地基光学特性测量系统光机结构设计

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光机系统设计

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光机系统设计与实践课程报告作者学号:学院(系):理学院专业: 光学题目: 光接收系统设计2014年5月光接收系统设计光接收系统是照相、测距等系统的一个重要组成部分,其主要作用是接收外界光信号,并且将接收到的光传递给后续的光电转换器件,光接收系统的成像质量对整个系统有重要影响。

本次设计主要对光接收望远镜给出的初始结构进行优化,并且设计出优化之后的镜筒结构。

一、透镜像质的优化ZEMAX软件由美国焦点公司开发,它操作简单,价格便宜,提供了十分强大的像质优化功能,可以对合理的初始光学系统进行优化设计,是当今光学设计界的通用软件之一。

设计中光学结构参变量可以使曲率、厚度、玻璃材料参数、圆锥系数、参数数据、特殊数据和多重结构数值。

1.接收望远镜的设计要求如下:D/f=1/4,f=118.596,2ω=5°2.接收望远镜的初始结构参数见表13.透镜初始结构与光学特性参数输入①在ZEMAX主菜单中选择Editor\Lens Data,打开透镜数据编辑器(Lens Data Editor,LDE),输入初始结构,如图1所示。

图1 LDE中输入初始结构数据②光学特性参数输入。

用General对话框定义像空间。

在ZEMAX 主菜单中选择System\General…或选择工具栏中Gen,打开General对话框,选择Aperture Type为Image Space F/#,在Aperture Value中输入4,如图2所示。

图2 用General对话框定义孔径用Field Data对话框定义视场。

在ZEMAX主菜单中选择System\ Fields…或择工具栏中Fie,打开Field Data对话框,选择Field Type为Angle(Deg),在相应文本框Y-Field中输入3个校像差半视场角值:3、-3、0,其余为默认值,如图3所示。

