可靠性试验 reliability test
可靠性实验报告模版
可靠性实验报告Reliability Test Report品质实验室声明THE DECLARATION OF QUALITYLABORATORYNO：SDC-D-PJ-22-B( / ) 1. 为提高产品质量，本实验室遵循科学、公正、准确的原则，为用户提供有效、迅速的服务。
Conducting scientifically, candidly and precisely, test service for improvingproduct quality is provided effectively and timely by this laboratory to our customers. 2. 报告无品质实验室专用图章无效。
The report is void without appropriative stamp of quality test laboratory.3. 报告涂改、部分复制无效。
The report is void if it is, in anyway, altered and/or copied.4. 本次试验结果仅适用于试验样品。
The results only apply to the device under test.5. 带*标记项目为非必要试验项目，若客户需要，可另外安排试验。
Items marked with * are unnecessary test items. If the customer needs, additional tests can be arranged.可靠性实验报告Reliability Test ReportNO：SDC-D-PJ-22-B( / )NO：SDC-D-PJ-22-B( / )附录一：试验/检测设备可焊性实验分项试验报告Solder ability SUB-ITEM TEST REPORT产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 Conclusion高低温循环试验分项试验报告TEMP.Cycles Test SUB-ITEM TEST REPORT产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 ConclusionPressure Cooker Test SUB-ITEM TEST REPORT产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 ConclusionHigh Temperature Storage Test SUB-ITEM TEST REPORT 产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 ConclusionLOW Temperature Storage Test SUB-ITEM TEST REPORT 产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 Conclusion恒温恒湿试验分项试验报告Temperature&Humidity Test SUB-ITEM TEST REPORT产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 Conclusion* 稳态温湿度偏压试验分项试验报告* Temperature Humidity Bias Test SUB-ITEM TEST REPORT 产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 Conclusion* 高加速温湿度应力试验分项试验报告* Highly Accelerated Stress Test SUB-ITEM TEST REPORT 产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 Conclusion* 高温工作寿命试验分项试验报告* High Temperature Operating Life SUB-ITEM TEST REPORT 产品&试验信息 Product&Test Information NO：SDC-D-PJ-22-B( / )检验情况 Inspection Description试验/检测设备 Test/Inspection Device结论 Conclusion。
可靠性型式试验、例行试验、验收试验、鉴定试验
可靠性型式试验、例行试验、验收试验、鉴定试验可靠性型式试验、例行试验、验收试验、鉴定试验可靠性型式试验、例行试验、验收试验、鉴定试验型式试验(typetest)即是为了验证产品能否满足技术规范的全部要求所进行的试验。
它是新产品鉴定中必不可少的一个环节。
只有通过型式试验，该产品才能正式投入生产，然而，对产品认证来说，一般不对再设计的新产品进行认证。
为了达到认证目的而进行的型式试验，是对一个或多个具有代表性的样品利用试验手段进行合格性评定。
型式试验的依据是产品标准。
试验所需样品的数量由论证机构确定，试验样品从制造厂的最终产品中随机抽取。
试验在被认可的独立检验机构进行，对个别特殊的检验项目，如果检验机构缺少所需的检验设备，可在独立检验机构或认证机构的监督下使用制造厂的检验设备进行。
