【CN109872315A】一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法【专利】
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910127310.2(22)申请日 2019.02.20(71)申请人 中国科学院国家天文台地址 100101 北京市朝阳区大屯路甲20号A座A521室(72)发明人 李陶然 田健峰 王建峰 兀颖 葛亮 张晓明 邱鹏 赵勇 李曼迪 曾显群 (74)专利代理机构 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401代理人 巴晓艳(51)Int.Cl.G06T 7/00(2017.01)G06T 11/20(2006.01) (54)发明名称一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法(57)摘要本发明提供一种杂散光均匀性实时检测方法，包括如下步骤：1）目标图像本底和平场的预处理；2)绘制直方图，以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除；3)绘制背景杂散光等高线图，计算杂散光均匀性等相关参数。本发明通过实时检测杂散光均匀性，提供CCD像面背景分布和统计数据，可以辅助较差测光中比较参考星的选择，
提高测光精度。
权利要求书1页 说明书5页 附图6页CN 109872315 A2019.06.11
CN 109872315
A1.一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法，其特征在于，所述方法在对目标图像本底和平场的预处理后，绘制直方图，并以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除，最后绘制背景杂散光等高线图，完成计算杂散光均匀性相关参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：S1、目标图像预处理：对望远镜拍摄目标星进行减本底和除平场处理，提高测光精度；S2、扣除星像影响：消除星像与背景亮度差值较大对等高线图的影响；S3、绘制背景杂散光等高线图，计算杂散光均匀性：辅助较差测光中比较参考星的选择，减少背景亮度不同对较差测光精度的影响，提高测光精度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S3绘制背景杂散光等高线图包括：S31：划分图像区域；S32：给出图像上不同区域的杂散光统计数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S31划分图像区域的方法包括：方法一：将图像划分为四个象限；方法二：将图像划分为多个矩形。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S32中不同区域的杂散光统计数据包括杂散光的均匀性、平均值、能量百分比、和背景值上限，所述杂散光的均匀性以背景值标准差表示。6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S1具体包括：S11：望远镜预先拍摄多幅本底图像和平场图像，用于对目标图像的处理；S12：用本底图像消除CCD本身的偏置电压，平场图像改正CCD各像元的响应不均匀性；S13：将目标图像减去本底图像，并除平场图像，完成目标图像的预处理。7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S2具体为：S21：找出星像ADU值最小值，在整个CCD像面上，背景所占比例大，星像ADU值比背景ADU值大；S22：以ADU大小和频率为自动判断依据，计算每个区间占总数的百分比，并将百分比小于1％的ADU区间内的所有点看作星像；S23：从ADU最小值开始依次将每个区间所占总数百分比累加；S24：当累加值大于99％时，记录此时区间的位置，以此区间的ADU值下限作为图像背景ADU最大值或星像ADU最小值；S25：将图像ADU值高的像素点剔除或改变其大小，达到扣除星像影响的目的。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，对于分辨率为2kx2k及以上的CCD，通过
