关往下拨时,输出低电平“0”。
4、实验箱操作板部分L0~L7提供8位逻辑电平LED显示器,可用于测试门电路逻辑电平的高低,LED亮表示“1”,灭表示“0”。
五、实验内容和步骤1、测试74LS04六非门的逻辑功能将74LS04正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-1要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。
表1-1 74LS04逻辑功能测试表2、测试74LS00四2输入端与非门逻辑功能将74LS00正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-2要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。
3、测试74LS55 二路四输入与或非门逻辑功能将74LS55正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-3要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,填入表中。
(表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据)4、测试74LS86四异或门逻辑功能将74LS86正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-4要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平。
六、实验报告要求1、整理实验结果,填入相应表格中,并写出逻辑表达式。
2、小结实验心得体会。
七、复习思考题1、若测试74LS55的全部数据,所列测试表应有多少种输入取值组合?实验二:集成逻辑门电路的参数测试一、实验目的1、掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。
2、进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。
二、实验原理和实验内容提要1、TTL与非门74LS20静态参数测试2、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试三、实验器材1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 2只3、元器件:74LS20(T063) CC4012 各一块,2CK11 4只,电阻及导线若干四、实验要求1、注意正确使用万用表,必须先调好档位再测量,否则易损坏万用表。
2、注意正确识别二极管极性。
五、实验内容及步骤1、TTL与非门74LS20静态参数测试(1)导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH 。
测试电路如图2-1。
注意:74LS20为双四输入与非门,两个门的输入端应作相同处理。
(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流Ii H。
每一门和每一输入端都应测试一次。
测试电路如图2-2。
(3)电压传输特性。
调节电位器RW,使Vi从0V向5V变化,逐点测试Vi和VO值,将结果记录入表2-1中。
根据实测数据作电压传输特性曲线,从曲线上得出VOH、VOL、VON、VOFF、VTH等值,并计算VNL、VNH(提示:在VO变化较快的区域应多测几点,有利于绘制特性曲线)。
测试电路如图2-3。
2、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试将CC4012正确插入面包板,测电压传输特性。
测试电路如图2-4,方法同上。
将结果记录入表2-2中。
根据实测数据作电压传输特性曲线,从曲线上得出VOH、VOL、VON、VOFF、VTH 等值,并计算VNL、VNH 。
若将三个多余输入端悬空测试一次,结果正确吗?六、实验报告要求1、列表整理出各参数的测试值,并与规范值相比较,判断所测电路性能的好坏。
2、画出两条电压传输特性曲线,从曲线中读出各有关参数值。
比较TTL与CMOS门电路电压传输特性曲线的异同。
七、复习思考题1、测量TTL与非门输出低电平时为何要加负载?图2-3中R选用360Ω是什么道理?若R 很小会产生什么现象?2、TTL与非门输入端悬空为什么可以当作输入为“1”?CMOS与非门多余输入端可以悬空吗?3、讨论TTL或非门闲置输入端的处置方法。
4、实验中所得ICCL和ICCH为整个器件值,试计算单个门电路的ICCL和ICCH 。
5、CC4012的电源范围为3-18V,若VDD=15V,则其VOH、VOL、VTH应为多少?实验三:组合逻辑电路的实验分析一、实验目的1、掌握组合逻辑电路的实验分析方法。
2、验证半加器、全加器的逻辑功能。
二、实验原理和实验内容提要1、测试图3-1电路的逻辑功能2、测试图3-2电路的逻辑功能3、测试用异或门、非门和与或非门组成的电路的逻辑功能三、实验器材1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、元器件: 74LS00(T065) 74LS20(T063)各一块,74LS55 74LS86 各一块,导线若干四、实验要求注意按图接线,千万不要将两个门电路的输出端误接在一起。
想想为什么?五、实验内容和步骤1、测试图3-1电路的逻辑功能按图3-1接线。
按表3-1要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入表中。
分析电路的逻辑功能,写出逻辑表达式。
2、测试图3-2电路的逻辑功能按图3-2接线。
按表3-2要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入表中。
分析电路的逻辑功能,写出逻辑表达式。
3、测试用异或门、非门和与或非门组成的电路的逻辑功能按图3-3接线。
按表3-3要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,并填入表中。
分析电路的逻辑功能,写出逻辑表达式。
4、在图3-3电路中,若故意使74系列TTL逻辑门电路的电源电压接触不良或串联一个大电阻,使电源电压超出5V±0.25V范围,会怎样?试试看。
六、实验报告要求1、整理实验结果,填入相应表格中,写出逻辑表达式,并分析各电路的逻辑功能。
七、复习思考题1、总结用实验来分析组合逻辑电路功能的方法。
实验四:变量译码器一、实验目的1.掌握MSI组合电路变量译码器的实验分析方法。
2.熟悉中规模集成三线—八线译码器的应用。
二、实验原理和实验内容提要1、利用数字逻辑实验箱测试74LS138译码器的逻辑功能,并记录实验数据。
2、用74LS138及与非门设计一个三变量多数表决电路。
三、实验器材1、数字逻辑实验箱DSB-3 1台2、万用表 1只3、元器件: 74LS20(T063)一块,74LS138 一块,导线若干四、实验内容和步骤1、利用数字逻辑实验箱测试74LS138译码器的逻辑功能,并记录实验数据。
请在预习时自行拟出实验步骤,列出表述其功能的真值表(包括所有输入端的功能)。
2、用74LS138及与非门设计一个三变量多数表决电路,要求画出逻辑电路图,拟出实验步骤,正确接线并测试电路的逻辑功能,列出表述其功能的真值表,记录实验数据。
若G1端接地,会怎样?请测试。
五、实验报告要求1、列出具体实验步骤。
2、整理实验测试结果,说明74LS138译码器的功能。
3、画出用74LS138及与非门构成的多数表决电路的逻辑电路图,列出真值表,求出逻辑表达式。
若G1端接地,结果如何?六、思考题1、74LS138译码器的输出方式是什么?即“译中”为什么电平?2、试说明G1、输入端的作用。
实验五:数据选择器一、实验目的1、掌握MSI组合逻辑电路数据选择器的实验分析方法。
2、了解中规模集成八选一数据选择器74LS151的应用。
二、实验原理和实验内容提要1、利用数字逻辑实验箱测试74LS151八选一数据选择器的逻辑功能,并记录实验数据。