霍尔效应测量空间磁场分布
使用霍尔效应传感器测量磁场的步骤与技巧

使用霍尔效应传感器测量磁场的步骤与技巧磁场是我们日常生活中不可或缺的一部分。
为了准确测量磁场的强度和方向,我们可以使用霍尔效应传感器。
霍尔效应传感器是一种电子元件,能够测量磁场对电流的影响,从而提供有关磁场特征的输出。
下面将介绍使用霍尔效应传感器测量磁场的步骤与技巧。
步骤一:选择合适的霍尔效应传感器首先,我们需要选择适合我们需求的霍尔效应传感器。
市面上有多种类型的霍尔效应传感器,根据不同的应用需求,如测量范围、磁场灵敏度等,我们可以选择不同型号的传感器。
在选择过程中,可以参考产品手册和技术规格,以确保选购到最适合的传感器。
步骤二:搭建合适的实验装置为了进行磁场测量,我们需要搭建一个合适的实验装置。
装置可以包括霍尔效应传感器、电源供应器、磁场源以及相应的电路连接等。
在搭建装置时,需要保证传感器和其他元件之间的正确连接,并确保电路的稳定性和可靠性。
步骤三:校准霍尔效应传感器在进行实际测量之前,我们需要对霍尔效应传感器进行校准。
校准的目的是获得准确的输出,以便后续的磁场测量。
校准过程中,可以通过改变磁场的强度和方向,观察传感器的响应,并记录相关数据。
通过分析这些数据,我们可以建立校准曲线,以便将传感器输出与实际磁场值进行对应。
步骤四:确定磁场测量方法在进行磁场测量时,我们需要确定合适的测量方法。
常见的方法有点测量法和线测量法。
点测量法适用于测量特定位置的磁场值,可以将传感器放置在需要测量的位置,记录传感器输出值。
线测量法适用于测量磁场的空间分布情况,可以通过移动传感器的位置,并记录相应的测量值。
步骤五:进行磁场测量在经过前述准备工作后,我们可以进行磁场测量了。
根据选择的测量方法,将霍尔效应传感器放置在适当的位置,并记录传感器输出值。
在测量过程中,需要注意保持传感器与磁场源之间的适当距离,以避免其他因素对测量结果的影响。
如果需要测量不同位置的磁场值,重复移动传感器的位置,并记录相应的测量值。
步骤六:数据处理与分析完成磁场测量后,我们需要对获得的数据进行处理与分析。
根据霍尔效应测磁场的几种方法归纳总结

根据霍尔效应测磁场的几种方法归纳总结霍尔效应是一种常用于测量磁场强度的物理现象。
通过研究霍尔效应,人们发展出了多种方法来测量磁场。
本文将对根据霍尔效应测磁场的几种方法进行归纳总结。
1. 霍尔元件法:霍尔元件是一种基于霍尔效应原理的传感器。
当电流通过霍尔元件时,磁场会引起霍尔电压的产生。
通过测量霍尔电压的大小,可以确定磁场的强度。
霍尔元件法是一种简单而常用的测磁场方法。
霍尔元件法:霍尔元件是一种基于霍尔效应原理的传感器。
当电流通过霍尔元件时,磁场会引起霍尔电压的产生。
通过测量霍尔电压的大小,可以确定磁场的强度。
霍尔元件法是一种简单而常用的测磁场方法。
2. 霍尔传感器法:与霍尔元件法相似,霍尔传感器也是基于霍尔效应原理的传感器。
不同之处在于,霍尔传感器一般具有更高的灵敏度和更广的工作范围。
它可以通过将霍尔传感器放置在需要测量的磁场中,并测量其输出电压来确定磁场的强度。
霍尔传感器法:与霍尔元件法相似,霍尔传感器也是基于霍尔效应原理的传感器。
不同之处在于,霍尔传感器一般具有更高的灵敏度和更广的工作范围。
它可以通过将霍尔传感器放置在需要测量的磁场中,并测量其输出电压来确定磁场的强度。
3. 霍尔探针法:霍尔探针是一种用于测量磁场强度的工具。
它通常由霍尔元件和测量电路组成。
通过将霍尔探针置于磁场中,并测量输出电压,可以得到磁场的强度值。
霍尔探针法在磁场测量和磁场分布研究中得到广泛应用。
霍尔探针法:霍尔探针是一种用于测量磁场强度的工具。
它通常由霍尔元件和测量电路组成。
通过将霍尔探针置于磁场中,并测量输出电压,可以得到磁场的强度值。
霍尔探针法在磁场测量和磁场分布研究中得到广泛应用。
4. 霍尔效应测试仪:霍尔效应测试仪是一种专门用于测量磁场强度的设备。
