基于高能X射线散射的高原子序数物质探测方法

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用X光测原子序数

用X光测原子序数

X 光测原子序数作者:陈红【摘要】先用莱宝实验仪确定Moseley 定律的常数R 与σk ,以及衰减系数μ与原子序数Z 的关系,通过测量未知元素的吸收边波长λk 与衰减系数μ,借助以上所得的两个公式求得该原子的原子序数。

本实验以铜为例,分别用以上两种方法进行测量,并比较两种方法的优缺点。

【关键词】X 射线,原子序数,衰减系数,Moseley 定律【引言】当X 射线通过物质时,其能量分为三个部分:一部分被散射,一部分被吸收,剩余的部分将透过物质。

一般地说,因散射引起的衰减远远小于因吸收导致的衰减量。

因此,可以近似地认为,原子序数大于10时X 射线通过物质后其强度的衰减完全是由于物质对它的吸收所造成的。

这种衰减的程度可以用吸收系数来表征。

关系如下:I x =I 0e -ux式中I 0和I x 分别是入射X 射线和透过厚度为x cm 物质后X 射线的强度。

μ是该材料的衰减系数,d 是该材料的厚度。

X 光若要电离某一壳层的电子,能量E 必须大于该壳层的结合能E k ,即λ<λk 。

当波长小于λk 而越接近于时,越容易激发电离,因而吸收系数越大;但一旦波长大于λk ,吸收系数就会突然下降。

因此,吸收系数在λk 两侧有一个突变。

把吸收系数发生突变处所对应的波长称为该材料的吸收边。

1913年英国物理学家Henry Moseley 在测量了各种元素的K 壳层吸收边后,得到了Moseley)k Z σ- 其中R 为里德堡常数,Z 为原子序数,σk 称为K当辐射的波长一定时,不同元素的μ将随元素的原子序数Z 而变。

一般来说,吸收也增大,但是增大到某一元素处突然下降,这是由于吸收边的关系。

在两个跃增之间的连续线段,满足μ∝Z 3,它与波长、原子序数总的λτa关系式为μ=κλ 3 Z3。

目前测定原子序数的方法有两种:一是用首先由巴克拉提出的散射的方法,一是用由莫塞莱发明的测量元素X射线光谱的方法。

(《固体X射线学》)【实验部分】一、利用Moseley定律测Cu的原子序数1.测定Moseley定律的里德堡常数R和屏蔽系数σk实验结果:在Transmission窗口中用“Draw-kedge”命令分别求Zr、Mo、Ag、In的吸收边,在Moseley窗口下直线拟合得到:R=1.170*107/mσk=4.5文献参考值:R=1.097373*107/m σk=3.6(对于中等重核)误差:R:|1.097373*107-1.170*107|/(1.097373*107)=6.6%σk:|3.6-4.5|/3.6=25%2.测量Cu的吸收边波长并计算其原子序数λk=144.1pm因此,Z=σk +(λk *R)-1/2=4.5+(144.1*10-12*1.170*107)-1/2=28.854误差:|29-28.854|/29=0.5%二、测定衰减系数μ与原子序数Z的关系并确定Cu的原子序数1.用吸收板附件套(编号554834)中的附件2测量(附件2有厚度为0.05cm的六种材料C、Al、Fe、Cu、Zr、Ag的吸收片组成)得到衰减系数的数据如下:上表中,μ=-㏑(I/I0)/d=-㏑(R/R0)/d问题:原来认为这样就可以得到衰减系数μ与原子序数Z之间的关系,但是查阅理论资料后发现,μ还与所用的辐射波长有关。

X射线荧光光谱分析的基本原理

X射线荧光光谱分析的基本原理

X射线荧光光谱分析的基本原理X射线荧光光谱分析(X-ray fluorescence spectroscopy, XRF)是一种常用的非破坏性分析方法,适用于几乎所有元素的测定,具有高精度、高灵敏度和多元素分析能力。

