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电子元器件的可靠性设计与故障分析

电子元器件的可靠性设计与故障分析

电子元器件的可靠性设计与故障分析电子元器件在现代科技中扮演着至关重要的角色。

然而,由于其特殊的工作环境和复杂的电路设计,电子元器件的可靠性问题一直是制造商和设计者们面临的挑战。

本文将探讨电子元器件可靠性设计的重要性以及故障分析的方法,以便提高产品的质量和性能。

一、电子元器件可靠性设计的重要性电子元器件可靠性设计是保证电子产品正常运行的关键。

当产品的电子元器件失效时,不仅会导致生产停滞和经济损失,更重要的是会对用户的个人安全和财产安全造成威胁。

因此,通过进行可靠性设计,可以将故障率降至最低,确保产品的性能和可靠性。

1.1 材料选择与工艺控制在电子元器件的可靠性设计中,合适的材料选择和工艺控制非常重要。

首先,选择具有高稳定性和低故障率的材料能够减少电子元器件的失效风险。

同时,通过控制工艺参数,如温度、湿度和气压等,可以提高电子元器件的耐久性和稳定性。

1.2 电路设计与布局电子元器件的电路设计和布局直接影响其可靠性。

在电路设计中,合理选择电阻、电容、电感等元器件的数值和型号,能够增强电路的稳定性和抗干扰能力。

此外,合理布局电子元器件,降低电路的电感和电容耦合,有助于减少失效率。

1.3 散热设计与保护措施电子元器件的工作过程中会产生热量,散热设计和保护措施对于提高可靠性至关重要。

合理设计散热装置,保持元器件的温度在安全范围内,可以减少因热失控引起的故障。

此外,通过使用过流保护器、过压保护器等保护装置,可以避免电子元器件被损坏或过载。

二、故障分析的方法当电子元器件发生故障时,对其进行准确的故障分析是修复和改进产品的关键步骤。

下面介绍几种常见的故障分析方法。

2.1 失效模式与效应分析(FMEA)失效模式与效应分析是一种系统地分析电子元器件故障的方法。

通过识别潜在的失效模式和分析其可能的影响,可以有针对性地采取措施来防止故障的发生或减小其影响。

2.2 元器件失效分析元器件失效分析是通过对元器件的物理性能、电性能和结构特征等进行测试和分析,来确定其失效原因。

元器件知识培训课件

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波和滤除高频杂波,它的外形有很多种:有 的像电阻、有的像二极管、有的一看上去就 是线圈。
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❖ 我公司常用电感 ❖ L1001 200匝 1.788mH±0.1mH ❖ L1002 135匝 833.6uH±20uH ❖ L1003 23匝 28uH±2uH ❖ L1004 25匝 30uH±2uH ❖ L1005 14匝 8.5uH±2uH ❖ L0201 160匝 1.82mH±0.04mH ❖ UF10.5 >=10mH
0.50±0.10 0.80±0.15 1.25±0.15 1.60±0.15 2.50±0.20 3.20±0.20 2.50±0.20 3.20±0.20
0.30±0.10 0.40±0.10 0.50±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10
0402 0603 0805 1206 1210 1812 2010 2512
1005 1608 2012 3216 3225 4832 5025 6432
1.00±0.10 1.60±0.15 2.00±0.20 3.20±0.20 3.20±0.20 4.50±0.20 5.00±0.20 6.40±0.20
线(例如漆包线、纱包线等)绕制而成的电 磁感应元件,也是电子电路中常用的元器件 之一。
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❖ 当闭合回路中的电流发生变化时,由这个电流产生 并穿过回路本身的磁通也发生变化,回路中将产生 感应电动势,这种现象称为“自感”;
❖ 如果两个线圈互相靠近,当其中一个线圈中电流所 产生的磁通有一部分与另-个线圈的磁通相环链,那 么,这个线圈中的电流发生变化时,会在另一个线 圈中产生感应电动势,这种现象称为"互感"。

