触摸按键测试方法
平板电脑触摸屏测试方法

按键功能正常
操作正常 功能正常 应该保持一致 不会造成死机 操作正常
判断是否能准确响应 3.进入软键盘输入界面,点击触摸键盘,是否能正确输入所点击的字母 41..开 在启 主“ 界显 面示快触速摸滑操动作,”判和断“主指界针面位切置换”速,度判断手指触摸位置与“触摸提 2.打开软件盘输入界面,快速按键盘按键排列顺序依次输入字母或者数字 (
比如:快速依次输入1234567890),判断是否会出现“跳点”或“漏输 ”的现 1.象 长( 时比 间如 播输放入视3频时、确游响戏应之了后别,的比按如键播,放或视者频点2击小了时按,键机3器结有果些3发没热有的响时 候 21..按机照器以休上眠的唤方醒法,重判新断测触试摸验是证否触有摸效屏的响应情况 2.需要在不同休眠时间下测试,比如:2小时、4小时、机器休眠一个晚上 (曾经
1.开启“显示触摸操作”和“指针位置”这两个选项,用多个手指头同时 在触摸
屏上划线,观测有多少线条就代表是“几点触摸” 2.使用触摸测试软件(可以网络下载,比如MultiTouchTester.apk),也 可 1.以操作:退出键、HOME键、音量加、音量减、复位、开关机键 2.判断各个按键功能是否正常 3.特别注意同一个机器,不同客户按键功能定义不一样的情况
某款机器出现过休眠一晚上之后唤醒触摸无效的情况) 31..需 按要 住多 主台 界机面器的、某多个次应、用批图量标测,试注验意证手指不要移动 2.观察图标的状态
1.连接充电器的同时,进行触摸操作,判断是否有偏位或者跳转
注意:这个现象要确认充电器是否是按规格要求做了匹配的?如果充电器 做了匹配仍然有此现象,就要考虑是否是TP参数的问题
编号
测试内容
触摸范围
按键检测方案

7
ESD 测试
8
强度实验
基本
9
粉末实验
基本
粉末 / 振动
10
喷雾实验
基本
※盐度 5%±1% / 温度 35℃ / 湿 度 95% / 48Hr
控键检测项目及条件
判定标准 测试装备 测试说明 测试结果
机器特性,外观及其他功能不能有异常
老化设备
"
触控键必须满足其特性,外观及功能动 作无异常.
振动测试仪
压下设备
"
功能正常,结构无异常, LCD/触控键部 位不能有异物.
振动测试仪
"
不能发生变色及腐蚀
喷雾设备
"
2
基本
基本
3
按键测试 压力
4
断电测试
基本
5
包装跌落
基本
高度100Cm条件下,各6面3回 ※用长时间老化实验过的样机来做 跌落实验 ※彩盒跌落: 在高度75Cm条件下 1 角 3角 6面 / 跌落各1回 ※单机跌落是否可作?