其基本原理可以概括为:当固体或液体样品受到高能X射线照射时,样品中的原子被激发或电离,并散射光子。

这些激发或电离后的原子会重新排列电子态,并产生X射线以释放能量。

这些释放的X射线称为荧光射线。

通过测量荧光射线的能量和强度,可以确定样品中的元素种类和含量。

X射线荧光光谱分析的基本组成分为两大部分:X射线源和荧光谱仪。

X射线源一般采用X射线管,它通过给电子加速并与靶材相互作用,产生高能的X射线。

靶材的选择根据分析需要来确定,常见的靶材有铜、铬、铁等。

荧光谱仪由X射线检测器、能谱仪和数据处理系统组成。

X射线检测器一般选择气体探测器或固体探测器,可以将荧光射线转化为电信号。

能谱仪用于测量荧光射线的能量,并将荧光射线的能谱图转换为电信号。

数据处理系统则对荧光信号进行处理和分析。

X射线荧光光谱分析的原理是基于X射线特性的相互作用。

当样品受到高能X射线照射时,X射线在物质中发生两种主要的相互作用:光电吸收和康普顿散射。

光电吸收是指X射线入射到样品中,被其中的原子内层电子吸收并产生光电子,从而使原子转变为激发态。

光电吸收的截面与元素的原子序数有关,轻元素的光电吸收截面较大,重元素的光电吸收截面较小。

当样品处于激发态时,它会以荧光射线的形式释放出能量。

康普顿散射是指X射线与样品中的自由电子相互作用,它会使一部分X射线的方向改变,而能量减少,从而散射出去。

康普顿散射的强度与X射线的能量和散射角度有关,散射角度越大,康普顿散射强度越大。

康普顿散射并不改变样品中元素的能级结构,因此并不产生荧光射线。

X射线荧光光谱分析仪利用荧光射线和康普顿散射的特性来进行元素的分析。

通常,荧光射线的能量和康普顿散射的能量是分开检测的。

x-ray检测机原理

x-ray检测机原理

x-ray检测机原理
X射线检测机(X-ray inspection machine)是一种常用的无损
检测设备,其原理基于X射线穿透物质后的吸收和散射现象。

X射线是一种高能电磁波,其具有很强的穿透能力。

X射线检
测机内部包含一个X射线发射器和一个X射线接收器(通常
为探测器或探测阵列)。

当物体被放置在X射线检测机的传
送带上,并通过射线束区域时,X射线发射器会发射X射线。

X射线穿透物体时,会与物体内部的原子发生相互作用。

主要有三种作用:吸收、散射和透射。

其中,吸收是主要作用,散射和透射是次要作用。

当X射线通过物体时,被吸收的射线数量与物体的密度成正比。

因此,密度高的区域将吸收更多的X射线,出现较暗的
区域;而密度低的区域将吸收较少的X射线,出现较亮的区域。

通过对吸收的X射线进行检测和分析,可以获得物体的
内部结构和缺陷情况。

同时,X射线还会发生散射现象。

散射是指X射线入射后,
在物体内部与原子发生散射,反向散射回来的X射线将与入
射的射线进行干涉,形成散射效应。

散射信号可以提供物体的表面形貌和厚度信息。

X射线检测机的探测阵列或探测器会将吸收和散射的X射线
信号转化为电信号,并通过信号处理和图像重建技术,将信号转化为可见的X射线图像或视频。

这些图像或视频可以提供
物体内部的详细结构,并帮助检测可能存在的缺陷,如裂纹、气泡、杂质等。

总的来说,X射线检测机利用X射线的穿透能力和射线与物体内部的相互作用,通过对吸收和散射信号的检测和分析,可以获取物体的内部结构和缺陷情况,为无损检测提供可靠的工具。