它通常具有较高的精度和稳定性。
通过将样品放置在霍尔效应测试仪中,仪器可以直接测量并显示磁场的强度值。
霍尔效应测试仪一般用于科研、工业生产等领域。
霍尔效应测试仪:霍尔效应测试仪是一种专门用于测量磁场强度的设备。
利用霍尔效应实验仪测量磁场分布的一种方法

据 霍尔效 应原 理测量 磁 场 的分 布 . 由于实 验仪 器
量 点上 都要 用实 验测试 仪 和 电位 差 计测 量 , 么 那
电路 的切换 问题 也需要 解决 , 又 涉及 到 电路 的 这
对其中的电磁铁缝隙 的匀强区所产生的磁场强 度 做 了标 定 , 在这一 区域 内学 生用 霍 尔效 应 法测
[ 图分类号 ] 4— 3 [ 中 O 3 文献标 志码 ] [ A 文章编 号 ]63— 02 2 1 )2— 05— 4 17 8 1 (0 2 0 04 0 霍 尔效 应是一种 电磁 效应 _ , 1 根据 霍 尔效 应 ] 原 理制 成 的霍 尔元 件 在 当今 科 学 技 术 的许 多领 域 都有着 广 泛 的应 用 . 尔效 应 实验 也被 做 为大 霍
学 校运 用霍 尔效 应 实 验 组 合 仪 主要 是 为 了使 学
域产 生 的磁 场 的 分 布 与这 一 区域 的实 验 值 进 行
对 比验证 . 了提 高测 量 的精 确 度 , 测 量 霍 尔 为 在
生加深对霍尔效应原理 的理解 , 测量半导体 的霍 尔 系数 、 流子 的浓度及 迁移 率 等 J另 外 , 载 . 利用
础上进 行 的 , 因此 , 实 验是 以设 计 性 实 验 项 目 此 进行 的. 就要 求学生 不但 要深 入 理解 霍 尔效 应 这
实验 的原理 , 而且 更要 清楚 实验 仪 器 的各组 成 部
分 的功 能 与作用 , 还要 明确 直流 电位差 计 的工 作 原理及 仪 器的使 用 . 为 了消除霍 尔效应 中的副效 应 , 采用 换 向 可 对称测 量法 . 里 就 出现 了一 个 问题 , 工 作 电 这 在 流或磁 场 方 向 改 变 时 , 尔 电压 的 极 性 也 要 变 霍 化 , 用 电位差 计 测 量 霍 尔 电压 时 , 相 应 地 改 在 要
利用霍尔效应测磁场

(5)
即 = ,测出 值即可求 。
3.霍尔效应与材料性能的关系
根据上述可知,要得到大的霍尔电压,关键是要选择霍尔系数大(即迁移
率高、电阻率亦较高)的材料。因
,就金属导体而言,迁移率和电阻率
均很低,而不良导体电阻率虽高,但迁移率极小,因而这两种材料的霍尔系数
都很小,不能用来制造霍尔器件。半导体迁移率高,电阻率适中,是制造霍尔
相等,样品两侧电荷的积累就达 到动态平衡,故有
(1)
(a)
(b)
设试样的宽为b,厚度为d,
图1 霍尔效应实验原理示意图
载流子浓度为n ,则
(a)载流子为电子(N型);(b)载流子为空穴(P型)
(2)
由(1)、(2)两式可得:
(3)
比例系数 RH
1 ne
称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数。
只要测出 (伏)以及知道 (安)、(高斯)和 (厘米)可按下式计算
(厘米3/库仑):
(4)
2.霍尔系数与其它参数间的关系
根据 可进一步确定以下参数:
(1)由 的符号(或霍尔电压的正负)判断样品的导电类型。判别的
方法是按图1所示的 和 的方向,若测得的
即 点电位高于
点的电位,则 为负,样品属N型;反之则为P型。
1
(2)由RH求载流子浓度n。即 n RH e 。应该指出,这个关系式是假定 所有载流子都具有相同的漂移速度得到的,严格一点,如果考虑载流子
的速度统计分布,需引入 3 的修正因子(可参阅黄昆、谢希德著《半
导体物理学》)。
8
(3)结合电导率的测量,求载流子的迁移率 。电导率 与载流子浓度 n以及迁移率 之间有如下关系:
【实验目的】
霍尔效应测磁场的空间分布