电子元器件可靠性

电子元器件可靠性
电子元器件可靠性
2024年2月1日星期四
选用元器件要考虑的要素
1. 电特性:元器件除了满足装备功能要求之外,要能经受最大施加的电应力 2. 工作温度范围:器件的额定工作温度范围应等于或宽于所要经受的工作温度范围 3. 工艺质量与可制造性:元器件工艺成熟且稳定可控,成品率应高于规定值,封
装应能与设备组装工艺条件相容 4. 稳定性:在温度、湿度、频率、老化等变化的情况下,参数变化在允许的范围内 5. 寿命:工作寿命或贮存寿命应不短于使用它们的设备的预计寿命 6. 环境适应性:应能良好地工作于各种使用环境,特别是如潮热、盐雾、沙尘、
基本结构:固体二氧化锰作为电介质,烧结的钽块作为阳极 优点(与铝电解电容器相比)
温度范围宽:可达-55℃~125℃ 漏电流小:<0.01CV[uA],可与品质最好的铝电解电容相比 损耗因数低:0.04~0.1,约比铝电解电容好两倍 温度系数低:电容值在工作温度范围内的变化±3~ ± 15% 有可能反极性使用:在某些工作电压范围内 体积小:可以做成片状电容 寿命长:常常作为军事用途
酸雨、霉菌、辐射、高海拔等特殊环境 7. 失效模式:对元器件的典型失效模式和失效机理应有充分了解 8. 可维修性:应考虑安装、拆卸、更换是否方便以及所需要的工具和熟练等级 9. 可用性:供货商多于1个,供货周期满足设备制造计划进度,能保证元器件失
效时的及时更换要求等 10. 成本:在能同时满足所要求的性能、寿命和环境制约条件下,考虑采用性价比
3 固有噪声 碳膜电阻内部结构不连续性大,是固有噪声最大的电阻 线绕电阻内部为体金属,不连续性很小,是固有噪声最小的电阻 金属膜电阻的固有噪声介于碳膜电阻和线绕电阻之间 固有噪声大的电阻不宜用于微弱信号放大、高增益精密等电路中

元器件可靠性基础知识大全总结

元器件可靠性基础知识大全总结

元器件可靠性基础知识大全总结元器件是整机的基础,它在制造过程中可能会由于本身固有的缺陷或制造工艺的控制不当,在使用中形成与时间或应力有关的失效。

为了保证整批元器件的可靠性,满足整机要求,必须把使用条件下可能出现初期失效的元器件剔除。

元器件的失效率随时间变化的过程可以用类似"浴盆曲线"的失效率曲线来描述,早期失效率随时间的增加而迅速下降,使用寿命期(或称偶然失效期)内失效率基本不变。

筛选的过程就是促使元器件提前进入失效率基本保持常数的使用寿命期,同时在此期间剔除失效的元器件。

事物的好与坏的判别必须要有标准去衡量。

判断元器件的失效与否是由失效判别标准一一失效判据所确定的。

失效判据是质量和可靠性的指标,有时也有成本的内涵,所以元器件失效不仅指功能的完全丧失,而且指电学特性或物理参数降低到不能满足规定的要求。

简而言之,产品失去规定的功能称为失效。

在选择可靠性筛选次序时先先了解一下元器件失效都有哪些?失效一般分为现场失效和试验失效。

现场失效一般是在装机以后出现的失效,因此,我们在元器件测试筛选过程中只考虑试验失效。

试验失效主要是封装失效和电性能失效。

封装失效主要依靠环境应力筛选来检测。

所谓环境应力筛选,即在筛选时选择若干典型的环境因素,施加于产品的硬件上,使各种潜在的缺陷加速为早期故障,然后加以排除,使产品可靠性接近设计的固有可靠性水平,而不使产品受到疲劳损伤。

在正常情况下是通过在检测时施加一段时问的环境应力后,对外观的检查(主要是镜检,根据元器件的质量要求,采用放大10倍对元器件外观进行检测;也可以根据需要安排红外线及X射线检查),以及气密性筛选来完成,当有特殊需要时,可以增加一些DPA(破坏性物理分析)等特殊测试。