图3 用Field Data对话框定义视场用Wavelength Data对话框定义工作波长。

光电测量系统设计报告

光电测量系统设计报告

光电测量系统设计报告一、干涉的基本原理干涉现象是波动独有的特征,如果光真的是一种波,就必然会观察到光的干涉现象.1801年,英国物理学家托马斯·杨1773—1829在实验室里成功地观察到了光的干涉.两列或几列光波在空间相遇时相互叠加,在某些区域始终加强,在另一些区域则始终削弱,形成稳定的强弱分布的现象;由一般光源获得一组相干光波的办法是,借助于一定的光学装置干涉装置将一个光源发出的光波源波分为若干个波;由于这些波来自同一源波,所以,当源波的初位相改变时,各成员波的初位相都随之作相同的改变,从而它们之间的位相差保持不变;同时,各成员波的偏振方向亦与源波一致,因而在考察点它们的偏振方向也大体相同;一般的干涉装置又可使各成员波的振幅不太悬殊;于是,当光源发出单一频率的光时,上述四个条件皆能满足,从而出现干涉现象;当光源发出许多频率成分时,每一单频成分对应于一定的颜色会产生相应的一组条纹,这些条纹交叠起来就呈现彩色条纹;1、劈尖的等厚干涉测细丝直径设入射光波为λ,则第m级暗纹处空气劈尖的厚度由上式可知,m=0时,d=0,即在两玻璃片交线处,为零级暗条纹;如果在细丝处呈现m=N级条纹,则待测细丝直径2、利用干涉条纹检验光学表面面形检查光学平面的方法通常是将光学样板平面平晶放在被测平面之上,在样板的标准平面与待测平面之间形成一个空气薄膜;当单色光垂直照射时,通过观测空气膜上的等厚干涉条纹即可判断被测光学表面的面形;1待测表面是平面2待测表面呈微凸球面或微凹球面当手指向下按时,空气膜变薄,各级干涉条纹要发生移动,以满足式2,3式中λ为入射光的波长,δ是空气层厚度,空气折射率n ≈ 1;当程差Δ为半波长的奇数倍时为暗环,若第m个暗环处的空气层厚度为m,则有:R,即,可得:式中是第m个暗环的半径;由式2和式3可得:可见,我们若测得第m个暗环的半径便可由已知λ求R,或者由已知R求λ了;但是,由于玻璃接触处受压,引起局部的弹性形变,使透镜凸面与平面玻璃不可能很理想的只以一个点相接触,所以圆心位置很难确定,环的半径也就不易测准;同时因玻璃表面的不洁净所引入的附加程差,使实验中看到的干涉级数并不代表真正的干涉级数m;为此,我们将式4作一变换,将式中半径换成直径,则有:对第m+n个暗环有将5和6两式相减,再展开整理后有可见,如果我们测得第m个暗环及第m+n个暗环的直径、,就可由式7计算透镜的曲率半径R;经过上述的公式变换,避开了难测的量和m,从而提高了测量的精度,这是物理实验中常采用的方法;二、干涉法测微小量的原理与干涉仪绘制草图1、实验内容用干涉法测微小形变实验验证实验仪器:he-ne激光器、共焦球面干涉仪、压电陶瓷、探测器、示波器、电源、锯齿波发生器;2、实验原理:1、共焦球面干涉仪示意图:共焦球面干涉仪是一个无源腔,由两块球形凹面反射镜构成两面镜子的曲率半径和腔长相等R1=R2=L,镜面1固定不动,镜面2固定在可随外电压变化而变化的压电陶瓷上;光在腔内每走一个周期都会有部分光从镜面透射出去为光线1,另一部分则反射4次出射,为光线2;光线1与光线2满足干涉条件,当其光程差D满足条件:D=mλ时,干涉相长示波器出现峰值,随着压电陶瓷随电压的变化,腔长变化,D也随之变化;当D=m±1λ时,再次干涉相长,示波器上出现相应的峰值;3、实验步骤:1、打开he-ne激光器,调整光路和压电陶瓷方向,使得光路准直,若没调整好,在共焦球面干涉仪后方会出项两个光斑,光线1和光线2并不产生干涉;2、将探头和锯齿波发生器分别接入示波器的两个通道,打开激光器和锯齿波发生器的电源;3、观察示波器上波形;4、实验结果:5、实验总结:本实验是干涉法测微小形变的实验验证,故无需计算;压电陶瓷的微小形变影响到共焦球面干涉仪的腔长,从而影响到光线1和光线2的光程差D,进一步反应到示波器的波形显示上;该测量方法得到验证;三、Auto cad图探头主体探头后盖底座螺钉电路图电源外壳四、Zemax的绘制:扩束准直系统五、实验回顾及总结这次实验和以往的实验不同,以往更多的是的老师设计好,安排每一节课的内容让我们照着做,而这次更多的是自主设计进行探索发现;前几次课程我们主要是通过设计实验系统,学习并运用CAD画出模型,这样我们既学会了软件设计又理解实验原理及结构;激发了我们的兴趣;谢谢老师为我们自由式发挥创造了条件;。

光学测量系统设计

光学测量系统设计

一 设计内容:用干涉测量法测量钢丝由于加热而引起的微小变化。

本次课程设计基于光的干涉原理,用干涉测量法测量钢丝的微小伸长量。

实验设计中用激光器作为光源,激光器的工作波长为μm 级,通过探测器可读出干涉条纹移动条数N ,由2λ⋅=∆N L 可得出位移的变化量ΔL 。

而一般测量中干涉条纹只移动N/10,即可达亚μm 级,实现较高的测量精度。

二 设计任务及目的:1、了解干涉产生的原理,产生的方法,了解各部分的作用,并能综合运用;2、灵活应用所学的光学知识,掌握光电测量系统中的光路部分的设计原理及方法;3、综合应用所学的光学知识,利用干涉测量法测量钢丝的微小伸长量;4、通过对光路部分的设计来加强对光学知识应用.三.有关干涉的基本概念3.1 干涉的定义两束或多束光波在空间相遇时,在重叠区内形成稳定的强弱强度分布的现象。

例如:如图所示对于两列单色线偏振光:在P 点相遇,E1与E2的振动方向间的夹角为θ,则在P 点处的总光强为3.2 干涉条件:1. 两束光波的频率应当相同;2. 两束光波在相遇处的振动方向应当相同;3. 两束光波在相遇处应有固定不变的相位差。