霍尔效应法测量空间的磁场实验者:*** 同组实验者:*** 指导教师:***(班级:*** 学号:*** 联系号:***)摘要:测量某霍尔片的性质时,为了消除副效应对实验结果的影响,通常采用“对称测量法”在现实生活中,如果直接测量某磁场的分布状况是很困难的,但利用霍尔效应电压与磁场的线性关系,通过测量元件两端的电压就可轻松得知空间某区域的磁场分布。
关键词:霍尔电流、霍尔电压、对称测量法、磁场分布。
一、引言霍尔效应是一种电磁效应是德国物理学家霍尔1879年研究载流导体在磁场中受力的性质时发现的。
置于磁场中的载流体,如果电流方向与磁场垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加横向电场,这个现象就是霍尔效应。
用该效应制成的霍尔器件已广泛运用于工业等方面。
现就给定的霍尔器件试样的性质进行研究。
二 设计原理霍尔效应从本质上讲,是运动的带电粒子在磁场中受到洛仑兹力作用而发生偏转。
在试样中通以电流时,由于正负电荷受力方向相反,则在两极可以积累偏转电荷,产生电压即形成电场。
又知电荷所受电场力与洛仑兹力方向相反,当两者动态平衡时有:B dI S d B I ne b E V HH H H H ===1所以又可得出 HH H H S dk S I d V B ∙==(1) 其中V H 为霍尔电压,B 为外磁场,d 为霍尔片厚度;S H为霍尔系数。
其物理意义是:在恒定霍尔电流情形下,V H 与B 是成正比的。
在实际应用中一般通过V H 来研究B 的分布或V H 来研究S H 即材料的特性。
在产生霍尔效应的同时,也伴随着各种副反应,以致实验测得的电压并不等于真实的霍尔电压V H 值。
其中包括不等电压V 0、温差电效应一起的附加电压V E 、热磁效应直接引起的附加电压V N 、热磁效应产生的温差引起的附加电压V RL 。
这可以通过I H 和B 幻想对称测量法予以消除。
不等电势效应引起的电势差V 0。
由于制造上的困难及材料的不均匀性,如图1,3、4两点实际上不可能在同一等势面上,只要有电流沿x 方向流过,即使没有磁场B ,3、4两点间也会出现电势差V 0。
实验8 霍尔效应法测量磁场A4

实验八 霍尔效应法丈量磁场之巴公井开创作【实验目的】1.了解霍尔器件的工作特性.2.掌握霍尔器件丈量磁场的工作原理. 3.用霍尔器件丈量长直螺线管的磁场分布. 4.考查一对共轴线圈的磁耦合度. 【实验仪器】长直螺线管、亥姆霍兹线圈、霍尔效应测磁仪、霍尔传感器等. 【实验原理】1.霍尔器件丈量磁场的原理图1 霍尔效应原理如图1所示, 有-N 型半导体资料制成的霍尔传感器, 长为L , 宽为b , 厚为d , 其四个正面各焊有一个电极1、2、3、4.将其放在如图所示的垂直磁场中, 沿3、4两个正面通以电流I , 则电子将沿负I 方向以速度运动, 此电子将受到垂直方向磁场B 的洛仑兹力m e F ev B =⨯作用, 造成电子在半导体薄片的1测积累过量的负电荷, 2侧积累过量的正电荷.因此在薄片中发生了由2侧指向1侧的电场H E , 该电场对电子的作用力H H F eE =, 与m e F ev B =⨯反向, 当两种力相平衡时, 便呈现稳定状态, 1、2两正面将建立起稳定的电压H U , 此种效应为霍尔效应, 由此而发生的电压叫霍尔电压H U , 1、2端输出的霍尔电压可由数显电压表丈量并显示出来.如果半导体中电流I 是稳定而均匀的, 可以推导出H U 满足:H H H IBU R K IB d =⋅=⋅,式中, H R 为霍耳系数, 通常界说/H H K R d =, H K 称为灵敏度. 由H R 和H K 的界说可知, 对一给定的霍耳传感器, H R 和H K 有唯一确定的值, 在电流I 不变的情况下, 与B 有一一对应关系. 2.误差分析及改进办法由于系统误差中影响最年夜的是不等势电势差, 下面介绍一种方法可直接消除不等势电势差的影响, 不用屡次改变B 、I 方向.