元器件行业的可靠性标准与测试方法

元器件行业的可靠性标准与测试方法

元器件行业的可靠性标准与测试方法随着科技的发展和应用领域的扩大,元器件在电子产品中发挥着至关重要的作用。

然而,由于元器件在工作过程中经受着复杂的环境和条件,其可靠性成为了一个关键问题。

为了确保电子产品在使用过程中不出现故障,元器件行业制定了一系列的可靠性标准和测试方法。

本文将针对元器件行业的可靠性标准和测试方法进行探讨。

一、可靠性标准1.产品可靠性要求在元器件行业中,产品的可靠性是评价一个元器件制造商质量的重要指标。

产品的可靠性要求包括工作温度范围、电压范围、湿度要求、机械振动、冲击和落地等环境条件。

此外,产品的寿命要求、失效率和故障率等指标也是衡量产品可靠性的关键要素。

2.可靠性测试标准为了有效评估元器件的可靠性,行业制定了一系列的可靠性测试标准。

例如,国际电工委员会(IEC)发布了IEC 60068系列标准,其中包括了温度和湿度循环测试、机械振动和冲击测试、尘埃和腐蚀测试等。

此外,美国军标(MIL-STD)和美国电子工程师协会(IEEE)也发布了一系列可靠性测试标准,如MIL-STD-810和IEEE 1284等。

二、可靠性测试方法1.环境适应性测试环境适应性测试旨在评估元器件在不同环境条件下的可靠性。

常见的环境适应性测试包括温度和湿度循环测试、高温老化测试和低温冷冻测试。

这些测试能够模拟元器件在工作环境中的变化,并通过检测元器件在不同环境条件下的工作能力,来评估元器件的可靠性。

2.机械振动和冲击测试机械振动和冲击测试旨在评估元器件在机械振动和冲击条件下的可靠性。

通过将元器件暴露在不同频率和振幅的机械振动和冲击力下,检测元器件是否能够正常工作,并通过对元器件的振动和冲击响应进行分析,来评估元器件的可靠性。

3.尘埃和腐蚀测试尘埃和腐蚀测试旨在评估元器件在灰尘和腐蚀环境下的可靠性。

通过将元器件暴露在高浓度的灰尘和腐蚀物质中,检测元器件是否会受到腐蚀或被尘埃阻塞,并通过对元器件功能的测试,来评估元器件的可靠性。

电子元器件可靠性设计指南

电子元器件可靠性设计指南

电子元器件可靠性设计指南引言:随着现代电子技术的飞速发展,电子元器件已经成为各行各业中不可或缺的重要组成部分。

然而,由于电子元器件存在一定的寿命限制和故障风险,为了确保电子产品的长期可靠运行,我们需要遵循一系列的规范、规程和标准,从设计阶段开始,注重电子元器件的可靠性。

本文将重点介绍电子元器件可靠性设计的指南,帮助我们更好地理解和应用相关标准,以有效提高电子产品的稳定性和可靠性。

一、选用可靠性高的电子元器件材料在电子元器件设计过程中,正确选择可靠性高的材料至关重要。

我们需要在电气性能、机械性能、热学性能等多个方面进行综合考虑。

比如,电子组件的封装材料应该具有较高的耐热、耐候性能,以保证电子元器件在复杂的工作环境下也能正常工作。

此外,我们还需要关注材料的可靠性数据,根据可靠性指标进行评估和选择,确保选用的材料具备长期稳定的性能。

二、设计合理的电子元器件布局在电子电路设计中,合理的布局可以帮助有效减少电子元器件之间的干扰和功耗,提高系统的稳定性和可靠性。

布局时,应避免电子元器件之间的热点积聚,合理分配空间和资源,并避免相互干扰。