基于CT成像技术和X射线透射原理的液态燃爆物探测方法

基于CT成像技术和X射线透射原理的液态燃爆物探测方法
3 模 型验 证 .
甘油作 为实验研 究对象 ,4 种液体危 险品用薄塑料容器进
行盛装 ,分别进行CT 扫描 和高低z 量透 射实验 。 日 - , b
1 曲线 模 型 建 立 .
将无水 乙醇 、无水 乙醚 、T T 和硝基异 丁基 甘油 曲 AP
将 相同体积 的无水 乙醇 、无水 乙醚 、T T 和硝基 异 AP
安全 检查
三舞 .
O 7 O 6 O S O 4 O 3 O 2 O ,
和康普顿散射即可。 假设信 号强度 为IE的X 。 ) 射线 穿透厚度 为L ( 的物体 , 描 、部分扇形束平移/ 旋转扫描 、扇形束射线 源与探测器 同步旋转扫描、扇形束射线源旋转扫描 、电子束扫描 、螺
别的 目的。
三 、实 验 验证
实验选取无水 乙醇 、无水 乙醚 、T T 和硝基 异丁基 AP
试环境 下 ,同样进行C 扫描和X T 射线透射实验。
提取不同长度的对数透射信号强度信息 ,按 照二次拟 合的方式 ,将得到的实验离散数据进行拟合 ,得到实验数 据 的二次拟合 曲线。
提取 。
06 Z . 5・ 为总 的横 截面积 ;n N ・pA 6 = /为单位体积 内的
原子个数。 由式() 1可有 : 1 O. n— ( 7 £:I / E) - o

f) 2
( )
根据Lmb r B e ( 一 a e — e r 郎伯 比尔) , t s 定理 可得到:
能 量 值( y k ) e
图2 能谱 分 布
X 射线与物质相互作用 ,按其作用原理可分为四种作 用效应 :光电效应 、康普顿散射 、瑞利散射和正负 电子对
在前两个步骤得到被检液体不同长度信息的对数透射