如图2所示, 将图2中电极2引线处焊上两个电极引线5、6, 并在5、6间连接一可变电阻, 其滑动端作为另一引出线2, 将线路完全接通后, 可以调节滑动触头2, 使数字电压表所测电压为零, 这样就消除1、2两引线间的不等势电势差, 而且还可以测出不等势电势差的年夜小.本霍尔效应测磁仪的霍尔电压丈量部份就采纳了这种电路, 使得整个实验过程变得较为容易把持, 不外实验前要首先进行霍尔图2输出电压的调零, 以消除霍尔器件的“不等位电势”.在丈量过程中, 如果把持不妥, 使霍尔元件与螺线管磁场不垂直, 或霍尔元件中电流与磁场不垂直, 也会引入系统误差. 3.载流长直螺线管中的磁场从电磁学中我们知道, 螺线管是绕在圆柱面上的螺旋型线圈.对密绕的螺线管来说, 可以近似地看成是一系列园线圈并排起来组成的.如果其半径为R 、总长度为L , 单元长度的匝数为n , 并取螺线管的轴线为x 轴, 其中心点O 为坐标原点, 则(1)对无限长螺线管L →∞或L R >>的有限长螺线管, 其轴线上的磁场是一个均匀磁场, 且即是:式中0μ——真空磁导率;N ——单元长度的线圈匝数;I ——线圈的励磁电流.(2)对半无限长螺线管的一端或有限长螺线管两端口的磁场为: 即端口处磁感应强度为中部磁感应强度的一半, 两者情况如图3所示.4.亥姆霍兹线圈及其耦合度 两个匝数相等、间距即是其半径,并通以同向、等值电流的共轴线圈,叫亥姆霍兹线圈, 如图4所示.0B 012B O 3下面, 我们来研究亥姆霍兹线圈两圆心间轴线上的磁场.设图4中每个线圈为N 匝, 两线圈间距为a , 取线圈轴线上距两线圈等距离的点O为原点, 轴线为x 轴, 则在两线圈圆心1O 和2O 之间轴上任意一点P(其坐标为x )到两线圈圆心的距离分别是2a x ⎛⎫+ ⎪⎝⎭和2a x ⎛⎫- ⎪⎝⎭, 两线圈在点发生的磁感应强度的年夜小分别是和:2013222122NR IB a R x μ=⋅⎡⎤⎛⎫++⎢⎥ ⎪⎝⎭⎢⎥⎣⎦,2023222122NR IB a R x μ=⋅⎡⎤⎛⎫+-⎢⎥ ⎪⎝⎭⎢⎥⎣⎦.因1B 、2B 的方向相同, 都在x 轴的正方向, 所以点P 的总磁场为:20123322222211222NR I B B B a a R x R x μ⎧⎫⎪⎪⎪⎪⎪⎪=+=⋅+⎨⎬⎪⎪⎡⎤⎡⎤⎛⎫⎛⎫⎪⎪+++-⎢⎥⎢⎥ ⎪ ⎪⎪⎝⎭⎝⎭⎪⎢⎥⎢⎥⎣⎦⎣⎦⎩⎭.在点O 处, 因0x =且a R =, 所以:32004()0.7165NIB O B R μ⎛⎫=⋅≈ ⎪⎝⎭.在1O 和2O 点的B 年夜小相等:图4I I01203/211()()0.677222NI B O B O B R μ⎛⎫==⋅+≈ ⎪⋅⎝⎭.1O 和2O 点之间其它各点的值介于1()B O 和()B O 之间, 可见在亥姆霍兹线圈轴线上, O 点的磁场最强, O 和1O 之间的B 相对变动量不年夜于6%, 磁场均匀性较好.在生产和科研中, 当所需磁场不太强时, 经常使用这种方法来发生较均匀的磁场.从以上叙述来看, 当两共轴线圈之间的间距即是线圈的半径时, 将构成亥姆霍兹线圈, 从而可以得参加强不太强的均匀磁场, 但当这一对共轴线圈的间距不即是半径时, 其轴线上的磁场分布将随着距离的改变而改变, 可呈现出如图5的a 、b 、c 所示的欠耦合、耦合, 过耦合状态, 两线圈的磁场耦合度可以通过霍尔器件来丈量.霍尔效应测磁实验仪是利用n 型锗(Ge )霍尔器件作为测磁传感器的物理实验仪器, 它由以下几部份组成:霍尔测磁传感器, 使用四芯屏蔽式耦合电缆, 霍尔效应测磁仪以数显形式提供0~800mA 的励磁电流、0~10mA 的霍尔片工作电流及显示被丈量的霍尔电势(后有换档开关).长直螺线管:图5a ab cL=30cm, N =4×9T/cm, R =1.7cm.共轴线圈对:D =17.2cm, N =320匝(每个). 