这三个条件是光束光波发生干涉的必 要条件,通常称为干涉条件。

另外,若两光波在相遇点所产生的振幅相差悬殊,则该点的合成振动的振幅将与单一光波在该点所产生的振动的振幅没有明显的差别,因而实际观察不出干涉现象,如果两光波在相遇点光程差很大,则在一光波的波列已通过时,另一光波相应的波列尚未到达,两相应的波列间无重叠,因而无干涉现象出现.若光程差为中等大小,两相应波列部分重叠,将出现不很明显的干涉现象.故仅当两光波的振幅相差很小、两光波的光程差很小时,方能观察到明显的干涉现象. 3.3 相干长度的概念:光波的相干长度就是指光波的波列长度,即 vcct c L ∆=∆= 3.4 获得相干光的方法:(1)分波面法:将一个波列的波面分成两部分或几部分,由这每一部分发出的波再相遇时,必然是相干的,因此会产生干涉现象。

光机结构设计介绍

光机结构设计介绍

光机结构设计介绍《光机结构设计介绍》我有一个朋友叫小李,他呀,是个摄影爱好者。

每次我们出去游玩,他总是背着他那宝贝相机,像个战士背着最心爱的武器一样。

有一次,我们一起去爬山看日出。

那天早上,天还黑蒙蒙的,我们就爬到了山顶。

小李兴奋地拿出他的相机,开始摆弄起来。

我好奇地凑过去,看着他熟练地调整着镜头、机身等部件。

我忍不住问他:“你这相机这么复杂,每个部分都有啥讲究呀?”小李一边调整一边说:“你看啊,这相机就像是一个小小的光机结构系统呢。

这镜头啊,就好比是眼睛,它负责把光线引进来。

这镜头的设计可不容易,就像给眼睛挑选合适的镜片一样,得考虑很多因素。

比如说,不同的焦距就像是不同度数的眼镜,能让你看到不同距离和范围的景色。

”我似懂非懂地点点头,又问:“那这机身呢?”小李拍了拍相机机身说:“这机身啊,就像是骨骼和肌肉,它要支撑起整个相机的结构。

光机结构设计中的机身得很坚固,就像人的身体要能承受各种压力一样。

你想啊,如果机身不结实,稍微碰一下,镜头这些精密部件可能就会错位,就像人要是骨骼脆弱,走两步就散架了,那还怎么拍照呀?”他又指了指相机里面一些我看不到的部分说:“这里面还有很多机械结构呢,就像人体的内脏器官一样,默默地工作着。