常见医学影像学检查原理介绍

常见医学影像学检查原理介绍

常见医学影像学检查原理介绍医学影像学是现代医学领域中非常重要的一个分支,通过各种影像技术,可以帮助医生诊断疾病,并对治疗方案进行评估和监测。

在临床工作中,常见的医学影像学检查方法包括X 射线检查、超声检查、计算机断层扫描(CT)、磁共振成像(MRI)和正电子发射断层扫描(PET)等。

下面将逐一介绍这些常见医学影像学检查的原理。

首先,X射线检查是最常用的一种医学影像学检查方法,它是通过X射线穿过人体组织的方式来获得图像。

该检查主要基于X射线的特性,X射线是一种高能电磁辐射,它可以被人体内的不同组织和器官吸收和散射出不同的程度。

当X射线穿过人体时,被吸收的量取决于组织密度和原子序数。

通过对透射X射线束的探测和分析,可以生成骨骼、内脏器官和软组织的影像。

X射线检查广泛应用于胸部、骨骼、消化道等领域,对于骨折、肺炎、结石等疾病的诊断有很高的准确性。

超声检查是一种利用超声波对人体组织进行成像的方法。

它的工作原理是通过超声波的回声特性来生成图像。

超声波是一种高频声波,可以被人体内的结构反射、折射和散射。

超声波会发射入体和返回体表,通过对返还的超声波进行捕捉和处理,可以生成人体内部结构和器官的影像。

超声检查是一种安全、无创的检查方法,常用于妇产科、腹部、胸部以及心脏等部位的检查,对于肿瘤、囊肿、炎症等疾病的诊断有很高的准确性。

计算机断层扫描(CT)是一种通过计算机对连续的X射线图像进行重建得到人体内部结构的检查方法。

它的工作原理基于X射线的吸收和记录,通过不同方向的X射线扫描,可以获得更加详细和准确的图像。

CT扫描将人体切片成各个薄层,然后由计算机对这些薄层图像进行叠加和重建,生成3D图像。

CT扫描广泛应用于头部、胸部、腹部和骨骼等部位的检查,对于肿瘤、血管疾病和颅脑损伤的诊断有很高的准确性。

磁共振成像(MRI)是一种基于磁场和无线电波的成像技术,可以生成人体内部组织的详细图像。

它的工作原理是通过磁场的刺激和无线电波的响应来获得图像。

爆炸物探测与识别技术

爆炸物探测与识别技术

爆炸物探测与识别技术[摘要] 综述了爆炸物探测与识别所采用的微量炸药探和块体炸药探测两大类技术, 讨论了每类技术所采用的探测方法及工作原理。

介绍了目前国外的探测设备, 根据每种探测技术和探测设备在使用中存在的不足,对其今后可能的发展趋势作了进一步探讨。

[关键词] 爆炸物探测与识别探测设备1 前言近年来, 恐怖爆炸事件频频发生在世界各地, 各种形式的炸药和爆炸装置被用于恐怖犯罪活动, 造成了大量的人员伤亡和财产损失。

为了把恐怖活动遏制在未遂状态, 人们把目光更多地投注在依靠物理、化学等科学技术手段对爆炸物的探测与识别上。

国外对这一领域进行了大量深入的研究, 在我国, 由于起步较晚, 与国外相比还很大差距。

因此, 有针对性地研究国外爆炸物探测与识别技术, 对于加快我国在这一领域的发展有着重要的现实意义。

2 爆炸物探测与识别的技术类型爆炸物探测与识别技术有很多种, 根据有关资料归纳统计[1] , 该技术主要分为两大类: 微量炸药探测和块体炸药探测, 大致如图1 所示。

图1 爆炸物探测的主要技术类型2. 1 微量炸药探测微量炸药探测是指对微量(肉眼很难看见) 的爆炸品残留物进行取样和分析的技术。

爆炸品在处理过程中总会留下气体或固体颗粒形式的残留物, 通过搜集这些残留物并使用相关的探测技术对其进行分析, 从而判断是否存在爆炸物。

常见的微量炸药探测技术有离子迁移光谱等电化学技术和激光拉曼光谱技术。

2. 2 块体炸药探测块体炸药探测是指探测可见数量的炸药。

通常包括X、C射线成像技术和基于核的技术。

X、C射线都是高能电磁波, 当它们遇到物质时, 会发生三种情况: 透射、被吸收、散射或反向散射。

根据这三种现象获得的信息, 可以探测出物质的密度、原子序数等特征量。

炸药的特征就是密度高、原子序数低。

当前X 射线成像技术包括: 单能X 射线技术、双能X 射线技术、CT 技术、反向散射技术和荧光透视技术。

炸药探测的核技术主要包括核四极矩共振技术和中子技术。

X射线违禁物品关键技术研究

X射线违禁物品关键技术研究【摘要】近年来,为了有效预防和打击恐怖犯罪活动,我国加大了对机场、车站等客流量较大地方的安检力度,基于X射线的安检技术与设备得到广泛应用。

本文首先对这些安检技术的原理进行分析,再对几种技术的优缺点、使用范围进行对比说明。

引言随着国际安全形势的日益严峻,为了有效预防和打击恐怖活动的发生,世界各国都加强了对边境、港口、机场等人口流动较大的交通枢纽点的安全检查力度,防止不法分子携带各类违禁物品对民众的生命和财产构成威胁。

美国自从“9?11”事件发生之后,联邦法律就下令对所有商业机场托运的每一件行李都要通过爆炸物探测系统进行检查。

虽然目前有许多成像技术可以应用在安检工作中,但综合考虑技术成熟度、图像清晰度以及成本等因素,基于X射线的成像技术显示出独特优势。

一、基于X射线成像技术的研究1.单能X射线成像技术单能X射线成像技术是最早用于安检设备中的数字成像技术,它的原理是依据X射线穿过不同物质后的衰减程度不同。

当X射线照射被检物时,X射线经过不同程度的衰减后进入到探测器的强度也不同,利用相关算法通过计算机对其分析,将进入探测器的射线强度以灰度级的形式呈现出来,最终形成被检物的图像。

X射线照射在物质上时的衰减程度可按下面的公式给出:(1)其中:为X射线经过物质吸收以后的出射强度,为射线的初始强度,为线吸收系数,它代表X射线在物质中穿过单位距离时被吸收的程度,与物质的密度和性质有关。