【实验内容】1.丈量螺线管轴线上的磁场(1)将霍尔测磁传感器电流调至额定值, 调整不等位电势, 将霍尔输出电压校正至0伏, 然后将螺线管电流调至600mA.根据探杆上的刻度, 将霍尔器件拔出到螺线管中心位置(定为坐标原点), 此时mV 表上读数即为该点磁感应的霍尔电压值(若探杆拔出后, 霍尔电压呈现负值, 可对换螺线管两真个电源极性, 以改变螺线管内磁场的方向), 将探杆在螺线管中缓慢前移, 从探杆上的刻度读出霍尔元件在螺线管中的位置, 同时读出相应各点的霍尔电压值, 记入表1中.计算磁感应强度B , 已知mV17.7(mA T)H K =⋅,5mA I =.表1理论值: 长直螺线管中心处的磁感应强度71130410T m A 49100m 0.6A=2.7110TB NI μπ----==⨯⋅⋅⨯⨯⨯⨯⨯.(2)作出~B x 关系曲线图, 验证螺线管端口磁场为中部磁场的1/2.管口处指示长度约为16cm, 由图线可知, 当L =16cm 时, 磁场强度约为中部强度的一半.2.考查一对共轴线圈的耦合度(1)将两个共轴线圈串连相接, 换下步伐1中的螺线管, 调节共轴线圈中的电流为600mA (接线时务必坚持两个共轴线圈的磁场方向一致).(2)改变共轴线圈间距a , 使8.6cm a R ==, 将霍尔器件放置在线圈的中心间距/2a 处(定为坐标原点), 记录探杆移动位置x 所对应的霍尔电压值, 填入表2中.(3)改变共轴线圈间距a , 记录a R >、a R <两种情况下探杆移动位置x 所对应的霍尔电压值H U , 填入表2中.表2(4)作出以上共轴线圈在三种耦合状态下的~B x的关系曲线图, 并判断构成亥姆霍兹线圈的条件.由图线可知, 当8.6cm a =, 线圈中点处与两线圈圆心处的磁感应强度近似相等, 满足亥姆霍兹线圈耦合, 其他条件下为非耦合状态. 3.考察霍尔电压与霍尔器件工作电流的关系.对给定的霍尔器件, H K 是一个定值, 如果给定磁感应强度B 值, 则霍尔电压H U 是霍尔器件工作电流I 的函数, 即H H U K IB =⋅. (1)将螺线管电流调至600mA, 并使霍尔器件固定在螺线管中的某一位置, 改变霍尔器件工作电流从1~5mA, 记录相应的霍尔电压值, 填入自制表格内.(2)作出~H U I 的关系曲线图.由图线可知, 线性拟合度较好, 该亥姆霍兹线圈的耦合度较高. 【思考题】1.为什么要用半导体资料制作霍尔元件?怎样提高霍尔元件的灵敏度H K ?答:金属的电子浓度n 很年夜, 由1H R ne =,1H K ne d =⋅可知, 金属不适于制作霍尔元件, 应使用电子浓度较小的资料, 故半导体是一种较为理想的选择.由H K 的界说式可知, 降低电子浓度(电导率), 缩短霍尔元件的厚度d 可以提高灵敏度. 2.怎样消除地磁场对本实验的影响?答:可采纳在多个对峙方向组进行丈量后取平均值的方式, 使分歧方向上地磁场的影响相互抵消.3.螺线管磁场B 与霍尔元件是否垂直对实验结果的影响如何?如何消除?答:不垂直时会使丈量值偏小.将探头多方向指向测定, 找到读数最年夜的方向, 则此时即为相互垂直的方向.。
霍耳效应法测量磁场

霍耳效应法测量磁场实验指导1.实验内容:2.测定霍耳器件的霍耳灵敏度、霍耳系数和载流子浓度3.测量电磁铁磁极气隙间磁感应强度的横向分布实验步骤:..1.实验系统的连接、初始设置与参数记录(1)分别连接好实验仪上“I S输入”、“I M输入”、“V H、Vσ输出”端与测量仪面板“Is输出”、“I M 输出”、“V H、Vσ输入”端之间的导线;开机前将“I S调节”、“I M调节”旋钮逆时针方向旋到底。
(2)将霍耳元件位置调整到电磁铁气隙内中心附近(其水平位置标尺为0.0mm处),记录仪器电磁铁线圈上的标签上的励磁常数α值(其数值按1 KGS/A=0.1T/A单位换算成T/A值记录)。