2x2bin或其他binning的方法来提高处理速度。权 利 要 求 书1/1页
2CN 109872315 A
【CN109870423A】太赫兹时域光谱测量系统和方法【专利】
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910179165.2(22)申请日 2019.03.07(71)申请人 中国科学技术大学地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号(72)发明人 陆亚林 王建林 黄秋萍 傅正平 杨萌萌 何泓川 黄浩亮 崔佳萌 赵志博 (74)专利代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021代理人 杨静(51)Int.Cl.G01N 21/3586(2014.01)G01N 21/11(2006.01)G01N 21/01(2006.01)
(54)发明名称太赫兹时域光谱测量系统和方法(57)摘要本公开提供了一种太赫兹时域光谱测量系统和方法，太赫兹时域光谱测量系统包括：太赫兹光学装置，用于产生太赫兹波，并探测得到经过与待测样品作用后的太赫兹波时域信号；腔体装置，具有用于容置所述太赫兹光学装置的容置空间；真空装置，连接所述容置空间，用于调整所述容置空间的真空度。本公开提供的太赫兹时域光谱测量系统和方法可以成功消除太赫兹时域谱测量过程中水蒸气对背底信号的干扰，且无需额外的干燥气体或干燥单元，
便携性强。
权利要求书2页 说明书7页 附图4页CN 109870423 A2019.06.11
CN 109870423
A1.一种太赫兹时域光谱测量系统，包括：太赫兹光学装置，用于产生太赫兹波，并探测得到经过与待测样品作用后的太赫兹波时域信号；腔体装置，具有用于容置所述太赫兹光学装置的容置空间；真空装置，连接所述容置空间，用于调整所述容置空间的真空度。2.根据权利要求1所述的系统，其中：所述真空装置包括真空泵、第一管路和第一阀门；所述第一管路连接所述容置空间和所述真空泵；所述第一阀门设置于所述第一管路上，用于控制抽气速度；所述真空装置还包括真空计，用于测量所述容置空间的真空度。3.根据权利要求2所述的系统，其中：所述真空装置还包括第二管路和第二阀门；所述第二管路连接所述容置空间和大气环境；所述第二阀门设置于所述第二管路上，用于控制进气速度；所述第二阀门在所述真空泵和所述太赫兹光学装置工作过程中处于关闭状态。4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，其中，所述太赫兹光学装置包括太赫兹产生单元、太赫兹探测单元和光学元件组；所述光学元件组设置于所述太赫兹产生单元和所述太赫兹探测单元之间；所述太赫兹产生单元用于产生所述太赫兹波；所述光学元件组用于将所述太赫兹产生单元产生的太赫兹波聚焦到待测样品上，并将经过样品透射或反射作用后得到的太赫兹波聚焦到所述太赫兹探测单元上；所述太赫兹探测单元用于探测得到经过与待测样品作用后的太赫兹波时域信号。5.根据权利要求4所述的系统，还包括：激光器，用于提供泵浦光和探测光，所述泵浦光作用于所述太赫兹产生单元，所述探测光作用于所述太赫兹探测单元；时间延迟装置，用于对所述探测光进行时间延迟；信号调制和处理装置，连接所述太赫兹产生单元和所述太赫兹探测单元，用于向所述太赫兹产生单元提供所述电学调制信号，并接收所述太赫兹探测单元发送的时域信号并对所述时域信号进行处理。6.