通过型式试验的产品，通常有下列情况之一时，一般应进行型式检验，也可根据产品实际情况进行型式检验:a)新产品或老产品转厂生产的试制定型检验;b)正式生产后，如结构、材料、工艺有较大的改变，可能影响产品质量及性能时;c)正式生产时，定期或积累一定产量后，应周期性进行一次检验;d)产品长期停产后，恢复生产时;e)本次出厂检验结果与上一次型式检验有较大差异时;f)国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。
例如:《国标GB8898音频/视频及类似电子设备安全要求》第2.8.1条款解释:型式试验typetest:在按某种设计制造一个或多个样品来确定该设计是否符合本标准的全部要求而进行的试验。
一般地，型式试验是一种破坏性试验。
与一般的例行试验相比，它往往要做诸于寿命试验、耐压试验等，故经过型式试验的产品一般是不能出售的。
譬如对自行车钢圈做盐雾试验，考察其表面镀层的抗锈性能。
在做了一定时间的盐雾试验后，表面会有不同程度的锈迹出现，这样的钢圈当然不能再装到自行车上去了。
在产品标准中需要注意例行试验和型式试验的项目和试验条件。
一般地在以下几种情况下要进行型式试验:新开发的产品;从别的厂转让的产品，本厂第一次生产时;产品生产到一定周期或数量;出厂检验结果与上次型式试验有较大差异时;停产一段时间后，重新恢复生产时;产品材料、结构、生产工艺等发生大的变化时;另外，国家按有关规定进行监督抽查时，也可能会将产品送有关检测机构进行型式试验。
可靠性验证试验
•概述述•统计试验方案•指数分布抽验方案•统计试验方案的选择可靠性验证试验——概述•通过客观证据的提供与检查，验明是否符合规定的要求称为“验证”（verification）。
可靠性验证试验的作用是使订购方能拿到合格的产品，同时承制方也能了解产品的可靠性水平。
•可靠性验证试验包括可靠性鉴定试验（R eliability Q ualification T est,RQT）和可靠性验收试验（R eliability A cceptanceT est,RAT）。
•可靠性鉴定试验和可靠性验收试验属于统计试验,是用数理统计方法验证产品可靠性是否符合规定要求。
统计试验的目的是度量和验证产品证产品可靠性是否符合规定要求统计试验的目的是度量和验证产品的可靠性，并给出可靠性验证值。
•可靠性鉴定试验目的：可靠性鉴定试验目的验证产品的设计是否达到了规定的可靠性要求。
般验证产品的设计是否达到了规定的可靠性要求。
一般是MTBF最低可接受值。
可靠性鉴定试验是向使用方提供一种合格证明。
一般用于定型鉴定，是生产前的试验，为生产决策提供管理信息。
此时产品仍属于研制阶段，但技术状态已经确定，设计及工艺图纸已经具备。
鉴定试验必须按计划及时完成，使用方应在合同中规定鉴定试验的要求。
需要做鉴定试验的产品：需要做鉴定试验的产品¾新研产品¾重大改型产品¾在一定环境条件下不能满足系统分配的可靠性要求的产在定环境条件下品因此，可靠性鉴定试验主要用于设计定型（生产定型）或主要设计和工艺变更后的鉴定。
•可靠性验收试验目的：验证产品的可靠性不随生产期间工艺、工装、工作流程及零部件质量等的变化而降低。
可靠性验收试验是对交付的某些产品或生产批做出评价。
产品通过定型（鉴定试验）转入批生产后，为确保产品生产过程严格的质量控制验产品在规定的条件是到设计规定的可靠性要质量控制，验证产品在规定的条件下是否达到设计规定的可靠性要求，需要进行可靠性验收试验，以确定该产品批是否接收。
通用可靠性测试指引(General reliability test instruction)
通用可靠性测试指引(General reliability test instruction)制作人(Prepare By) ：David Tsang批准人(Approve By）：Carrie Chueng发出日期(Issue Date)：Aug. 05, 20101. 目的(Purpose)根据一般行业标准的可靠性测试要求及判定基准, 本文件旨在建立可靠性的一些测试项目、要求和操作说明来规范和指导PDP业务的可靠性。
(Basing on the general reliability test requirements and judgment criteria in industrial standard, this document aims to set up the some test items, requirements and operation instruction forstandardization of reliability test of PDP business).2. 适用范围(Scope)本程序文件适用于与PDP有业务的产品. 如顾客没有提供测试标准或产品本身无特别安全测试要求,PDP及生产商可根据本程序内文的测试标准或指定的文件来进行可靠性测试。
(This document is applicable to the products which related to PDP business. PDP and subcontractor can conduct reliability test referring to this instruction if no specified testing instruction supplied by customer.)3. 参考文件(Reference)3.1 产品规格(Product specification)3.2 电气规格（Available electrical specification）3.3 QP-RTI-002 (NOA Accessory Testing Guideline)4. 操作程序(Operation Procedure)4.1 首先根据产品的物料特性、设计的要求选取下面合适的测试项目进行测试。