(3)将实验仪上霍耳元件电流换向开关“K1”、励磁电流换向开关“K3”均掷向正向位置, “VH、Vσ”输出开关和测量仪面板上的“VH、Vσ”选择开关均选在VH位置。
2.霍耳灵敏度测量操作(1)接通实验测试仪电源, 调节励磁电流使IM=0.500A;(2)调节霍耳元件工作电流, 分别使IS=0.50mA、1.00mA、1.50mA、2.00mA、2.50mA、3.00mA, 测量记录各IS值下电流换向开关“K1”和“K3”分别在“++”、“+-”、“--”、“-+”四种组合方式下的霍耳电压V1、V2、V3、V4, 数据记录表格如下:..3.电磁铁磁极气隙间磁感应强度的横向分布测量保持励磁电流IM=0.500A, 霍耳元件工作电流IS=3.00mA, 分别测量记录霍耳探头水平位置处在x =0.0mm、10.0mm、20.0mm、23.0mm、26.0mm、29.0mm、32.0mm、35.0mm、38.0mm、41.0mm等处时, 电流换向开关“K1”和“K3”分别在“++”、“+-”、“--”、“-+”四种组合方式下的霍耳电压V1、V2、V3、V4, 数据记录表格如下:1. 实验数据处理指导:表一中, 各KHi 值不确定度计算式为: 其中: 01.0%8.0+⨯=∆S S I I mA ; 001.0%8.0+⨯=∆M M I I A 2/)m V 01.0%5.0(+⨯=∆H H V V2. 计算出表一中6个KH 值的平均值 、及其不确定度的A 类分量 值和不确定度B 类分量 值, 再合成为 值。
利用霍尔效应测量磁场的原理

利用霍尔效应测量磁场的原理介绍在物理学中,霍尔效应是指当一个导体中有电流通过时,如果在该导体的垂直方向上施加一个磁场,就会在导体的一侧产生电势差。
这个现象被称为霍尔效应,是由美国科学家爱德华·霍尔于1879年首次发现并解释的。
利用霍尔效应可以测量磁场的强度,因此在科学研究和工程应用中具有重要意义。
原理霍尔效应的原理可以通过经典电动力学理论来解释。
当一个导体中有电流通过时,在这个电流中的移动载流子(例如电子)受到洛伦兹力的作用,导致它们在导体内部产生一个偏转。
这个偏转偏离了电子在没有磁场作用下自由传播的轨道,在导体的一侧积累了过多的载流子,另一侧则相对较少。
由于载流子的偏转,导体的一侧相对于另一侧产生了电势差。
这种电势差由霍尔电压表示,通常可以用电位器或霍尔电压传感器测量。
霍尔电压正比于电流的大小、磁场的强度以及导体上的几何参数,因此可以通过测量霍尔电压来确定磁场的强度。
测量步骤利用霍尔效应测量磁场的步骤如下:1.准备所需材料和设备:包括电源、霍尔电压传感器、导线和磁场源。
2.连接电源和霍尔电压传感器:将电源的正极与传感器的正极相连,负极与负极相连,确保电路连接无误。
3.将霍尔电压传感器固定在待测区域:将传感器放置在待测区域内,确保其垂直于导线和磁场源。
4.施加磁场:打开磁场源,使磁场通过传感器所在的区域。
5.测量霍尔电压:打开电源,通过传感器测量霍尔电压。
记录电流大小以及测量的霍尔电压值。
6.分析数据:利用霍尔效应的公式和实验数据计算磁场的强度。
将测量得到的霍尔电压与电流大小和导体的几何参数进行比较,得出磁场的强度。
应用领域霍尔效应广泛应用于科学研究和工程领域。
以下是一些常见的应用领域:1. 磁场测量霍尔效应可以用来测量磁场的强度和方向。
通过调整电流、磁场和导体的几何参数,可以精确地测量磁场的强度,从而帮助研究人员更好地了解和探索磁场的性质。
2. 电流测量由于霍尔效应与电流大小成正比,因此可以利用霍尔效应来测量电流的大小。
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霍尔效应法测量空间的磁场
实验者 同组实验者: 指导教师:鲁晓东
【摘要】:测量某霍尔片的性质时,为了消除副效应对实验结果的影响,通常采用“对称测量法”在现实生活中,如果直接测量某磁场的分布状况是很困难的,但利用霍尔效应电压与磁场的线性关系,通过测量元件两端的电压就可轻松得知空间某区域的磁场分布。