比如说快门,它就像一扇快速开合的门,要精确地控制光线进入的时间。

如果快门出了问题,要么曝光过度,照片白花花的一片,像个大白天的鬼片;要么曝光不足,黑乎乎的啥都看不清。

这就要求光机结构设计中的快门系统得有精准的时间控制,就像一个严格遵守时间表的火车司机,一秒都不能差。

”我打趣地说:“哟,这相机里还真有这么多门道呢。

那这和光机结构设计到底有啥关系啊?”小李笑了笑说:“你可真笨。

这相机本身就是一个光机结构的典型例子啊。

光机结构设计就是要考虑如何让光学部件和机械部件完美地配合起来。

光学部件负责捕捉和处理光线,机械部件负责提供支撑、控制和移动等功能。

就像一个团队,光学部件是那些有才华的创意人员,负责出点子,机械部件就是后勤保障人员,负责让创意能够实现。

光学测量系统设计

光学测量系统设计

表面形貌的全息式非接触光学测量方法王晓飞罗鸿逵 郭鸿禧(北方交通大学电子信息工程学院,机械与电气工程学院 ,北京100044)摘要讨论了关于表面形貌的一种全息式非接触光学测量新方法.此方法采用全息光学元件HOE替代普通光学元件,作为离焦检测元件,提高了测量精度和范围.关键词表面形貌全息光学元件(HOE) 非接触光学测量分类号O434.19Noncontact Holographic Optical Measuring Methodof the Surface ProfileWang Xiaofei Luo Hongkui Guo Hongxi(College of Electronics and Information Engineering, College of Mechanical and Electrical Engineering ,Northern Jiaotong University,Beijing 100044)Abstract A new noncontact holographic optical measuring method of the surface profile was discussed. By using holographic optical element (HOE) to replace the conventional optical element, as a defocusing testingdevice,measuring precision and range can be improved.Key Words surface profile HOE noncontact optical measurement目前,众多的工业生产领域(如航天、铁路、汽车、微电子等)对工件的表面形貌测量提出了很高的要求.传统的测量大多采用接触式触针测量法,尽管它能够直接读出被测表面的粗糙度或微位移的数值,并可测量平面、轴、孔等各种形态的表面形貌及微位移,但由于要求触针与表面有良好的接触,触针顶部的半径、测量力、动特性及具体的结构等都会对测量带来影响;此外,当被测物为软质材料表面时,会产生划伤,进而影响测量结果.尽管传统的表面形貌测量仪器诸如触针式轮廓仪等已经得到了广泛的应用,而且国际上采用的ISO标准及许多国家建立的表面轮廓标准皆基于接触式测量原理,各行业部门仍期待着新型表面形貌测量方法的出现.近年来逐渐发展起来的非接触式光学测量法得到了人们的注意,其中以离焦检测方法(实际上就是光触针法)较为实用.通常的非接触式光学测量方法都是采用普通的光学元件,由于光学元件尺寸的限制,很难拓宽测量范围和实现仪器的小型化.