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，其中：所述腔体装置包括腔体和腔门，所述腔体具有开口，所述腔门设置于所述腔体开口处；在所述腔门闭合的情况下，所述容置空间为密闭空间。7.根据权利要求6所述的系统，其中：所述腔门和/或所述腔体上设置有观察窗；所述腔门可转动地连接于所述腔体的开口处，所述腔体和所述腔门上均设置有固定孔，在所述腔门闭合的情况下，所述腔体和所述腔门上的固定孔通过固定件连接，以将所述腔体和所述腔门固定连接。8.根据权利要求6所述的系统，其中：所述腔体装置上设置有光传输接口，
望远镜透过率检测标准_概述说明以及解释
望远镜透过率检测标准 概述说明以及解释
1. 引言
1.1 概述
望远镜透过率检测标准是评估和测量望远镜光学系统透过率的重要指标。透过率是指光线通过光学器件时被传输的比例，在望远镜中特别重要，因为它直接影响着观测目标的亮度和清晰度。因此，确保望远镜透过率检测标准的准确性和一致性对于仪器的正常运行及数据解释至关重要。
本文旨在概述和解释望远镜透过率检测标准，并介绍不同类型望远镜应用的相关国际标准与国内标准之间的差异。此外，我们还将探讨该领域存在的问题和挑战，并提供一些实施该标准的方法和工具。
1.2 文章结构
本文分为五个部分，每个部分都包含了需要讨论的具体内容。以下是每个部分简要介绍：
2. 正文：
在这一部分中，我们将详细讨论望远镜透过率检测标准的重要性以及当前存在的问题和挑战。我们还会比较国际标准与国内标准之间的差异。
3. 解释不同类型的望远镜透过率检测标准：
在这一部分中，我们将解释可见光、红外和射电望远镜各自透过率检测标准的特点和要求。
4. 实施望远镜透过率检测标准的方法和工具：
这一部分将介绍实施望远镜透过率检测标准的常用测试流程和步骤，并介绍一些用于该目的的仪器和设备。同时，还会讨论数据分析和结果解释方法。
5. 结论：
最后一部分将对前面章节讨论的主要观点和发现进行总结，并提供对未来发展的展望与建议。最终，文章以一个简短的结束语作为收尾。
1.3 目的
本文旨在全面而详细地阐述望远镜透过率检测标准的概念、重要性以及应用。希望通过本文能够加深读者对于该领域相关内容的理解，并为相关研究人员、工程师以及其他领域专业人士提供有价值且实用的信息与指导。
2. 正文:
2.1 望远镜透过率检测标准的重要性:
望远镜透过率检测标准是评估和确保望远镜设备性能的关键指标之一。透过率是指光线穿过望远镜光学系统时被吸收、散射或反射的程度，它影响到望远镜的观测效果和成像质量。因此，通过准确测量和控制望远镜的透过率，可以提高观测仪器的灵敏度和分辨率，从而获得更清晰、准确的天体图像。
hud杂散光测试方法
hud杂散光测试方法
HUD杂散光测试是指对汽车前挡风玻璃上的抬头显示器（HUD）进行光学性能测试，以确保其在各种光照条件下能够提供清晰、稳定的显示效果。HUD杂散光测试方法通常包括以下几个方面：
1. 光源均匀性测试，使用均匀光源照射HUD显示区域，通过光学仪器检测不同位置的光强度，以评估HUD显示区域内光源的均匀性。这可以确保在不同位置观看HUD时，显示亮度的一致性。
2. 杂散光测试，通过在HUD显示区域周围设置遮光罩，然后在HUD显示区域内投射光源，使用光学仪器检测HUD显示区域周围的杂散光强度，以评估HUD在周围环境光照条件下的抗干扰能力。
3. 明场测试，使用HUD显示模式下的测试图案，通过光学仪器检测HUD的对比度、亮度等参数，以评估HUD在不同亮度条件下的显示效果。
4. 暗场测试，在低光条件下进行HUD显示效果测试，以评估HUD在夜间或低照度条件下的显示清晰度和对比度。
5. 投影角度测试，测试HUD在不同观察角度下的显示效果，以评估HUD的可视角度范围和显示图像的变形情况。
以上是HUD杂散光测试的一般方法，通过这些测试可以全面评估HUD在各种光照条件下的显示性能，确保其在实际使用中能够提供清晰、稳定的显示效果，提高驾驶安全性。
杂散光 iso标准