同时,还要合理设计电子元器件的供电和接地,降低电源噪声,减少高频信号的串扰。

三、严格执行电子元器件的质量控制电子元器件的质量控制是确保电子产品可靠性的重要环节。

我们需要从供应商选择、采购、储存、使用等多个环节加强质量管理。

首先,在选择电子元器件供应商时,应该考察其质量管理体系,确保其产品质量符合相应标准。

其次,在采购和使用电子元器件时,应严格执行相关的标准和规范,确保电子元器件的正确使用和正常工作。

此外,应合理储存电子元器件,防止其受潮、腐蚀等情况影响质量。

四、进行可靠性测试和寿命评估为了验证电子元器件的可靠性和长期使用寿命,我们需要进行可靠性测试和寿命评估。

可靠性测试可以帮助我们找出电子元器件的潜在故障和失效机制,并提供改进设计的依据。

而寿命评估则可以通过加速试验方法,模拟长期工作环境,评估电子元器件的可靠性。

电子元器件的可靠性与稳定性研究

电子元器件的可靠性与稳定性研究

电子元器件的可靠性与稳定性研究电子元器件是现代电子技术的基础和重要组成部分。

其可靠性与稳定性是影响电子产品质量和寿命的关键因素,也是电子制造领域的重点研究方向之一。

一、电子元器件可靠性的定义和影响因素电子元器件的可靠性是指其在规定的工作条件下,在一定时间内正常运行、不出现故障的能力。

影响电子元器件可靠性的因素较为复杂,主要包括两个方面:内部因素和外部因素。

内部因素包括材料质量、制造工艺、设计结构、加工精度等因素,这些因素直接影响元器件的品质和性能。

外部因素包括电气应力、温度、湿度、振动、气氛环境等因素,这些因素会与内部因素相互作用,共同影响电子元器件的可靠性。

二、电子元器件可靠性的评价方法评价电子元器件可靠性的方法主要包括两个方面:实验测试和数学模拟。

实验测试是通过一系列的可靠性试验,对元器件的品质和性能进行评估。

例如,可进行加速寿命试验、温度循环试验、高温高湿试验、电压应力试验等,以便评估电子元器件的可靠性水平。

数学模拟是利用计算机辅助软件对元器件进行数学模拟,解析其物理和化学特性,以预测其寿命和可靠性。

这种方法具有快速、准确等优点,对于需要大量试验数据的元器件可靠性评估尤为有效。

三、电子元器件的稳定性研究电子元器件的稳定性研究不仅关乎其性能表现,还涉及到应用中的安全稳定性和可靠性问题。

电子元器件的稳定性主要包括长期稳定性和短期稳定性两个方面。

长期稳定性是指电子元器件在长时间工作状态下,各项性能指标的变化程度。

对于一些长期运行和高度安全要求的设备,尤其需要关注长期稳定性问题。

短期稳定性则是指元器件在工作过程中由不同条件引起的临时性的性能偏差。

这种稳定性问题对于高速、高频、高精度设备尤其关键。

四、电子元器件可靠性和稳定性的研究现状和未来发展方向电子元器件可靠性和稳定性的研究不断得到深入,实现了快速进展。

在可靠性试验方法上,常规耐热、耐零下温度、抗电应力、耐湿等测试以外,现在也考虑到模拟卫星轨道等特殊工作条件下的可靠性评估。

电子元器件基础知识培训教材

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电子元器件基础知识培训教材一、引言在现代电子技术领域,电子元器件是构成各种电子设备的基础。