采用全息光学元件HOE(Hol-ographic Optical Element)来替代传统的光学元件,完成普通光学元件的功能,如汇聚、发散、分光与偏转、波面转换,同时作为离焦检测元件,提高了表面形貌测试系统的测量范围和测量精度,并可实现系统小型化〔1〕.1 工作原理1.1 HOE成象与再现对于同一个光源,全息透镜可以形成一实象、虚象和直射透射光.对HOE的象差分析、传输特性等研究依据是假定HOE是由两个点光源记录全息.但实际上,由于激光光源在基模输出时呈高斯分布,光源尺寸以高斯光束的束腰为界,而且光源上的每一点都能形成一组全息光栅结构,它不仅对象差有影响,并对成象和分辨率也有影响.因此在研究HOE的成象原理时,必须将光源看作是无限个点光源的集合,全息图的分布是所有这些点光源的综合.线性记录条件下,全息图的振幅分布为其中OO、RO、CO分别为物光、参考光和再现用照明光的复振幅,ψO、ψR、ψC分别表示相应的相位分布.式中第一项表示直射光,第二项表示原始象,第三项表示共轭象.图1 离轴全息图成象关系对于离轴情况,离轴全息图消除了观察全息图时因共轭象与实象相重叠而降低象素的因素,其成象关系如图1所示.设再现点、参考点、物点和成象点的坐标分别为(xI,yI,zI)、(xC,yC,zC)、(xR,yR,zR)、(xO,yO,zO),并用lI、lR、lC和lO分别表示象点、参考点、再现点和物点与全息元件之间的距离,则其成象关系为式中k=λ/λO,λ是光波波长,λO是记录时光波的波长,“+”表示原始象,“-”表示共轭象.1.2 全息离焦检测原理刀口法离焦检测原理如图2所示.图2 全息离焦检测原理示意图图3 不同物面情况下的光斑形状系统采用HOE替代传统的光学元件.HOE由分别具有不同空间频率的两部分组成,它同时还起到将光束偏转、分光、汇聚、发散和滤波等作用,在其结合处呈一直线状,此直线可以起到“刀口”作用.HOE的工作原理与普通分光镜的分割作用相当,当照射光照射到全息片上时,由于HOE的两个半片部分分别对入射光具有不同的衍射角,因此产生两个一级衍射象.如果被测物面W在物镜L的焦点前后移动,则光电探测器PD上的光斑形状将产生相应的变化.图3所示为物面离焦点不同情况下的光班形状,分别对光电探测器上四个象限的输出进行检测,即可测出被测物面W相对于焦点的位移量的大小和方向〔2〕.硅光电池的输出与接收光的接收面积成比例.若被测物面远离焦点或处于近焦点处时,所形成的光班或是处于1~3象限或是处于2~4象限,所以可以根据硅光电池的差动输出信号判别物面相对物镜焦点位置的大小和方向.值得注意的是,为避免光班移到接收器以外而引起由于被测物面倾斜对测量产生的影响,光电探测器必须设计得非常合适.2 测试系统设计图4所示为该测试系统的总体结构.由图可知,由光学系统、信号处理电路、微机系统、激光器驱动电源以及数据输出单元等组成.其基本工作过程为:首先由光学系统对被测物进行探测,获取与表面形貌相关的输出信号,此信号由处理电路进行放大、滤波等处理,再经接口电路输入到微机系统,在微机的控制下完成数据的采集和运算处理,最后进行数据的显示和输出.图4 测试系统基本构成框图2.1 光学系统此光学系统主要由光波长为6.328 μm的He-Ne激光器、全息光学元件HOE 和物镜L组成(如图2所示).测试所需的光源由He-Ne激光器提供,由He-Ne激光器发出的激光透过HOE后经L汇聚到物面W上,由被测物面反射回来的光照射到HOE上,经衍射形成1级衍射光照射到光电探测器PD上,在四象限硅光电池的四个象限上分别形成各自的光班,利用电路处理系统对四个象限的输出进行放大和处理.光源对整个系统的性能起着非常重要的作用,为保证测量精度,作为光源的He-Ne激光器不仅要有稳定的激光输出,而且还要有稳定的光功率输出.为了使激光器发出的激光光束得到充分利用,在激光器后装置一个准直物镜,物镜的数值孔径必须与光源发射角匹配.HOE的分辨率对测量结果具有很大的影响,一般来讲,HOE的分辨率要比相同口径的普通光学元件低,但HOE容易加工成大口径,因此仍可得到较高的分辨率.