基本
关机状态用无尘布擦拭触控键部位 10-20次/分钟
6
摩擦测试
6
摩擦测试 压力 开机状态用无尘布擦拭触控键部位 10-20次/分钟
F1触控键检测项目及条件
NO. 测试项目 测试等级 时间: 温度: 测试方法 及 条件
1
老化测试
基本
1
包装振动(是否增加机 器工作时的振动测 试?) 上电测试
基本
振动时间: 振动加速: 振幅方向: Power on / off 反复次数:实行100次 每键反复次数: 100次 速度 : 1s On/1s OFF ※用支撑柱将机身竖立固定 ※大拇指指腹触碰按键 ※禁止用手抓握机身 每键反复次数: 500次 速度 : 快速 (< 1s On/1s OFF) ※用支撑柱将机身竖立固定 ※大拇指指腹触碰按键 ※禁止用手抓握机身 待机时切断电源 反复次数: 50次 关掉插座电源或者直接拔除适配器
苹果测试屏幕触摸方法

苹果测试屏幕触摸方法
苹果进行屏幕触摸的方法包括以下几种:
1. 单点触摸:用户通过手指在屏幕上单点触摸来进行操作,比如点击、滑动等。
2. 多点触摸:用户可以使用多个手指在屏幕上同时进行触摸操作,比如缩放、旋转等。
3. 手势识别:苹果设备可以通过识别用户的手势来进行相应的操作,比如双击、拖动、长按等。
4. 3D Touch:苹果设备支持3D Touch技术,通过对屏幕施加不同程度的压力来触发不同的操作。
5. Apple Pencil:苹果的一些设备支持使用Apple Pencil进行触摸操作,可以模拟真实笔触,提供更精细的触摸体验。
以上是苹果进行屏幕触摸的一些常见方法,不同设备和操作系统版本可能会有所差异。
触摸按键的测试系统及其方法[发明专利]
![触摸按键的测试系统及其方法[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/02732cedcc17552706220871.png)
专利名称:触摸按键的测试系统及其方法专利类型:发明专利
发明人:高俊娟,杨小伟,王阳,陈俊卿
申请号:CN201310261681.2
申请日:20130627
公开号:CN104251949A
公开日:
20141231
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明提供了一种触摸按键的测试系统,该测试系统与一电子装置连接,该电子装置具有多个触摸按键,所述测试系统包括:一测试治具、一测试装置以及一组装治具。
该测试装置用于测试所述多个触摸按键的短路情况,包括:一侦测模块、一第一判断模块、一计数模块以及一第二判断模块。
该测试系统使用测试治具触摸所述电子装置的多个触摸按键,通过测试装置测试每个触摸按键被触摸后响应的触摸按键数量判断被触摸的触摸按键是否存在短路情况,精确的测试出了每个存在短路的触摸按键。
本发明还提供了一种触摸按键的测试方法。
申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
地址:518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
国籍:CN
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手机按键可靠性试验

1、汗液成份:用1.00±0.01g尿素(Pro分析
特性), 5.00±0.01g氯化钠(PA 特性)和
1.14 ±0.02g或940±20的DL-乳酸(>88%,
PA特性)混合在一个1000毫升的大口杯里,
再添加900毫升最新鲜的蒸馏水并搅动直到
所有溶剂溶解。校正pH值测试仪将测试电极
2
耐手汗测 试
首次 /3个 月
10/ 5
点按0-1级接收; 0 2、试验后颜色发黄及变色,参
考色差DE>8.5。
QUVA箱
露(50℃),常温下冷却2小时再进行判定。
2
手机按键可靠性试验
4
浸染试验 (针对表 面UV转印 产品)
用PEN((MonAminamepen,BLACK)在实验面用 适当的力长度约为10mm长划5处→50℃95%条 件1hr放置→常温放置1小时→然后把酒精粘 在抹布擦10回(往返5回),再检查样品。
10
高温高湿
在温度(55±2℃),湿度95%RH条件下,存 放72小时后,样品在正常大气条件下(25℃ ±5℃,65±10%RH)恢复12小时,进行外观 检验,并测试油漆的附着力。
首次 /每3 月
10/ 2
1、附着力≥4B为合格;
0
2、产品表面无变色,裂痕、剥 落、起泡、腐蚀按0-1级接收; 3、拉拔力:5N力持续拉拔1分钟