【关键词】:霍尔电流、霍尔电压、对称测量法、磁场分布。
一、引言
霍尔效应是磁电效应的一种。
置于磁场中的载流体,当其电流方向与磁场垂直,在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场,这个现象是霍普金斯大学研究生霍尔于1879年发现的,后被称为霍尔效应。
如今霍尔效应不但是测定半导体材料电学参数的主要手段,而且利用该效应制成的霍尔器件已广泛用于非电量的电测量、自动控制和信息处理等方面。
在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍尔器件,将有更广泛的应用前景。
二、设计原理
1.霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。
在试样中通以电流时,由于正负电荷受力方向相反,则在两极可以积累偏转电荷,产生电压即形成电场,又知电荷所受电场力与洛仑兹力方向相反,当两者动态平衡时有:
d
B I S d
B I ne
b E V H H
H H H ==
=1
所以又可得出 H
H
H H S d K S I d V B ∙
==
(1)
其中V H 为霍尔电压,B 为外磁场,d 为霍尔片厚度;S H 为霍尔系。
其物理意义是:在恒定霍尔电流情形下,V H 与B 是成正比的。
在实际应用中,一般通过V H 来研究B 的分布或V H 通过来研究S H 即材料的特性。
值得注意的是,在产生霍尔效应的同时,因伴随着各种副效应,以致实验测两极间的电压并不等于真实的霍尔电压VH 值,而是包含着各种副效应所引起的附加电压V E 、热磁效应直接引起的附加电压V H 、热磁效应产生的温差引起的附加电压V RL 。
这可以通过I H 和B 幻想对称测量法予以消除。
设定电流和磁场的正方向,分别测量由和组成的四个不同方向的组合(即“+I H +B ”、“+I H -B ”、“-I H +B ”、” -I H -B ”) 求以上四组数据V1、V2、V3、V4的代数平均值,可得 4
4
321V V V V V V E H -+-=
+
由于符号V E 与I H 、B 两者方向关系和V E 是相同的,故无法消除,但在电流I H 和磁场B 较小时,V H>>V E 因此可略不计,所以霍尔电压为 4
4
321V V V V V H -+-=
(2)
2.霍尔系数S H 与其它参数间的关系 根据S H 可进一步确定以下参数:
(1)由S H 的符号(或霍尔电压的正负)判断样品的导电类型。
判别的方法是按如图25-1所示的I H 和B 的方向,若测得的V H < 0,即点4的电位高于点2的电位,则S H 为负,样品属N 型;反之则为P 型。
(2)由S H 求载流子浓度n 。
即e
S n H 1=。
应该指出,这个关系式是假定所有载流子都具有相同的漂移速度得到的,严格一点,如果考虑载流子的速度统计分布,需引入
8
3π的修正因子(可参阅黄昆、谢希德著《半
导体物理学》)。
(3)结合电导率的测量,求载流子的迁移率µ。
电导率σ与载流子浓度n 以及迁移率µH 之间有如下关系:
H ne σμ= (25-5) 即µH =σ||H S ,测出σ值即可求µH 。
3.霍尔电压V H 的测量方法
值得注意的是,在产生霍尔效应的同时,因伴随着各种副效应,以致实验测得的2-4两极间的电压并不等于真实的霍尔电压V H 值,而是包含着各种副效应所引起的附加电压,因此必须设法消除。
霍尔器件中的副效应及其消除方法如下:
(1)不等势电压V 0
这是由于测量霍尔电压的电极2和4位置难以做到在一个理想的等势面上,因此当有电流I H 通过时,即使不加磁场也会产生附加的电压V 0=I H r ,其中r 为2、4所在的两个等势面之间的电阻(如图25-2 所示)。