光学测头的移动机构和驱动电路同样对测量结果具有较大影响.本系统采用电致伸缩陶瓷致动器(PZT晶体)作为微位移发生器来带动光学测头移动,其微位移分辨率可达0.05 μm.采用微机(MCS-8098)的PWM口输出模拟电压信号,并输入到PZT驱动电路中.2.2 光电转换与信号处理电路光电探测元件是此测量系统的关键元件之一,其性能好坏将直接影响测量结果.本系统采用四象限硅光电池,可将其认为是电流源,但由于反射回来的信号光较弱,再加上较强的背景反射光和散射光的影响,原始输出电流信号极其微弱,通常在μA量级,因此采用微电流放大器进行I/V变换.当被测物具有较尖端部分的凹坑或倾斜较大的剖面时,表面的反射率发生急剧变化,衍射光对硅光电池的特定光敏单元有很大影响,如果入射光较强,则测得的数据与实际量有较大偏差,从而引起测量误差.可通过除法运算来部分消除由于被测物面倾斜或表面反射率变化引起的测量误差.具体的除法运算由后续的微机系统软件实现〔3〕.2.3 微机系统MCS-8098本系统中采用MCS-8098单片机作为主控单元,整个系统的数据采集、处理、存储和显示输出皆在8098的控制下完成.此测试系统对A/D的转换速率没有太高的要求,MCS-8098单片机本身的A/D口即可满足测量需要.为了进一步提高抗干扰性能和精度,除在硬件上采取一定措施外,还采用软件编程(数字滤波)法.3 系统误差分析测量系统的误差主要来源于系统误差(如光路系统误差、光学测头的移动机构和驱动电路误差、光电转换误差、反射光不均匀误差、电路误差、结构参数变化引起的误差、非线性误差等)和随机误差(如电网波动引起的脉冲干扰、外界杂散光干扰、电磁干扰、振动干扰、环境温度干扰等).这些误差的消除只能根据其各自的起因相应地采取措施,通常只能通过选用更高精度的微位移发生器、优化设计和改善测试环境来消除或部分消除误差.此外,HOE的分辨率对测量结果也会产生很大的影响.HOE的分辨率受到很多方面因素的影响,如高斯光束能量分布不均匀、光源尺寸对分辨率的影响等.只有当被测物面与汇聚物镜之间的距离发生的变化达到一定程度时,HOE才会产生相应的响应,当然这就影响到整个测量系统的分辨率.4 结束语初步实验表明,测试系统的分辨率可达0.1 μm,线性测量范围超过±150 μm,其性能优于接触式测量方法,而且系统的性能(如分辨率)可通过提高光电接收器精度、改善处理电路和提高A/D位数等措施进一步增强,从理论分析来看,其分辨率完全可以达到零点几个或零点零几个nm.由于此方法采用非接触式方式进行表面形貌的测量,克服了接触式测量法中测量力、被测物结构形变等诸多因素对测量带来的影响,测量时不会给被测物面带来任何损伤,同时由于采用全息光学元件HOE替代传统光学元件,可进一步实现测量范围的拓宽和仪器的小型化.表面形貌的全息式光学测量方法可广泛应用于机械零部件的精密加工和装配工艺领域(如柴油机凸轮、曲轴轴颈、活塞等部件磨损的检测及故障诊断),是一种具有发展前景的测量技术.参考文献1 杨国光.近代光学测试技术.北京:机械工业出版社,1986.2 Yasuo Kimura,Seizin Suguma,Yuzo pact Optical Head Using a Holographic Optical Element for CD Players.Applied Optics.1988,27(4):668~6713 张国雄,沈生培.精密仪器电路.北京:机械工业出版社,1987.本文收到日期1997-09-15 王晓飞女1965年生讲师email bfxb@center. 图片无法复制,你上参考资料上看看。