9
在温度(60℃±2℃)条件下,存放72小
高温贮存
时,试验结束后,样品在正常大气条件下 (25℃±5℃)恢复1~2小时,进行外观检
验,并测试油漆的附着力。
首次 /每3 月
10/ 2
1、附着力≥4B为合格; 2、产品表面无变色,裂痕、剥 0 落、起泡、腐蚀按0-1级接收; 高温箱 3、拉拔力:5N力持续拉拔1分钟 无脱落为合格。
触摸按键稳定性的测试方法

关键词: 触摸感应,误动作、可靠性测试。 (一)引言
触摸感应的操作面板因为其坚固、耐磨损、可以绝缘、隔尘、隔水,而且外观美观新颖 而迅速在很多领域被应用,成为近年的热门技术。但很多采用了触摸感应面板的产品都遇到 了诸如生产调试困难,触摸感应面板工作不稳定,在潮湿,强干扰环境下容易误动,造成客
下系统的稳定度 测试方法:将无线对讲机靠近触摸感应面板 20cm 左右进行呼叫和对讲操作。观察面板上
的 按键有无动作,或面板是否“死机”。
测试方案三:
测试工具:100W 以上,使用可控硅移相触发调光的白炽灯调光灯。 测试原理:可控硅移相触发时会在 220V 电源的正弦波上产生陡峭的边沿,灯的电源线会
测试方法: 将使用老式电抗器起辉的荧光灯荧光灯和感应面板的电源插到同一个电源插座上,反复
开关荧光灯让“跳泡”不断的“跳”,同时观察触摸感应面板的反应。 很多触摸感应面板会在这种测试条件下误动。 5) 电磁干扰测试 测试方案一:
测试工具:GSM 手机(爱利信的手机信号较强,辐射大。适合做测试工具)CDMA 手机辐 射小,不合用。
户退货的难题。 (二)问题
生产调试困难,无法上批量生产。触摸感应面板工作不稳定。在潮湿,强干扰环境下容 易误动,造成客户退货。产品长期工作稳定性差,生产线调试好的产品,经过运输或长期工
作以后灵敏度变化或经常误动而增加了很大的售后成本。 这些原因造成了很多厂家既希望采用这一新技术,又对采用了这个技术的产品是否能稳 定工作心存疑虑。因为触摸感应面板简单的试用往往无法发现有什么不妥。经常要等到发货 后顾客使用一段时间才会出现形形色色的问题。这时不可避免的会给厂家带来成本和声誉上
就可以了。建议进行-20 度~80 度的高低温测试,如果要求严格的话建议进行-40 度~ 85
触摸按键的检测方法及其终端设备的制作方法

本技术公开了一种触摸按键的检测方法及其终端设备,用于解决现有技术中终端设备的侧边需要额外设置电容传感器才能检测到侧压力按键是否被触摸的问题。
所述终端设备包括侧压力按键、绝缘断点、电容处理模块和压力检测模块,其中:所述侧压力按键设置在所述终端设备的边框的内侧;所述绝缘断点在所述边框上截取的金属边框用于检测所述侧压力按键被触摸时产生的电容变化值;所述金属边框与所述电容处理模块连接,所述电容处理模块与所述压力检测模块连接,所述电容处理模块用于在所述金属边框检测到的电容变化值大于或等于预设的触发阈值时,触发所述压力检测模块检测所述侧压力按键被触摸时产生的压力值。
技术要求1.一种终端设备,其特征在于,包括侧压力按键、绝缘断点、电容处理模块和压力检测模块,其中:所述侧压力按键设置在所述终端设备的边框的内侧;所述绝缘断点设置在所述侧压力按键在所述边框上的投影区域的两端,所述绝缘断点在所述边框上截取的金属边框用于检测所述侧压力按键被触摸时产生的电容变化值;所述金属边框与所述电容处理模块连接,所述电容处理模块与所述压力检测模块连接,所述电容处理模块用于在所述金属边框检测到的电容变化值大于或等于预设的触发阈值时,触发所述压力检测模块检测所述侧压力按键被触摸时产生的压力值。
2.如权利要求1所述的终端设备,其特征在于,所述终端设备还包括中央处理器,所述压力检测模块与所述中央处理器连接;所述压力检测模块在检测到所述侧压力按键被触摸时产生的压力值大于或等于预设的压力阈值时,将所述侧压力按键被触摸的信号发送给所述中央处理器;所述中央处理器用于基于所述侧压力按键被触摸的信号确定并处理对应的按键事件。
3.如权利要求1所述的终端设备,其特征在于,所述电容处理模块通过通用输入输出GPIO 线路与所述压力检测模块连接;所述电容处理模块在所述金属边框检测到的电容变化值大于或等于所述预设的触发阈值时,将所述侧压力按键被触摸的信号通过所述GPIO线路发送给所述压力检测模块,以触发所述压力检测模块检测所述侧压力按键被触摸时产生的压力值。
开关按键寿命测试标准

开关按键寿命测试标准
一、目的
本标准规定了按键寿命测试的测试方法、测试步骤和判定准则,以确保产品的按键具有足够的耐用性和可靠性。
二、测试方法