无论是简单的电路还是复杂的系统,都离不开电子元器件的作用。

了解电子元器件的基础知识,对于从事电子技术相关工作的人员以及电子爱好者来说,都是至关重要的。

二、电子元器件的分类(一)电阻器电阻器是限制电流流动、调节电路中电压和电流比例的元件。

其主要参数包括电阻值、功率、精度等。

电阻器根据制造材料和结构的不同,可分为碳膜电阻、金属膜电阻、绕线电阻等。

(二)电容器电容器是储存电荷的元件,常用于滤波、耦合、旁路等电路中。

电容器的主要参数有电容值、耐压值、介质材料等。

常见的电容器有电解电容、陶瓷电容、钽电容等。

(三)电感器电感器能够储存磁场能量,在电路中主要用于滤波、谐振、变压等。

其主要参数包括电感量、品质因数、额定电流等。

常见的电感器有空心电感、磁芯电感等。

(四)二极管二极管具有单向导电性,常用于整流、检波、稳压等电路。

常见的二极管有整流二极管、稳压二极管、发光二极管等。

(五)三极管三极管是一种具有放大作用的半导体器件,可用于放大、开关等电路。

根据结构和工作原理的不同,三极管分为 NPN 型和 PNP 型。

(六)集成电路集成电路是将多个电子元器件集成在一块芯片上的器件,具有体积小、性能高、可靠性强等优点。

常见的集成电路有运算放大器、微处理器、存储器等。

三、电子元器件的识别(一)电阻器的识别电阻器的阻值通常标注在其表面,可以通过色环法或直接标注数字来表示。

色环法是通过不同颜色的环来表示电阻值和精度,需要记住相应的颜色代码。

数字标注则直接给出电阻值和精度。

(二)电容器的识别电容器的电容值和耐压值通常也标注在其表面。

电解电容一般会直接标注电容值和耐压值,而陶瓷电容等小容量电容则可能使用数字代码来表示电容值。

(三)电感器的识别电感器的电感量通常标注在其外壳上,有些电感器可能没有标注,需要通过测量来确定。

(四)二极管的识别二极管的极性可以通过其外壳上的标记来判断,一般来说,有银色环或白色环的一端为负极。

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1可靠性概念
在数值上,某个事件的概率可以用试验中的该事件发生 的频率来估计。例如取N0个产品进行试验,若在规定 的时间t内有r(t)个产品失效,则此时还有N0-r(t)个产品 可以完成规定的功能。在N0足够大时,可靠度的估计 值为
r(t) N 0-r(t) =1 R(t)= N0 N0
0≤ R(t)< 1
1 (t ) lim P(t T t t T t ) (1-9) t 0 t λ(t)反映t 时刻失效的速率,故也称为瞬时失效率。
P(t T t t ) P(t T t t T t ) P(T t ) 所以式(1-9)变为:
P(t T t t ) F (t t ) F (t ) dF (t ) 1 (t ) lin lin t 0 t 0 P(T t ) t R(t ) t dt R(t )
规定的工作条件:指产品工作时所处的环境条件、负荷
条件和工作方式。
1可靠性概念
环境条件一般分为气候环境和机械环境。负荷条件是指电 子元器件所承受的电、热、力等应力的条件。工作方式 一般分为连续工作或间断工作,不工作的情况属于存贮 状态。