军品可靠性鉴定试验通用程序
军品可靠性鉴定试验通用程序1概述可靠性鉴定试验(Reliability Qualification Test ,RQT)是为验证产品的设计是否达到了规定的可靠性要求，由认购方认可的单位按选定的抽样方案，抽取有代表性的产品在规定条件下所进行的试验。
可靠性鉴定试验是产品可靠性的确认试验，也是研发产品进入量产前的一种验证试验。
可靠性鉴定试验是一种抽样检验。
由于抽样检验是通过检查样本的质量来判断整批产品质量状况的，所以可能会犯以下两类错误：①将合格产品批误判为不合格产品批，称为第1类错误；②将不合格产品批误判为合格产品批，称为第2类错误。
犯第1类错误时会使生产方受损失，所以称犯这类错误的概率为生产方风险，一般用a表示；犯第2类错误时会使使用方受损失，所以称犯这类错误的概率为使用方风险，一般用0表示。
理想的抽样检验方案要求a = B =0，但这样的试验方案不存在。
因为要使a =0即绝不可把合格批误判为不合格批，这只要把任一批产品都判为合格即可，但这样B增大；反之，要使B =0，就会导致a增大。
此外试验还受时间、经费、试验资源等条件约束，因此在实际工作中常常是生产方和使用方共同协商和权衡来制定试验方案。
2编制产品可靠性鉴定试验大纲针对产品的具体特点及可靠性鉴定工作的需求，由承试单位负责，承制单位参加制订《产品可靠性鉴定试验大纲》。
该大纲作为该产品可靠性鉴定试验的总体规划技术文件，至少应包括下列各项内容：(a)试验目的；(b)适用范围：应明确本试验大纲适用于什么产品、哪种可靠性指标的验证；(c)引用标准和文件：应列出编写本试验大纲及本次试验应遵循和执行的所有标准和文件；(d)受试产品说明和要求：应说明受试产品的功能与用途、受试产品的组成、受试产品的技术状态和受试产品的数量；(e)统计试验方案：应说明本次试验所采用的统计试验方案及相关参数量值的确定；(f)试验条件：应说明试验时的标准大气条件要求、试验的环境条件和工作条件要求（试验剖面），包括电应力、温度应力、湿度应力、振动应力或其它工作应力的要求；（g）试验设备和测试仪表要求：应明确对用于此次试验的试验设备的能力及测试仪表的种类及精度要求及检定情况；（h）受试产品检测项目：应明确试验过程中的检测要求，包括检测内容、检测方式和检测时机、次数等；（i）故障判据、故障分类及统计原则：应明确该产品的关联责任故障判据，及故障的种类、分类原则和故障的统计原则；（k）试验前有关工作要求：应明确进行此次试验前，承试方和承制方及订购方应完成的工作项目，包括在此之前应完成的试验项目、应成立的组织机构、应编写的试验文件、试验设备能力调查、受试产品的安装和测试要求及准备工作评审要求等；（1）试验过程中的监测及记录要求：应明确试验过程中受试产品和试验设备的监测要求，同时应给出相应的记录表格；（m）故障的报告和处理：应明确在试验过程中发生故障后应按何种方式进行报告，应填写哪些记录以及故障的处理程序；（n）试验结束：应规定试验的结束方式、试验提前结束的条件以及试验结束后应完成的工作项目；（o）试验报告要求：应明确由谁编写试验报告、试验报告的主要内容和应提交的单位部门；（p）有关问题的说明：应对试验大纲中其它章节中尚不明确的事项进行规定，以保证试验大纲的完整性和严密性。
reliable test report(可靠性测试报告)
Conclusion
Baking test heat up to 320°C , keep 5 minutes , do not change color . The maximum leak rate is 1.6*10-9 atm·cc·s-1. For insulation resistance , minimum is 384,200 MΩ . Nickel thickness is between 1.69 μm and 1.92 μm . Gold thickness is between 0.129 μm and 0.168 μm. Conclusion : TO46(4+1)AP0156A header quality is good enough for
Resistance test result
Spec. is more than 1000 MΩ，minimum is 384,200 MΩ , judge OK. sample
Unit Ω MΩ 1 7.091 T 686.5G 2 744.2G 3 2.436T 4 384.2G 5 442.8G 6 826.7G 7 903.1G 8
Leak test result
Spec. is no more than 1.0*10-8 atm·cc·s-1 (means 1.0*10-9 Pa·m3·s-1），maximum is 1.6*10-9 atm·cc·s-1,judge OK.
Unit Pa·m ·s
3 -1
1 1.2*10
-10
Bake test result
All samples plating did not change color.