杂散光 iso标准
全文共四篇示例，供读者参考
第一篇示例：
ISO（International Organization for Standardization）是国际标准化组织的英文缩写，它是全球最大的国际标准化组织，总部位于瑞士日内瓦。ISO制定了许多标准，包括杂散光ISO标准。杂散光是指穿透光学系统的光束中散布的光线，通常是由光学元件表面的缺陷或污渍引起的。要想获得清晰、高质量的图像，就需要控制和减少杂散光的影响。
杂散光ISO标准是ISO所制定的一个用于评估光学系统杂散光性能的标准。这个标准规定了一系列的测试方法和要求，用于衡量光学系统中的杂散光水平并制定相应的控制措施。这些措施可以帮助优化光学系统的设计，提高图像质量和性能。
根据杂散光ISO标准，杂散光可以分为三种类型：表面散射、体散射和镜面反射。表面散射是由于光学元件表面的瑕疵或材料缺陷引起的光线的随机散射。体散射是由于材料内部的不均匀性或微结构引起的光线的散射。镜面反射是由于光线被光学表面反射而进入光学系统的其他部分而产生的杂散光。
要控制和减少杂散光的影响，可以采取一些措施。可以通过要求更高质量的光学元件来减少表面散射和体散射。可以采用特殊的光学涂层或吸收材料来抑制镜面反射。还可以采用优化的光学系统设计和布局，以最大程度地减少杂散光的产生和传播。
通过遵循杂散光ISO标准，光学系统制造商可以确保其产品符合国际标准，提高产品的可信度和竞争力。消费者也可以根据ISO标准评估和比较不同光学系统的性能，选择适合自己需求的产品。
在光学技术的快速发展和应用领域的不断扩大的背景下，杂散光ISO标准的制定和推广显得尤为重要。只有通过严格的标准和规范，才能确保光学系统的性能和质量达到国际水平，满足用户的需求和期望。希望通过ISO的不断努力和推广，可以进一步促进光学技术的发展和推广，为人类社会的进步和发展作出更大的贡献。
杂散光复用光导自影样品检测方法
杂散光复用光导自影样品检测方法
随着现代科技的发展，光学材料的研究与应用取得了重大突破。杂散光复用光导自影样品检测方法作为其中的一种重要技术，对光学材料的表征和性能评估起着至关重要的作用。本文将详细介绍杂散光复用光导自影样品检测方法的原理、特点以及在材料研究领域的应用。
1. 方法原理
杂散光是指当光沿光导体传播时，由于材料本身的不均匀性或缺陷导致的光的散射现象。光导自影则是光在材料中传播时由于散射而形成的光斑。杂散光复用光导自影样品检测方法利用杂散光的散射特性以及光导自影的成像特性，通过对衍射光的收集和分析，实现对样品微观结构和性能的表征。
2. 方法特点
杂散光复用光导自影样品检测方法具有以下几个特点：
（1）非接触式测量：光导自影样品检测方法不需要对材料进行触碰或破坏，通过杂散光的收集和分析，实现对样品的检测和评估。
（2）高灵敏度：杂散光复用光导自影样品检测方法能够对样品微观结构和性能进行高分辨率的表征，可以捕捉到微小的缺陷和变化。
（3）快速成像：通过高速的光学成像系统，杂散光复用光导自影样品检测方法可以快速获得样品的自影图像，提高工作效率。
（4）无需附加标记：相比于传统的材料表征方法，杂散光复用光导自影样品检测方法不需要使用附加标记物，避免了可能存在的标记物对样品性能的影响。
3. 应用领域
杂散光复用光导自影样品检测方法在材料研究领域有着广泛的应用。
（1）材料表面缺陷检测：通过对样品表面的杂散光进行收集和分析，可以实时监测材料表面的微小缺陷，为材料制造和质量控制提供有力支持。 （2）薄膜厚度测量：杂散光复用光导自影样品检测方法可以通过测量自影光亮斑的数量和分布来确定薄膜的厚度，并进一步评估薄膜的质量和性能。
（3）生物医学领域：该方法可用于检测生物样品内部的微观结构和病变，如细胞形态学的评估、病变组织的检测等，为医学诊断和治疗提供参考依据。
（4）光学器件测试：光学器件的性能评估是重要的工程问题，杂散光复用光导自影样品检测方法可以用于评估光学器件中的缺陷和光学性能，优化器件设计和制备工艺。
检查望远镜的“视力”——简便测试分辩率的若干“偏方”