空间探测器的光学系统设计与性能分析

空间探测器的光学系统设计与性能分析

空间探测器的光学系统设计与性能分析在空间探测器的设计中,光学系统起着至关重要的作用。

光学系统的设计质量将直接影响探测器的成像分辨率、灵敏度和稳定性等性能指标。

因此,在空间探测器的设计过程中,光学系统的设计与性能分析是至关重要的一环。

一、光学系统设计空间探测器的光学系统设计涉及到光学元件的选型、布局和参数优化等方面。

首先,需要根据探测任务的需求确定光学系统的光学结构,例如望远镜、光学滤波器、光谱仪等。

在选定光学元件后,需要进行光学系统的光学设计,包括光路设计、像场校正、像差修正等过程。

同时,还需要考虑光学系统的機械设计,确保光学元件的稳定性和可靠性。

二、光学系统性能分析空间探测器的光学系统性能分析主要包括光学系统的成像性能、分辨率、灵敏度和系统误差等方面。

成像性能是评价光学系统成像质量的指标,通常通过模拟计算或实验测试方法进行评估。

分辨率是光学系统分辨目标的能力,取决于光学系统的光学孔径和波长等参数。

灵敏度是光学系统对光信号的探测能力,通常通过信噪比等指标来评价。

系统误差是光学系统在成像过程中产生的误差,需要通过校正和补偿来提高成像质量。

三、光学系统设计与性能分析案例以某一颗卫星空间探测器为例,其光学系统设计采用了折射望远镜结构,包括主反射镜、次级反射镜和焦平面器等组件。

在光学系统设计过程中,通过光学软件进行了成像模拟和像差优化,确保了成像质量和分辨率的要求。

同时,通过对系统误差的分析和校正,进一步提高了光学系统的性能。

四、光学系统未来发展趋势随着空间探测技术的不断发展,光学系统在探测器中的应用越来越广泛。

未来,光学系统设计将更加精密化和多元化,利用先进的光学材料和光学技术,提高探测器的成像分辨率和信噪比。

同时,光学系统的性能分析方法也将更加完善和智能化,通过人工智能和机器学习等技术,提高光学系统的设计效率和性能表现。

综上所述,空间探测器的光学系统设计与性能分析是空间探测器设计过程中的重要环节,关系着探测器的成像质量和探测精度。

光机结构动态刚度设计

光机结构动态刚度设计

光机结构动态刚度设计在机械设计中,刚度是指结构在受到外力作用下产生变形的能力。

光机结构动态刚度设计是指在光学成像装置中,针对光学部件的运动状态进行设计使其产生的振动尽可能小。

这样可以保证图像质量,提升光学成像的精度。

光机结构动态刚度设计中,设计者需要考虑结构在整个运动过程中的振动情况。

他们需要通过各种方法来减小这种振动,从而提升图像的质量。

这些方法包括选择适当的结构材料和优化设计,以使得机构的刚度足够大,从而降低振动的影响。

首先,选择适当的材料是关键。

光机结构通常使用金属和陶瓷材料,这些材料的强度和刚度对于振动抑制很重要。

高强度材料有助于抵抗外部力的影响,而高刚度材料有助于减小机构的变形。

因此,在光学部件的设计过程中,选择适当的材料非常重要,以确保结构的充分刚度。

其次,在设计阶段,需要注重边界条件的设置。

这些边界条件包括结构的支持方式和受力方向。

通过合理分布支撑点和优化设计结构,可以将运动部分的振动减少到最小。

根据机构部分的耦合特性,选择合适的位置和向量方向,可以避免产生过多的共振点,从而降低振动的影响。

在光机结构动态刚度设计中,还需要对运动和振动进行仿真分析。

通过使用有限元分析工具对结构进行仿真,可以确定振动的来源,并确定结构的振动频率。

通过对振动能量的分析,并在结构中增加一些复合材料结构,可以大大减小结构的振动,从而提升图像质量。

最后,在光学成像装置的制造和组装阶段,需要采用严格的装配工艺。

这包括合理的缓冲方法和结构的稳定性检查。

通过合理的缓冲方法,可以减少振动影响,并严格使用装配流程,以确保结构的稳定性。

总之,光机结构动态刚度设计是保证光学成像装置图像质量的重要步骤。

选择适当的材料、设置合理的边界条件和进行正确的仿真分析都有助于减小结构的振动,从而提高图像质量。

通过采用相应的装配工艺,可以确保机构的稳定性,进一步提高图像的质量。

数据分析是用于管控企业、市场、产品、客户等方面的重要手段,具有可操作性和可预测性。

月基对地观测极紫外相机光机结构设计

月基对地观测极紫外相机光机结构设计
t a he sr t r ft elc o a t i h rgd t nd fn tbi t h tt t u e o r fe trh sboh hg i i a e sa l y;t e s ra e a c r c fte rfe trme t uc he i y i i h H f e c u a y o h e c o es l
统 选 材合 理 , 焦平 面稳 定 性 好 , 射 镜 支 撑结 构 合 理 , 面面 形 在 △ =5 C 降 载荷 下 ≤1 m; 维转 动机 构 动 态 刚 度 较 高 , 反 镜 0o 温 4n 二 结 构 紧凑 , 机重 量 ≤1 , 要 求 的 温 度 变化 范 围 内运 转 正 常 。 整 6 在
面探测器组成 光学 系统 , 视场角 1 。空 间角分辨率小于 0 1 ; 4, . 。采用地平式二维转动机构以实现对成像镜筒组 件俯 仰 、 方位 的调
整 , 证 对 地 球 的 瞄准 和 跟 踪 。重点 对 主反 射 镜 支 撑结 构 和 转 动 机 构 给 出 了较 为详 细 的设 计 。 有 限元 分 析 和 试 验 表 明 , 机 系 保 光
t e ami g a d ta k n ft ea p r t st hee rh wi on i g a c r c et rt a 1 .Th tucu e d sg f h i n n r c i go h p a au ot a t p i tn c u a y b t h n0. t h e O e sr t r e i n o
L ha hu iZ o i
( hn cu stt o p& ,Fn eh n s n hs s hns Aa e yo Si cs C a ghn103 , hn C a gh nI tu n i e fO ts i M ca i dP yi ,C i e cdm c ne, h ncu 30 3 C i e ca c e f e a)