1. 按键按压测试:模拟用户正常操作,对按键进行按压测试,以评估其承受压力的能力。
2. 耐磨损测试:通过模拟长时间使用过程中的磨损情况,对按键进行磨损测试,以评估其耐磨性。
3. 耐腐蚀测试:模拟恶劣环境条件下的使用情况,对按键进行耐腐蚀测试,以评估其抗腐蚀能力。
三、测试步骤
1. 准备工作:准备测试所需的设备、工具和样品。
2. 按键按压测试:按照规定的操作步骤,对按键进行按压测试,记录每次按压的力度和次数。
3. 耐磨损测试:在规定的时间内,对按键进行重复按压和摩擦测试,观察其表面磨损情况。
4. 耐腐蚀测试:将按键放置在规定的腐蚀环境中,观察其表面腐蚀情况,记录腐蚀时间和程度。
四、判定准则
1. 按键按压测试:要求按键在规定次数内无损坏、无变形、无
松动等现象。
2. 耐磨损测试:要求按键表面无明显磨损,不影响正常使用。
3. 耐腐蚀测试:要求按键表面无明显腐蚀,不影响正常使用。
五、注意事项
1. 在进行按键寿命测试时,应确保测试环境和设备的清洁度,避免灰尘、杂质等对测试结果的影响。
2. 在进行耐磨损测试时,应注意保持合适的摩擦力,避免过度磨损导致损坏。
3. 在进行耐腐蚀测试时,应注意控制腐蚀环境的湿度、温度等参数,确保测试结果的准确性。
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触摸按键测试工具Demo Board 介绍
文件编码文件编码::HA0HA0145145145s s
简介
在使用HOLTEK 触控按键系列IC (如HT45R34、HT45R36、HT45R38等)时,经常需要知道触摸按键感应量的变化值,以便调整按键的灵敏度,为了方便用户将触控程序烧入IC 之后,观察触摸按键感应量的变化值,我们特设计此DEMO BOARD 供用户使用。
此DEMO BOARD 主要功能是将用户发送的数据显示出来,为了方便用户进行通讯,我们也给出了与DEMO BOARD 相对应的发送程序。
此DEMO BOARD 用HT48R10A-1 MCU 来设计。
HT48R10A-1是HOLTEK 公司开发的8-BIT MCU ,ROM 为1K 、RAM 为64Byte 、21个I/O PORT 。
Demo Board 硬件方块图硬件方块图
方块图
硬件方块功能说明
主控芯片为HT48R10A-1
主控芯片作为SLAVE端,通过串行通讯从MASTER端获取显示数据
三个按键,用于设置工作模式以及显示值的切换
Display分为两部分。
一部分由四位数码管组成,用于显示通过串行通讯所获取的数据。
另一部分由四个LED组成,用于指示数码管当前显示的值的序号
电路说明
电路说明
电路图
电路设计说明
P1输入为DC 9V,经C6和C2滤波后送入7805的1脚,7805的3脚的输出为DC 5V给MCU供电;也可以通过V1和V2直接给MCU供电;还可以通过接口H2的PIN1和PIN5给MCU供电。
三种供电方法任选一种即可。
C1、C3、C4、R1和R2组成MCU的RESET电路。
D1为四位数码管,用于显示通过串行通讯接收到的数据。
DS0~DS3为LED,他们通过十六进制的格式来显示当前D1显示的值所对应的RC通道。
S1、S2、S3分别ADD键、DEC键、MODE键,用于设置显示的通道以及工作模式。
H2为串行通讯的接口,本项目的通讯采用CS、CLK、DATA三线通讯的方式,其中PC0对应CS、PC1对应CLK、PC2对应DATA,数据在CLK的下降沿被读取。
注意:当MCU的供电方式选择为P1输入DC9V供电或通过V1和V2直接给MCU供电时,H2的PIN1可不与被测版连接
通讯协议说明
串行通讯协议说明
本项目所采用的通讯协议为三线通讯协议,HT48R10A-1作为SLAVE端使用,其通讯格式如下: 数据总长度为24-bit,其中显示数据16-bit,显示通道8-bit。
数据传输为先传送16位需要显示的数据,再传送8位显示通道,传输方式均为低位在前(LSB)。
在8位的显示通道中,只有低四位有效,高四位要求与低四位保持一致,用于校验显示通道数据是否接收正确。
数据必须在下降沿准备好,即CLK下降沿数据有效。
通讯时序图
上图中,A 和B 之间的时间必须不小于25us ,通讯速度需低于100KHz 。
通讯中Master 发送程序用法说明
我们所设计的Demo Board 主要功能是将用户所传送的数据显示出来,为了方便用户传送数据,我们同样给出Master 部分发送程序,现将Master 部分发送程序说明如下:
通讯口定义