根据公式(1)可以得到,被检物对X射线的吸收程度与物质性质、密度和厚度t均有关系,在实际应用中,同一物质如果厚度不同,那么所成的图像灰度也会不同,或者不同物质的线吸收系数与厚度的乘积如果相同时,则会呈现相同的图像灰度,因此单纯依据图像难以区分不同性质的物质。

另外,由于成像的效果取决于物质对X射线的衰减程度,因此,对于金属等一些对X射线衰减程度较大的物质所成的像比较清晰,如果将一些轻质的、线吸收系数较小的物质如炸药藏匿在金属物质后面,在所成的图像中,这些线吸收系数小的物质图像灰度等级较低,很难被发现,出现严重的漏检现象。

文物鉴定中的科技手段X射线荧光分析的应用与优势

文物鉴定中的科技手段X射线荧光分析的应用与优势引言:文物是人类文明的珍贵遗产,通过对文物的鉴定与保护,我们能更好地了解和传承历史文化。

而在文物鉴定领域,科技手段的应用日益重要。

X射线荧光分析作为一种常用的技术手段,在文物鉴定中发挥着重要的作用。

本文将介绍X射线荧光分析在文物鉴定中的应用与优势。

一、X射线荧光分析的基本原理X射线荧光分析是一种非破坏性的材料分析方法,可以确定物质样品的成分组成。

X射线荧光分析的基本原理可概括为以下几点:1. 高能X射线照射:X射线荧光分析仪器通过采用高能的X射线照射文物样品表面,使文物中的原子发生内层电子跃迁。

2. 荧光X射线的发射:样品中的元素被激发后,会发射出特定能量的荧光X射线。

3. 荧光X射线的检测:荧光X射线会被检测器捕捉并记录能谱,进而分析出样品的元素组成和含量。

二、X射线荧光分析在文物鉴定中的应用1. 文物的成分分析:X射线荧光分析可以提供文物中各种元素的含量和比例信息,用于确定文物的材料性质和制作工艺。

2. 伪造文物的识别:通过对文物进行X射线荧光分析,可以快速鉴别伪造品,揭示其与真品在物质成分上的差异。

3. 文物的年代鉴定:X射线荧光分析可以利用样品中的元素含量与年代特征进行对比,从而对文物的年代进行初步判断。

4. 文物的修复与保护:通过对文物进行定量分析,可以为文物的修复与保护提供科学依据,选择适合的修复材料和方式。

三、X射线荧光分析在文物鉴定中的优势1. 非破坏性分析:X射线荧光分析无需取样,对文物本身无损伤,可以保护珍贵文物的完整性。

2. 多元素分析:X射线荧光分析可以同时分析多个元素的含量和比例,提供全面、准确的成分分析结果。

3. 快速高效:X射线荧光分析具有快速分析速度和高准确度,适用于大批量文物的快速鉴定和筛查。

4. 灵敏度高:X射线荧光分析可以检测样品中微量元素,对于探测文物中的微量元素掺杂具有重要意义。

四、X射线荧光分析的局限性1. 仅限于表面分析:X射线荧光分析只能对文物的表面进行分析,无法获取深层信息,对于内部结构的分析有一定的局限性。

高能粒子的探测与分析

高能粒子的探测与分析高能粒子,是指速度非常快、能量非常高的基本粒子,如电子、质子、中子等。

这些粒子在宇宙射线、核反应和高能实验中被产生,是天文学、物理学和核工程等领域研究的重要对象。

高能粒子的探测和分析是研究这些领域的基础,具有重要的应用价值和科学意义。

一、高能粒子的探测技术高能粒子的探测是一项复杂的技术,需要采用多种探测器和检测方法。

其中,常用的探测器有计数器、闪烁体、半导体探测器和核-磁共振探测器等。

这些探测器可用来测量粒子的路径、速度、能量和种类等信息。

计数器是最简单的探测器,其工作原理是利用气体中的电离和复合过程来测量粒子的电荷和能量。

闪烁体是利用放射性物质的辐射和光致发光效应来检测粒子的位置和能量。

半导体探测器则是使用半导体材料的半导电性质测量粒子的电荷和能量。

核-磁共振探测器则是利用核磁共振技术对粒子的自旋和磁矩进行测量,可以得到粒子的定量信息。

除了以上探测器,还有融合探测器和贝塔放射线探测器等。

这些探测器具有不同的优点和适用范围,可以根据实验需要进行选择和组合。

二、高能粒子的分类和分析高能粒子可以根据其能量级别和性质进行分类。

其中,常见的是宇宙线和强子碰撞产生的高能粒子。

宇宙线是来自宇宙深处的高能粒子,包括电子、质子、中子、重离子等多种粒子。

强子碰撞则是利用加速器将质子或重离子进行高能碰撞,产生高能宇宙射线类似的粒子流。

针对不同类型的高能粒子,可以采用不同的分析方法来研究其性质和行为。

常用的分析手段包括能谱分析、闪烁体时间测量、物理过程模拟、图像重建和数据统计分析等。