检查望远镜的“视力”——简便测试分辩率的若干“偏方”
张培华
【期刊名称】《天文爱好者》
【年(卷),期】2007(000)009
【摘 要】如何选择天文望远镜是许多爱好者十分关注的问题。起初，有的人总以为望远镜的倍数越大越好，而真正入门后就会知道“分辨率”是天文望远镜最重要的质量指标。
【总页数】4页(P58-61)
【作 者】张培华
【作者单位】无
【正文语种】中 文
【中图分类】P111.2
【相关文献】
1.望远镜新技术改善视力治疗的速度和精度2.上海天文台1.56米天体测量望远镜若干性能的观测测试3.XDS—1型运动视力综合测试仪对驾驶员动态视力的测试与分析4.FDA首次批准植入式微型望远镜改善AMD患者视力5.日本人造星系统使天文望远镜“视力”增10倍
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户外直接测试太阳杂散光对相机影响的一种新方法
户外直接测试太阳杂散光对相机影响的一种新方法
陆强;于清华;孙小进
【期刊名称】《红外》
【年(卷),期】2016(37)5
【摘 要】介绍了一种在户外直接测试太阳杂散光对相机影响的新方法.采用该方法时测试的点源透过率量级可达10-5,而且其造价远低于实验室的点源透过率测试设备,适用于大口径光学系统的杂散光测试.该杂散光测试设备包括顶部可开口的厂房、百叶窗、可调角度工装、挡板、机械手臂及待测相机.把待测相机放置在角度可调的工装上,在遮光罩口上安装百叶窗.测试时,太阳光直射进入相机,通过相机探测器的响应值直接评价太阳杂散光对相机的影响水平及分布.
【总页数】6页(P1-6)
【作 者】陆强;于清华;孙小进
【作者单位】中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海200083;中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海200083;中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海200083
【正文语种】中 文
【中图分类】TN215
【相关文献】 1.采用户外直接阳光法参加标准太阳电池短路电流测量能力验证的研究 [J], 李杰;郭才萌;陈建功
2.太阳电池光电性能户外测试方法与测试仪器 [J], 庄鹏
3.测试激光Raman分光计中超低杂散光的一种新方法 [J], 印建平;宋从龙
4.准直物镜在变焦距镜头杂散光系数测试中的作用和影响分析 [J], 叶露
5.鉴别直接受地表水影响的地下水类型的一种新方法 [J], 齐星
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望远镜光学性能的检验及调修方法
望远镜光学性能的检验及调修方法
娄秀云;王政;刘吉利;赵亮
【期刊名称】《品牌与标准化》
【年(卷),期】2007(000)010
【摘 要】望远镜是许多测绘仪器及计量光学仪器的主要组成部分，望远镜的光学性能好坏，直接影响到仪器的测量精度。但是除了专业的光学仪器制造厂之外，很多使用及维修单位不具备对望远镜的光学性能进行检验的专用设备，下面就简单地介绍一下望远镜的主要光学性能及简易的检验方法。
【总页数】2页(P32-33)
【作 者】娄秀云;王政;刘吉利;赵亮
【作者单位】营口市计量检定测试所;营口市计量检定测试所;营口市计量检定测试所;营口市计量检定测试所
【正文语种】中 文
【中图分类】TH74
【相关文献】
1.DS3级水准仪望远镜方面出现的故障及调修方法2.水准仪望远镜调焦运行误差检验方法3.民用望远镜光学系统设计对主要光学性能的考虑4.天文望远镜光学性能ABC5.大口径望远镜波像差的外场检验方法
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试验五天文望远镜的使用与光学性能的测定
1 实验二 天文望远镜的使用与光学性能的测定