在使用以下Master 传送程序时,需要用到三个I/O 口,即P_CS (片选信号)、P_CLK (时钟)、P_DATA (数据),此三个口可以定义为任意I/0口。
数据入口
在调用Master 部分发送程序时,需将传送的数据放入三个RAM 中,此三个RAM 的含义说明如下:
M_DEBUG_DATAL :串行通讯中,需要传送的16位显示数据中的低8位,在调用该函数前需要先设置好数值。
M_DEBUG_DATAH :串行通讯中,需要传送的16位显示数据中的高8位,在调用该函数前需要先设置好数值。
M_DEBUG_ADDR :串行通讯中,本次通讯数据所对应的地址,只有低四位有效,高四位要求与低四位保持一致,用于校验显示通道数据是否接收正确。
例如:要发送第1通道数据,那么应将11H 放入M_DEBUG_ADDR 中。
发送第5通道数据,那么应将55H 放入M_DEBUG_ADDR 中
调用调用方法方法
应用时,只需将子程序SBR_DEBUG 插入主程序中即可使用。
注意在调用前设置好M_DEBUG_DATAL,M_DEBUG_DATAH 和M_DEBUG_ADDR 的值。
发送程序如下:
;;-----------------------------------------------
;; Function : SBR_DEBUG
;; In : M_DEBUG_DATAL,M_DEBUG_DATAH,M_DEBUG_ADDR
;; Out : NULL
;; Description: Send M_DEBUG_DATAL & M_DEBUG_DATAL & ASCR to Slave by SPI ;; Format : LSB bit0~bit15 bit16~bit23
;; Data must ready before falling
;;-----------------------------------------------
SBR_DEBUG:
CLR P_CS ;;CS = 0
MOV A,20
SDZ ACC
JMP $-1 ;;Wait
MOV A,8 ;;Load length
L_DEBUG_LP1:
RRC M_DEBUG_DATAL ;;Send M_DEBUG_DATAL
CLR P_DATA
SZ C
SET P_DATA
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
CLR P_CLK ;;CLK = 0,Slave will read data
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
SET P_CLK
SDZ ACC
JMP L_DEBUG_LP1
MOV A,8
L_DEBUG_LP2:
RRC M_DEBUG_DATAH ;;Send M_DEBUG_DATAH
CLR P_DATA
SZ C
SET P_DATA
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
CLR P_CLK ;;CLK = 0,Slave will read data
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
SET P_CLK
SDZ ACC
JMP L_DEBUG_LP2
MOV A,8
L_DEBUG_LP3:
RRC M_DEBUG_ADDR ;;Send ASCR
CLR P_DATA
SZ C
SET P_DATA
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
CLR P_CLK ;;CLK = 0,Slave will read data JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
JMP $+1
SET P_CLK
SDZ ACC
JMP L_DEBUG_LP3
SET P_CS
RET
Demo Board操作说明
电源连接方法
给此Demo Board供电有两种方法。
用DC9V供电时,会经7805降压到5V。
也可将5V电源直接接到VCC和GND接口。
显示说明
如上图所示,数码管是用来显示数据,LED灯是用来指示数据对应的通道号。
按键功能说明
MODE键:自动模式和手动模式选择。
自动模式下每隔五秒自动切换一次显示通道。
手动模式下通过ADD键和DEC键切换显示通道。
ADD键/DEC键:在手动模式下进行显示通道的切换。