能谱分析是通过测量粒子能量和数量分布来研究其来源和能量分布规律。

闪烁体时间测量则是利用粒子在闪烁体中的光发射时间和空间位置信息来测量其速度和行径。

物理过程模拟则是通过计算机模拟物理过程来推测未知物理量。

图像重建和数据统计分析则是通过对多个探测器的数据进行统计分析和重建,从而得到更完整的信息。

三、高能粒子的应用领域高能粒子的探测和分析在基础科学研究和应用领域具有广泛的应用和重要的作用。

XRD、SEM、TEM、VSM、XPS、ICP等测试方法介绍

常用的xrd分析软件有4种:我认为是最原始的了。

它是在衍射图谱标定以后,按照d值检索。

一般可以有限定元素、按照三强线、结合法等方法。

所检索出的卡片多时候不对。

一张复杂的衍射谱有时候一天也搞不定。

match可以实现和原始实验数据的直接对接,可以自动或手动标定衍射峰的位置,对于一般的图都能很好的应付。

而且有几个小工具使用很方便。

如放大功能、十字定位线、坐标指示按钮、网格线条等。

最重要的是它有自动检索功能。

可以帮你很方便的检索出你要找的物相。

也可以进行各种限定以缩小检索范围。

如果你对于你的材料较为熟悉的话,对于一张含有4,5相的图谱,检索也就3分钟。

效率很高。

而且它还有自动生成实验报告的功能!score几乎search match中所有的功能,highscore都具备,而且它比searchmatch 更实用。

(1)它可以调用的数据格式更多。

(2)窗口设置更人性化,用户可以自己选择。

(3)谱线位置的显示方式,可以让你更直接地看到检索的情况(4)手动加峰或减峰更加方便。

(5)可以对衍射图进行平滑等操作,是图更漂亮。

(6)可以更改原始数据的步长、起始角度等参数。

(7)可以进行0点的校正。

(8)可以对峰的外形进行校正。

(9)可以进行半定量分析。

(10)物相检索更加方便,检索方式更多。

(11)可以编写批处理命令,对于同一系列的衍射图,一键搞定。

和highscore相比自动检索功能少差,但它有比之更多的功能。

(1)它可以进行衍射峰的指标化。

(2)进行晶格参数的计算。

(3)根据标样对晶格参数进行校正。

(4)轻松计算峰的面积、质心。

(5)出图更加方便,你可以在图上进行更加随意的编辑。

xrd 即X-ray diffraction ,X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

X射线是一种波长很短(约为20~┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。

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10 8 004
摘 要 : 对 核 材料 的探 测 问题 , 用 其 高 原 子 序 数 ( ) 特 性 , 出 了基 于 散 射 能 谱 解 析 识 别 物 质 原 子 序 针 利 z的 提
数 的方 法 。该 方 法 通 过 对 x 射 线 与 物 质 相 互 作 用所 产 生 的散 射 光 子 的测 量 和 分 析 来 进 行 物 质 识 别 , 这
2 Ke a oa o y o a t l . y L b r tr f P ri e& R d a in I g n Mi i r f E u a in s g u n v ri c a it ma ig, n s y o d c t ,T i h aU ie s y, o t o n t
区分 高 原 子 序 数 物 质 。
关 键 词 : z物 质 ; 材 料 ; 普 顿 散 射 ; 致 辐 射 高 核 康 轫
中 图分 类号 : L 1 . ; 5 T 8 2 1TL 3 文献 标 志码 : A 文 章 编 号 :0 06 3 (0 2 0 —7 10 i 0—9 12 1 ) 60 2 —5
s a t r d ph onspr du e he i t r c i n b t e n X— a n a t r T he r s t f c t e e ot o c d by t n e a to e w e r y a d m te . e ulso
Bej n 0 0 4,C ia;3 I si tso e c lDe e c iig 1 0 8 hn . n tt e f Ch mia f n e,Bej n 0 2 5 h n u iig 1 2 0 ,C ia)