气候环境:温度、湿度、气压、盐雾、霉菌、辐射等 机械环境:振动,冲击,碰撞、跌落、离心、摇摆等 电应力:静电,浪涌,过电压,过电流,噪声 温度应力:高温,低温,温度循环
2.可靠性试验的分类
各类寿命试验的定义或含义 长期寿命试验:模仿正常工作应力进行的寿命试验, 该试验需要较长的时间。 加速寿命试验:是在既不改变产品的失效机理又不增 加新的失效因子的前提下,提高试验应力,加速产品 失效进程的一种试验试法。这种试验可以用较短的时 间快速的评价产品的可靠性。
具体又分为恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿
质量管理措施加以暴露和排除。
2.可靠性试验的分类
偶然失效期
偶然失效期是在早期失效期之后, 此阶段是电子元器件的 正常工作期, 其特点是失效率比早期失效率低得多, 而且 稳定, 失效率几乎与时间无关, 近似为一常数。电子元器 件的使用寿命就是指这一时期。这一时期的失效是由偶然 不确定因素所引起的, 失效发生的时间也是随机的。
2.可靠性试验的分类
常用筛选方法 检查筛选 包括显微镜检查筛选,红外线非破坏性检查筛选,x 射线非破坏性检查筛选 密封性筛选: 液浸检漏筛选,湿度试验筛选 环境应力筛选 振动,离心加速度,冲击,温度循环等。 寿命筛选 高温贮存,功率老化等
2.可靠性试验的分类
2.3环境应力筛选试验 原理:环境应力筛选是通过向电子装备施加合理的环境应 力和电应力,将其内部的潜在缺陷加速变成故障,以便人 们发现并排除。 环境应力筛选是装备研制生产的一种工艺手段,筛选效果 取决于施加的环境应力、电应力水平和检测仪表的能力。
加速度:1500~6000g 冲击次数:5~10次
振动加速度:20g
2 106 g ~ 3 106 g
频率:2Hz~2000Hz 加速度:2~20g
随机振动
2.可靠性试验的分类
2.4寿命试验和加速寿命试验 寿命试验的定义 评价分析产品寿命特征的试验。产品的失效率、平均寿 命等可靠性特征量反映了产品的寿命特征。 寿命试验的作用 了解产品寿命分布的统计规律以作为可靠性分析的基础, 作为制定筛选条件和改进产品质量的依据。 寿命试验的分类 按试验进行的时间分:长期寿命试验和加速寿命试验 按欲测定各阶段可靠性可分为:贮存寿命试验和工作寿 命试验 按进行试验的截尾方式可分为:非截尾试验和截尾试验, 截尾试验又分为定数截尾和定时截尾。
耗损失效期
电子元器件工作的后期称为耗损失效期, 此阶段的特点刚 好与早期失效期相反, 失效率随工作时间增加而迅速上升。 耗损失效是由于元器件长期使用而产生的损耗、磨损、老 化、疲劳等原因所引起的, 是电子元器件的寿命终结。
2.可靠性试验的分类
在实际中元器件不一定都 会出现上述的三个阶段, 在成批的电子元器件中, 有些元器件的失效率曲线 是递增型、有些是递减型, 而有些则是常数型, 如图 所示。浴盆曲线可看成是 三种失效率曲线的叠加合 成。
电子元器件的可靠性
---2013年12月
目录
• • • • • 1.可靠性的概论 2.可靠性试验的分类 3.元器件试验的方法与设备 4.失效模式与失效机理 5.失效分析
1可靠性概念
1.1什么是可靠性? 可靠性定义:产品在规定的条件下和规定的时间内,完成 规定功能的能力。 该定义明确指出评价一个产品的可靠性,与规定的工作条 件和规定的工作时间有关,也与规定产品应完成的功能 有关。 而 “三个规定”是理解可靠性概念的核心。 “产品”:新版ISO9000中定义的硬件和流程性材料等有 形产品以及软件等无形产品。 在这里,我只把“产品”定义缩小为零件,元器件, 部件,设备或系统。
从可靠度的定义可知,可靠度是对一定的时间而函数,固又称为可靠度函数R(t)。
1可靠性概念
可靠度与时间的关系曲线如图1-2
1可靠性概念
累积失效概率F(t)
累积失效概率——是产品在规定条件和规定时间内 失效的概率,其值等于1减可靠度。也可说产品在规 定条件和规定时间内完不成规定功能的概率,故也称 为不可靠度,它同样是时间的函数,记作F(t)。有 时也称为累积失效分布函数(简称失效分布函数)。 其表示式为: F(t)=P(T≤t)=1−P(T>t)=1−R(t) 从上述定义可以得出:F(0)=0,F(∞)=1。
2.可靠性试验的分类