一、 40 cm卡塞格林反射望远镜的操作
1.实验目的
了解天文望远镜的性能，并学会独立操作望远镜
2.实验仪器
40 cm反射望远镜
本实验使用的望远镜为卡塞格林R-C系统，赤道式装置。两个度盘分别为赤纬（δ），时角（t），主镜为凹的双曲面镜，口径D= 400 mm，副镜为凸的双曲面镜，系统的有效焦距F= 6000 mm ；导星镜为D= 150 mm、F= 1980 mm的折射望远镜，见图sh5.1。
赤道装置： 这种装置有两个相互垂直的轴，即赤纬轴和赤经轴（极轴）。极轴指向天极，与地球自转轴平行，其高度应当等于当地的地理纬度。镜筒可以绕着赤纬轴转动，并可以固定在一定的赤纬方向上。通常有赤纬盘及时角盘显示望远镜的指向。跟踪天体时，望远镜自东向西绕极轴运动,方向与地球自转方向相反,速度为15"/s，用来补偿地球自转，使望远镜保持指向被测的天体。利用赤道装置实现跟踪天体的周日视运动是很方便的。
3.望远镜自动寻星电控系统的使用
1）功能及技术指标:
自动寻星指向精度：电控精度小于5秒。
跟踪方式：恒星时、太阳时、月亮时手/自动转换。
望远镜运转速度：
快动：约80°/时分（两相步进电机，1.8°步进角，5400减速比）。
慢动：2’/时秒。
微动：10” / 时秒
控制器自带星表数据库：
a、太阳系星体（10个）
b、恒星（中文名称224个）
c、恒星（拉丁文名称191个）
d、SAO全星表（258997个）
e、双星简表（40个）
f、变星（36个）
g、梅氏星表（110个深空星体）
2）使用方法：
1、电控系统的连接：电控系统的面板有一控制盒接口，把它和手控盒相连。背板有两个航空插座分别接赤经、赤纬电机（注意：赤经、赤纬不要接错）。“电源220V”插口，通过电 2 源电缆接220V 50Hz电源。把GPS天线置于室外，高频电缆的另一端与背部“GPS天线”高频插座相连。若要用计算机控制望远镜，请把背部“RS232”口用串行电缆连接到计算机的串行口上。若带天文园顶随动系统，请将随动系统控制电缆与背面“随动控制”接口相连。
三天文望远镜的使用与光学性能的测定
实验二 天文望远镜的使用与光学性能的测定
一、 40 cm卡塞格林反射望远镜的操作
1.实验目的
了解天文望远镜的性能，并学会独立操作望远镜
2.实验仪器
40 cm反射望远镜
本实验使用的望远镜为卡塞格林R-C系统，赤道式装置。两个度盘分别为赤纬（δ），时角（t），主镜为凹的双曲面镜，口径D= 400 mm，副镜为凸的双曲面镜，系统的有效焦距F= 6000 mm ；导星镜为D= 150 mm、F= 1980 mm的折射望远镜，见图sh5.1。
赤道装置： 这种装置有两个相互垂直的轴，即赤纬轴和赤经轴（极轴）。极轴指向天极，与地球自转轴平行，其高度应当等于当地的地理纬度。镜筒可以绕着赤纬轴转动，并可以固定在一定的赤纬方向上。通常有赤纬盘及时角盘显示望远镜的指向。跟踪天体时，望远镜自东向西绕极轴运动,方向与地球自转方向相反,速度为15"/s，用来补偿地球自转，使望远镜保持指向被测的天体。利用赤道装置实现跟踪天体的周日视运动是很方便的。
3. 实验指导
在某一北京时间Th观测一个已知天体（α、δ）。观测前首要先将当晚的北京时按公式 S=S0+(Th-8h)(1+μ)+λ换算成北京地方恒星时，用一个恒星时钟计量恒星时，利用公式t= S-α，计算出观测时刻天体的时角t。由望远镜的电控度盘，将望远镜指向预定的天区（t、δ）。待测天体进入视场后，打开转仪钟进行跟踪。天体的α、δ及观测时刻的恒星时S，也可从星空软件中直接读取。
4. 实验步骤
（1） 观测前的准备工作
①校准恒星钟；
②查出待测天体的位置（α，δ），并在星图中熟悉待测天体周围亮星的相对位置和特点，以便观测时在寻星镜中找到它。
③根据待测天体，选好合适的目镜。
④使用仪器前，要在教师指导下，熟悉仪器的电控装置及各种旋钮使用注意事项等。
（2） 观测步骤
①在观测的恒星时时刻S之前约五分钟，计算出待测星在此恒星时时刻的时角t。