Ab ta t I o de t de e t sr c : n r r o t c nu la ma e i l t e t dy f he t m i nu b r ( ) ce r t ra s h s u O t a o c m e Z i e tfc to t d b s d o c t e i pe t u a l ss a g c r c e itc o d n iia i n me ho a e n s a t rng s c r m na y i nd hi h Z ha a t rs i f s ca c e r ma e i l s p e e d. The m e ho a d ntf t ra s by de e tn pe ilnu la t ra s wa r s ne t d c n i e iy ma e i l t c i g a a a y i p s ton nn hia i n nd n l zng o ir a i l to ph o ot ns, br m s ta un p t ns nd e s r hl g ho o a Co p o m tn
些 光 子 包 括 正 电子 湮 没 光 子 、 致 辐 射 光 子 和 康普 顿散 射 光 子 , 带 了物 质 原 子 序 数 的信 息 。 蒙 特 卡 罗 轫 携
模 拟 计 算 结 果 表 明 , 方法 能够 分 析 核 素 的 原 子 序 数 , 其 对 核 材 料 等 高 z物 质 的分 析 更 为 有 效 。采 用 该 尤 L B 。c ) 测 器 测 量 了基 于 7Me 电 子 直 线 加 速 器 的 多 个 样 品 的 散 射 能谱 , 果 表 明 , 方 法 能 有 效 a r( e探 V 结 该
第4 卷第 6 6 期
2 1 年6 02 月







Vo . 1 46, .6 NO
At m i En r y S i n e a d Te h o o y o c e g ce u .2 1
. .-
基 于 高能 X射 线 散射 的 同 原 子 序 数 物 质 探 测 方 法


黄伟奇 , 杨神罡 , 李元景 , 。王百荣。
(. 华大学 工程物理系 , 京 1清 北 1 0 8 ;. 华 大学 粒 子 技 术 与 辐 射成 像 教 育 部 重 点 实 验 室 , 00 4 2清 北京
3 防 化 指挥 工程 学 院 , 京 . 北 120) 0 2 5
M on e Ca l i t r o smulto ho t t t t d c n dic i na e Z fe tv l a i n s w ha he me ho a s rmi t e f c i e y,e pe ily s c al f g ma e il .An e e i n a a iiy b s d on 7 M e l cwa e p f rf a i orhi h Z t ra s xp rme t lf c l a e V i ss tu o e s— t na b lt t dy a c te i g s e t a we e o e v d wih a La 3 Ce e e t .Pr l i — iiy s u nd s a t rn p c r r bs r e t Br ( )d t c or e i na m r e ulsve iy t a g ma e i l a s rm i t d s c s f l . y r s t rf h thi h Z t ra s c n be dic i na e uc e s uly Ke r s: h gh Z t ral ;nu l a a e i l y wo d i ma e i s c e rm t ra s;Co mpt n s a t rn o c te i g;b e s r h u r ms t a l ng
M e h d Re e r h o i h Z a e i l t c i n t o s a c fH g M t ra s De e to
Ba e n Hi h En r y X— a c t e i g s d o g e g r y S a t rn
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