筛选应注意的问题: ① 可靠性筛选可以提高一批产品使用的可靠性,但并不 能提高每一个产品的固有可靠性,因为筛选不能改变 失效机理而延长任何单个元器件的寿命,它只是剔除 早期失效的产品后使剩下产品的平均寿命比筛选前平 均寿命提高了。 ② 筛选不同于质量验收。质量验收是通过抽样检验判定 一批产品是否合格从而决定接收或拒收,而筛选是对 于合格产品100%地进行试验,以剔除早期失效产品。 ③ 筛选应力要选择好,不要对好产品造成损伤。
人力费用和保障费用提供信息; (3) 确认是否符合可靠性定量要求。
1可靠性概念
1.3可靠性常用术语和主要特征量 可靠性是一项重要的质量指标,只是定性描述就显得不够, 必须使数量化,这样才能进行精确的描述和比较。可靠性 的定量表示有其自己的特点,由于使用场合的不同,还难 用一个特征量来完全代表。 可靠度R或可靠度函数R(t) 产品的可靠度是指产品在规定条件下和规定时间内,完成 规定功率的功率. 假设规定的时间为t,产品的寿命为T,在一批产品中的寿命 有毒T>t,也有的 T≤t,从概率论角度可将可靠度表示为T >t的概率,即 R(t)=P(T>t)
命试验、序进应力加速寿命试验。
2.可靠性试验的分类
贮存寿命试验:产品在规定的环境条件下进行非工作状态 的存放试验。 通过贮存试验可以了解产品在特定环境条件下的贮存可靠 性。如解决贮存期间的参数变化规律,能否保持原有的可 靠性指标,贮存期可多长等。 注意: a.贮存条件根据产品的实际贮存情况可有室内,棚下、露 天、坑道等。 b.由于贮存试验样品处于非工作状态,失效率较低,通常 要选择较多的样品做较长期的观察测量。 工作寿命试验:对产品有规定条件下(保证工作状态)作加 负荷的试验。
元器件筛选的方法概述 电阻:高压蒸煮2小时,加电两小时,循环两小时;测试 阻值漂移小于技术标准。 贴片电容:湿热试验、温度循环 电解电容:高温加脉冲电压100小时;测试正切损耗角、 漏电流、容值,目测漏液、外壳 塑封器件:湿热加电,测试漏电流;温度冲击或炉温试验 功能测试,I-V测试; 空封器件:温度循环,低温监测漏电;温度冲击,全参数 测试
失效率
2.可靠性试验的分类
早期失效段
早期失效段,也称早期故障阶段。早期失效出现在产
品寿命的较早时期,产品装配完成即进入早期失效期, 其特点是故障率较高,且随工作时间的增加迅速下降。 早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产 生,例如原材料缺陷引起绝缘不良,焊接缺陷引起虚 焊,装配和调整不当引起参数漂移,元器件缺陷引起 性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的 检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的
L(t)
递减型
递增型 常数
失效率曲线
t
2.可靠性试验的分类
2.2可靠性试验项目的分类 可靠性筛选 定义:在产品制造过程中,将不符合要求的产品 (包括成品、半成品)剔除,而将符合要求的产品 保留下来的试验过程称为筛选。
注意在产品制造过程中,对各种工艺质量的检验,
成品、半成品的性能参数测试都要进行筛选。 目的:筛选目的是为剔除早期失效的产品。
1可靠性概念
由此可见,R(t)和F(t)互为对立事件。失效 分布函数F(t)与时间关系曲线如图1-4所示。
F(t)
1.0
0
t
1可靠性概念
失效概率密度f(t) 失效概率密度——是累积失效概率对时间的变化率,记 作f(t)。它表示产品寿命落在包含t的单位时间内的 概率,即产品在单位时间内失效的概率。其表示式为:
dF (t ) f (t ) F (t ) dt

F (t ) f (t )dt
0
t
1可靠性概念
失效率λ(t) 失效率——是工作到某时刻尚未失效的产品,在该时刻后单 位时间内发生失效的概率。记作λ(t),称为失效率函数, 有时也称为故障率函数。 按上述定义,失效率是在时刻t 尚未失效的产品在t~t+Δt 的单位时间内发生失效的条件概率,即:
2.可靠性试验的分类
非截尾寿命试验:试验一直进行到全部试验样品都失效 才截止的试验。 截尾寿命试验:试验没有进行到全部试验样品都失效 就截止的试验。 a.定时截尾:试验进行到规定的时间就结束。 b.试验进行到规定的失效数就结束。
3.元器件试验的方法与设备
3.1元器件的筛选
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