V 0的符号只与电流I H 的方向有关,与磁场B 的方向无关,因此,V 0可以通过改变I H 的方向 予以消除。
(2)温差电效应引起的附加电压V E (额廷格森效应)
如图25-3所示,由于构成电流的载流子速度不同,若速度为v 的载流子所受的洛仑兹力与霍尔电场力的作用刚好抵消,则速度大于或小于v 的载流子在电场和磁场作用下,将各自朝对立面偏转,从而在Y 方向引起温差T 2-T 4,由此产生的温差电效应。
在2、4电极上引入附加电压V E ,且V E ∝I H B ,其符号与I H 和B 的方向关系跟V H 是相同的,因此不能用改变I H 和B 方向的方法予以消除,但其引入的误差很小,可以忽略。
(3)热磁效应直接引起的附加电压V N (能斯脱效应)
如图25-4所示,因器件两端电流引线的接触电阻不等,通电后在接触点两处将产生不同的焦尔热,导致在X 方向有温度梯度,引起载流子沿梯度方向扩散而产生热扩散电流。
热流Q 在Z 方向磁场作用下,类似于霍尔效应在Y 方向上产生一附加电场N ε,相应的电压V N ∝QB ,而V N 的符号只与B 的方向有关,与I H 的方向无关。
因此可通过改变B 的向方予以消除。
(4)热磁效应产生的温差引起的附加电压V RL (里纪-勒杜克效应)
如图25-5所示的X 方向热扩散电流,因载流子的速度统计分布,在Z 方向的B
作用下,
图25-1霍尔片示意图
图25-2不等势电压
和(2)中所述同理将在Y 方向产生温度梯度T 2-T 4,由此引入的附加电压V RL ∝QB ,V RL 的符号只与B 的方向有关,亦能消除之。
综上所述, 实验中测得的2、4之间的电压除V H 外还包含V 0、V N 、V RL 和V E 各个电压的代数和,其中V 0、V N 、V RL 均可以通过I H 和B 换向对称测量法予以消除。
设定电流I H 和磁场B 的正方向,分别测量由下列四组不同方向I H 和B 组合的24-V ,即:
(1)当+I H ,+B 时,测得2、4之间的电压24-V :V 1=V H + V 0+ V N +V RL +V E ;
(2)当+I H ,-B 时,测得2、4之间的电压24-V :V 2=-V H + V 0-V N -V RL -V E ;
(3)当-I H ,-B 时,测得2、4之间的电压24-V :V 3=V H -V 0-V N -V RL +V E ;
(4)当-I H ,+B 时,测得2、4之间的电压24-V :V 4=-V H -V 0+V N +V RL -V E 。
求以上四组数据V 1、V 2、V 3、V 4的代数平均值,可得 4
4
321V V V V V V E H -+-=
+
由于V E 符号与I H 、B 两者方向关系和V H 是相同的,故无法消除,但在电流I H 和磁场B 较小时,V H >>V E ,因此V E 可略去不计,所以霍尔电压为
4
4
321V V V V V H -+-≅ (25-8)
通过上述的测量方法,虽然还不能消除所有的副效应,但其引入的误差不大,可略而不计。
3.
HL-II 型霍尔效应实验仪
HL-II 型霍尔效应实验仪的接线和面板图如图25-6和25-7所示,其主要技术指标: (1)励磁恒流源I M
输出电流:0~1A ,连续可调,调节精度为0.001A ,电流稳定度优于0.1%。
电流指示:三位半发光管数字显示,精度不低于0.5%。
(2)霍尔元件工作恒流源I H
输出电流:0~20mA ,连续可调,调节精度为0.01A ,电流稳定度优于0.1%。
电流指示:三位半发光管数字显示,精度不低于0.5%。
(3)直流数字毫伏表
测量范围:±20.0mV ,三位半发光管数字显示,精度不低于0.5%。
图25-6 HL-II
型霍尔效应实验接线图
图25-3
温差电效应引起的附加电压
图25-4 热磁效应直接引起的附加电压
图25-5 热磁效应温差引起的附加电压。