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Abstract: The optical property measurement technology plays very important role in the field such as bomb-guide, anti-bomb space target-detection and target identification. The ground-based optical measurement equipment has the advantages such as large optical caliber and advanced detecting technology, and it is very important in the optical property measurement system. In the project of developing a certain model ground-based optical property measuring system, according to the index requirements, a primary optical system with φ1 000 mm caliber is used to receive. By three-level light spectrum, on the basis of using primary optical system, the system can fulfill the detection functions of visible light, SWIR, MWIR and LWIR, and it can perform these detection tasks for four waves simultaneously. The experiments indicate that this optical system has good imaging quality, the mechanical structure is compact, and it satisfies the requirements of the design index. Keywords: optical system; optical property measuring; mechanical structure
(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 长春 130033) 摘 要: 光学特性测量技术在导弹制导与反导、空间目标探测与识别等领域中具有非常重要的作用, 地基光测设备具有光学口 径大、 探测技术先进等优势, 在光学特性测量体系中占据着重要的地位。 在研制某型号地基目标光学特性测量系统的项目中, 根 据指标要求选用口径为φ1 000 mm 的主光系统进行接收, 并且采用三级光谱分光的形式, 实现了该设备在共用一套主光学系统的 基础上, 具备了可见光、短波红外、中波红外和长波红外的探测功能, 并且可以同时完成 4 个波段的探测任务。实践证明, 该套 系统光学系统成像质量良好, 机械结构紧凑, 满足了设计指标的要求。 关键词: 光学系统; 光学特性测量; 机械结构 中图分类号: TN216 文献标识码: A 国家标准学科分类代码: 510.40
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电子测量与仪器学报
第 27 卷
天基光学特性测量系统包括以火箭 ( 导弹 ) 为测量平 台的箭 ( 弹 ) 载测量系统和以卫星为测量平台的星载 测量系统。 地基目标光学特性测量系统具有光学口径大、 探测技术先进和测量信息丰富等优点。 利用大口径 光学系统 , 采用先进的辐射特性测量技术和自适 应光学技术 , 克服了大气吸收、湍流和强背景辐射 的影响 , 实现了对空间目标及导弹飞行中段的全 天时探测、辐射特性测量和形体特征获取 , 这对空 间目标地基探测与识别、 导弹突防特性测量具有重 要意义 [1-3]。 根据一个地基目标光学特性测量系统的接收光 路光机结构设计进行了较为详细的论述。
Design of opto-mechanical structure of ground optical measurement system
Han Guangyu
(Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China)
第 27 卷 第 1 期 2013 年 1 月
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JOURNAL OF ELECTRONIC MEASUREMENT AND INSTRUMENT
DOI: 10.3724/SP.J.1187.2013.00045
地基光学特性测量系统光机结构设计
韩光宇
收稿日期: 2012-07 Received Date: 2012-07
因此, 世界军事强国对目标特性测量极为重视, 先后采用地基、 空基和天基等多种技术途径, 建立了 复杂的光学特性测量体系。例如美国地基光学特性 测量技术领域最具有代表性的测量系统是空军毛伊 岛光学观测站 , 它将多台大口径光学跟踪望远镜和 从可见光到红外波段的多种探测器有机的结合在一 起 , 构成了先进的光电探测系统 , 既能完成从低轨 到地球同步轨道的空间目标观测 , 还可在雷达引导 下对处于飞行中段的导弹、火箭和处于大气层内的 飞机、 导弹模拟靶标等目标进行跟踪观测; 美国空基 光学特性测量系统包括机载和球载两类 , 配备了配 置探测设备的 3 架飞机和 2 套平流层气球作为载体;
1 引 言
目标光学特性测量主要是指对目标红外波段辐 射强度及温度、光谱分布特性与可见光反射特性进行 探测, 在信息化装备体系建设中具有极为重要的作 用。 在导弹光学制导探测与反导/反卫拦截器导引探测 领域, 目标光学特性测量对其光学探测系统的波段优 化设计、探测能力分析与优化设计及目标识别技术研 究均具有重要作用; 在空间目标探测与识别领域, 空 间目标光学特性测量可为空间目标识别提供重要的 识别信息, 同时也可为空间目标探测与识别系统的波 段设计优化和探测能力分析提供依据。
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