Reliability Test Report for TO46(4+1) AP0156A header
IC可靠性测试项目及参考标准
IC产品的质量与可靠性测试(IC Quality & Reliability T est)质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命。
质量（Quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC）的要求，是否符合各项性能指标的问题；可靠性（Reliability）则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。
所以说质量（Quality）解决的是现阶段的问题，可靠性（Reliability）解决的是一段时间以后的问题。
知道了两者的区别，我们发现，Quality的问题解决方法往往比较直接，设计和制造单位在产品生产出来后，通过简单的测试，就可以知道产品的性能是否达到SPEC的要求，这种测试在IC的设计和制造单位就可以进行。
相对而言，Reliability的问题似乎就变的十分棘手，这个产品能用多久，谁能保证产品今天能用，明天就一定能用？为了解决这个问题，人们制定了各种各样的标准，如: JESD22-A108-A、EIAJED- 4701-D101，注：JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）电子设备工程联合委员会,，著名国际电子行业标准化组织之一；EIAJED：日本电子工业协会，著名国际电子行业标准化组织之一。
在介绍一些目前较为流行的Reliability的测试方法之前，我们先来认识一下IC产品的生命周期。
典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线（Bathtub Curve）来表示。
ⅠⅡⅢØRegion (I) 被称为早夭期（Infancy period）这个阶段产品的failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷；ØRegion (II) 被称为使用期（Useful life period）在这个阶段产品的failure rate保持稳定，失效的原因往往是随机的，比如温度变化等等；ØRegion (III) 被称为磨耗期（Wear-Out period）在这个阶段failure rate 会快速升高，失效的原因就是产品长期使用所造成的老化等。
可靠性试验简介
♦ 可靠性定义
▪ 可靠性 Vs 质量 ▪ 浴盆曲线
♦ 可靠性试验 ♦ 可靠性试验目的 ♦ 可靠性试验分类 ♦ AOS 可靠性试验类型
▪ HTS （High Temperature Storage 高温储存试验） ▪ HTGB (High Temperature Gtae Bias 高温Gate偏压试验） ▪ HTRB (High Temperature Reverse Bias 高温反相偏压试验）
接上页
▪ ESD Test （Electrostatic Discharge 静电放电测试）
– HBM ESD （Human Body Model 人体模式） – MM ESD （Machine Model 设备模式） – CDM ESD （Charged Device Model 器件放电模式）
▪ 以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场 试验
▪ 以试验项目划分，可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种 特殊试验
▪ 按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验 ▪ 按试验性质来划分，也可分为破坏性试验和非破坏性试验 ▪ 通常惯用的分类法，是把它归纳为五大类
– 环境试验 – 寿命试验 – 筛选试验 – 现场使用试验 – 鉴定试验
测试来评估器件或系统的寿命）
♦ Reliability tests aim to simulate and accelerate the
stress that the semiconductor device may encounter during all phases of its life, including mounting, aging, field installation and operation. ♦ 可靠性试验的目标是通过模拟和加速半导体元器件在整个 寿命周期中遭遇的各种情况（包括贴片，寿命，应用和运 行）
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Approved by ：Date ：28th.Nov.2006Checked by ：Date ：28th.Nov.2006Prepared by ：
Date ：28th.Nov.2006
XX XX
PMMA of Flavia
Report No.20061129
for
XX 荧茂科技（无锡）有限公司
MILDEX TECHNOLOGY INC
Reliability Test Report
3
6Index
Item Content Test Date Test Result 52Page Reference …………Temperature Test Organic Fat on External
Surface
11/14~11/21Reference …………Reference …………1516111314456Solar Radiation 11/1~11/28Reference …………Reference …………1Cold Test 11/11~11/14Reference …………214Heat Test 11/8~11/11Thermal Shock Test 11/14~11/23311/8~11/147Tumble Test 11/8~11/11Reference …………98Oil Proof Test 11/7~11/7Reference …………7…………8…………109Alcohol Resistance Test 10Corrosion Resistance Test 11/8~11/10Reference 11/8~11/8Reference 1112Adhesion Test 11/5~11/7Reference …………12Perspiration Resistance Test
Reference ............Abrasion Resistance Test 11/8~11/8Reference 11/8~11/8Hardness Test 11/8~11/8Reference Reference ............13............14............11/8~11/8Reference 15Scratch Resistance Test 11/5~11/7Reference ............1611/8~11/8Anti-migration Test (1718)
Falling Dart Test
11/8~11/8
Reference
…………
18
17Push/Pull Out Test
Test Result :
Duration: 10 minutes at each temperature extreme with a 0-5 minute transition time, 640 cycles total. 、Test Result :
Test Equipment ：
No peeling after adhesion
No discoloration
Adhesion is 100/100 for putties
FLEX Flavia Samples 5pcs(56#
、
57#
、
58#、
59#
、60#）Rub the specimen 120 times as follows, at a speed of 1 time (back and forth) per 2 seconds and at a stroke of 25.4 mm.
4、Test Result :
■PASS □FAIL
1、Test Sample ：
2、Test Equipment ：
3、Test Condition ：
Abrasion Resistance Test
Test Period 11/8-11/8Page 14 of 18
in left and right or in a circle, to rub the surface.
2) Rubbing should be carried out on five points on
the specimen, each time using new brown paper.
FLEX Flavia Samples 5pcs(71#
、
72#
、73#、
74#、75#）P reload: 5N
P robe speed: 10,0 mm/min
4、Test Result :
Push/Pull out Tests
Test Period 11/8-11/8Page 17 of 18
1、Test Sample ：
2、Test Equipment ：
3、Test Condition ：
Temperature: +21±3℃Humidity: 50±10%RH
A 30 g metal (brass) weight will be dropped from a
height of 1 meter onto the display of the DUT. The
No cracking。